Патенты с меткой «интегральных»

Страница 12

Устройство для решения линейных интегральных уравнений вольтерры

Загрузка...

Номер патента: 1522201

Опубликовано: 15.11.1989

Авторы: Акбаров, Верлань, Максимович

МПК: G06F 17/13

Метки: вольтерры, интегральных, линейных, решения, уравнений

...в регистр 9 - величина= ехр(-Ь/Ы)Рассмотрим х-й цикл работы устройства. В первом такте по сигналу с выхода 2 блока 11 синхронизации осуществляется операция приема кода У, в регистр 3.Во втором такте по сигналу с выхода 13 блока 11 синхронизации в умножителе 2 находится 1/( - Ьй.ь)У;, во втором умножителе 5 - У /о, в умножителе 10 -(;В третьем такте по сигналу с выхода 14 блока 11 синхронизации осуществляется операция приема кода У в регистр 4 и операция суммирования1 Ь.Х+ ( )1-1 /в сумматоре 6 с последующей записьрезультата Х; в регистр 7.Формула и з обретенияУстройство для решения линейньи интегральных уравнений Вольтерры, со держащее входной и выходной. регистры два регистра коэффициентов, регистр экспоненты, регистр промежуточной...

Штамп совмещенного действия для гибки и отрезки выводов интегральных микросхем

Загрузка...

Номер патента: 1523227

Опубликовано: 23.11.1989

Авторы: Климова, Куцакова, Цилюрик

МПК: B21D 37/08

Метки: выводов, гибки, действия, интегральных, микросхем, отрезки, совмещенного, штамп

...5 и наружной 6, относительно подвижных в направлении перемещения пуансона и подпружиненных соответственно пружинами 7 20 и 8, Внутренняя часть 5 пуансона в наружной части торца имеет вырезы 9 для взаимодействия с прижимом 2 и на внутренней части фланца выступы 10 для ограничения хода в наружной части гибочного пуансона. Наружная часть 6 пуансона снабжена наклонными поверхностями 11 для предварительной отгибки выводов интегральной микросхемы. Гибочный пуансон размешен в пуансоне-матрице 12. Усилие пружин 3 и 8 регулируется соответственно пробками Зо 13 и 14.Штамп работает следующим образом.Интегральная микросхема устанавливается на наружный торец внутренней части 5 пуансона. При рабочем ходе штампа прижим 2 охватывает выводы...

Способ настройки интегральных тензометрических мостов

Загрузка...

Номер патента: 1525442

Опубликовано: 30.11.1989

Авторы: Ворожбитов, Зиновьев, Тихоненков, Халястов

МПК: G01B 7/16

Метки: интегральных, мостов, настройки, тензометрических

...самопроизвольная диффузияв планарных реэистивном и защитномслоях, Прымеси, захваченные во времянапыления, мигрируют в процессе термообработки к границам зерен резистивного. материала, где имеется большая35вероятность их выпаддния, Диффузияпо границам зерен протекает на несколько порядков быстрее, чем пообъему металлической пленки. Поэтому 40в результате термообработки температурный коэффициент сопротивления верхних,слоев резистивных пленок будетсущест-венно отрицательным, авнутреннихслоев в останет положительным, Этопозволяет получить результирующий температурный коэффициент сопротивленияпокрытого диэлектрическим слоем тенэорезистора почтина порядок сниженным по сравнению с исходным значением,этого . коэффициента.ф Затеи одну из...

Способ отбраковки потенциально нестабильных цифровых интегральных микросхем

Загрузка...

Номер патента: 1525637

Опубликовано: 30.11.1989

Авторы: Воинов, Исаенко, Кругликов, Ледовской

МПК: G01R 31/317

Метки: интегральных, микросхем, нестабильных, отбраковки, потенциально, цифровых

...на испытуемую 4 и эталонную 6 ЦМС. Одновременно напряжение с преобразователей 7 и 8 подается на блок 9 вычитания, который вырабатывает напряжение прямо пропорци. ональное разности токов потребления50 обеими микросхемами, Флуктуации напряжения усиливаются широкополосным усилителем 12 и усилителем 13 с регуфлируемым коэффициентом усиления.Регулировка коэффициента усиления 55 обеспечивает нормальную работу квадра" тицного детектора 14, усредняющего блока 15 и индикатора 16. Время усреднения мощности флуктуаций при контроле надежности устанавливается равнымвремени действия входного кодовоговоздействия. Для обнаружения неис"правной цепи оно равно времени включения цепи после начала действия тестаСпособ осуществляется в...

