Патенты с меткой «интегральных»

Номер патента: 514278

Опубликовано: 15.05.1976

Авторы: Гаджиев, Гарибов, Гусейнов, Мамедов

МПК: G05D 23/30

Метки: интегральных, микротермостат, схем

...температуры полупроводниковых структур с использованием технологии интегральных схем: например с использованием теплонроводящей пластины для размещения кристаллов нагревателя, датчика и статируемого объекта, а также с созданием статируемого объекта в едином блоке монокристалличсского полупроводника с устройством термостата.Цель изобретения - повышение точности регулирования температуры. В описываемом микротермостате это достигается тем, что в его корпусе установлен кольцевой транзисторный нагреватель, в отверстии которого размещены датчик температуры и регулятор.На чертеже показан описываемый микротер моста т.Он имеет корпус 1, кольцевойный нагреватель 2, отверстие а и оВ микротсрмостате, корпус которнен из кристалла кремния, методной...

Номер патента: 523370

Опубликовано: 30.07.1976

Авторы: Алексеев, Алексеева, Рапопорт

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, параметров, стабилизаторов

...стабилизатор 2,:1 змср 11- тельный блок с пороговой схемой 3, ключ 4, 10 функциональный генератор 5, зяпомицдОщтГ 1Оло 6, рсгу,.ятор 7 зьхо:цо:О напряжения стао 1 лизятоз с.Блок зада:ця режима 1 задаст режим измерений ца стаоилизатор 2. Во время рогу лировки выходного цапряжсцця стясялцзятора фускссОна.1 ьц. генератор,вырдбдтс:зяст измеЯюцесся по цсоторому зако:у ,11 Пряжецие, например экспоцснццальцос, тс. ущсс значение которого цепрерьвцо запомицастся 2 О блоком 6 и воздействует ца регулятор выходного папр 51 же:1 я, вызывая изменеце выходного напряжения стабилизатора. Пр: достижении выходным напряжецием стасялцздторя заданного значения пороговая схема измерительного Олока черезл 10 ч 4 Откл 10 чает фу 1- циО 1 длъцый генератор От...

Номер патента: 365871

Опубликовано: 05.08.1976

Авторы: Осипов, Пеков

МПК: H05K 13/00

Метки: интегральных, микросхем, монтажу, подготовки

...оборудования подготовка осуществляется н С целью повышения пооиз работы матрица предлагаемого выполнена в виде двух неподя 1, держателя 2 микросхем, м губок 3, оправки 4, подава и двух пар ножей 6 и 7. Дер опирается на пружину 8 и выполи гибочной матрицы, на рабочих по ях которой имеются пазы, соответс сположению выводов микросхемы.365871 Г иг. Ф Устройство работает следующим образом.В углубление держателя устанавливается микросхема и под ее выводы из подавателя вводится припой.Ползун под действием прилагаемого к нему усилия перемещается вниз, при этом подпружиненная оправка формует выводы и прижимает их к припою.При дальнейшем движении ползуна сжимается пружина 12, ножи 6 обрезают припой О и после смыкания ползуна с...

Номер патента: 528517

Опубликовано: 15.09.1976

Автор: Сергеев

МПК: G01R 31/303, G06F 11/26

Метки: интегральных, неисправностей, схем

...выходных сигналов контролируемой интегральной схемы. Если в некотором таес теста Олок 7 00 нару:кивает неравенство п)ачеции .отя бы на одной паре одцоимеццьх выходов обеих схем, то этот факт фиксируется блоком 10 регистрации и индицируетс 51 соответствующей лампОЙ этОГО блок 2 е 21, неправильное функционирование контролируемой схемы (логическая неисправность).Если в каком-либотакте дискриминаторы 3оопаруживают отклонение потечциала ца каком-нибудь Выходе контролируемой интегральной схемы, то блок 10 фиксирует и индццирует параметрическую неисправность схемы.Проверка качества тестов для цифровыхобъектов с ис 1 ользованием устройства для КГштроля неисправноеСй штсграл,ных схем может выполняться двумя способами.1 СРВЫЙ ПЗ ЦЦ:; ПРСДЦЯЗЦЯ 3...

