Способ отбраковки потенциально нестабильных цифровых интегральных микросхем

ОЮЗ СОВЕТСКИХ ОЦИАЛИСТИЧЕСНИРЕСПУБЛИК 9) П 1) ао 4 СО 1 К 3128 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИПРИ ГКНТ СССР М ОПИСАНИЕ, ИЗОБРЕТЕНИ АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(56) Авторское свидетельство СССР М 1320778, кл. С 01 К 31/28, 1985.Авторс кое с видетельст во СССР У 1420558, кл. С 01 К 3/28, 1986. (54) СПОСОБ ОТбРАКОВКИ ПОТЕНЦИАЛЬНО НЕСТАБИЛЬНЫХ ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ(57) Изобретение относится к технике неразрушающего контроля и может быть использовано для контроля надежности и отбраковки цифровых интегральных микросхем. Цель изобретения - повышение достоверности отбраковки. На кон 2тролируемую и эталонную микросхемы 4 и 6 одновременно подают напряжение источников 1 О и 11 питания и через измерительную головку 3 - заданную тестовую последовательность от блока 1 программного управления и блока 2 кодового воздействия. Преобразователи 7 и 8 ток - напряжение в шинах питания и вычитающий блок 9 Фор мируют разностный сигнал Флуктуаций тока пита ни я обеих ми кр осхем. И змерение мощности Флуктуаций разностного сигнала осуществляется до и после нагрева контролируемой микросхемы 4 до максимально неразрушающей температуры с помощью микрополосного,усилителя 12, регулируемого усилителя 13 квадратичного детектора 14 и усредняющего блока 15. Результат,отображенный на индикаторе 16, сравнивается с заданным значением,Изобретение относится к техникенеразрушающего контроля, в частностик диагностике цифровых интегральныхмикросхем, и может быть использовано для контроля их надежности.Цель изобретения - повышение достоверности отбраковки потенциальнонестабильных цифровых интегральныхмикросхем за счет выявления дефектов 10развивающихся при повышенной температуре.На чертеже изображена схема устройства для реализации предлагаемого способа. 15На чертеже приняты следующие обозначения: блок 1 программного управления, блок 2 формирования кодовоговоздействия, измерительная головка 3,испытуемая цифровая микросхема 4 (ЦМС)20нагреватель 5, эталонная ЦМС 6 пре=образователи 7 и 8 ток - напряжение, блок 9 вычитания, источники 10 и 11питания, широкополосный усилитель 12,усилитель 13 с регулируемым коэффици-,5ентом усиления, квадратичный детектор14 усредняющий блок 15; индикатор 16,Устройство работает следующим об-.разом.Блок 1 программного управления вы- ЗО полняет функции приема хранения пеФрецня .команд программы контроля и управленияя . блоком 2 формирования кодового воздействия 2. Последний вырабатывает сигналы кодового воздействия, которые через измерительную головку 3 подаются на испытуемую 4 и эталонную 6 ЦМС. Измерительная головка содержит контролирующие элементы для контролируемой и эталонной цифро О вых микросхем, необходимые для создания условий контроля (буферные элементы, нагрузка, согласующие, развязывающие или преобразующие элементы) . От источников 10 и 11 питание подается соответственно на испытуемую 4 и эталонную 6 ЦМС. Одновременно напряжение с преобразователей 7 и 8 подается на блок 9 вычитания, который вырабатывает напряжение прямо пропорци. ональное разности токов потребления50 обеими микросхемами, Флуктуации напряжения усиливаются широкополосным усилителем 12 и усилителем 13 с регуфлируемым коэффициентом усиления.Регулировка коэффициента усиления 55 обеспечивает нормальную работу квадра" тицного детектора 14, усредняющего блока 15 и индикатора 16. Время усреднения мощности флуктуаций при контроле надежности устанавливается равнымвремени действия входного кодовоговоздействия. Для обнаружения неис"правной цепи оно равно времени включения цепи после начала действия тестаСпособ осуществляется в следующейпоследоват ел ь ности .На контролируемую и эталонную микросхемы подают напряжение питания итестовые воздействия. С помощью преобразователей 7 и 8 ток - напряжениеи выцитающего блока 9 Формируетсяразность сигналов напряжения, пропорциональных Флуктуациям тока потребления микросхем. Измеряют мощностьфлуктуаций сформированной разностидо и после нагрева микросхем до максимально неразрушающей температуры.. Информативным параметром служитразность мощностей Флуктуаций, по.сравнению которой с заданным значе 1нием производят отбраковку нестабильных микросхем. Возможно осуществлениеспособа и беэ использования эталонной микросхемы, в этом случае вместоразности сигналов напряжения используют сигнал пропорциональный Флуктуациям тока питания контролируемоймикросхемы,Для определения величины максимально неразрушающей температуры производят следующие операции: заведомогодную микросхему данного типа, считают пороговой, определяют максималь"но неразрушающую температуру путемснятия зависимости мощности Флуктуаций тока питания от температуры,Приэтом максимально нераэрушающую тем"пературу определяют в момент насыщения зависимости,Формула изобретения1. Способ отбраковки потенциально нестабильных цифровых интегральных микросхем, заклюцающийся в том, цто на контролируемую и эталонную интегральные микросхемы одновременно подают напряжение питания и входное импульсное воздействие, преобразуют флуктуации тока питания контролируемой и эталонной микросхем в сигналы напряжения, формируют разность сигна-, лов напряжения от эталонной и контролируемой микросхем и измеряют мощЮСоставитель В. СтепанкинТехред Й.Кравчук Корректор О. Ципле Редактор Т. Парфенова Заказ 7220/41 Тираж 714 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., и 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина,101 5 15256376ность флуктуаций разности сигналов нагревом и после охлаждения контроли- напряжений и выбирают ее в качестве руемой интегральной микросхемы и по информативного параметра, о т л и- результату сравнения разности инфорч а ю щ и й с я тем, что, с целью по- мативных параметров с заданным знавышения достоверности отбраковки по- чением отбраковывают потенциально тенциально ненадежных интегральных нестабильные интегральные микросхемы. микросхем, нагревают контролируемуюинтегральную микросхему до максималь. Способ по и. 1, о т л и ч а ю-но неразрушающей температуры, и вы" 1 О щ и й с я тем, что максимальную недерживают под нагревом заданное вре- разрушающую температуру определяют по мя, охлаждают контролируемую инте" моменту-насыщения температурной за" гральную микросхему, измеряют инфор- висимости мощности флуктуаций тока мативный параметр, определяют раз- питания эталонной интегральной миность информативных параметров перед 15 кросхемы.1