Устройство для автоматического контроля больших интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1529220

Опубликовано: 15.12.1989

Авторы: Бургасов, Каре, Краснова, Максимов, Мальшин, Метелкина, Пешков, Рейнберг, Чунаев, Ярославцев

МПК: G01R 31/303, G06F 11/263

Метки: больших, интегральных, схем

...может быть выполнен в виде 12-разрядного устройства для запоминания текущего цифрового кода уровня, 35 связанного с ним цифровыми входами 12 разрядного ЦАП и выходного сглаживающего фильтра. В качестве устройства для запоминания уровней порогового усилителя 35 может быть использован реверсивный счетчик, а в аналогичных ЦАП 42 и 43 для запоминания уровней сравнения компараторов 36 и 37 может быть использован регистр.Первый преобразователь 12 код-напряжение может быть выполнен в виде стандартного программируемого источника питания Б 5 - 46.Второй преобразователь 13 код - напряжение может быть выполнен в виде стандартного прецизионного источника напряжения Б 6 - 8,АЦП 14 напряжение - код может быть выполнен в виде универсального...

Способ отбраковки интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1539696

Опубликовано: 30.01.1990

Авторы: Казинов, Шеремет

МПК: G01R 31/303

Метки: интегральных, отбраковки, схем

...измерения на пределе чувствительности измерителя вольт-амперных характеристик (режим микротоков).В интегральной микросхеме, имеющей вольт-амперную характеристику 4, в лроцессе ее эксплуатации с течением времени под действием протекающего электрического тока идет процесс деградации структуры р-п-перехода, приводящий к увеличению токов утечки и, в конечном счете, к нарушению работоспособности интегральной схемы. При осуществлении способа для повышения чувствительности и достоверности контролируется вольт-амперная характеристика нескольких р-и- переходов, расположенных по всему кристаллу и соединенных параллельно.Для этого все выводы интегральной схемы необходимо включить по схеме, составленной с учетом следующих правил:каждый...

Способ контроля отсутствия обрывов и коротких замыканий на корпус или подложку внешних выводов твердотельных интегральных схем с изолирующими диодами

Загрузка...

Номер патента: 1541542

Опубликовано: 07.02.1990

Авторы: Антонов, Самиуллин, Цветков

МПК: G01R 31/02, G01R 31/303

Метки: внешних, выводов, диодами, замыканий, изолирующими, интегральных, коротких, корпус, обрывов, отсутствия, подложку, схем, твердотельных

...по номиналу ограничительные резисторы 4.1-4.п, Этонапряжение должно быть больше, чемнапряжение обратимого пробоя диоднойизоляции в интегральной микросхемеа ток пробоя не должен превышать значения, гарантирующего обратимостьпробоев любых р - и-переходов микросхемы (Фиг.2-5)На ТТЛ-микросхеме (Фиг.2) при подключении выводов 3.1-3,5 к отрицательному полюсу источника 5 через токоограничивающие резисторы 4,1-4.5 открываются входные 8-10 и изолирующие11-13 диоды. При отсутствии обрывови коротких замыканий выводов на корпус или подложку нз всех резисторах4,1-4.3, 4,5, подключенньх к выводам3.1-3.3, 3.5, устанавливается напряжение источника 5 за вычетом прямого5 154 падения напряжения йа диодах. На резисторе 4.4, подключенном к выводу 3,4...