Номер патента: 528520

Опубликовано: 15.09.1976

Авторы: Карнаухов, Синчук, Тарвид, Терпигорев

МПК: G01R 31/303

Метки: интегральных, классификатор, линейных, схем

...горизонтальную шину программатора 3 классификации в данном тесте. Блок 15 классификации в зависимости от состояния шин 9 включает определенную 5 10 15 20 25 ЗО 35 40 лампочку индикатора 24. Устройство 6 управления принимает сигналы от внешних органов управления и шин 5 программатора 2 и выдает команды запуска регисзра сдвига 1, установки диапазона цифрового вольтметра 22 и его внешнего запуска, разрешения сравнения (вход схемы 21 совпадения) и конца цикла 1 вход блока 15 классификации).Определение принадлежности исследуемой схемы к той или иной группе годности или брака и программирование групп классификации осуществляется следующим образом, Для включения в данном тесте определенной лампочки необходимы три условия; наличие диодов,...

Номер патента: 530287

Опубликовано: 30.09.1976

Авторы: Маслов, Пушкин, Самсонов

МПК: G01R 31/303

Метки: больших, интегральных, схем, цифровых

...фиксации совпадений подключен ко вторым входам электронных ключей.На чертеже приведена структурная электрическая схема устройства,Устройство для контроля цифровых БИС содержит генератор 1 тестовых сигналов, сое530287 Составитель А. Рассмотров Техред М. Семенов Редактор Е. Дайч Корректор О. Тюрина Заказ 2177/9 Изд.1685 Тираж 1029 Подписное типография, пр. Сапунова, 2 диненный со входами эталонной и испытуемой БИС 2, 3, выходы которых подключены ко входам цифрового компаратора 4; регистратор 5 брака, соединенный с одним из входов генератора 1; генератор 6 импульсов, выход которого соединен с входом БИС 3 непосредственно, а с входом БИС 2 в чер электронный ключ 7; электронный ключ 8, соединяющий основной выход компаратора 4 с регистратором...

Номер патента: 530288

Опубликовано: 30.09.1976

Авторы: Никитушкин, Степанова

МПК: G01R 31/303, G06F 11/277

Метки: интегральных, микросхем

...которого соединен с входными зажимами проверяемой интегральной микросхемы 2, с входными зажимами эталонной схемы 3, а также с запускающим входом интегрирующего усилителя 4,Выходные клеммы проверяемой интегральной схемы 2 соединены с входом схемы сравнения 5, Вычитаюший вход схемы сравнения подключен к выходным зажимам эта - лонной схемы 3, Выход схемы сравнения 5 соединен с входом остановки процесса интегрирования усилителя 4 и входом индикации полярности блока 6 регистрации. Выход интегрирующего усилителя 4 подключен к измерительному входу блока 6 регистрации. Устройство работает следующим образом,Импульсы с генератора 1 поступают одновременно на входные зажимы проверяемой интегральной микросхемы 2, эталонной схемы 3 и на запускающий...

Номер патента: 532830

Опубликовано: 25.10.1976

Авторы: Ажоткин, Гаврилов

МПК: G01R 31/3177

Метки: интегральных, схем

...Управляющие входы транзисторных ключей 3 и 4 подключены к соответствуюшим выходам блока управления.6,15соответствующие выходы которого подключены к управляюшим входам транзисторныхключей 7 и 8 ожидаемых выходных тестови к разрешающему входу амплитудного диск 20риминатора 2. Ключи 7 и 8 включены между соответствуюшими выходами блока памяти и входом сравнения амплитудного дискриминатора, Выход амплитудного дискриминатора 2 соединен с входом элемента ИЛИ. 9,25Входные воздействия, выделяемые блоком памяти 5, поступают на клеммы объекта контроля 1 только в моменты времени,определяемые импульсами, поступающимина управляющие входы транзисторных ключей 3 и 4 с выхода блока управления 6,вырабатывающего стробируюшкэ импульсы.Причем частота смены...

