Патенты с меткой «интегральных»

Страница 4

Тара для интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 650253

Опубликовано: 28.02.1979

Авторы: Конев, Махно, Якубов

МПК: H05K 13/00

Метки: интегральных, схем, тара

...Х-образные защелки 4 для закреп ления корпуса интегральных схем на основании. На основании тары установлены две съемчые металлические пластины 5 П-образной формы, которые соединены между собой. Пластины 5 закрепляются на 10 основании с помощью упругих элементов а.Металлические пластины 5 имеют выступы б, которые служат для закорачцвация выводов интегральных схем. Выступы б несколько выше поверхности, на которую ук ладывают выводы интегральной схемы.При загрузке интегральной схемы б воснование 1 выводы укладывают в продольные пазы 3, при этом нажимают на выступы б, обеспечивая надежный контакт с мс таллическцми пластинами, т. е, выводы интегральной схемы закорачиваются и интегральная схема защцщастся от воздействия статического...

Способ изготовления интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 654198

Опубликовано: 25.03.1979

Автор: Дуглас

МПК: H01L 27/02

Метки: интегральных, схем

...кремния р-типа; осаждение слоя ннтрнда кремния; фотолитографическая обработка 3; М 4, травление эпнтакснальной пленки кремния, в местах незашнщен ных нитридом кремния до половины толшины эпитаксиального слоя; окислениеСоставитель . ОстровскаяТехред М. Петко Корректор П. Макаревич Редактор Е. Гончар Заказ 1349/48 Тираж 922 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушсквя наб., д, 4/5филиал ППП фПатент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 незашишенных нитридом кремнии участков апитвксиального слоя кремния. снятие нитрида кремния; окисное маскирование и диффузия, коллектора; окнсное маскирование и диффузия амиттера; окисное маскирсвание и вскрытие контактов к ами 1- теру, базе и...

Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем

Загрузка...

Номер патента: 661439

Опубликовано: 05.05.1979

Авторы: Антонов, Дубовис, Чернышев

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, линейных, микросхем, параметров

...вход операционного усилителя 2 и через резистор 8 на вход операционного усилителя 3, соединенного выходом с резистором 9.,Операционный усилитель 2 устанавливает на инвертирующем входе на.пряжение ОН , где У - напряже-вх вхние генератора,Таким образом, на входе измеряемой микросхемы действует генераторнапряжения с выходным сопротивлением,равнымР/А,где Я - сопротивление резистора 5,А - коэффициент усиления первого операционного усилителя при разомкнутойООС, а так как А- оо, то обеспечивается условие для измерения коэффициента усиления К ц105- ссЯА 1где% - входное сопротивление ИМС.При подключении измерителей переменного напряжения (не показаны) к выходу ИМС и операционного усилителя 3,одновременно измеряют...

Контактное устройство для подключения плоских интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 662029

Опубликовано: 05.05.1979

Авторы: Бриан, Джон

МПК: H01L 21/68, H01R 13/05, H05K 7/12 ...

Метки: интегральных, контактное, плоских, подключения, схем

...интегральной схемы;на фиг. 8 - то же при полном подключении.Контактное устройство для подключенияплоских интегральных схем 1 содержиг 15 диэлектрическое основание 2, размещенные в нем контактные элементы 3 икрышку 4. Йиэлектрическое основание 2включает паз 5, служащий для размещенияподключаемой схемы 1, и пазы для размещения контактных элементов 3. Каждыйконтактный элемент 3, выполненный в виде плоской пружины, включает рабочуючасть 6, выступающую над поверхностьюоснования 2, изогнутую часть, размешенную в пазу основания 2, и хвостовик 7, служаший для подпайки выводов, На осно вании 2 расположены штыри 8, служашие для фиксации подключаемой интегральной схемы 1, и пазы 9 для фиксаторов 10 крышки 4.При подключении интегральной схемы 1...

