Патенты с меткой «интегральных»

Страница 11

Способ отбраковки потенциально нестабильных цифровых интегральных микросхем

Загрузка...

Номер патента: 1420558

Опубликовано: 30.08.1988

Авторы: Воинов, Кругликов, Ледовской

МПК: G01R 31/3181

Метки: интегральных, микросхем, нестабильных, отбраковки, потенциально, цифровых

...однократное интегрирование в течение промежутка времени, длительность которого определяется видом контроля. Так, для проведения интегральной диагностики микросхемы устанавливается время интегрирования, равное времени действия заданной тек стовой последовательности, а для обнаружения неисправной цепи минимально устанавливаемое время интегрирования равно сумме времени действия одного входного воздействия и длительности переходного процесса выключения элементов микросхемы.Кроме того, производить контроль надежности микросхем можно параллельно с функциональным контролем, что уменьшает количество необходимых операций и повышает оперативность способа.25 На чертеже представлена схема устройства для реализации предлагаемого...

Устройство для вычисления нелинейных интегральных операторов

Загрузка...

Номер патента: 1424017

Опубликовано: 15.09.1988

Авторы: Абдусатаров, Акбаров, Верлань, Каримов, Мансуров, Шакамалов

МПК: G06F 7/64

Метки: вычисления, интегральных, нелинейных, операторов

...(Т,) 1, поступающей с блока 11,В результате получаем значение произведения Ь з Р ф(г.,), а значенияпеременных С = 0 и С = 0 черезоткрытые управляющим сигналомЬс первого выхода первого блока 4сравнения второй 6 и третий 7 блокиэлементов И проходят на, блок 8, врезультате чего в нем вычисляетсязначение ядра Е(1, С,), Одновременно управляющий сигнал С = Т;(11) поступает на вход элемента 19задержки, на пину сброса третьегонакапливающего сумматора, на первыевходы первого 17 и второго 21 коммутаторов и открывает первый блок 2элементов И, в результате чего напервом накапливающем сумматоре 3 вычисляется г. = с = 1, + Ь = Ь.В третьем такте в первом блоке 4сравнения выполняется сравнениеС = Т с Ь, во втором блоке 13 сравнения - с с С, в блоке 11...

Способ диагностического контроля тензорезистивных полупроводниковых интегральных преобразователей

Загрузка...

Номер патента: 1430897

Опубликовано: 15.10.1988

Авторы: Борщев, Каленик, Малков, Морозов, Петров, Спалек

МПК: G01B 7/16, G01R 17/10

Метки: диагностического, интегральных, полупроводниковых, преобразователей, тензорезистивных

...и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5Производственно-полиграфическое предприяти., г. Ужгород, ул. Проектная,теля 2 мВт проходит в кремний на глубину порядка 2 мкм, что достаточнодля того, чтобы облучить дно изолирующего р-и-перехода диффузионных 5тензорезисторов. Инфракрасное облучение области тензореэисторов способствует выявлению и идентификациискрытых дефектов структуры ИП,Предлагаемый способ применим не 10только к ИП, но и к датчикам, выполненным на их основе, что позволяетвыявлять дефекты, вносимые при сборкедатчика,Для идентификации дефектов на 15стадии пластин или на разделительныхкристаллах ИП осуществляется измерение информативных параметров при локальном инфракрасном облучении облас"тей тензорезисторов, т.е. Б...

Способ контроля надежности полупроводниковых приборов и интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1430913

Опубликовано: 15.10.1988

Авторы: Космачев, Малков, Молодык, Петров

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, надежности, полупроводниковых, приборов, схем

...2. Устанавливают требуемую амплитуду испытательных импульсов на выходе формирователя 2 и подают их на объект 3 контроля, Блок 5 выравнивает сигналы 45 переходного процесса и испытательных импульсов и вычитает, т.е, осуществляется выделение реактивных составляющих переходных процессов. Разделение сигналов реактивных составляющих переходных процессов, соответствующих фронту и спаду испытательных импульсов напряжения питания, осуществляется коммутаторами 6 и 7, При этом значения показаний вольтметров 8 и 9 (О и 0) соответствуют значениям реактивной мощности при фронте (Р,) и спаде (Р) импульса, Раздельно измейяя крутизну фронта и Т -Р, Т(,где минт РсмингеР Изобретение относится к электройной технике и может быть использовано при...