Номер патента: 515419

Опубликовано: 25.11.1976

Авторы: Афанасьев, Иваш, Ходыкин

МПК: H01L 21/78

Метки: выводами, интегральных, консольными, модулей, носителя, отделения, пленочного, схем

...режущие кромки 13, разделенные канавкой 14 от контактной площад ки 15, покрытой слоем износостойкого низкоомического покрытия.Устройство работает следующим образом.Модуль интегральной схемы с консольными,выводами на лечте-носителе ориентирует- О ся относительно режущих кромок (фиг. 2 и 3)и контактных площадок 15 пластин 4 пуансона. При перемещении верхней подвижной плиты 7 вниз прижим-съемник прилегает к консольным выводам модуля интегральной схемы и прижимает их к режущим кромкам 13 и контактным площадкам 15 пластины 4, сжимая пружину 11. При дальнейшем перемещении плиты 7 матрица 9 касается консольных выводов модуля и отделяет их от ленты-носителя.Перемещение плиты 7 происходит до тех пор, пока матрица 9 не выйдет из контакта с...

Номер патента: 539319

Опубликовано: 15.12.1976

Авторы: Варламов, Любуцин, Стукалов, Шаповаленко

МПК: G11B 5/28

Метки: блок, головок, интегральных, магнитных

...заполненным немагнитным материалом пазом, расположенным между рабочими зазорами и участками ее соединения с пленочными магнитными сердечниками. На чертеже показан вариант описываемогоблока интегральных магнитных головок, содержащего пленочные цемагнитные электро- проводящие подковообразные шины 1, уста новленные в рабочих зазорах 2 магнитных головок с возможностью сопряжения с носителем магнитной записи между соединенными непосредственно ферритовой плитой 3 и пленочными магнитными сердечниками 4, Пленоч ные немагнцтные электропроводящие подковообразные шины 1 сопряжены с ферритовой плитой 3 через диэлектрические слои 5, а с пленочными магнитными сердечниками 4 - через диэлектрические слои 6. Феррцтовая 5 плита 3 выполнена с пазом 7,...

Номер патента: 542151

Опубликовано: 05.01.1977

Авторы: Голомедов, Домнин, Пиорунский, Удовик, Федоров

МПК: G01R 31/28, H01L 21/66

Метки: интегральных, качества, монолитных, схем

...крис ным условием является выполне нентов на кристалле такими, ч совершенно одинаковую конфигур зательным требованием является н542151 20 30 35 Составитель В. Немцев Тсхред М. Левицкая Редактор Г. Орловская КоРРектоР А Лакида Заказ 5968/29 Тираж 1032 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 лансирования транзисторов дифференциальной тестовой пары.Тестовые структуры могут содержать, кроме транзисторов дифференциальной пары, также другие компоненты - транзисторы, резисторы, диоды.Измерение относительных приращений тока через транзисторы и относительных приращений коэффициента усиления...

Номер патента: 544924

Опубликовано: 30.01.1977

Авторы: Адаскин, Глухов, Гутман

МПК: G01R 31/303

Метки: интегральных, схем

...упрощение устройства..-.)то достигается тем, что предлагдемос устройство содержит запоминаю)цие элементы коммутатор, первый вход которого сосдиисц с выходом усилителя согласования, а второй - с блоком управления, причем здиомиидющие элементы включены между выходам)1 коммутатора и входа м и испытуемой схем ь 1. Нд чертежс представлена блок-схема лагдемого устройства.Устройство содержит ирсобрдзовдтсль 1 напрыкеиие 1, усилитель согласования 2, мутатор 3, блок 4 управлсиия, здиомиид 1 элементы 5, испытуемую схему 6, 11 змери иый блок 7,Блок 4 управления вырабдтываст код, рый поступает ид вход преобразователя 1 напряжение 1. Выходное идпряжсиие и рдзоватсля 1 через усилитель согласовд) поступает цд вход коммутатора 3. ПослРедактор Е....

Номер патента: 553618

Опубликовано: 05.04.1977

Автор: Сергеев

МПК: G06F 11/00

Метки: интегральных, схем

...1 и 2 буферные элементы 3, которые обеспечивают его развязку от контролируемой интегральной схемы и допусковый контроль потенциалов 1 и О на выводах этой схемы; эталонную интегральную схему 4 однотипную контролируемой схеме, блок сравнения 5, обеспечивающий сравнение выходных сигналов контролируемой и эталонной интегральных схем; блок индикации 6, который осуществляет отображение результатов сравнения, а также логических состояний (1 и О) выводов контролируемой интегральной схемы; селектор 7 состояний выводов интегральной схемы, предназначенный для задания и обнаружения состояния, при котором требуется произвести останов теста; дешифратор 8 условий останова теста, который служит для формирования сигналов на выходе 9 устройства,...