Устройство для термозащиты интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1541573

Опубликовано: 07.02.1990

Авторы: Баранаускас, Юодвалькис

МПК: G05D 23/19

Метки: интегральных, схем, термозащиты

...и транзисторы 18 и 4 изза отсутствия Базового тока, получаемого от транзистора 15. После закрытия транзистора 4 ток через транзистор 20 также уменьшаетсл, закрываятранзисторы 19 и 3, В то же времяиэ-за наличия базового тока на транзисторе 16 от источника 7 он открывается и открывает транзистор 17, который дополнительно шунтирует базы тран зисторов 18 и 4 на общую шину, способствуя дальнейшему их запиранию. Такимобразом, на определенной точке температуры получают резкий рывок выключения исполнительного транзистора 8, но зополного выключения не происходит, потому что автоматически происходит выключение тока питания транзисторов 15и 16. В случае охлаждения датчикавесь процесс происходит аналогично,35но в обратном порядке,В...

Устройство для автоматизированной функциональной настройки гибридных интегральных микросхем

Загрузка...

Номер патента: 1552135

Опубликовано: 23.03.1990

Авторы: Гура, Куфлевский, Макаренко

МПК: G01R 31/303

Метки: автоматизированной, гибридных, интегральных, микросхем, настройки, функциональной

...настройки может оказаться недостаточно, поскольку заложенная вЭВМ2 математическая модель (порядок и коэффициенты системы линейныхуравнений не может абсолютно точноописывать реальное устройство, поэтому, процесс моделирования настройкиповторяется до тех пор, пока не будетдостигнута удовлетворительная точность совпадения АЧХ (ФЧХ) ГИМС 2с расчетной,Для доказательства работоспособности контура моделирования настройки рассмотрим фиг,2 а, где изображенфрагмент принципиальной схемы ГИМС,содержащий подгоняемый резистор Ки подключаемый к нему канал моделирования настройки, условно показан"ный в виде преобразователя напряжение - ток с управляемой крутизнойпреобразования Б. Резистор.К ,. однозначно определяющий регулируемыйпараметр, может быть...

Способ контактной шовной сварки корпусов интегральных микросхем (ис) и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1558608

Опубликовано: 23.04.1990

Автор: Маланкин

МПК: B23K 11/06, B23K 31/02

Метки: и.с, интегральных, контактной, корпусов, микросхем, сварки, шовной

...установлены рабочие столики 2. К механизму 1 перемещения жестко прикреплен привод 3, представляющий собой электродвигатель с редуктором, и два механизма 4 поворота (не показан один механизм поворота, который возвращает рабочие столики в исходное положение) в виде путевых кулачкон, Привод 3 соединен .с блоком 5 управления. Последний соединен со схемами б управления сваркой, управляющими работой сварочных трансформаторов 7, вторичные обмотки которых соединены шинами 8 с электрододержателями 9 На электродоцержателях 9 неподвижно закреплены плоские невращающиеся электроды 10. Злектрододержатели 9,крепятся к кронштечнам 11 с помощью подшипников 12 и электрически изолированы от кронштейнов 11. На кронштейне 11 ус. , тановлен механизм...

Контактное устройство для контроля интегральных схем со ступенчатыми выводами

Загрузка...

Номер патента: 1559441

Опубликовано: 23.04.1990

Авторы: Пасечник, Петров, Шпаков

МПК: H05K 1/18

Метки: выводами, интегральных, контактное, ступенчатыми, схем

...состоянии контакты 2 находят.ся в разомкнутом положении с вьводами558 ИС 5. Замыкание контактов 2 с выводами 8 ИС 5 производят с помощьюмеханизма перемещения контактов. Дляэтого включают привод (не показан)дами ИС в корпусе типа ДПР наружные края 7-образного выреза, скользяпо вьводам ИС, взаимодействуют соступеньками широкой части вывода микросхем. В результате взаимодействияв зоне контактирования возникает реакция Б вьвода, которая увеличиваетконтактное усилие и одновременно перемещает ИС.на величину зазораа,Дальнейшему перемещению препятствует направляющая 11 . 1 з.п,ф-лы, 5 ил .В 1под действием которого планки 3 перемещаются навстречу друг другу, При этом контакт 2 своими,7-образными вырезами 4 охватьвает узкую часть вьвода 8 на...