Контактное устройство для подключения плоских интегральных микросхем

Загрузка...

Номер патента: 663336

Опубликовано: 15.05.1979

Автор: Винсент

МПК: H01L 21/66, H01R 13/05, H05K 7/12 ...

Метки: интегральных, контактное, микросхем, плоских, подключения

...10Концевые стенки 26 и 27и боковые стецки 28 и 29 образуют полость 34 для приема блока 2.Крышка 16. имеет форму прямоугольника и центральное отверстие 35 подПередний выступ б блока 2, кроме то- ГЬ, она имеет первый и второй концы36 и 37, причем конец 36 зацело шарИирно связан с концом 24 основания17, Направленные назад боковые стенЯИ 38, 39 расположены на сторонах 40, % 36 441 крышки 16. Основание 17 имеет буртики 42 и 43. На концах 25 и 37, располояенных напротив концов 24 и 36, соответственно имеются фиксаторы 44 и отверстие 45 для отсоединяемого крепления крышки 16 на основании 17. При использовании упругих материалов, например полипропилена и найлона, фиксатор 44 может быть выплавлен на крышке 16 и отгибаться внутрь с помощью...

Система для автоматического контроля больших интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 664178

Опубликовано: 25.05.1979

Авторы: Абясов, Ажоткин, Гаврилов, Кушуль, Мардер, Сковородин, Хвощенко

МПК: G05B 23/02, G06F 17/00

Метки: больших, интегральных, схем

...для данного типа БИС. В регистр 5 выходной тестовой комбинации из блока 3 памяти поступает выходная тестовая комбинация каждого контролируемого теста исследуемой большой интегральной схемы б, Регистр 5 соединен с многоканальным амплитудным дискриминатором 7 для задания порога каждого канала дискриминатора, В блок 3 памяти из УВМ 1 поступает импульс запроса. В каждой ячейке блока 3 памяти выделен ряд разрядов,в которых записывается число циклов тактового генератора, в течение которых на БИС 6 должна подаваться данная тестовая комбинация входных воздействий и один разряд, в котором записывается признак циклов для повторения группы тестов. При считывании из ячейки блока 3 памяти на входы контролируемой БИС б подаютсявходные воздействия, а...

Устройство для присоединения выводов к контактным площадкам интегральных схем и корпуса

Загрузка...

Номер патента: 668029

Опубликовано: 15.06.1979

Автор: Большаков

МПК: H01L 21/60

Метки: выводов, интегральных, контактным, корпуса, площадкам, присоединения, схем

...изгиб на свободном конце.Внутренний диаметр кольца имитатора 7 корпуса с учетом диаметра ползуна 8 соответствует диаметру расположения выбранных точек сварки на контактных площадках 4 корпуса 2 в упомянутом масштабе увеличения.Необходимые перемещения узлов устройства осуществляет привод 19.Предлагаемое устройство работает следующим образом.На стол 1 устанавливается корпус 2 с кристаллом 3, который присоединен к кор пусу 2 с возможностью произвольного смещения. Контактные площадки корпуса 2 и кристалла 3 необходимо соединить проволокой. При помощи блока 10 визуального совме 1 цения, вращая маховики 13, 14, 15 механизма 12, совмещают блок настройки 11 с кристаллом 3 интегральной схемы, при этом имитатор 6 кристалла одновременно...

Устройство для передачи и приема интегральных телеизмерений

Загрузка...

Номер патента: 674074

Опубликовано: 15.07.1979

Авторы: Бобылев, Ивашов, Костогрыз

МПК: G08C 19/28

Метки: интегральных, передачи, приема, телеизмерений

...элементаИ 4 появляется импульс, который, поступив в передатчик б, смешивается ссерией других информационных импуль"сов, образуя код цикла опроса датчиков передающей стороны 1, Одновременно в передатчике б код цикла опросаобеспечивается защитными признакамис целью обеспечения помехоустойчивостиСерия импульсов кода с выходапередатчика б передающей стороны 1 через канал связи 7 поступает на входприемника 9 приемной стороны 8. Свыхода приемника 9 видеоимпульсы кода поступают на вход анализатора кодового признака 10, где происходитполная проверка кода по всем защитнымпризнакам. В случае положительногорезультата такой проверки на выходеанализатора кодового признака 10 вконце кодовой комбинации, т.е. во время появления импульса на...