Номер патента: 558230

Опубликовано: 15.05.1977

Автор: Терпигорев

МПК: G01R 31/303, G06F 11/24

Метки: интегральных, схем

...ячецкп подан единичный сигнал, а на вход 21 - пулевой, то на выходе первого элемента 9 появится единичный, а на Выходе второго элемента 9 - нулевой сигнал. На вход первого элемента 10 с выхода второго элемента 10 поступит единичный сигнал, и на входе 22 схемы совпадения 11 пояВится нулсВОЙ сиГнял нез)БнспО от состояния входов 20 и 21 ячеек младших разрядов, что соответствует результату сравнения П)Г, Если ня входы 20 и 21 ячейки старшего разряда поданы одноименные сигналы, то на выходах обоих элементов 9 и-псутствуют единичные сигналы и состояние дру 1) 1,) 15 20 )б ЗО 35 40 б 50 бо 65 пх элементов 10 пе о:рсделено. В этом слу 12 с резгль)ат ср)Бнсння будет Опрсдсл 5 тьс 51 у)Овнями Входных СИГИ ялов соссднсЙ млядп)ОЙ 51 Сйкп. Еслп ПЯ н...

Номер патента: 561237

Опубликовано: 05.06.1977

Авторы: Назаров, Сафонов, Соколов, Царьков, Шанов

МПК: H01L 21/98

Метки: выводами, интегральных, кристаллов, подложкам, присоединения, схем, шариковыми

...и нагружекия паяльныхголовок и предметный стол 111.Однако известные устройства не обеспечиввысокого качества присоединения. 10Цель изобретения - повышение качества присоединения - достигается тем, что устройство дляприсоединения кристаллов с шариковыми вывода.ми к подложкам интегральных схем, содержащеепаяльную головку, закрепленную на каретке, соединенной с приводом с возможностью перемещениядо регулируемых упоров, и механизм прижимапаяльной головки, снабжено механизмом зажимапаяльной головки, кинематически связанным с приводом, причем паяльная головка закреплена на 20каретке посредством оси, а регулируемые упорыразмещены по обеим сторонам оси.Устройство изображено на чертеже.Паяльная головка 1 с рабочим инструментом 2закреплена на...

Номер патента: 570856

Опубликовано: 30.08.1977

Авторы: Антонов, Дубовис, Чернышов

МПК: G01R 31/303

Метки: интегральных, микросхем, модуль, параметров, тестовый

...и через резистор 10 к выходу операционного усилителя 9, к которому через резистор 11 подключен вход операционного усилителя 12, соединенный с выходом через резистор 13, а другой вход - к делителю напряжения на резисторах 14 и 15, включенному между общей шиной и выходом операционного усилителя 16, неинвертирующий вход которого подключен через резистор 17 температурной стабилизации к общей шине, а инвертирующий вход - к второму входу испытуемой интегральной микросхемы и через резистор 18 к выходу.Режим испытуемой интегральной микросхемы определяется усилителем 1, устанавливающим равенство выходных напряжений испытуемой интегральной микросхемы. Испытуемая интегральная микросхема и усилитель 1 охвачены глубокой отрицательной обратной...

Номер патента: 557703

Опубликовано: 05.10.1977

Авторы: Баранов, Горина, Достанко, Королев, Полякова, Савицкий, Чистяков

МПК: H01L 23/54

Метки: интегральных, материал, покрытия, полупроводниковых, приборов, проводящего, схем

...соединений типа А В, А Ви АВ, где А - металл платиновой группыф 60 4В - элемент ПВ или УВ группы: возможен также смешанный состав фаз, напри мер А В + АВ а также наличие промежуточных фаз, дефектных структур и т.д. Промежуточные фазы, в отличие от чистых ме. галлов, имеют свою электронную структуру и, в сэответствии с ней, другие межатомные расстояния, измененную решетку и, в конечном итоге, свой цвет металлического материала. При атом определяющим фактором являетсястроение электронных оболочек компонентов. Покрытие из такого материала будет иметь цвет, этличный от цвета исходных составляющих, его можно задавать выбором материалов и регулированием процентного содержания каждой компоненты, определяющего формульный состав и...

