Патенты с меткой «неоднородностей»

Устройство для определения неоднородностей в твердых, жидких и газообразных средах, посредством ультразвуковых колебаний

Загрузка...

Номер патента: 49426

Опубликовано: 31.08.1936

Автор: Соколов

МПК: G01N 29/02, G01N 29/04

Метки: газообразных, жидких, колебаний, неоднородностей, посредством, средах, твердых, ультразвуковых

...заряды с которой снимаются электронным лучом и принимаются приемником дальновидения, дающим картину неоднародности. на экране,На чертеже фиг. 1 и 2 изображают два варианта конструкции трубки Брауна, применяемой для исследования неоднородностей.Мозаика 5 (фиг. 1), состоящая из большого числа маленьких пьезо-электрических кристалликов одинаковой толщины, склеивается по торцам и прикладывается к основанию обычной трубки 1 Брауна. Внешняя поверхность мозаики покрывается сплошным металлическим электродом 4, внутренняя поверхность стекла трубки, занятая мозаикой, покрывается сеткой маленьких металлических электродиков 3, изолированных друг от друга наподобие фоточувствительной мозаики в системе Зворыкина.Мозаика может быть помещена как...

Устройство для определения неоднородностей в твердых

Загрузка...

Номер патента: 60503

Опубликовано: 01.01.1941

Автор: Соколов

МПК: G01N 29/02, G01N 29/06, G01N 29/08 ...

Метки: неоднородностей, твердых

...электрические заряды.М 9113 Корректор Н. В, Гераськи на в Г 1 опп. к печ. 12/11 ак. 120 ЦБТИ 2, 6. ипографии Тр Ор, ои.кал енина, г. Оле оопастпа иг 1 ( Ре:дктор Х. П, Бидевкин Тскрсп Т, П. Курил 62 г. Форгпат бу.и. ОХ 10 Тираж 200 при Когиитее по деиаги изоб прп Совсгс Мпиистров Л 1 оскиа, Цеитр, М. 1 еркасск- 360503мую пластинку 3 со своей обкладкой, для чего она должна быть сдела- .1 Я как 10 ж 110 меньше, чтОбы ее можно Оыло считать как Оы токой.Получаемые на ней заряды можно затем известным способом пре)Я 11) ь в внзуа,1 ьное изображение или графическую картину нсоднородЧОСТ 1 й.Во Всех вышеприведенных случаях не требуется производить разложение изображения обнаруживаемого потока внутри образца 1 с той скоростшо, какая применяется...

Устройство для измерения малых неоднородностей без потерь

Загрузка...

Номер патента: 115354

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Пастухов, Терешин

МПК: G01R 27/06

Метки: малых, неоднородностей, потерь

...постоянной. Поэтому неоднородности стоячие волны в измерительной линии не н показания индикатора не будут изменяться. При наличии неоднородности показания индикатора максимуму показаний прибора при передвижении поршн полуволны определяется коэффициент отражения испыту ства.115354Принцип действия описываемого устройства поясняется блок-схемой, приведенной на фиг. 1.Модулированные колебания высокой частоты поступают от генератора 1 через аттенюатор 2 на измерительную Линию 3, к которой подключены раздвижная линия 4, испытуемое устройство б и линия б с короткозамыкающим поршнем, Отсчет измеряемых величин производитсяс помощью индикаторного устройства 7 и детекторной секции 8, Методика измерений заключается в том, что испытуемое...

Способ количественного исследования оптических неоднородностей при помощи теневого прибора

Загрузка...

Номер патента: 122310

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Васильев

МПК: G02B 27/46

Метки: исследования, количественного, неоднородностей, оптических, помощи, прибора, теневого

...для осуществления указанного способа.В теневой прис 01) устанавливают ц 11 цекстс)Ом расстоя 111 ц От О- кальной плоскости 1 диафрагму 2 с ряда.;1 и точс 1 ных отверстий, образуя)1 цих в фокальцсй плоскости ряды дифракццсццых картин. 1 с.;:): е. цие этих картин изменяется при нал:1 чци неоднородностей а исследсмо. среде. По велич)ше и направлению смещен:1 я дифракцисццьх картин, проектируемых на экран 3 при помощи точечного источникаможно судить о направлении и величине влияния неоднородности и о месте ее нахождения. Параметры решетки и размер источника 4 выо:1- ра 1 отся в зависимости От измеряемого Ооъекта. При измесециях ца а- родинамических трубах берутся решетки с периодом 0,1 - 2 л 1 л и цсточ ник размером 0,02 - 0,4 л 1 л 1,...