Устройство контроля интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1430914

Опубликовано: 15.10.1988

Авторы: Гаврилов, Хлебников

МПК: G01R 31/02, G01R 31/303

Метки: интегральных, схем

...генератора 8 тока. Значение напряжения программируемого источника 6 напряжения равно0". Ток и нулевой потенциал поступают на два соответствующих вывода объекта 10 контроля, Выбор вывода объекта 10 контроля определяется информацией с блока 1 памяти. При наличииконтакта с выводом объекта 10 контроля через его входной диод протекает ток, который создает падение напряжения, фиксируемое измерителем 9.Компараторы измерителя 9 сравниваютуровень входного напряжения с двумяопорными напряжениями, задаваемымипрограммируемым источником 6 напряжений. Превышение входным напряжениемнормы соответствует браку, которыйфиксируется с выхода соответствующего компаратора измерителя 9 через,элемент ИЛИ 23 и элемент И 26 натриггере 15 в момент появления...

Устройство для функционального контроля цифровых интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1430915

Опубликовано: 15.10.1988

Авторы: Данилов, Лобанов, Пункевич

МПК: G01R 31/3181

Метки: интегральных, схем, функционального, цифровых

...9задержки - на микросхемах серии 500(например 500 ЛП 116), элемент И-НЕ 26 -на микросхеме 500 ЛМ 105.Устройство при контроле ИС по одному выводу работает следующим образом.На входную клемму 14 устройства поступает выходной сигнал с испытуемойИС с заданной частотой контроля(фиг,2 а). В блоке 1 аналоговых компараторов выходные сигналы ИС сравниваются с уровнями "1" и "0", задаваемыми источниками 19 и 20 опорных напряжений. На входную клемму 16 и,следовательно, на первый вход триггера21 поступает сигнал эталонной информа 1430915ции (фиг. 2 б), на входную клемму 17 (первый вход триггера 22) постоянно поступает сигнал разрешения контроля, разрешающий работу выходного тригге 5 ра 6. По достижении контролируемым сигналом уровня "0" (фиг.2 а,...

Полуавтомат для герметизации интегральных микросхем роликовой сваркой

Загрузка...

Номер патента: 1433702

Опубликовано: 30.10.1988

Автор: Зырянов

МПК: B23K 11/06, B23K 31/02

Метки: герметизации, интегральных, микросхем, полуавтомат, роликовой, сваркой

...передается на распредвал 18 узла подачи микросхем., на котором ус 433702танонлены диски фотоотдатчиков 36,кулачок 37. Лалее движение посредством зубчатых пар 13 и 4 передается на ведущую сдвоенную звездочку 11 конвейера 5, Последний совершает постоянное, равномерное движение,Оператор вручную укладывает корпуса 50 микросхем на столик 42О(фиг, 3 и 4) каждого держателя 9конвейера, а ьа корпус 50 укладываеткрьппку 51. Постоянный магнит 43 удерживает корпус микросхемы и крышкуна нем но время движения конвейера.Перед первой парой сварочных роликов(сварочная головка 9) конвейер проносит корпус микросхемы 50 с крышкой51 между двумя направляющими планками 24, установленными на рычагах 23,взаимно подпружиненных до соприкосновениявинта 48 и...

Матрица интегральных магнитных сердечников

Загрузка...