Способ многоуровневой металлизации больших интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 598458

Опубликовано: 25.07.1979

Автор: Колешко

МПК: H01L 21/28

Метки: больших, интегральных, металлизации, многоуровневой, схем

...пленках алюминия о 1 снивастся из того, что данная примесь должна сконцентрироваться по границам зерен. Исходя из этого было установлено, что минимальная величина концентрации примесей, которую можно использовать для понижения электромиграции алюминия составляет, вес."/о. 5 с 1,66;0,003; гп 0,06;1.а 0,0001; Еп 1 О ; ТЬ, 1.у, Но, Ег Тгп,Ь 0,06; 1.п 0,07. Поэтому был определен средний нижний предел для всех РЗЭ 0,05 вес. о/,.М 1 кспмальная концентрация оценивается исходя из следующих соображений. Вопервых, рассматривается влияние процентного содержания легируюшего компонента на электропроводность пленки алюминия. Во-вторых, рассматривается поверхностная активность примеси и образование антикоррозионных поверхностных слоев, препятствуюп 1...

Блок выборки для интегральных запоминающих устройств с переменной длиной слова

Загрузка...

Номер патента: 686084

Опубликовано: 15.09.1979

Авторы: Носков, Садомов, Седова, Синдаловский, Хохлов, Черницкий

МПК: G11C 17/00

Метки: блок, выборки, длиной, запоминающих, интегральных, переменной, слова, устройств

...блока сов- номеров столбцов. Изменение границ ннючен к управляющей формационных ячеек в программируемой чика адреса. логической матрице осуществляется наитавлена блок схема,. более просто - изменением одного фотоства. 2 О шаблона в технологическом цикле соэд ит дешифратор 1 ния матрицы памяти. Поставленная цельчто в блок выборки длпоминающих устройствной слова, содержащийвход которого подключнам, а выходы соединс входами дешифраторвходные, выходные ивведены блок совпаденадреса и программирурице, входы которой сми счетчика адреса, ами регистраадреса, вьключены к одним вхоадреса, другие входы;с выходными шинами,падения адреса подклшине и к входу счетНа чертеже предспредлагаемого устройУстройство содержстолбцов, дешифратор 2 строк,...

Устройство для решения интегральных уравнений

Загрузка...

Номер патента: 687452

Опубликовано: 25.09.1979

Авторы: Боюн, Козлов, Тракай

МПК: G06J 1/02

Метки: интегральных, решения, уравнений

...узлов 4 выделе.п;я приращений, группу ревсрсивных счетчи. ков 5, коммутатор б,регистр 7., блок 8 управ. ления.Устройство работает следующим образом.Перед началом работы начальное приближение функции заносится в реверсивные счетчики 5, а соответствующее ему значение невязок - 10 1 в сумматоры 3. В регистр 7 заносится число разрядов сдвига, которое гостоянно подается на управляющие входы коммутаторов 2, При выполнении очередной итерации по сигналу, с блока 8 узлы 4. вьщеляют приращения, кото рые поступают на соответствующие сумматоры 3, на коммутатор б и на соответствующие ревер сивные счетчики 5, где суммируются со значениями функции, полученными на предыдущей итерации. Но команде с блока 8 генераторы 1 20 выдают значения функций,...

Устройство для измерения интегральных характеристик сигналов

Загрузка...