Способ определения напряжений и неоднородностей в полупроводниковых кристаллах

Загрузка...

Номер патента: 145033

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Гречушников, Дистлер, Чудаков

МПК: G01L 1/24

Метки: кристаллах, напряжений, неоднородностей, полупроводниковых

...определения напряжений и нсоднородцостей В ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ КРИСТЯЛЛЯХ ОСЦОВЯН НЯ СКЯИИПОВЯНИЦ УЗКИМ ПУЧ- ком инфракрасного излучения исследуемого полупров дникового кристалла с одновременной трансформацией выходного усиленного сигнала в видимое излучение, регистрируемое на обычном фотоматериале, который сканируется синхронно с исследуемым образцом. При применении предложенного способа исслсдованце производится в широком диапазоне инфракрасного спектра.Эффективность способа для выявления различного рода дефектов В полупроВодникоВых материалах подтВсрждяется практической про веркой. рсдмст изобретен об определения напрян(сций и неоднородностей в кристаллах путем цзмер=н: я их дво 1 Ного лучеп ю щ и й с я тем, что, с целью повышения...

Устройство для наблюдения оптических неоднородностей

Загрузка...

Номер патента: 151067

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Уханов

МПК: G02B 21/14

Метки: наблюдения, неоднородностей, оптических

...выполнен так, что соответственные точки, симметрично расположенные относительно средней линии экрана, имеют противоположньге значения фаз,Для наблюдения оптических неоднородностей в прозрачных средах известно применение фазовых экранов с поглощающей полосой.С целью повышения контраста изображения, а следовательно, чувствительности и точности используемого для наблюдения устройства, предлагается выполнять указанный экран так, чтобы в соответственных точках, симметрично расположенных относительно средней линии экрана, фазы имели противоположные значения, т, е. отличались на л, При этом точки экрана, лежащие по одну сторону от средней линии, также1отличаются по фазе, в частности на 2, Такое распределение фаз позволяет получить...

Ракурсный теневой прибор для пространственной визуализации оптических неоднородностей

Загрузка...

Номер патента: 172106

Опубликовано: 01.01.1965

Автор: Маказь

МПК: G01M 9/00

Метки: визуализации, неоднородностей, оптических, прибор, пространственной, ракурсный, теневой

...угол ср от нулевого положения пространство 5 неоднородностей пронизывается под ракурсом, определяемым углом а.В предлагаемом бизеркальном устройстве удачно используются два замечательных свойства отражения луча от двух зеркал, заключающиеся в том, что;1. Световой луч, претерпевший два отражения, составляет со своим исходным,направлением до отражения угол, который не зависит от угла падения его на зеркала, а зависи только от угла между зеркалами и равен уд172106 Предмет изобретения Составитель В. Ф. Ванторин Редактор Г. М. Печоров Техред Ю, В, БарановКорректор И. А, Ц 1 пынева Заказ 164017 Тираж 1100 формат бум. бОМ 90/в Обьем 0,21 изд. л. Цена 5 кои. ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР Москва, Центр,...

Способ выявления неоднородностей

Загрузка...

Номер патента: 191981

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Векшина, Еланска, Кроль

МПК: C30B 29/40, C30B 33/10

Метки: выявления, неоднородностей

...конобьния неоднородностеи и расесей в монокристаллах поутем аиодного травления изплотов е че предложенного сп травление осущес стоящем из иасыще ием раствора одног иой соляной кисло в течение 8 - 10 лин- 220 а/сме, Это дае неоднородности в р кристаллах антимоеи мет 10 Способ выявления неодиородн пределении примесей в моиокрис проводников путем анодного тр личающийся тем, что, с целью неоднородностей в кристаллах 15 галлия, образцы антимонида гал гают травлению в насыщенном хл моиием растворе одного объема рованной соляной кислоты в тр воды в течение 8 - 10 лин при п20 ка 180 - 220 ла/сле. особу травлению поды антимонида галлия, и поверхностями, или окисью алюминия. Испластинку из тантала, гружали в электролит,По описываемому сп вер...