Номер патента: 1434498

Опубликовано: 30.10.1988

Автор: Мочалов

МПК: G11C 11/14

Метки: интегральных, магнитных, матрица, сердечников

...с другом и выполненными из магнитно-мягкого мате 1 иала с непрямоугольной петлей гистерезиса. Каждая магнитная полоска 6 смыкается с соответствующей магнитйой полоской 2 и образуется замкнутый магнитопровод сердечника.В связи с тем, что интегральная технология не может обеспечить достаточно точное выполнение толщин элементов, то и определяемая толщинами изоляционных и проводниковых сло" ев длина полоски б будет изменяться от сердечника к сердечнику. Но так как полоска б изготовлена из магнит 55 но-мягкого материала с непрямоугольной петлей гистерезиса, то изменение ее длины не влияет на ток перемагни Формула и э оМатрица интегралсердечников, содержачасти сердечников,подложке и образующчастями сердечниковуправляющие...

Контактное устройство для контроля интегральных микросхем

Загрузка...

Номер патента: 1441460

Опубликовано: 30.11.1988

Автор: Яковлев

МПК: H01R 12/20

Метки: интегральных, контактное, микросхем

...следующим образом.При установке устройств а на пл ату12 ориентир 2 ориентирует корпусотносительно корпуса интегральноймикросхемы, при этом прямоугольныеотверстия 16 захватов занимают положение напротив корпуса 11, а пружинящйе контакты 8 - напротив выводов17 интегральной микросхемы. При повороте кулачка происходит освобож41460 10 15 20 25 30 35 40 45 50 ла, одни концы которых закреплены накоромысле, а другие снабжены буртиками с прямоугольными окнами, причем 55 пружинящие контакты расположены подострым углом к центральной оси устройства, а их рабочие поверхности выполнены с режущей кромкой. 314 дение пружины 7, которая толкает коромысло 5 и увлекает за собой захваты 4, При этом (на первоначальном этапе) происходит взаимодействие...

Устройство для вырубки интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1442294

Опубликовано: 07.12.1988

Авторы: Башкатов, Филипьев

МПК: B21D 28/14

Метки: вырубки, интегральных, схем

...на включение пресса. В момент т:.ырубки выталкиватель 6 находится в крайнем правомположении за пределами зоны вырубки,при этом подпружиненная планка развернута под действием выступов на 45направляющих 4. Интегральная схемапосле вырубки ложится в паз междупрофильными направляющими 4,Выталкиватель 6 перемещается вдоль лотка выгрузки и направляет подпружиненной планкой 7 вырубленную микросхему, при этом поводок 8 схо" дит с выступов направляющих 4 и планка 7 под действием пружины прижимает интегральную схему к направляющим 4, надежно фиксируя ее в них.При дальнейшем перемещении выталкивателя 6 интегральная схема попа" дает в наклонный лоток 9, имеющий профиль схемы и оттуда попадает в сменную кассету 10.Изобретение позволяет повысить...

Устройство для решения интегральных уравнений

Загрузка...

Номер патента: 1446619

Опубликовано: 23.12.1988

Авторы: Абдусатаров, Акбаров, Верлань, Каримов, Мансуров, Шакамалов

МПК: G06F 7/64

Метки: интегральных, решения, уравнений

...функциональных возможностей за счет решения уравнений со слабосингулярнымядром, в него введены регистр верхней границы интегрирования, два блока сравнения, семь блоков элементов 5 10И, второй и третий накапливающие сумматоры, два элемента ИЛИ, блок элементов ИЛИ, блок памяти, элемент И, элемент задержки, второй блок эле 15 ментов НЕ, блок возведения в степень, регистры первого, второго и третьего параметров, блок вычисления обратнойвеличины, второй уиножитель, блокделения и три комбинационных сумматора, причем выходы регистра величины шага соединены с информационнымивходами первого блока элементов И,20 выходы которого подключены к информационным входам первого накапливающего сумматора, выходы которого соедииены с информационными...

Способ настройки интегральных тензометрических мостов

Загрузка...