Номер патента: 690397

Опубликовано: 05.10.1979

Авторы: Ильюша, Казаков, Коровин, Кузнецов, Сафонов

МПК: G01R 11/00

Метки: интегральных, сигналов, характеристик

...которых соедйнены с раздельными выходами триггера 2 и вторыми входами первогои второго элементов И 11, 12, авыходы соединены с управляющимивходами вентилей 4, 5,Устройство для измерения интегральных характеристик сигналов работает следующим образом.Выходное напряжение генератора1 опрокидывает отриггер 2 н одноиз устойчивых состояний, при этомчастота повторения импульсов генератора 1 определяет интервалинтегрирования. Выходное напряжение триггера 2 поступаег, например, на первые входы элементов И 12и 16. На второй вход элемента И 16поступают импульсы напряжения, снимаемые с выхода Формирователя 15.Частота следования импульсов генератора 14 определяет частоту временного квантования напряжения дат" 55чика 3 и определяется заданной...

Способ настройки интегральных тензомостов

Загрузка...

Номер патента: 691682

Опубликовано: 15.10.1979

Авторы: Архарова, Маркин, Пивоненков

МПК: G01B 7/16

Метки: интегральных, настройки, тензомостов

...чувствительность тензомоста и попарно разрывают перемычки в смежных плечах моста до достижения требуемой чувс вительности,На фиг. 1 изображено устройство, реализующее предложенный способ; на фиг. 2 - расположение перемычек между тензодатчиками,Устройство содержит интегральный генэсыост, состоящий из тензодатчиков 1, 2, 3, 4, включенные последовательно с тензодатчиками 1 и 2 дополнительные тензодатчики 5 и б, балансировочные и компенсационные резисторы соответственно 7, 8.и 9, 10.5 691682 Формула изобретения Ризл Составитель С.СурковРедактор Н. Аристов а Техред С.Ми гай Коррек то Решетн 00/30ЦНИИПИ 1по де35, Моск Заказ Тираж 866 Подписноеударственного комитета СССРам изобретений и открытийЖ, Раушская наб., д. 4/5 лиал ППП Патент,...

Устройство параметрического контроля интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 694822

Опубликовано: 30.10.1979

Авторы: Абясов, Ажоткин, Кушуль, Скороходова

МПК: G01R 31/303

Метки: интегральных, параметрического, схем

...контактами панели 11 коммутации проверяемых номеров выводов.Вторая группа контактов панели 1 соединена с источником 2 питания, подающимсигналы логической единицы на грушу элементов И 10 через сменные вставки, осуществляющие нужные соединения групп контактов панели 11 в соответствии с типомисследуемых схем, т. е, для каждого типа 10 15 20 25 30 оа 4050 д 5 60 65 исследуемых схем сигналы логической единицы Од 51 Отс 51 ц 11 разл 1 пьс;Огцчсскс элементы И 10. Один пз логических элементов И 10 прц совпадении сигналов от источника 2 питания (через пансль 11) и с выхода дешифратора 6 подает сигнал 1, поступа 1 ощий через панель 16 ца программируемый источник 8 питацц 51 для включения требуемого номинала питания ца исследуемую интегральную...

Устройство для испытания интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 646709

Опубликовано: 15.12.1979

Авторы: Домеников, Кудрявцев, Михайлов

МПК: H01R 12/02, H01R 13/66

Метки: интегральных, испытания, схем

...интегральных схем, в корпусе которого расположены подвижная гребенка с установленными в ней пружинными контактами и неподвижное основание с пружинными контактами, внутри корпу са параллельно основной гребенке установлена дополнительная подвижная гребенка с пружинными контактами, а неподвижное основание- выполнено иэ диэлектрического материала. 3(,А,Е,Кудрявцев, В.И.Домеников и Н.В.Михайлов646709 Температура во внутреннем объемеустройства регулируется от 40 до150 фС и более нагревателями 9 и датчикамизадания температуры 11, температура контролируется датчиком 12,"медная теплопередающая пЛастина 10выравнивает" отклонение температурв полезном объеме. Неподвижное основание 4 из диэлектрического материала предохраняет контакты 3,5,8...