Электрический соединитель с малым усилием сочленения для больших интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1566438

Опубликовано: 23.05.1990

Авторы: Кирсанов, Павлычев

МПК: H01R 13/62, H01R 9/00

Метки: больших, интегральных, малым, соединитель, сочленения, схем, усилием, электрический

...штырь 1 Ч ж 1 тко ир 11.о ( ПИИ К 11 р 1 с 20 И 1 р 1 1 Л рдз -вд;цевки ; 1 л.ц 11 у 1;тк;1 . 1жа СОДИЦИТГ ЛЯ, ЧтО таКжЕ ИРгп 1 сДГД -ет испо.тьэвдшт( их для принудите.тьцой фиксации корпуса БИС к соединитлю с помощью эащлок. ля строгоопределентого ориентировдция выводовБИС перед ндчдстьнои 1- гдцтеи ( отлен -ния коцтдктньгх пдр в гсризоцтдльнойплоско(.ти панели выполнено асимметрично распо.тожецное заходцое отгерстие 1 соосное соответствующему к( нтактному гнезду, Этим обесие 11 11чинается ключ кода сочлене.я, Основацие и иди.-.ль окончательно с ед 1 цягтся цецтральнцм крепежным лег- том 17 Соответствующим обрьтзл орентировд Нцй соединительтжцилттт штцрями 18 контдкз ццх гнезд внедряется н гт( тдллиэированные отверстия печдтной...

Устройство для обнаружения посторонних частиц в корпусах интегральных микросхем с внутренними замкнутыми полостями

Загрузка...

Номер патента: 1580197

Опубликовано: 23.07.1990

Автор: Медведев

МПК: G01M 7/00

Метки: внутренними, замкнутыми, интегральных, корпусах, микросхем, обнаружения, полостями, посторонних, частиц

...сигнал, возникающий в пьезоэлектрическом акселерометре 4 при вибрации стола электродинамического возбудителя 1 колебаний, через согласующий усилитель 5 поступает ца вход обратной связи генератора 3 гармоничес15 Я)1 9 76поступает на второй вход двухлуче вого осциллографа 6 и на пороговыйдетектор 10 для визуального светово-5го или звукового методов контрдляпосторонних частиц. Пороговый детектор 10 преобразует сигнал с ультразвукового усилителя 9 в удобные для дальнейшего использования вид и форму ипередает на вход блока 11 заданияцикла сигнал для управления механизмом 12 сортировки, при этом обеспечивается согласование работы механизма 12 сортировки и поступление внего испытуемых изделий 16.Таким образом, при непрерывномповторении...

Преобразователь интегральных параметров сигналов переменного тока в код

Загрузка...

Номер патента: 1582145

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Абдуллаев, Оруджев

МПК: G01R 21/06

Метки: интегральных, код, параметров, переменного, сигналов

...импульс напряжения о)ос.выхо-да преобразователя 10 код-напряжение.ТК моменту в , + 2 ) на выходе интегИратора б устанавливается уровень напряжения45, = -(Ц )Йс . (4)ОС учетом (2) из (4) получаем1О =и(е ) -2 г,.50 Вторым тактирующим импульсом, поступающкк с задержкой (,о с выхода второй линии 12 задержки, аналоговый переключатель 7 переходит во второе положение и напряжение 02, поступает на вход преобразователя 8 напряжениекод, на выходе которого получается код(8 б Коды М и 02, получаемые на выходах преобразователя 8 напряжениекод при преобразовании напряжений 0, и 0 ф, будут И,2 = 0;И 2) - о"о - о,+ Р; (9 а) о, = 1; (,) - 3 о - 2 ф, + ф . (9 б) Здесь )- реализация погрешностипреобразователя 8 напряжение-код, со.ответствующая второму...

Устройство для функционального контроля больших интегральных микросхем

Загрузка...

Номер патента: 1583887

Опубликовано: 07.08.1990

Авторы: Королев, Шехурдин

МПК: G01R 31/303

Метки: больших, интегральных, микросхем, функционального

...и в то жевремя были много меньше входногосопротивления усилителей 2 и 3. Приэтом условии уровень сигналана клем 35ме 14 в нерабочем высокоимпедансномсостоянии на выходе объекта контроля можно определить по формуле 7- 6ме 15 записываются в триггеры 4 и 5, памяти, на выходах которых устанавливаются равнозначные сигналы, при этом на выходе блока 23 равнозначности формируется уровень логического "О", что является признаком "Годен" и свидетельствует о третьем состоянии на выходе объекта контроля,Если в ожидаемый момент времени выход объекта контроля не переходит в третье состояние, а продолжает оставаться в одном из логических состо-. яний, то в зависимости от уровня логилоюического сигнала на клемме 14 один из усилителей 2 и 3...