Двухлучевой интерферометр для исследования прозрачных неоднородностей

Загрузка...

Номер патента: 192435

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Константиновска

МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...

Метки: двухлучевой, интерферометр, исследования, неоднородностей, прозрачных

...чивание волнового фронта в ветви, и регистрирующую систему. Это позволяет снизить требования к точности изготовления оптических деталей интерферометра и сохранить преимущества прибора с большим рабочим 2 полем,Применение лазера позволяет увеличить интенсивность интерференционной картины.На чертеже изображена принципиальная схема предлагаемого интерферометра. 3 Узкий пучок газового оптического квантового генератора (ОКГ) падает па полупрозрачную пластину 1 и делится на два пучка,Пучок, отраженный от пластины 1, преобразуется в широкий пучок с помощью конденсорной системы 2, зеркала 8 и зеркально-менискового коллиматора 4 (типа коллиматора теневого прибора). После коллиматора 4 световой пучок проходит через исследуемый объект 5,...

Интерферометр для исследования прозрачных неоднородностей

Загрузка...

Номер патента: 197219

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Ловков, Харитонов

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: интерферометр, исследования, неоднородностей, прозрачных

...независимую пару когерснтных световых пучков и направляю. щих их на систему плоских зеркал, полупро зрачную пластину и приемную часть, образующих вторую двухлучевую интерференцион. ную картину.Этот интерферометр позволяет получить одновременно две интерференционные двухлучевые картины в одной плоскости с различной начальной настройкой (различной ориентировкой, шириной интерференционных полос и компенсацией разности хода).На чертеже изображена схема описываемого интерферометра.Световой поток от источнидит коллиматор 2, попадает стину 3 и делится ею на дв оторых проходит через эта еркало 4 и полупрозрачную п ой пучок - через рабочую б и полупрозрачную пласти в приемную систему 7. Исследуемая неоднородность устанавливается в камере 8 в...

Теневой прибор для исследования прозрачных неоднородностей

Загрузка...

Номер патента: 199491

Опубликовано: 01.01.1967

МПК: G01N 21/45

Метки: исследования, неоднородностей, прибор, прозрачных, теневой

...ракурсом через исследуемую неоднородность. 20 Другая система установлена между камерой и приемной частью и обеспечиьает прохождение дополнительного светового пучка в приемную часть.Эти две оптические системы позволяют оп ределять параметры пространственных неоднородностей путем получения теневых картин в двух взаимно изменяющихся ракурсах.На чертеже изображено описываемое устройство. 30 Свет от источника 1 проходит через щель 2, коллиматор т, камеру 4 с исследуемой неоднородностью и направляется в приемную часть 5 устройства. Между коллиматором 3 и камерой 4 установлена полупрозрачная пла ти га б, создающая дополнительный световой пучок, направляемый на систему подвижных зеркал 7 и 8 (ца чертеже изображен вариант расположения...

Устройство для исследования газовых неоднородностей

Загрузка...

Номер патента: 200816

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Ермилов, Овечкин, Харитонов

МПК: G01B 9/02

Метки: газовых, исследования, неоднородностей

...2, с помощью линзы 3лиматора 4 преобразуется 30 на пути которого помещена камера 5 для исследуемой неоднородности, Пройдя камеру 5, пучок падает на коллиматор б; отражается от него и попадает на полупрозрачную пластину 7. Свет, отраженный от пластины 7, проходит через светофильтр 8, пропускающий излучение только от ОКГ, и попадает на экран 9.Часть пучка от ОКГ, прошедшая через полупрозрачную пластину 2, проходит через фильтр 10, срезающий излучение источникасвета 11.Пучок света от второго источника 11 проходит оптическую систему 12, рабочую ветвь интерферометра (2, 3, 4, 5, б, 7), светофильтр 13, срезающий излучение от ОКГ, и попадает на экран 14. Для получения теневой картины в фокальной плоскости коллиматора б установлен нож Фуко...

Способ измерения неоднородностей магнитногополя

Загрузка...