Устройство для отбора интегральных схем идентичными параметрами

Загрузка...

Номер патента: 705391

Опубликовано: 25.12.1979

Авторы: Големенков, Денисюк, Шафер

МПК: G01R 31/01, G01R 31/303

Метки: идентичными, интегральных, отбора, параметрами, схем

...на кадровую катушку отклоняющей системы кинескопа 7. Генератор пнлообраэныхнапряжений строчной развертки 2 управляет работой строчного преобразователя возмущений 9, изменяющего по непрерывному закону эа время длительности сигнала строчной развертки параметры генератора входных сигналов 10 и условия работы первой и второй контролируемых интегральных схем 11 и 12 соответственно.Под изменением условий работы интегральных схем 11 и 12 понимается, например изменение напряжения смещения.Генератор пилообразных напряже- ний кадровой развертки 3 управляет работой кадрового преобразователя возмущений 13, изменяющего по непрерывному закону эа время длительности сигнала кадровой развертки параметры генератора входных сигналов 10и условие...

Устройство для контроля интегральных микросхем

Загрузка...

Номер патента: 708269

Опубликовано: 05.01.1980

Авторы: Горохов, Николаев, Храпко

МПК: G01R 31/303

Метки: интегральных, микросхем

...которой соединены с соответствующими входами блока сравнения, а выходы последнего708269 Формула изобретения ЦНИИП ираж каз 8478/4 Подписное связаны со входом индикатора исправности.На чертеже прив едена структурнаяэлектрическая схема устройства,Установка тестового контроля 1 задает входные воздействия в виде двоичных кодов на входы контролируемогоцифрового узла 2 и производит поканальное сравнение ответных реакцийузла 2 с заранее известными наборамидвоичных кодов.Сигналы, поступающие. на входыконтролируемой микросхемы 3 и снимаемые с ее выходов, при помощи одноконтактного зонда и коммутатора 4записываются последовательно в блокпамяти 5.Запись информации в блок памяти 5происходит в процессе прохождениятестовой программы для контроля...

Матричный накопитель для интегральных запоминающих устройств

Загрузка...

Номер патента: 710075

Опубликовано: 15.01.1980

Авторы: Гладков, Орликовский, Орлов, Савенков, Сергеев

МПК: G11C 11/00

Метки: запоминающих, интегральных, матричный, накопитель, устройств

...потенциала. Резистор 6, соединенный с источником питания Е, другим выводом подключен к адресной шине 9 элемента памяти 7. Другая адресная шина 10 элемента памяти 7 соедичена в точке 11 с анодом диода 8, катод которого соединен с шиной нулевого потенциала. По разрядам элементы памяти матрицы объединяются разрядными шинами 12 и 13. Выводы элемента памяти 7, соответствующие разрядным шинам, не задействованы.Устройство работает следующим образом.Рассмотрим для примера работу строки с шинами 2 и 3, (другие строки идентичны ей). В режиме хранения информациитранзистор 4 работает в активном режиме,и ток 1, равный коллекторному току транзистора 4 задается в шину 3. При этомчерез шину 2, и резистор 5, протекает ток1, Через шину 9 и 10...

Устройство для дефектоскопии фотомасок и пластин интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 714431

Опубликовано: 05.02.1980

Авторы: Афанасьев, Малашонок, Михайлов, Чернявский

МПК: G06K 9/00

Метки: дефектоскопии, интегральных, пластин, схем, фотомасок

...расширения лазерного пучка, предметную плос-. кость 3, В которОЙ находится бездефектная или дефектная фотомаска интегральных схем, 2 О объектив 4, выполняющий прямое преобразование Фурье, двойной пространственный фильтр 5, состоящий из крестообразного непрозрачного фильтра и фотопластинки, служащей в качестве фильтра вйсокйх частот, объектив 6, выпол. йяющий обратное преобразование Фурье, и регисхрирующую систему 7.Устройство работает следующим. образом.РаСширенный колпиматором 2 параллельный пучок-снета от оптического квантового генера ЗО тора 1 освещает бездефектную фотомаСку иитегральиых схем 3, расположенную в передней фокальной плоскости объектива 4. Объектив 4 формирует в задней фокапьиой плоскм- ти Фурье-образ изображения...