Устройство для решения интегральных уравнений вольтерра первого рода

Загрузка...

Номер патента: 1585807

Опубликовано: 15.08.1990

Автор: Максимович

МПК: G06G 7/38

Метки: вольтерра, интегральных, первого, решения, рода, уравнений

...системах. Цельтения - повьпдение точности ринтегральных уравнений Вольтевого рода - достигается тем,устройство введена новая связаттецюатора подключец к входуформирования ядра. 1 ил. Устройство работает следующим образом.Статистические коэффициенты передачи сумматора, ицверторов и фильтро равны единице. Входной сигнал устрой ства обозначим у, выходной сигнал х, статический коэффициент аттенюатора обозначим = 1 - о , где малый параметр регуляризации, тогда согласно схеме справедлива следующая связь между входными и выходными сиг налами сумматора;1585807 Составитель Н. Королевахтар С. Лисина Техред Л.СердюковаКорректор В. Гирняк аказ 232,НИИПИ Государс Тираж 559 Подписное нного комитета по изобретениям и открытия 3035, Москва, Ж-З 5,...

Устройство для контроля интегральных микросхем оперативной памяти

Загрузка...

Номер патента: 1589325

Опубликовано: 30.08.1990

Автор: Букин

МПК: G11C 29/00

Метки: интегральных, микросхем, оперативной, памяти

...чтения по последнему адресу импульс переполнения счетчика 3 адреса устанавливает триггер 7 записи-чтения в нулевое состояние и открывается элемент И 4. На этом заканчивается нулевой кадр,В первом кадре в режиме записи при нулевом адресе на счетчике 3 адреса триггер 23 еще находится в единичном состоянии, что обуславливает запись 1 по нулевому адресу.Очередной импульс с выхода генератора 1, пройдя через элементы И 4 и 21, устанавливает триггер 23 в нулевое состояние.В последующих кадрах устройство рабо. тает аналогично описанному, при этом 1 в каждом последующем кадре записывается со сдвигом адреса на единицу.Окончание контроля в режиме бегущая 1 характеризуется записью единицы в последнем кадре по последнему адресу, что фиксируется...

Способ контроля интегральных микросхем памяти

Загрузка...

Номер патента: 1594458

Опубликовано: 23.09.1990

Авторы: Ботвиник, Власенко, Сахаров

МПК: G01R 31/303, G11C 29/00

Метки: интегральных, микросхем, памяти

...времени рассасыванияОпределение этого параметра для5каждого элемента проводится отключением питающего напряжения. Оцнакопосле восстановления напряжения питания ввиду существования динамическ:ой 1 Оасимметрии двух плеч триггера инФормация о наличии деФектного элемента.Памяти, если не принять специальныхМер, может быть потеряна.Очевидно что плечо элемента памяги, в состав которого входит транзистор с недостаточным уровнем коэФФициента усиления или с большим токомутечки при отборе тока, из его базсвой цепи, что реализуется при проведении операции "Считывание инФормаКии", при прочих равный условияхвключается большее время, чем плечо,не имеющее такого деФекта,Следовательно, восстановление наПряжения питания в этом случае неПриводит к потере...

Способ контроля надежности интегральных микросхем

Загрузка...

Номер патента: 1596288

Опубликовано: 30.09.1990

Автор: Шершень

МПК: G01R 31/303

Метки: интегральных, микросхем, надежности

...его,блоком 2 коммутации поочередно измеряют с помощью измерителя З.токиутечки каждого экземпляра ИС. Экземпляры ИС с повышенным более чем на1-3 порядка значениями токов утечки,по сравнению со средним значением тока утечки контролируемой партии иикро -35схем, бракуют,ДеФекты выявляются за счет того,что при понижении температуры в герметических корпусах ИС увеличиваетсяотносительная влажность находящегосятам газа, при этом увеличивается иадсорбция молекул воды кристаллом иизоляционными слояья, Температура за.мерзания адсорбированной влаги ниже0 С, так как при тонком слое жидкостьможет находиться в переохлажденномсостоянии. Проведенные измерения показали, что для ИС серии 564 максимальные значения токов утечек получены при...