Номер патента: 231197

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Ануфриев, Мамырин

МПК: G01R 33/20

Метки: магнитногополя, неоднородностей

...при одной частоте генератора, Сигналы обоих датчиков проходят попеременно по одному тракту детектора ЯМР сигнала, Величину разности магнитных полей измеряют путем определения постоянного компенсационного тока, частоты при этом измерять не требуется,МПК С 01 п Ст 01 с УДК 620.1;550,838(088.8)23197 Предмет изобретен ия Тсхрсд Т. П. Курилко Корректор А. П. Татариицева Редактор И. С, Грузова Заказ 310/15 Тираж 530 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Центр, пр. Серова, д, 4 Типография, пр. Сапунова, 2 При выполнении равенства ЛН= - ЛН, т. е. при совмещении центров пиков сигнала ЯМР, по величине компенсационного тока легко измерить ЛН вследствие того, что они линейно пропорциональны...

Устройство для выявления оптических неоднородностей прозрачных образцов1ая

Загрузка...

Номер патента: 301601

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Вольп, Дорофеева, Забелышенский, Иглицын, Коло, Лагутин, Осаганова

МПК: G01N 21/958

Метки: выявления, неоднородностей, образцов1ая, оптических, прозрачных

...в материале образца, а также ряд других структурных дефектов оптического или полупроводникового материала.Регистрирующий блок 14 содержит релейную схему, интегратор, тактовый генератор, фазочувствительную схему сравнения, эталонный источник напряжения, стрелочный прибор - индикатор эталонного напряжения, триггерную схему синхронизации и кнопочное устройство оперативных переключений.Программирующий блок 18 содержит число- импульсную схему с дешифратором, тактовый генератор, преобразователь для щаговых электроприводов 7 и 8, электромеханическую систему обратной связи и два реле времени. 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 Регистрирующий блок 14 совместно с про. граммиругоц 1 им блоком 18 вполняе автоматическое измерение и регистрацию...

Способ выявления электрических неоднородностей на поверхности твердых тел

Загрузка...

Номер патента: 316982

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Артамонов, Зынь

МПК: G01N 23/04

Метки: выявления, неоднородностей, поверхности, твердых, тел, электрических

...необратимое изменение поверхности твердого тела при облучении высокоэнергетичными электронами,предложенный способ выявления электрических неоднородностей на поверхности твердых тел предусматривает облучение исследуемой поверхности электронным пучком со средней энергией, близкой к порогу возбужденияадсороировацных аро вещества, образующего твердую пленку, Это исключаеч возможность повреждения поверхности электронным пучком.Данный способ электронного декорировании заключается в том, что исследуемую поверхность помещают в вакуум в присутствии малого количества паров выбранного заранее вещества и облучают электронным потоком при 110.роговой энергии. Образовавшийся геометрцчс.скцй рельеф изучают методами электронной илц оптической...

Автоматический измеритель неоднородностей поверхности объекта

Загрузка...

Номер патента: 319840

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Боконь, Гильман, Кибернетики, Научно

МПК: G01B 11/30

Метки: автоматический, измеритель, неоднородностей, объекта, поверхности

...колебаний и конденсатора 3, расположенного на одной оптической скамье с источником света. Измеритель имеет также вибратор 4 с подключенным к нему генератором б прямоугольного или синусоидального напряжения, представляющим поляризованное реле, на якоре которого находится крепление для объектов, короткофокусный объектив б, диафрагму 7 с отверстием, формакоторого подобна форме исследуемого объекта с диаметром, меньшим диаметра увеличенного изображения поверхности на величину, равную амплитуде его колебаний и анализирующее устройство. Анализирующее устройство содержит конденсаторы 8 и 9, периодическую структуру 10, представляющую совокупность двух дифракционных решеток, расположенных под некоторым углом и вращающихся за счет...

Способ обнаружения неоднородностей в верхней части геологического разреза

Загрузка...