Номер патента: 1448288

Опубликовано: 30.12.1988

Авторы: Демин, Жучков, Зиновьев, Тихоненков, Тихонов

МПК: G01B 7/16, G01R 17/10

Метки: интегральных, мостов, настройки, тензометрических

...тензорезистору 4).Измеряют величину выходного сигна ла тензометрического моста с включенным технологическим шунтом (Ют). Рассчитывают сопротивление шунтирующего резистора по Формуле, Иэ ряда номинальных сопротивлений, например резисторов 2 С = Зб, выбирают наиболее близкий по значения к расчетному значению шунтируящий резистор и подключают вместо технологического шунта 1 О, Затем измеряют величину выходного сигнала и по его знаку выявляют плечо, которое необходимо изменить для балансировки схемы. До" рабатывают выявленный тензорезистор лазером, т.е. методом, при котором не меняется ТКС плеча моста, до получения величины начального выходного сигнала в требуемых пределах, На этом процесс настройки интегрального тенэометрического моста...

Способ электротермотренировки интегральных микросхем

Загрузка...

Номер патента: 1449950

Опубликовано: 07.01.1989

Авторы: Веденисов, Игнатьев

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, микросхем, электротермотренировки

...к блоку 1 питания (источнику постоянного тока) через 4 О контакты коммутатора 2. Выходы микросхем через ограничивающие резисторы13 ацтподключают к напряжению - 2 (получаемому от того же источника пита 45 ния) также через контакты коммутатора 2.щСлучайная последовательность импульсов на входах микросхемы обеспе" чивает тренировку практически всех переходов. Тактовая частота следования импульсов 1 МГц. Коммутатор подключает все выводы схемы к генератору 3, блоку 1 питания и нагрузке с частотой 1-50 Гц. Нрв этом обеспечивается тренировка схемы в режиме пе" реходных процессов, соответствующих реальным при эксплуатации схемы. Полная тренировка выходных каскадовобеспечивается подключением к выхо 1 питдам микросхемы напряжения .2Выбор частоты...

Устройство для измерения теплового сопротивления интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1456919

Опубликовано: 07.02.1989

Авторы: Кромин, Мадера, Резников

МПК: G01R 27/00, G01R 31/303

Метки: интегральных, сопротивления, схем, теплового

...цепи предустановки счетчика 13 и цепи записи "1" при начальной установке регистра 12.Генератор 11 тактовых импульсов формирует последовательность импульсов положительной полярности. Скважность этих импульсов равна скважности импульсов, представленной на диаграммах а и Ь(фиг. 2). Генератор 1.1тактовых импульсов определяет периодподачи напряжения питания на измеряемую интегральную схему 7. Ширинаимпульсов положительной полярностиопределяет время подачи на интегральную схему 7 напряжения источника 1напряжения. В начальный момент времени после нажатия кнопки 21 на выходегенератора 11 тактовых импульсов появляется логический "О", поэтомубуферные вентили 22, 1-22.М закрытыи источник 1 напряжения формирует нулевое значение питающего...

Способ контроля качества интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1458842

Опубликовано: 15.02.1989

Авторы: Знаменская, Малков, Нуров, Петров, Черенков

МПК: G01R 31/303

Метки: интегральных, качества, схем

...и, соответственно, проявляется в большем отклонении щ-параметра, целесообразно принять решение о выборе по меньшей мере одной цепи и нескольких значений измерительного тока, характеризуемых максимальными отклонениями ш-параметра от типового значения, Выбор нескольких значений тока и отказ от контроля непрерывной щ-ха" рактеристики в полном диапазоне токов упрощает процесс контроля. Повышение достоверности контроля дости гается за счет выбора в качестве информативных тех цепей, в которых отклонение ш-параметра у отказавших интегральных схем максимально, В отличие от известного способа, при котором выбираются цепи с наиболее часто встречающимися аномалиями, в предложенном способе может быть выбрана цепь с редко встречающимися...

Устройство для формирования интегральных характеристик модулярного кода

Загрузка...