Устройство для выполнения интегральных преобразований пучка излучения

Загрузка...

Номер патента: 1601600

Опубликовано: 23.10.1990

Авторы: Балашова, Лукашевич, Неофитный, Покормяхо, Сафиуллин, Свич

МПК: G02B 27/42

Метки: выполнения, излучения, интегральных, преобразований, пучка

...фазовых объектов,Цель изобретения - расширение функциональных возможностей путем формирования Гильберт-образа пучка 1 О в заданном дифракционном порядке1при сохранении Фурье-образов в остальных порядках, а также выполненИе преобразования Фуко.На фиг.1 и 2 представлены конструкции фазовых дифракционных структур с различной и равной глубиной шустриков на двух участках.Устройство выполнено в виде фазоной дифракционной структуры 1 с прямоугольным профилем штрихов - канаок 2, которая представляет собойва участка 3 и 4 с одинаковой шириНой и различными значениями отношений поперечных размеров ди д25штрихов к периодам Т и Т их расположения, определяемым из соотно пе- нийФормула изобретения 1. Устройство для выполнения интегральных...

Устройство для решения интегральных уравнений

Загрузка...

Номер патента: 1608705

Опубликовано: 23.11.1990

Авторы: Боброва, Кузнецова, Семеновых, Ткаченко, Якубовская

МПК: G06G 7/38

Метки: интегральных, решения, уравнений

...25-1 - 25-И умножения на два входа,первые входы которых объединены и служат первым входом узла 22 умножения, а вторые входы через элементы 24 связаны с соответствующими выходами блока 2 и служат вторыми входами узла 22, при этом выходы элементов 25 -( = 1,2Й) служат выходами узла 22.Блок 2 суммирования (фиг.5) состоит из узлов 26 - 1 - 26 - М суммирования. Первый узел 26-1 представляет собой И одновходовых накапливающих сумматоров, второй и все последующие узлы (26-2 - 26-М) состоят из М двухвходовых накапливающих сумматоров 26 -- 1 - 26 -- й ( = 2,3 й). При этом первые входы накапливающих сумматоров 26 являются первыми входами блока 2 суммирования и связаны с соответ.,5 10 15 20 ствующими первыми выходами блока 1 (т.е., с...

Способ измерения теплового сопротивления цифровых интегральных микросхем и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1613978

Опубликовано: 15.12.1990

Авторы: Горюнов, Сергеев, Юдин

МПК: G01R 31/317

Метки: интегральных, микросхем, сопротивления, теплового, цифровых

...ЛЭ и логического нуля на выходе греющего ЛЭ, вольтметр постоянного напряжения 5,для измерения на пряжения термочувствительного параметра, вольтметр постоянного напряже- ния 6, миллиамперметр постоянноготока 7, коммутатор 8, ограничитель" ное сопротивление 9 и сопротивление нагрузки 10,Устройство работает следующим образом.При переключении коммутаторов 31 и 4 фиксируют напряжение Бна выхо оде негреющего ЛЭ и Пе, на выходе греющего ЛЭ. Вольтметр постоянного напряжения 5 измеряет напряжение П 6 ье "х Одной" 45 микросхемы. При замыкании контактов коммутатора 8 начинается разогрев микросхемы за счет протекания тока 1 от положительной шины питания череэ миялиамперметр постоянного тока. Ограничительное сопротивление 9,50 коммутатор 8,...

Аналого-цифровой преобразователь интегральных характеристик напряжений

Загрузка...