Номер патента: 360629

Опубликовано: 01.01.1972

МПК: G01V 1/00

Метки: верхней, геологического, неоднородностей, обнаружения, разреза, части

...упругои волны, зарегистрированные всеми приборамп от утказанной серии взрывов, записывают,на один носитель, например мапнипную,плениу. Затем всю получченную 5 информацию считывают и 1 по полученномуполю времен первых встучплений делают заключение о наличии неоднородностей и их хар а ктер е.Пусть вдоль профиля расставлено и сей О смоприемников с шагом ЛХ. Последовательно,проходят профиль и получчают времена 1 ЛХ перьвого встучпления для каждого интервала ЛХ. Далее,проходят профпль с интервалом проспрелки 2 ЛХ, при этом шаг переме щения почпрежнему составляет ЛХ. Получаютпоследователыность времен т 2 х Затем интервал прострелки учвеличивают до ЗЛХ и т.д., пока не достигают максимальной глубины исследования,20 Таская система наблюдений...

Способ определения неоднородностей спая и проводников термопары

Загрузка...

Номер патента: 386274

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Давыдов, Мишин, Первушин

МПК: G01K 7/02

Метки: неоднородностей, проводников, спая, термопары

...теп.ла,с, у, Х - соответственно удельная теплоемкость, плотность и теплопроводность10 материала термопары,Например, для хромель-копелевой термо.пары 6=0,1 мя т = (10 - 15) 10 -сек. Притаком значении выбранной длительности импульса тока нагрева растеканием тепла вдоль15 термопары и теплообменом нити с опорамиза время экспонирования можно пренебречь,что позволит, в значительной мере, повыситьточность измерений площадей сечения и однородности термопар,20 Термопару нагревают импульсом тока, причем во время нагрева термопару фотографируют, Из-за отсутствия достаточно чувствительных инфракрасных фотоматериалов прпмалых температурах нагрева используют25 электронно-оптический преобразователь.Если проводники термопары однородны иравномерно...

Способ обнаружения неоднородностей в массиве

Загрузка...

Номер патента: 387316

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Сегаль, Шемаханов

МПК: G01V 3/10

Метки: массиве, неоднородностей, обнаружения

...массиве горных пород. Первая волна является помехой, 25 причем величина ее оказывается значительнобольшей, чем полезный отраженный сигнал, Поэтому для уменьшения интенсивности прямой волны на пути ее распространения устанавливают экраны, выполненные, например, Зо в виде заземленных проводников. Однакопри этом только ослабляется, но полностью не подавляется сигнал прямой волны.По предлагаемому способу модулируют сигнал прямой волны путем периодического изменения степени экранирования прямой волны, что может быть достигнуто применением управляемых экранирующих проводников. Принимаемый в этом случае приемником сигнал прямой волны оказывается промодулированным как по амплитуде, так и по фазе.Электромагнитные колебания, излучаемые передающей...

Способ исследования оптических неоднородностей

Загрузка...

Номер патента: 397745

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Васильев

МПК: G01B 9/02

Метки: исследования, неоднородностей, оптических

...чтобы отклонение лучей в другом направлении, чаще всего перпендикулярном первому, приводило к изменению освещенности теневой кар тины. Затем определяют цвет каждой точки изображения и фотометрируют изображение397745 35 40 оставитель Л, Гойхман Техред Т. Курилко Корректор Н. Учгкина ловска едактор Тираж 755комитета Совета Мин истробретений и открытийРаушокая наб., д. 4/5 Поди исССР Тип. Харьк. фил. пред. кПатен в каждом цвете. По изменению освещенности (или связанной с ней величины),и цвета пзооражения измеряют две проекции угла отклонения световых лучей. в исследуемой неоднородности,Получаемая теневая картина непрерывна, поэтому измерения можно проводить в любой точке изображения. Становится возможным одновременное проведение...

Устройство для обнаружения неоднородностей в массивах горных пород

Загрузка...

Номер патента: 397877

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Авторы

МПК: G01V 3/06

Метки: горных, массивах, неоднородностей, обнаружения, пород

...колебания усиливаются усилителем мощностиб,и излучаются передающей антенной 6 в массив горных пород 1. Электромагнитные волны, отражающиеся от неоднородности 2, воздействуют на приемную антенну 7. На эту же антенну воздействует мешающее прямое излучение передатчика. Суммарное напряжение полезного и мешающего сигналов содержит линейную частотную модуляцию, обусловленную частотной модуляцией излучаемого сигнала, фазовую модуляцию, обусловленную запаздыванием отраженного сигнала и несущую полезную информацию о дальности до неоднородности, и паразитную амплитудную модуляцию, обусловленную главным образом паразитной амплитудной модуляцией сильного мешающего сигнала, которая возникает из-за неравномерности частотных характеристик отдельных...