Номер патента: 1464293

Опубликовано: 07.03.1989

Авторы: Коляда, Селянинов

МПК: H03M 7/18

Метки: интегральных, кода, модулярного, формирования, характеристик

...с выхода блока 4.Ксуммирования вычетов по модулю ш поступает на вход преобразователя 5 интервального индекса, который на первом и втором своих выходах сформирует соответственно величины Е(Х) и Л(Х). Величина 3(Х) с второго выхода преобразователя 5 интервального индекса иоступает на единичный вход триггера 8, на счетный вход которого с выхода анализатора 10 индексов знаковых чисел подается величина 6(Х), в результате на выходе триггера 8 формируется знак числа Я(Х) = ,7(Х) + 8(Х)1, Полученные интегральные характеристики исходного модулярного кода х, х х, Е (Х), Е(Х), В(Х), 8(Х) и Я(Х) снимаются соответственно с выходов 18.1, 18.2 18.К, 19, 20, 21, 22 и 23 устройства,На (Т+2)-м такте работы устройства содержимое х;, счетчика 12. (1 =...

Способ тестирования интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1465837

Опубликовано: 15.03.1989

Авторы: Осипов, Суворинов, Титов, Шахбазов

МПК: G01R 31/308

Метки: интегральных, схем, тестирования

...соответственно; 11Физмеряемое напряжение; Ц- импульсы электронного пучка; Л(С) - интеграл информационного сигналя;Л -допустимая ошибка сравнения.На вход интегральной схемы 1 по-дают входной набор сигналов с частотои. . Одновременно с этим облучают импульсным электронным пучком2 с частотой импульсови с заданной длительностью и фазой, представленным на временной диагрямме(Фиг,2) графиком. Вторично-эмиссионный поток 3 от контролируемой области преобразуется и усиливается усилителем-преобразовятелем 4 и подаетсяна вход интегратора 5. С выхода интегратора сигнал, соответствующийграфику Я(С) на временной диаграмме(Фиг.2), подается на вход компаратора 6, опорное напряжение 11, на котором задается потенциометром 7. Сигнал ошибки (больше/меньше)...

Устройство для автоматического контроля интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1471155

Опубликовано: 07.04.1989

Авторы: Белогуб, Бровко, Зайченко, Кипаренко, Самбуров, Свекла, Сергиенко

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, схем

...канального формирователя, а также напряжений "Нижний уровень" и "Верхний уровень", управляющие выходными каскадами канального формирователя.Кажпый из канальных Формирователей содержит схему И-НЕ )90, схемы ИЛИ/ИЛИ-НЕ 191 в 93, транзисторы 194 и 195, диоды 196-201, резисторы 202- 224, ключ 225, конденсатор 226 и схему И-НЕ 227 (фиг.9). Канальный формирователь предназначен для преобразования логических сигналов ЭСЛ-схем (схемы 191 в 1) в уровни, требуемые для задания воздействия на выводы контролируемой схемы. Оконечные каскады выполнены на ненасыщенных ключах (транзисторы 228,195). Логические сигналы с выходов схем 191-193преобразуются в управляющие сигналыдля оконечных каскадов с помощью диф"ференциальных каскадов, выполненных на...

Устройство контроля интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1479899

Опубликовано: 15.05.1989

Автор: Гаврилов

МПК: G01R 31/28, G01R 31/3181

Метки: интегральных, схем

...19образуется остаток от деления двухполиномов, Один полином - это входнаяинформация на полусумматоре 18, а второй определяется наличием связей с выходов соответствующих разрядов сдвигающего регистра 19 на входы полусумматора 18. После окончания определения наличия контактов с выводами объекта 15 контроля происходит определение его выходов, В этом случае отличие входа от выхода определяется путем подачи тока противоположного по знаку к предыдущей проверке, В отличие от первой проверки при второй проверке ток протекает через выходной буфер объекта 15 контроля, а через входной буфер ток практически не проходит (сопротивление входа по сравнению с выходом больше во много раз). Отсюда перекапряжение на измерительном входе измерителя 7...