Номер патента: 578662

Опубликовано: 30.10.1977

Авторы: Гуреев, Долин, Кормилкин, Филатов

МПК: H01L 21/66

Метки: интегральных, испытания, схем

...контакты связан с системой измерения. Наличие скользящих контактов снижает надежность работы известного устройства.5 Целью изобретения является повышение надежности устройства.Указанная цель достигается тем, что носители интегральных схем закреплены на пружинных подвесках в съемных кассетах корпу 10 са с возможностью радиального перемещенияна позиции контактирования.На чертеже схематически изображено предложенное устройство, общий вид с частичными вырезами для лучшего показа конструк 15 ции,Устройство содержит корпус 1, контактноеустройство 2, кассеты 3 с ностелямп 4 интегральных схем, поворотный пневмоцилиндр 5,фиксирующий пневмоцилпндр 6, прижимной20 пневмоцилиндр 7, пружинные подвески 8.Устройство для испытания интегральныхсхем...

Номер патента: 585469

Опубликовано: 25.12.1977

Авторы: Акимакина, Белоусов, Гребенников

МПК: G03B 35/00

Метки: интегральных, ортоскопических, фотографий

...в фокальной плоскости линз светочувствительным материалом,На чертеже изображена схема устройства. В, Акимакина и В. П, Белбусов Растр 1 изображает объект А в плоскостиэкрана 2 с матнрованной поверхностью, который установлен в фокусе растра 1, Второй растр 3, установленнын на расстоянии, равном его фокусному, от экрана 2 создает параллельный ход лучей к растру 4, Каждая линза третьего растра 4 образует на светочувствительном материале 5 вторичные элементарные микроскопические изображения.Поскольку первичное интегральное изображение А псевдоскопнчно; то растр 4 обра- Ю зует на светочувствительном материале 5 ортоскопнческое интегральное изображение:Совокупность растров 1 н 3 с матнрованнымэкраном 2 составляет линзово-растровый просветный...

Номер патента: 594467

Опубликовано: 25.02.1978

Авторы: Горюнов, Каверзнев, Лонский

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, оптического, схем

...хотя и позволяет контролировать большие интегральные схемы, однако, имеет низкие точность и надежность контроля. ю изобретения является повышение точ надежности процесса контроля незаированных ИС.гается это тем, что выходы усилите-. ответа и видеосигнала соединены с налогового умножения, выход котоключен к интегратору.594467 Формула изобретения 7 -- Гд --9 Составитель Т. Дозоро Текред О.:1 уговаяТираж 11 Редактор Е. ГончарЗаказ 379/54 Корректор Л. ГриценкоПодписное ЦНИИПИ осударсвеннпо делам та Миниткрытии ров СС о комитета Созобретений и 113035, Москва,-35, Раушская 45 филиа ПП Патент,Проектная,город,Устронство для оптического контроля интегральных схем работает следующим образом.Растр, образуемый на экране проекционного кинескопа 1,...

Номер патента: 597032

Опубликовано: 05.03.1978

Авторы: Антонов, Вдовкин, Морозов, Хутарев

МПК: H01L 21/77

Метки: выводов, интегральных, контактное, подключения, схем

...рычаг и меха- контактов к выводам, Вылопожностью взаимодействия с Это устройство не обеспечивает п мляного контактирования одновременно всехвыходов подключаемой интегральной схемы,С цепью повышения надежности .,отактирования за счет стабилизации контактного давления в контактном устройстве длнодключения выводов итегралььх схем,содержащем размещенные в пазах корпуса к, .такты,. а также подпружиненный поворотный рычаг и механизм прижима контактовк выводам, выполненный с возможностьювзаимодействия с рычагом, механизм принима выполнен в виде гибкой нити, одинконец которой неподвижно закреплен някорпусе, а другой -на рычаге,На фиг. 1 представлен вид устройствасбоку;на фиг. 2-вид сверху,ценный в виде гибкой нити 10, один конец которой...