Устройство для измерения статических параметров цифровых интегральных микросхем

Загрузка...

Номер патента: 718813

Опубликовано: 29.02.1980

Автор: Музанов

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, микросхем, параметров, статических, цифровых

...Тарасова Типография, пр, Сапунова образного напряжения, испытуемую микросхему 3, двухканальный коммутатор 4, ос- циллограф 5, управляемый генератор 6 смещения, блок 7 гашения обратного хода луча и эквивалент 8 нагрузки.Устройство работает следующим образом,Генератор 1 синхронизирует работу всех блоков устройства. Пилообразное напряжение с выхода формирователя 2 подается на вход испытуемой микросхемы 3 и одновременно через коммутатор 4 - на вход Х осциллографа 5, который работает в режиме внешней развертки. На вход У осциллографа через коммутатор 4 подается напряжение с выхода испытуемой микросхемы 3, При этом получают изображение передаточной характеристики испытуемой микросхемы. Для получения ее обращенной передаточной характеристики...

Устройство для контроля интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 718814

Опубликовано: 29.02.1980

Автор: Рябус

МПК: G01R 31/303

Метки: интегральных, схем

...код в вероятнос, Преобразователь 1 код в вероятнос преобразует поступивший код в случайную последовательность двоичных символов с вероятностью появления символа, например единицы, воставптель Иванов Корректор 3. Тарасова Редактор Е. Караулов Тираж 103 Заказ 2918/1 одписное пографня, пр. Сапунова еф,ЬЙ.;.ъ ,цФч Ф Дфф 1 л;, 3 Ф " уф,ф,:, .7188. "Ф 5случайной последовательности, равной преобразуемому числу. Выходная последовательность преобразователя код в вероятность через согласующий усилитель 2 поступает на вход коммутатора 3. Последнийпо сигналу, поступившему из блока 4 управления, подключает выход согласующегоусилителя 2 к входу соответствующего эле.мента запоминания 5 ь 5, , 5,. При последовательном подключении выхода...

Устройство для получения ортостереоскопических интегральных фотографий

Загрузка...

Номер патента: 732781

Опубликовано: 05.05.1980

Авторы: Дудников, Рожков

МПК: G03B 35/08

Метки: интегральных, ортостереоскопических, фотографий

...3 на расстояние, равное сумме отрезков А и В, близкое к фокусному расстоянию допол732781 Формула изобретения ЦНИИП Тираж аз 1732/36 Подписное нительного объектива. Плоское зеркало 2 установлено под углом 45" к оптической оси дополнительногообъектива перпендикулярно к плоскости чертежа, а объектив 5 и светочувствительныйматериал укреплены5 на общем жестком основании 7, причем расстояние между ними равнодвойному фокусному расстоянию объектива.Работает устройство следующим образом. Первоначально необходимо провести установку выбранного масштаба съемок (в данном случае этот масштаб будет устанавливаться изменением расстояния от объектива О до дополнительного объектива 1) и про вести фокусировку камеры на объект съемки. Фокусировка камеры...