Устройство для контроля контактирования интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1483411

Опубликовано: 30.05.1989

Авторы: Дворкин, Жигачев, Оркин, Паремский

МПК: G01R 31/04, G01R 31/303

Метки: интегральных, контактирования, схем

...БИС 1.Поскольку на Я-выходе Ю-триггера 13 при отрицательном импульсе с формирователя 10 устанавливается 0, а элемент НЕ 14 выполнен по схеме с общим коллектором закрыт, конденсатор 8 не разряжается через резистор 17 на элемент НЕ 4 и не заряжается от этого элемента, а заряд конденсатора 18 зависит только от потенциала ца контактном элементе 23.Протекание тока по цепи: + источника 24 - вывод 3 - вывод питания Е выходного буферного элемента 9 - вход буферного логического элемента 9 - выход базового логического элемента Йл - вывод 2, обусловлено следующими прцчина ми. 11 апример, пусть в качестве элементов 9 и 8. использованы элементы типа 1 Т, 1 Ш.оскольку установочный тест на БИС 1 е подается, базовый логический элемент 8 можс; быть...

Устройство для загрузки плоских изделий, преимущественно выводных рамок интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1499540

Опубликовано: 07.08.1989

Автор: Рене

МПК: H05K 13/02

Метки: выводных, загрузки, интегральных, плоских, преимущественно, рамок, схем

...19,На плиту 9 стола 4 робот спускаетпустую кассету 56 так, что установочные пальцы кассеты входят в установочные втулки 10 стола. При этомдатчики, установленные на столе, переключают пневмоцилиндры 19 на обратный ход и рамка 18 стола возвращается в горизонтальное положениеи прижимает кассету 56 к плите стола 9, Одновременно рамка 18 столапосредством датчиков (не показаны)производит включение цилиндра 16,который, перемещаясь по штоку 14,перемещает каретку 2 1 по рамке столав сторону одного из магазинов 5 (например, правого), Дойдя до магазина,захваты 24 правого ряда каретки 21 упираются в выводные рамки интегральных схем 30, которые, находясь впазах 29 магазина, удерживаются защелками 31 и остаются на месте, акаретка...

Способ изготовления планарных полупроводниковых приборов и интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1102416

Опубликовано: 07.08.1989

Авторы: Асеев, Герасименко, Калинин, Федина

МПК: H01L 21/263

Метки: интегральных, планарных, полупроводниковых, приборов, схем

...т междоузельные атомы), Эа счет разной подвижности при комнатной температуре междоузельные атомы выходят на повеохность(если на нейнет окисной пленки и других загрязнений), и в объеме образуется избыточная концентрация вакансий, которыевзаимодействуют со стержнеподобнымидефектами и растворяют их,Энергия электронов должна бытьбольше или равна 220 кэВ, так как при меньших энергиях в объеме не будут создаваться радиационные дефекты. Испольэовать электроны с энергией бо"лее 1 мэВ невыгодно, так как сильно возрастают вес и стоимость ускорителя электронов. Интенсивность пучка электронов должна быть больше или равна 51 О"ф смс-, так как при меньших интенсивностях облучения образующиеся точечные дефекты уходят на другие стоки в объеме...

Устройство для подключения интегральных схем и цифровых блоков к контрольно-испытательной аппаратуре с контролем контактирования

Загрузка...

Номер патента: 1500954

Опубликовано: 15.08.1989

Авторы: Николаев, Храпко

МПК: G01R 31/02, G01R 31/303

Метки: аппаратуре, блоков, интегральных, контактирования, контролем, контрольно-испытательной, подключения, схем, цифровых

...поступает на резисторы 5.1-5.ш, служащие для ограничения тока через р - и-переходы; а также на входы компараторов 7.1-7,ш. С помощью соответствующего выбора величины опорного напряжения 11 О на компараторах 7,1-7,ш поступившие на их входы сигналы идентифицируются как логические "1", которые с выходов компараторов 7.1-7.ш поступают на входы элемента И 8, вырабатывающего на своем выходе сигнал логической "1", переводящий КБ-триггер 9 в нулевое состояние, что свидетельствует об отсутствии неконтактирования. При этом устройство с помощью переключателей 2.1-2,ш подключает контропьноиспытательную аппаратуру 14 к микросхеме 13 для проведения контропя,Устройство для подключения интегральных схем и цифровых блоков к...