Устройство для исследования прозрачных неоднородностей

Загрузка...

Номер патента: 409118

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01J 9/02, G01N 21/45

Метки: исследования, неоднородностей, прозрачных

...1, 2, ), ), 7, 8, 9, 10. 51 ецяя осветительные 5 и визуализирукнцце 9 л, фрг 1 ь 1, можно настраивать устройство для работы цо одному из следующих теневых мс)гОв: щслц; ножа, щели и пити, цветцы; изображений, рясфокусировацных штриховы; ;.1 и)фря м, я также цо мстодям ди 1ЯкиОнно 409118го, поляризационного и зеркального интерферометров сдвига.Для перенастройки предлагаемого устройства по автоколлимационной схеме с двухкрагным просвечиванием неоднородности параллельным пучком необходимо ввести светоделительный кубик 11 и плоское зеркало 12. В этом случае используются элементы 1, 2, 8, 7, 8, 12, 9 10 (штрихами помечены позиции элементов в новом положении). 1 ОДля настройки устройства по автоколлимационной схеме с двухкратным...

Интерферометрическое устройство для оперативного контроля фазовых неоднородностей в прозрачных средах

Загрузка...

Номер патента: 371419

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Крупицкий, Эмдин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометрическое, неоднородностей, оперативного, прозрачных, средах, фазовых

...в пучке по определенному закону, 1 о Наиболее легко при дальнейшей обработкеинформации реализуется закон шахматной последовательности, по которому изменяется фазовая структура пластины, производящей две градации фазы света, причем уменьшая 15 размер элементов градации фазовой структуры, можно проводить исследования мелкомасштабных фазовых неоднородностей среды.На чертеке схематически изображенопредлагаемое устройство,2 О Свет от источника 1 когерентного светапроходит через коллиматор 2 и расщепляется светоделительной призмой-куоом 3 на два пучка, предметный и опорный. Предметный пучок разворачивается зеркалом 4 в направ ленни исследуемой среды б, и, пройдя черезфазовую пластину б, становится пространственно молулированным по...

Устройство для регистрации неоднородностей в исследуемой жидкости

Загрузка...

Номер патента: 432438

Опубликовано: 15.06.1974

Авторы: Вигант, Лойко, Пахомов, Пахомова, Рижский, Рудик

МПК: G01T 1/24

Метки: жидкости, исследуемой, неоднородностей, регистрации

...для исследования криогенных жидкостей. На чертеже приведено устройство для регистрации неоднородностец в исследуемой жидкости.Устройство состоит из капсул5 тичного корпуса 2 и источниканых излучении 3.Внутри капсулы в непосредственной близости от тонкого входного окна укреплен полугроводниковый детектор 4, а внутренняя по лость капсулы заполнена нейтральным наполнителем 5. Капсула 1 своим фланцем крепится к нижнему фланцу 6 корпуса 2, которой, в свою очередь, крепится на баке или трубе 8 с исследуемой жидкостью при помощи флан ца 7. В нижний фланец 6 и в верхнюю крышку 9 герметичного корпуса впаяны изолированные тоководы 10, к которым присоединены токопроводы 11 и 12 для подачи напряжения смещения на полупроводниковый детектор...

Устройство для визуализации неоднородностей

Загрузка...

Номер патента: 454417

Опубликовано: 25.12.1974

Авторы: Отменников, Реутора

МПК: G01B 9/02

Метки: визуализации, неоднородностей

...важных случаях - при изучении неоднородностей больших размеров.Цель изобретения - улучшение светотехнических характеристик и обеспечение равномерного освещения основного растра в известном устройстве.В предлагаемом устройстве основной растр выполнен в виде ряда светящихся элементов, например люминесцентных ламп, В результате одновременно решается и проблема изготовления основного растра и его равномерное освещение, что обеспечивает возможность успешного использования прибора для изучения неоднородностеи больших размеров.На чертеже изображена принципиальнаясхема устройства.5 Основной растр 1, состоящий из ряда светящихся элементов, с помощью объектива 2 проецируется на визуализирующую диафрагму 3, представляющую собой негатив изображения...

