Архив за 1987 год

Страница 887

Способ определения дисперсности аэрозолей

Загрузка...

Номер патента: 1318850

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Нечаев, Яворский

МПК: G01N 15/02

Метки: аэрозолей, дисперсности

...этой зависимости находят частотувращения и соответствующую проскоку К=0,445, и п, соответствующуюпроскоку К = 0,03. По этим значениямпо Формуле (1) вычисляют соответствующие значения граничных размеров3 и Г,и находят параметры распределения 8 , и б , которые полностью определяют дисперсный состав.В измерениях по предлагаемому способу используется ротационный анализатор с шестью коаксиальными каналами длиной 1 = О, 18 м, высотой Ь-з0,72 х 10 м, средним радиусом вращения К = 5,53 х 10 м. Привод ротационного анализатора осуществляетсяэлектродвигателем постоянного токаот регулируемого источника напряжения. Частота вращения ротора анализатора измеряется электронным тахометром, расход газа через анализатор - газовым барабанным...

Способ определения коэффициента проскока счетчиков частиц

Загрузка...

Номер патента: 1318851

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Логвинов, Фадеев

МПК: G01N 15/02

Метки: коэффициента, проскока, счетчиков, частиц

...изобретения - повышение точности, измерения за счет устранения погрешности, связанной с неравномерностью распределения по входному сечению заборного устройства счетчика, и исключения многократных измерений абсолютного значения коэффициента проскока для каждой размерной группы.На чертеже изображены графики гистограмм полидисперсного порошка корунда на входе счетчика и порошка корунда на выходе счетчика.П р и м е р, Проводят измерение коэффициента проскока счетчика аэрозолей. На вход счетчика подают полидисперсный порошок корунда с определенным с помощью фильтра АФА-ДПотносительным дисперсным составом (а) (гистограмма 1). 987. частиц этого порошка имеют размеры от 5 до 45 мкм. 5 Формула изобретения Определяют дисперсный...

Гранулометр сыпучих материалов

Загрузка...

Номер патента: 1318852

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Степанов, Угнячев, Шкодкин

МПК: G01N 15/02

Метки: гранулометр, сыпучих

...- торцовыми дисками 1,Внутри каркаса размещена заслон 25ка 5, закрепленная на каркасе припомощи накладки иэ эластичного материала. На внутренней поверхноститорцовых дисков 1 размещены ограничители 6 поворота заслонки 5, а навнутренней поверхности каркаса между просеивающей поверхностью 3 изаслонкой 5 шарнирно закреплен фиксатор 7 положения заслонки 5, Загрузка материала производится черезворонку 8, разгрузка продуктов разделения - в бункер 9 весоизмерительной системы О,Устройство работает следующим образом.Анализируемый материал загружается в воронку 8, Прямоугольный проем4 просеивающей поверхности 3 при загрузке располагается под воронкой 8,При этом заслонка 5 открыта до упора ограничителей 6, и материал поступает внутрь каркаса на...

Способ определения удельной поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1318853

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Кичас, Матулявичюте, Спокойный, Эйдукявичюс

МПК: G01N 15/08

Метки: поверхности, удельной

...и в воздушной среде осущестовляют нагрев тиглей до 250 С с постоянной скоростью, равной 3 град/мин.В процессе нагрева прибор осуществляет запись температуры образца Т(масштаб 1:5 С) и разности температур образца и эталона РТА (масштаб1:3 С), Полученная при этом термограмма показана на Фиг. 1, Отдельно на приборе осуществляют проверкупостоянства нулевой линии ПТА, Прис ъ 135 С кривая РТА (фиг, 1) начинает отклоняться от нулевой линии, иэто превышение Н возрастающее с ростом температуры, обусловлено экзотермическим эффектом термоокислительнойореакции связующего. При) 205 С натермограмме (фиг, 1) регистрируетсядополнительное превышение Н за счет8853 Еа о Еа Но Я Н, ,К, - 133 10 1/м,где Б удельная поверхность связующего,тепловой эффект...

Устройство для определения структурно-механических параметров порошков

Загрузка...

Номер патента: 1318854

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Морозов, Новоселов, Савченко, Синицын

МПК: G01N 19/04

Метки: параметров, порошков, структурно-механических

...7 в дне цилиндрической измерительной ячейки, под которым смонтирована оптическая система 8 и Фотометр 9. Испытуемый образец порошка10 размещается на поршне,Устройство для определения структурно-механических параметров порошков работает следующим образом,Перед началом измерений производится градуировка, т,е, на поршень 3устанавливаются грузы известной массы и снимаются показания Фотометра 9,Процесс измерения структурно-механических параметров начинается с засыпки образца исследуемого порошкав цилиндрическую измерительную ячейку 1. Порошок 10 оказывает давлениена поршень 3 и заставляет его перемещаться вниз, При этом деформируется ртуть 6, находящаяся между дном2 и поршнем 3, что приводит к уменьшению относительного отверстия...

Оптический влагомер

Загрузка...