Номер патента: 599236

Опубликовано: 25.03.1978

Автор: Макавеев

МПК: G01R 31/307, G01R 31/312

Метки: бесконтактного, интегральных, схем, цифровых

...переменного напряжения 28 А Е выбрана так, чтобы она лежала в пределах допустимой пульсации питающего напряжения контролируемОго объекта.Информацию о логическом состоянии контролируемого объекта будет нести 80 амплитуда переменного напряжения частоты тВыходная цепь. контролируемого объекта представляет собой делитель напряжения для напряжения питания, причем коэфФициент деления зависит от логического состояния контролируемого объекта. Емкостной чувствительный элемент 5, не осуществляя гальванического контакта с контролируемым объектом 4 Ф ФО снимает с выхода кОнтролируемого объекта переменное. напряжение частоты 1амплитуда которого несет йнформацию о логическом состоянии контролируемого объекта.. Переменное напряжение с...

Номер патента: 601639

Опубликовано: 05.04.1978

Авторы: Казанцев, Фролов, Ширшов

МПК: G01R 31/27, G01R 31/28

Метки: диэлектрика, интегральных, мдп, обнаружения, подзатворного, пробоя, схемах, транзистора

...гальзанпческой связи между исследуемыми электрола:ш затвора; стока (истока) не является препятствием для ;рцмененпя данного способа, так как Определяется це абсолютная величина тока че)ез индикатор, а только его изменение. Отсутствие контактирования с затвором исключает поВреждение подзатворного диэлектрика прц контактировании и ооеопечивает неразрушаощий контроль.На чертеже показаны элементы интеральной схемы с подключенными источчиками питания и индикатором тока, поясняощие использование способа обнаружения пробоя подзатворного диэлектрика транзистора в МДП ИС согласно данному изобретению.МР)кду Выводасми легрова нцсй Ооластп стока (истока) 1 и тОдлоикп 2 исслелуемого МДП транзистора включен,пе;)вь:й цсточцитс питания 3, Затвор 4...

Номер патента: 535010

Опубликовано: 30.09.1978

Авторы: Копытов, Прокофьев, Сидоренко, Сирота, Таякин

МПК: H03K 17/60

Метки: выхода, индикатор, интегральных, мдп, схем

...следующим образо,м.С входной шины 9 поступает информация в виде последовательного двоичного кода. При каждом сдвиге информации: шины 8 разрядных нмпульсов вырабатывазо ется разрядный импульс, совпадающий вовремени с адним из тактовых импульсов шины 10, который открьпвает транзистор 4.При этом происходит разряд емкости затвора транзистора 6, и транзпгстор 6 закрывается. Одновременно с этим на входйую 1 шину 9 поступпает нсвая информация. Напряжение с входа передается на затвор транзистора 2 через транзистор 1 во время действия импульсав с шины 10, При поступлении логического 0 на входную шину 9 10 емкость затвора транзистора 2 и конденсатор 6 к концу тактового импульса с шины 10 разряжаются, транзистор 2 запирается, В результате...

Номер патента: 627520

Опубликовано: 05.10.1978

Авторы: Варламов, Гавриш, Любуцин, Сагайдак, Стукалов

МПК: G11B 5/28

Метки: блок, головок, интегральных, магнитных

...магнитных головок содержит пленочные маг-. нитные сердечники 1, сопряженные непосредственно и через нвмагкитные прокладки 2 рабочих зазоров с магнитным форритовым бруском 3. Последний в свою627520 уд. Проектн очередь, сопряжен через полосообраэные немагнитные диэлектрические пленки 4 с немагнитными эдектропроводящими шинами 5, выполненными в виде полос, расположенных с противоположньи сторон каждого пленочного магнитного сердечника 1. Магнитный ферритовый брусок 3 выполнен с продольным пазом 6, в котором размещен немагнитный диэлектрический слой 7.16Предлагаемый блок интегральных магнитных головок содержит также немагнитную эдектропроводящую ствржнеобразную пластину 8, размещенную в продольном пазу 6 магнитного ферритового бруо 15 ка и...