Установка для определения неоднородностей в заготовках стекла

Загрузка...

Номер патента: 469076

Опубликовано: 30.04.1975

Авторы: Доладугина, Пастухов

МПК: G01N 21/00

Метки: заготовках, неоднородностей, стекла

...на станине внльчатый элемент, который посредством шарикоподшипнпков 10 и червячных редукторов 11 от электродвигателя 12 вращается вокруг вертикальной оси в пределах 360. От электродвигателя 13 при помощи системы передаточного механизма 14 рама поворачивается относительно вилкообразного элемента вокруг горизонтальной оси в пределах .+170. Поворот держателя с заготовкой относительно вертикальной и горизонтальной осей производится дистанционно посредством ручного электрического пульта управления 15.Проекционный экран установки представляет собой поворотную вокруг горизонтальной оси раму 16, укрепленную на вильчатом кронштейне 17, смонтированном на станине 18. На раме закреплено стекло 19. Рама снабжена прижимными линейками 20,...

Устройство регистрации структурных неоднородностей твердых веществ

Загрузка...

Номер патента: 474724

Опубликовано: 25.06.1975

Авторы: Алиев, Антонова, Крылов, Митрофанов, Трофимов, Шарлай

МПК: G01N 21/28

Метки: веществ, неоднородностей, регистрации, структурных, твердых

...25 30 35 40 45 50 55 60 65 сматриваемых точках. При скоростном сканировании образца относительно светового зонда за время длительности импульса магнитного поля (100 мксек) на вход фотоприемнгка поступал сигнал, соответствующий координатному распределению легирующих примесей в исследуемой строке.Для исключения влияния поглощения лазерного излучения веществом предусмотрена система АРУ в усилительном блоке, состоящая из фотоприемника, на который подается часть лазерного излучения, ответвленного с помощью плоскопараллельной пластины, помещенной между образцом и анализатором и источника опорного напряжения. При изменении коэффициента поглощения образца в процессе строчного сканирования, напряжение рассогласования попадает в систему АРУ,...

Способ формирования сигналов для распознавания растений и других неоднородностей

Загрузка...

Номер патента: 482137

Опубликовано: 30.08.1975

Автор: Сакало

МПК: A01B 41/06

Метки: других, неоднородностей, распознавания, растений, сигналов, формирования

...действующие на эту систему и автогенераторный преобразователь, значительно превышающие полезное воздействие, переводят автогенератор 20 в устойчивое состояние, характеризующеесяпониженной чувствительностью к воздействию распознаваемых элементов. Поэтому режим автогенератора модулируют (например, периодическим воздействием на величину его 2 Б положительной обратной связи) в таких пределах, что в процессе этой модуляции достигают режима в зоне максимальной чувствительности к сопротивлению воспринимающей системы, при котором на этот режим ЗО начинают больше влиять сопротивления, вно482137 10 Предмет изобретения Составитель Л. Сакало Техред Т. КурилкоРедактор Л. Герасимова Корректоры: В. Дод и Е. Давыдкина Заказ 3061/13 Изд,1764 Тираж 619...

Устройство для исследования оптических неоднородностей

Загрузка...

Номер патента: 482619

Опубликовано: 30.08.1975

Авторы: Отменников, Реутова

МПК: G01B 9/02

Метки: исследования, неоднородностей, оптических

...установленным за пределами глубины резкости основного растра на расстоянии, обеспечивающем проектирование изображения источника света осветителя во входной зрачок устройства, и имеющим полный угол рассеяния, равный входной апертуре объекти- ва отехничех свойств ный угол туре объвключает жателя 2, отражаю- а, местныалее, и уг- Отражаны резкопланом) ектирова- осветите- Расстояи отражаП редм ет изобретения Составитель И. Климова Техред Т. Миронова Корректор Л, Денискина Редактор О. Юркова Заказ 19/6 Изд. М 1978 Тираж 782 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж.35, Раушская наб д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 где 1 - расстояние между объективом 5 иосновным...