Неофитный
Устройство для гильберт преобразования пучка излучения
Номер патента: 1755249
Опубликовано: 15.08.1992
Авторы: Балашова, Дыл, Лукашевич, Неофитный, Свич
Метки: гильберт, излучения, преобразования, пучка
...периода, такой, что расстояние ЬТ между двумя центральными штрихами выбрано из следующего соотношенияд, Х 2 п-.1,.2где Т - период расположения штрихов структуры, и = 1, 2. 3,При этом поля, рассеянные двумя разделенными местом сбоя властями дифракционной структуры, отличаются на 180, При освещении структуры когерентным пучком света в дифракционных порядках формируется Гильберт-образ излучения.Недостатком устройства является невозможность получения Гильберт-образа с максимальным значением интенсивности поля в третьем дифракционном порядке. В данной структуре интенсивнрсть формируемого Гильберт-образа падает с увеличением номера дифракционного порядка, Зависимость относительного значения интенсивности Гильберт-образа от номера и...
Устройство для ориентации объекта
Номер патента: 1684593
Опубликовано: 15.10.1991
Авторы: Неофитный, Пржевский, Фетисов, Яковлев
МПК: G01B 11/26
Метки: объекта, ориентации
...к первому входу блока 5 вращения, соединенного вторым входом с выходом блока 3 задания ориентации, блока 10 управления, подключенного входом к выходу прерывателя 8, штанги 11, скрепляющей объект 12 и вторую дифракционную решетку 4.Устройство работает следующим образом.Излучение лазера 1 направляется на систему из последовательно расположенных по направлению потока излучения зеркальных дифракционных решеток 2 и 4. В отраженных от второй дифракционной решетки 4 пучках располагаются фотоприемники 6, число которых определяется числом используемых порядков дифракции. При этом расстояниемежду дифракцион ными решетками выбирается в зависимости отдиаметра решетки О и угла дифракции а, исходя из соотношения На пути пучка с нулевым порядком...
Устройство для формирования гильберт-образа пучка излучения
Номер патента: 1674049
Опубликовано: 30.08.1991
Авторы: Балашова, Лукашевич, Неофитный, Сафиуллин, Свич
МПК: G02B 27/42
Метки: гильберт-образа, излучения, пучка, формирования
...Данная свертка и представляет собой преобразование Гильберта от 0(аф где знак уголок над функцией обозначает преобразование Фурье этой функции по частоте в = - в . Необ 2 лх ходимое условие формирования Гильбертобраээ не выполняется при значениях гр, хре, отличных от указанных дискретных множеств значений. Так, например, вблизи плоскостей наблюдения ар дифрэкционное изображение является слабоконтрастным и не отображает Гиль- берт-образа. За пределами координат хрп поля, рассеянные канавками 2 структуры 1, имеют разность хода, отличную от Л/2, что приводит к искажению картины формируемого изображения, При этом в плоскостях наблюдения ар возможна реализация других интегральных преобразований, например, при синфазном сложении рассеянных...
Устройство для выполнения интегральных преобразований пучка излучения
Номер патента: 1601600
Опубликовано: 23.10.1990
Авторы: Балашова, Лукашевич, Неофитный, Покормяхо, Сафиуллин, Свич
МПК: G02B 27/42
Метки: выполнения, излучения, интегральных, преобразований, пучка
...фазовых объектов,Цель изобретения - расширение функциональных возможностей путем формирования Гильберт-образа пучка 1 О в заданном дифракционном порядке1при сохранении Фурье-образов в остальных порядках, а также выполненИе преобразования Фуко.На фиг.1 и 2 представлены конструкции фазовых дифракционных структур с различной и равной глубиной шустриков на двух участках.Устройство выполнено в виде фазоной дифракционной структуры 1 с прямоугольным профилем штрихов - канаок 2, которая представляет собойва участка 3 и 4 с одинаковой шириНой и различными значениями отношений поперечных размеров ди д25штрихов к периодам Т и Т их расположения, определяемым из соотно пе- нийФормула изобретения 1. Устройство для выполнения интегральных...
Способ формирования мультиплицированного изображения периодической структуры
Номер патента: 1287093
Опубликовано: 30.01.1987
Авторы: Епишин, Неофитный
МПК: G03H 1/22
Метки: изображения, мультиплицированного, периодической, структуры, формирования
...образом, предложенный способ позволяет получить мультиплицированные с нужн )м коэффициентом изображения в заданной плоскости регистрации. Формула и з о б р е т е н и я Способ формирования мультиплицированного изображения периодической структуры, включающий ее освещение пучком электромагнитного излучения и фиксирование изображения в плоскости наблюдения, расположенной в зоне Френеля, о т л и . а ю щ и й с я тем, что, с целью формирования изображения в заданной плоскости, между упомянутой структурой и плоскостью наблюдения располагают периодическую структуру, такую же, как и исходиая, а освещение производят немонохроматическим пучком света, при этом расстояние между двумя периодическими структурами Ь определяют из соот-...
Способ измерения радиуса кривизны фазового фронта пучка электромагнитного излучения
Номер патента: 1153372
Опубликовано: 30.04.1985
Авторы: Епишин, Заславский, Неофитный, Пржевский
МПК: H01S 3/00
Метки: излучения, кривизны, пучка, радиуса, фазового, фронта, электромагнитного
...дифракционной картины и определение по параметрам этой картины искомого радиуса кривизны, дифракционную картину регистрируют в плоскости мультиплицированного изображения данной структуры по отношению к падению на нее плоской волны, определяют на одном периоде упомянутой картины отношение максимальной интенсивности поля в "области расположения искаженной тени к минимальной интенсивности поля в области неискаженной тени, по которому изкалибровочной кривой находят модульискомого радиуса кривизны, Фиксируют взаимное расположение указанныхтеней по отношению к калибровочнойметке и по нему определяют знак радиуса кривизны фазового фронта исследуемого пучка излучения,В основу способа положен тотФакт, что прп падении па редкую...
Способ измерения кривизны фазового фронта пучка электромагнитного излучения
Номер патента: 1124180
Опубликовано: 15.11.1984
Авторы: Епишин, Заславский, Неофитный, Пржевский
МПК: G01J 1/42
Метки: излучения, кривизны, пучка, фазового, фронта, электромагнитного
...плоскости от кривизны Фронта пучка электромагнитного излучения позволяют провести оценку кривизны фазового фронта. В качестве неэквидистантной структуры может применяться, например, такая, в которой расстояния между соседними рассеивающимиэлементами изменяются по квадратичному или линейному законуНаправим на решетку пучок излучения с радиусом кривизны Фазового фронтав направлении оси у, Вблизи Фокуса и -го дифракционного порядка комплексную амплитуду поля можно записать исходя из принципа ГюйгенсаКирхгофа, аппроксимируя решетку квадратичным Фазовым корректором с Фокусным расстоянием. Если функция изменения амплитуды пучка излучения на решетке (х = -а, а 1) ранна Кх), точка наблюдения - х расположена в зоне Френеля, то с точностью...