Номер патента: 632967

Опубликовано: 15.11.1978

Авторы: Антонов, Дубовис, Чернышев

МПК: G01R 31/319

Метки: интегральных, микросхем, модуль, параметров, тестовый

...содержит1-4, ратурной ной свядепитепя ппы кон632967 Тестовый модуль дпя контроля параметров интегральных микросхем работает спедуюшим образом. Режим испытуемой интегральной микросхемы (на чертеже не показана) устанавливается опера- У ционным усилителем 4, устанавпиваюшим равенство входных напряжений испытуемой интегральной микросхемы. Так как операционные усилители 1 и 2 идентичны и согласованы по своим параметрам, то . Ф к входам испытуемой интегральной микросхемы приложено лишь напряжение смещения нуляс и выходное напряжение операционного усилителя 1 равно а смРь -5 СМЬТестовый модуль дпя контроля параф метров интегральных микросхем по авт.св.570856, о т и и ч а ю ш и й с ятем, что, с целью расширения функциональных возможностей...

Номер патента: 637766

Опубликовано: 15.12.1978

Авторы: Гингис, Орешкин, Переверзев

МПК: G02B 6/122

Метки: интегральных, оптоэлектронных, пассивный, устройств, элемент

...друг над другом на слое проэкспонированного светочувствительного материала промежуточного слоя из материала элементов побочной подгруппыгруппы периодической системы и проэкспонированного верхнего слоя светочувствительного материала, при этом указанные проэкспонированные слои выполнены из халькогенидного соединения мышьяка.На чертеже показан описываемый пассивный элемент.Он содержит подложку , на которой один над другим последовательно расположены проэкспоннрованный слой 2 светочувствительного материала с коэффициентом преломления п, промежуточный слой 3 из материала, взаимодействующего при воздействии света со светочувствительным материалом, н проэкспонированный слой 4 све. точувствительного материала, коэффициент преломления...

Номер патента: 643099

Опубликовано: 15.01.1979

Авторы: Джеймс, Джордж

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, подложки, потенциалом, схем, схема, твердых

...конденсатором 35 и трзнзисторами 36, 37 н 2 О образуют схему инвертора, которая по своему действию подобна каскаду генера.тора 17, но обладает более высокой способностью к раскачке, Хронирующий сигнал с узла 28 поступает нз затворы входного )В транзистора 36 и дополнительного управляю" щего транзистора 38, который .Соединяется последовательно с транзистором 32 и землей в точке 39. Подобным образом узел 29, нз который поступает выходной сигнал с гене ратора, Присоединяется к входному затвору транзистора 37 инвертора и к затвору сле-.дующего управляющего транзистора 40, также соединенного последовательно с транзистором 32, Затвор транзистора 2 О инвертора . соединяеся со схемой детектора 19, которая 2 ф будет Описана киже. Выходной сигнал...

Номер патента: 646279

Опубликовано: 05.02.1979

Авторы: Ажоткин, Гаврилов, Кушуль

МПК: G01R 31/303

Метки: интегральных, контактирования, схем

...И 5 соединен со входом триггера брака 3. Выход элемента И 6 соединен со входом триггера контактирования 4. Выход триггера брака 3 и выход триггера контактирования 4 соединены с соответствующими входами блока управления 7. Первый выход блока управления 7 соединен со вторым входом элемента И 6, управляющим входом электронного ключа 1 и входом изменения порога блока измереция 8, Второй выход блока управления 7 соединен со вторым входом элемента И 5 и управляющим входом электронного ключа 2.Устройство работает следующимобразом.После опускания зондов, на интегральную схему 11 происходит контроль контактирования, для чего блок управления 7 подает на свой первый выход единичный сигнал, а на второй выход - нулевой сигыал. При этом...

Номер патента: 647695

Опубликовано: 15.02.1979

Авторы: Климов, Рацун

МПК: G01R 31/303

Метки: динамических, интегральных, микросхем, параметров

...микросхемы 6 требуемый режим испытания.Эта матрица состоит из высокочастотных переключателей (реле), Их количество за. висит от типа микросхем, программы и режимов испытаний.Таким образом, тест-импульсы поступают через контакты группы реле на один иэ выходов контролируемой микросхемы. С выхода микросхемы сигнал через другие контакты реле этой же матрицы поступает на вход 7 второго канала двухканального стробоскопического преоб разов ател я 4. Н а вход первого канала сигнал поступает с выхода 2 для тест-импульса генератора 1. Второй двухканальный стробоскопический преобразователь 9 включен последовательнос первым, т. е. выход для проходного сигнала первого канала первого преобразователя 4 присоединен ко входу первого канала...