Устройство для испытания интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 734833

Опубликовано: 15.05.1980

Авторы: Домеников, Кудрявцев, Михайлов

МПК: H01L 21/66, H05K 1/11

Метки: интегральных, испытания, схем

...винты обозначены позицией 20,контактные выводы - 21 и оси - 22.Устройство работает следующим об- Юразом,Интегральные схемы укладываютсявыводами в направляющие пазы подвижных планок 10 и 11 на контакты 12, Взависимости от ширины корпуса расстояние между подвижными планками регулируется путем перемещения их по направляющим пазам 16 и 17 и стопоритсявинтами 20, Затем спускают вниз подвижные гребенки 2 с пружинными контактаЭОми 3, которые выходят из зацепления сконтактами 14 и 15 и, повернув крьпыки13 вокруг осей 22, укладывают испытуемые интегральные схемы своими выводами на контактах 12, обеспечивая пер 35вое контактирование. Крышки 13 закрывают на защелки 18, и пружинные контакты 14 и 15, вмонтированные в поворотные крышки 13...

Устройство для контроля интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 744579

Опубликовано: 30.06.1980

Автор: Гаврилов

МПК: G01R 31/28, G06F 11/22

Метки: интегральных, схем

...2, На индикаторах 8 будут индицироваться нули. После этого блок управления 5 включает генератор тактовых импульсов 1, который начи. пает посылать импульсы на входы группы вход. ных сумматоров б. В группе входных регистров сдвига 7 начинает формироваться входная последовательность на вход проверяемой интег. ральной схемы 2. Причем длина этой последовательности будет больше длины последовательности, записанной во входной регистр сдвига 7 группы. Информация с испытуемой интегральной схемы 2 поступает на вход многоканально. го амплитудного дискриминатора 3; что изображено на фиг, 2 а. Каждый канал дискримина тора.3 имеет два выхода. Второй выход многоканального амплитудного дискриминатора 3 повторяет сигнал, поступающий на его вход, если...

Способ механической компенсации температурной зависимости чувствительности интегральных датчиков малых давлений

Загрузка...

Номер патента: 746218

Опубликовано: 05.07.1980

Авторы: Воробьев, Заседателев, Лепин, Яковлев

МПК: G01L 9/04

Метки: давлений, датчиков, зависимости, интегральных, компенсации, малых, механической, температурной, чувствительности

...(алюминиевые) выводы 5, кремниевую пластину- заготовку б.В качестве исходной пластины-заготовки б используется монокристаллический кремний марки КЭФтолщиной 250 мкм, ориентированный в плоскости (100), Термическим окислениемопри 1200 С образуется слой двуокиси кремния толщиной 0,72 мкм, который используется н качестве маскирующего слоя на операциях формирования тензочувствительных элементон 4 (дийфузионые тензорезисторы р-типа с поверхностным сопротивлением 200 ом/и иглубиной диФфузии 1,8 мкм) и алюминиевых вынодов 5. Тонкие квадратныекремниевые мембраны 1 формируютсяпутем анизотропного травления пластины-заготовки б н кипящем гидразинеГидрате Ид НН 0 марки ЧДА, причемстороны мембрай ориентированы покристаллографическим...

Система контроля параметров интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 746437

Опубликовано: 05.07.1980

Авторы: Белянин, Володарский, Самарцев, Туз

МПК: G01R 31/303, G06F 11/07

Метки: интегральных, параметров, схем

...результатам опросаформирует команды очередности, поступающие на дешифратор 3 таким образом, что первой поступает команда,соответствующая наибольшему коду,поступавшему из определенного счетчика блока 15, затем - команда, соответствующая меньшему по величинекбду и так в порядке убывания величины кодов до наименьшего (иначе УВМ1 формирует команды очередности всоответствии с величиной кодов счетчиков в блоке 15 в порядке их убывания). Если коды ряда счетчиков иливсех равны, то команды очередностиформируются в определенной последовательности, определяемой программой, заложенной в УВМ 1,УВМ 1 передает в счетчик 2 начальный адрес номера последовательности тестовых комбинацийВ то жевремя на вход дешифратора 3 и коммутатора 4 из УВМ 1 поступает...