Номер патента: 1615888

Опубликовано: 23.12.1990

Авторы: Жуганарь, Полумбрик, Тютякин, Шаванов

МПК: H03M 1/58

Метки: аналого-цифровой, интегральных, напряжений, характеристик

...формирователя 17 устанавливается в единичное состояниеимпульсом с второго выхода БУВЧ 16.При этом начинается разряд интегратора 14 функционально преобразованньм(квадрированным) опорным напряжением,поступающим на его вход с коэффициен том,задаваемым посредством управля 8881 О, емого инвертора 12 и ЦАП 13, Разрядпрс толкается до фиксации комплратпром 15 возврата напряжения цин,(е) в нулевое состояние (момент времени 5 с ) По пересечении напряжением Бн,(г)нулевого уровня первый выход формирователя 17 сбрас вается в нулевое 10состояние выхоцным напряжением компаратора 15, а на втором выходе формирователя 17 вырабатывается импульс, которым БУВЧ 16 устансвливается в начальное состояние, и начинается новый цикл преобразования, На...

Способ определения интегральных по длине неоднородностей дипольных магнитных полей методом гармонического анализа

Загрузка...

Номер патента: 1443600

Опубликовано: 23.12.1990

Авторы: Лачинов, Прейзендорф

МПК: G01R 33/095

Метки: анализа, гармонического, дипольных, длине, интегральных, магнитных, методом, неоднородностей, полей

...из висмута илиособо чистой меди обладает заметныммагниторезистивным эффектом в диапазоне полей более 0,1 Т с приемлемой линейностью зависимости сопроти"вления от поля. Это хорошо соответствует, например, диапазону магнитныхполей (15-5 Т) .Конструктивно датч 1 ки могут бытьвыполнены в виде сжатой продольнойпетли, которая скручивается в поворотную рамку - каркас, один в паз,совпадающий " осью вращения рамки,а другой. в паз иа ее внешней образующей, параллельно первому. указан-. ные датчики, основанные на магниторезистивном эффекте, практически беэ-,ынерциочны и, следовательно, имеютвысокое быстродействие. Бифилярнаяскрутка петель обеспечивает малуючувствительность к внешним электромагнитным наводкам. Расположение датчиков на краю...

Устройство для решения интегральных уравнений фредгольма второго рода

Загрузка...

Номер патента: 1617438

Опубликовано: 30.12.1990

Авторы: Боюн, Козлов, Тракай

МПК: G06F 7/64

Метки: второго, интегральных, решения, рода, уравнений, фредгольма

...16 нормы невяэок. С выхода дешифраторов 7 величины старших разрядов невяэок55 Я,(Х,) поступают в сумматоры 8 искомой Функции, туда же поступают зна ки невязок, т.е. в сумматоры 8 по/даются приращения функции ЬУ(Х ).В сумматорах 8 приращения Фнукциискладываются со значениями функции,полученными на предыдущей итерации.Таким образом реализуется основнаяформула итерационного процесса:(х,) - У(х,) + Ьк(х,).Величины приращений функции с выхода дешифраторов 6 поступают также через группу элементов ИЛИ 3 на сумматоры 4 невяэок, знаки этих приращений с выхода блоков И 10 тоже поступают на сумматоры 4 невязок через элементы ИЛИ 13 и элементы НЕ 11.Этим достигается получение на выходах сумматоров 4 невязок значений невязок Як(Х,), которые...

Устройство для контроля интегральных микросхем

Загрузка...

Номер патента: 1619210

Опубликовано: 07.01.1991

Авторы: Воробьев, Ермоленко, Романов, Филимонов

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, микросхем

...к опному из Входов ИМС на вход элемента ИЛИ 4 псступает импульс низ" кого уровня, сформированный форпрователем 3. Потенциал этого входя понижается до напряжения меньше 0,4 В, что соответствует уровню логического нуля. Если элемент И-НЕ исправен, то на его выходе происходит смена уровнялогического нуля на единицу. Перепад этого уровня поступает на Я-вход триггера 17 и переводит его в единичное, состояние, что обеспечивает срабатывание элемента И 13, подключенного к прямому выходу триггера. На выходе эле" мента И 13 присутствует напряжение логического нуля и индикатор светится, что свидетельствует о работоспособ 10 ности испытуемого элементаЕсли элемент И-НЕ неисправен, тосмены логического уровня на его выходе не пРоисходит, тРиггеР 17...