Устройство для контроля цифровых интегральных микросхем

Загрузка...

Номер патента: 1501062

Опубликовано: 15.08.1989

Авторы: Кольченко, Соловьев

МПК: G01R 31/28, G06F 11/30

Метки: интегральных, микросхем, цифровых

...результат поразрядного сравнения, кроме разрядов,35соответствующих единичному значениюрегистра маски, с выхода блока 14сравнения в триггер 15 результата.Если триггер 34 сброшен, в триггер33 записана "1", то сигнал с выхода40 триггера 34 запирает элемент И 35 ипоявление сигнала на четвертом выходедешифратора 26 не вызывает записипоразрядного сравнения в триггер 15результата, По окончании сигнала счетвертого выхода дешифратора 26 через элемент И 29 поступает на синхровход триггера 34 и записывает сигнал"1" с В-входа на выход, В следующемцикле сигнал с выхода 4 дешифратора5026 через элементы И 29 и 35 записывает результат поразрядного сравненияв триггер 15 результата. Данный циклнеобходим для записи в контролируемую микросхему...

Устройство для измерения электрических параметров интегральных микросхем

Загрузка...

Номер патента: 1504633

Опубликовано: 30.08.1989

Авторы: Соловьев, Чубаров, Шклюдов

МПК: G01R 31/303

Метки: интегральных, микросхем, параметров, электрических

...определить точное значениенапряжения на выходе измерительногоусилителя 1, а следовательно, и величину тока в нагрузке 1, В случае,когда нет необходимости определятьточное значение 1, можно ограничиться информацией о нахождении величины 1 в заданном интервале, например, ниже какого-либо предела, определяемого величинами сопротивлениярезисторов Кж и Ки компаратора 9величиной опорного напряжения Писточника 10,В режиме пЗадание тока, измерение 1 янапряжения" в цепь отрицательной обратной связи измерительного усилителя с помощью блока 4.включаютсяповторитель 7 и блок 6 вычитания, Вэтом случае напряжение на входе обратной связи усилителя 1 также долж+но быть равно напряжению на его задающем входе. При этом на вход обратной связи...

Контактирующее устройство для подключения интегральных схем с планарными выводами

Загрузка...

Номер патента: 1506599

Опубликовано: 07.09.1989

Авторы: Корзун, Краснов, Крутских

МПК: H05K 1/02, H05K 7/12

Метки: выводами, интегральных, контактирующее, планарными, подключения, схем

...поле 2, ориентируясьна фиксаторы 23, устанавливается несущая рамка 22 с интегральной схемой21, выводы 20 которой ложатся на контактные площадки 3 - 5 и прижимаютсяэластичным элементом 24 прижимнойрамки 25, посаженной на фиксаторы 26.Под воздействием равнораспределенногодавления, создаваемого эластичнымэлементом 24, выводы 20 продавливаются в более мягкий материал покрытияконтактных площадок 3 -. 5, создаваяпри этом диффузионное соединение. Такое соединение надежно и имеет низкое переходное сопротивление. Позволяет производить испытания на механические и климатические воздействия.После подключения выводов 20 кконтактным площадкам 3 - 5 на интегральную схему 21 подается электропитание и определенная тестовая последовательность....

Спутник-носитель для интегральных микросхем

Загрузка...