Система для автоматического контроля параметров интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 746443

Опубликовано: 05.07.1980

Авторы: Маслов, Пушкин, Самсонов

МПК: G05B 23/02

Метки: интегральных, параметров, схем

...занцый сигнал с выхода блока 7 поступает через элемент И 13 в измерительный канал 111 на входы Н-разрядного счетчика 25 и формирователя 22, а также через элемент РЛИ 15 на вход блока 7.По получении указанного сигнала счетчиком 25 содержимое последнего увеличивается на едицицу, что соответствует установлению кода адреса второй контролируемой ячейки. При этомформирователь 22 вырабатывает сигнал на проведение подзарядки и запрещает работу дешифратора 24 на время подзарядки. По окончации указанного сигнала блок 7 формируетвремеццой интервал на установление переходных процессов для контроля второй ячейки. Измерение параметров второй и последующих ячеек происходит вышеописанным образом.Информация о результатах контроля ячеекпамяти...

Устройство функционального контроля интегральных схем с функцией памяти

Загрузка...

Номер патента: 748303

Опубликовано: 15.07.1980

Авторы: Маслов, Праслов, Самсонов, Черномашенцев

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, памяти, схем, функцией, функционального

...БИСи занесение данных в регистр 17 дани по которому в режиме записи заноб 3 уществляется по поступсится информация в ячейкиленни первого тактового импульса спо связи выхода формирователя 7 свыхода синтезатора 5 частот на вхоустройст ОмРежимесчитывания информации иэ сигналов с ныходон синтезатора 5 частот и лотактоВой частоты и сиг а а гического блока б, поступающим надения Считывание Формирователемвходы формирователя 7 управляющих7 формируется импульс, стробируюшийсигналон и стробимпульсов, последнийприем информации н компаратор 1 фор рует импульс, который подаетсяданных из контактного.устройств с выхода формирователя 7 на контакт -и сравнения этой информации с ожиное устройство 1 с контролируемойдаемой. По связи выхода формироваБИС и...

Устройство для контроля интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 748422

Опубликовано: 15.07.1980

Автор: Гаврилов

МПК: G01R 31/28, G07C 3/14

Метки: интегральных, схем

...60количества с этим зондом на выходедискриминатора 2 появится сигнал"брак на выходе" тех каналов, зондй которых замыкают с выбранйымзондом, номер которого фиксируется 45 регистром 8, На блок 5 поступаетсигнал "сбой" с выхода элементаИЛИ 3. Оператор исправляет корочение и осуществляет повторный запускданного режима. С генератора 7 сигнал поступит на вход регистра 8, вкотором произойдет перемещение "единицы" из первого разряда во второй,Прй этом произойдет проверка на замыкание второго зонда с остальнымизондами и т. д. до последнего зонда.Перенос единицы иэ старшего разрядарегистра 8 в первый фиксирует окончание первого режима и отсутствиезамыканий между зондами.При контроле на функционированиеблок управления 5 записывает в регистр...

Способ измерения интегральных характеристик переменного сигнала

Загрузка...

Номер патента: 750380

Опубликовано: 23.07.1980

Авторы: Богородицкий, Фролов, Шадрин, Юрманов

МПК: G01R 17/02

Метки: интегральных, переменного, сигнала, характеристик

...напряжения,сигналаЧ можно определить как кореньквадратный из суммы квадратов мгновенных значений напряжений О Хвзятыхй раз за период Т входного сигналаделенной на р 0380 4Полученный код подвергают соответствуюшей цифровой обработке. Для этогос началом первого цикла каждого измерения из последовательности заполняющихимпульсов, формирующих код (основной)вычитают вторую последовательность импульсов линейно-изменяющейся частоты-6 ( =-у ). Одновременно запол. Е.оЯ. 1някицие импульсы подают на формирование вспомогательной развертки кода.Текущие значения сформированных разверток кодов непрерывно сравниваютсяи в момент равенства кодов прекращаютформирование вспомогательной развертки15 кода и вычитание второй последователь ности импульсов...