Способ контроля прочности перемычек интегральных схем с ленточными выводами

Загрузка...

Номер патента: 1620895

Опубликовано: 15.01.1991

Авторы: Акимов, Афанасенко, Лифлянд, Свириденко

МПК: G01N 3/08

Метки: выводами, интегральных, ленточными, перемычек, прочности, схем

...интегральной схемы 2 с ленточными выводами 3 перемычек Г-образной формы и подложкой 4, нагружающий крюк 5 с датчиками Ь горизонтальной, параллельной основанию 1"и подложке 4 составляющей Р усилия Р и датчиками 7 вертикальной, нормальной к основанию 1 и подложке 4 составляющей Р усилия Р, механизм вертикального и горизонтального перемещения крюка 5,и поворота его, а также механизм перемещения подложки (не показаны) .Способ осуществляется следующим образом.Устанавливают на основание 1 подложку 4 с ленточными выводами 3 Г-образных перемычек интегральной схемы 2, связанными с ними припоями 8 и 9. Затем опускают крюк 5 до касания им подложки 4, поднимают его на высоту, меньшую высоты стойки 8 вывода 3 перемычки, и перемещаютв пространство...

Устройство для функционального контроля больших интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1624370

Опубликовано: 30.01.1991

Автор: Ефремов

МПК: G01R 31/28

Метки: больших, интегральных, схем, функционального

...заносится соответствующая информация. Разрешена работа элементов И 28, 31 блока 18 управления синхроимпульсами, и синхроимпульсы поступают на выход блока 18 независимо от результата контроля.Первый режим обеспечивает запись информации в блок 12 памяти ошибок при каждом такте функционального контроля. Задание режима осуществляется занесением соответствующей информации в регистр 17 рода работ, Основная особенность данного режима - формирование синхроимпульсов в блоке 18 на каждый импульс, поступающий от формирователя 5 временной задержки через элемент 22 задержки, В результате осуществляется запись в блок 12 памяти ошибок совокупной информации о поступающей на объект контроля информации с указанием координаты (номера цикла). При...

Устройство для контроля тока потребления интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1626223

Опубликовано: 07.02.1991

Авторы: Новиков, Окатьев

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, потребления, схем

...усилителя 1, а их общая шина питания соединена с обшей шиной питания печатной платы 3, выход преобразователя 11 напряжение - гок соединен со средней клеммой 6, второй вывод источника 2 питания подключен к шине 8 питания печатной платы 3 и соединенные параллельно по цепи питания элементы 12 и 13,Устройство рабоТает для контроля тока потребления интегральных схем следующим образом,При включении источника 2 питания по шине 8 питания печатной платы 3 протекают токи потребления контролируемой микросхемы 4 и параллельно соединенных по питанию элементов 12 и 13, Клеммы 5 - 7 устанавливаются на шину 8 питания таким образом, чтобы средняя клемма б была соединена с выводом питания контролируемой микросхемы 4, Крайние клеммы 5 и 7...

Устройство для контактирования интегральных схем в растровом электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 1626467

Опубликовано: 07.02.1991

Авторы: Баскенов, Никифоров, Пухкало, Феклистов, Шестаков

МПК: H05K 1/11

Метки: интегральных, контактирования, микроскопе, растровом, схем, электронном

...и блоком зондов.Устройство для контактирования интегральных схем содержит столик 1 и зондодержатель 2 с иглами 3, Зондодержатель 2 связан с электромагнитом 4 посредством толкателя 5 и имеет центральное подвижное кольцо 6, Между зондодержателем 2 и блоком зондов 6 установлено биморфное пьезокерамическое кольцо 7, являющееся составной частью поджимающего узла 8, В состав узла 8 входит также болт 9 и пружина 10,Устройство работает следующим образом,Исследуемая интегральная схема помещается на столик 1, размещенный в вакуумном объеме, Включается электронный луч, и с помощью электромагнита 4 опускается эондодержатель 2 до максимального сближения (но не контакта) игл с интегральной схемой. На пьезокерамические биморфные кольца 7 подаются...