Номер патента: 1380547

Опубликовано: 15.09.1989

Авторы: Махаев, Ожерельева

МПК: H01L 21/68, H05K 13/02

Метки: интегральных, микросхем, спутник-носитель

...корпуса 3 микросхемы с пазами 4 для выводов 5 микросхемы, с окнами 6 для фиксации крьипки 7, Крышка представляет собой рамку с пересекающимися перемычками 8 ификсаторами 9, Точка пересечения перемычек совпадает с геометрическойосью рамки, перпендикулярной к ее поверхности. В закрытом положении крышка 7 закрепляется на основании 1 припомощи фиксаторов 9, которые входятв окна 6, при этом площадка А, образованная пересекающимися перемычками 308, фиксируют микросхему в окне 2 основания 1. Возможность использованиякрышки одного размера для комплектования спутников, предназначенных для нескольких типоразмеров микросхем, показана на фиг. 3. Пунктирными линиями В, С, П показаны контуры ложе- ментов под микросхемы, например, трех типоразмеров,...

Устройство для контроля электрических параметров интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 716507

Опубликовано: 07.10.1989

Авторы: Духовской, Ивашкин, Попель, Резников, Соловьев

МПК: H05K 13/08

Метки: интегральных, параметров, схем, электрических

...снабжены контактами, соединенными с кон,тактами съемных контактных и печатных плат и с магнитоуправляемыми контах"/ тами, соединяющими контактные блоки, причем основание выполнено с замкнутыми полостями для подачи охлаждающе% го воздуха и снабжено ответными разьемами для печатных плат.3единяющими контактные блоки, причемоснование выполнено с замкнутыми полостями для подачи охлаждающего воздуха и снабжено ответными разъемамидля печатных плат.На чертеже изображено описываемоеустройство.Устройство для контроля. электри" .ческих параметров интегральных схемсодержит основание 1, на котором рас"положены печатные платы 2 с электронными элементами и контактами 3,служащими для связи с контактным бло"ком 4, расположеннымоколо печатныхплат 2....

Линия сборки преимущественно больших интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1517152

Опубликовано: 23.10.1989

Авторы: Быков, Дмитриев, Литвиненко, Новиков

МПК: H05K 13/02

Метки: больших, интегральных, линия, преимущественно, сборки, схем

...платформы 9 выполнены под первичные кассеты 20,Линия работает следующим образом.Вторичная кассета 21 с четырьмя первичными кассетами 20 подается средством 4 транспортирования тары. Манипулятор 18 вилочными захватами 19 снимает кассету 21 со средства 4 транспортирования и помещает ее в од" ну иэ ячеек склада 3 или непосредственно на поворотный стол 6. Фиксаторами 7 закрепляют кассету 21. Фиксаторы 8 фиксируют угол поворота стола 6. Манипулятор 5 последовательно переставляет вилочным захватом 11 на платформу 9 пару кассет 20 Возможна и обратная перегрузка кассет 21. Платформа 9 с двумя кассетами 20 направляется по рельсовым путям 1 О к одному из участков 1 технологической сборки. Манипулятор 5 вилочньщ захватом 11 производит перенос...

Устройство для контроля параметров интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1521690

Опубликовано: 15.11.1989

Авторы: Абрашин, Афанасьев

МПК: B65H 3/24

Метки: интегральных, параметров, схем

...5 или лотком для брака 20, измерительное средство 21 и направляющие 22, связывающие камеру 1 нагрева ссортировочным средством 18. Камера 1 нагрева соДержит загрузочное 23 и выгрузочное 24 отверстия, Измерительное средство 21содержит заслонку 25 для удержания интегральных схем на измерительной позиции.Устройство работает следующим образом.В пеналы 6 загружают интегральные схемы. Пеналы вставляют в ячейки магазина 5,который поворачивается на шаг с помощьюделительного храпового механизма 4 пневмопривода 10. Храповый механизм 4 движется поступательно, собачка, установленная наштоке пневмоцилиндра, переходит на следующий зуб храпового колеса. Одновременнопод действием кулачка 13, установленногона штоке пневмопривода, открывается фик...