Номер патента: 1318855

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Копытин, Тихомиров, Хан

МПК: G01N 21/01

Метки: влагомер, оптический

...5, принимается общим фотоприемником 7, соединенным по выходу с предварительным усилителем 8. Коммутатор 13 каналов соединен по входу с блоком 14 питания, а по выходу - с источниками 1 и 2 излучения.В зависимости от вида вещества роль кюветы может выполнять сама поверхность исследуемого материала или прозрачный трубопровод 16, по которому транспортируется анализируемая жидкость или газ.Использование в качестве приемно- передающего тракта излучений световодного коллектора, выполненного в виде двух коаксиальных цилиндров и цилиндрического стержня в центре, светопроводящего конуса с большим показателем преломления, чем у светопроводящих жил коллектора 5, зеркальной линзы, выполненной в виде параболы 15, прозрачного трубопровода 16...

Устройство для измерения индикатрис рассеяния света

Загрузка...

Номер патента: 1318856

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Коваленко, Столяров, Таразанов

МПК: G01N 21/01

Метки: индикатрис, рассеяния, света

...преобразования которого ле отражения от кольцевого зеркала 6 прямо пропорционален величине сопрособирается в фокусе Г и, отражаясь 15 тивления обратной связи (в данномот плоского зеркала 8, направляется случае сумме сопротивлений потенциов фотоприемник 9 рассеянного излу- метра и проходного сопротивления отчения. Использование размещенных в крытого аналогового ключа) и может диаметрально противоположных фокусах изменяться в широких пределах, при зеркал 7 и 8 позволяет исключить по этом обеспечивается высокая степень падание прямого потока в фотоприем- линейности коэффициента преобразованик 9 рассеянного излучения, При вра- ния фотоприемника (фотодиода) 9 свещении диска-модулятора 11, жестко за- тового потока в электрический сигнал....

Погружной датчик мутности

Загрузка...

Номер патента: 1318857

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Боголюбов, Игнатов, Руденко

МПК: G01N 21/53

Метки: датчик, мутности, погружной

...в частности для непрерывного автоматического измерения мутности воды в процессе промывки фильтров на станциях питьевого и технического водоснабжения.Целью изобретения является повышение чувствительности датчика.На чертеже изображена схема погружного датчика мутности.Погружной датчик мутности содержит источник 1 света, установленный в фокусе рефлектора 2, Фотоприемник 3 рассеянного света, ориентированный светочувствительной поверхностью в противоположную сторону от источника 1 света, световод 4, выполненный в виде трубки, один конец которой закрыт, а другой имеет фланец в виде кольца, Фотоприемник 3 размещен за светонепроницаемой перегородкой 5 в плоскости фланца в его отверстии, световод 4 заполнен частицами стекла 6, отражающими...

Способ определения показателя преломления сегнетоэлектрических кристаллов

Загрузка...

Номер патента: 1318858

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Ангерт, Кальштейн, Резник, Умаров

МПК: G01N 21/41

Метки: кристаллов, показателя, преломления, сегнетоэлектрических

...преломления соотношениями, описывающими законы сохранения волновых векторов и закон сохранения энергии. Для прямолинейного рассеяния этот закон имеет вид 18858 2и ,и ,и - соответствующие им покаоезатели преломления.Рассеяние на высокочастотной поляритонной ветви в кристалле может бытьзарегистрировано при следующих геометриях рассеяния;Х(ЕУ) Х, (а)1 О или У(7 Х)У, (б),где 2 - направление оптической осикристалла.Из (а) и (б) следует, что направ 15 ление рассеяния должно совпадать сосью Х (для поляризации а ) или с осьюУ (для поляризации о). В этом случаепоказатель преломления и являетсяонеобыкновенным пе.20 Из (1) следует, чтооо Ъ + Фп, (и и)+п (2)Фгде и и п - обыкновенные показатели преломления для предельной длины волны...

Способ измерения показателя преломления

Загрузка...

Номер патента: 1318859

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Глухенька, Гришко

МПК: G01N 21/45

Метки: показателя, преломления

...13 и 15 (для левой половины ход лучей симметричен показанному), Лучи первой эоны 12-13 проходят через две стенки трубчатого объекта и внутреннее отверстие и выходят под углом О Лучи второй зоны 13-15 входят в него, испытывают полное внутреннее отражение на границе внутреннего отверстия и выходят из под углом 6 . Лучи третьей зоны 15-16 выходят под углом 95Углы выхода лучей из трубчатого объекта определяются соотношениями, полученными аналитически для каждой из зон;1 1 . 1 8, =2(агсз 1 п -- агсз 1 п + агсздп -а папЬ (1) 1 э 1 э 0 =2 ( атс з 1 п 1-атс з п - + а тс и дп --Э па пЬ(3) где 0 (1 с а; а 1 э па; па 1 Ъ - переменные величины, характеризующие удаление входа лучей от оси пучка излучения, проходящей через центр трубчатого...

Устройство для диагностики плазмы методом рассеяния света

Загрузка...

Номер патента: 1318860

Опубликовано: 23.06.1987

Автор: Голдинов

МПК: G01N 21/47

Метки: диагностики, методом, плазмы, рассеяния, света

...электрооптические элементы 9и 10 и анализаторы 11 и 12 составля - 35ют два ортогонально ориентированныхэлектрооптических затвора.Устройство работает следующим образом.В исходном состоянии (до прихода 40рассеяния) управляющий импульс напряжения на электрооптических элементах 9 и 10 (Фиг.2) отсутствует, врезультате чего электрооптическиезатворы в обоих плечах светоделительного блока (Фиг.2) оказываются перекрытыми для входного светового потока, что реализует работу фотоумножителя в импульсном режиме,В известный момент времени, предшествующий моменту появления полезного сигнала рассеяния, на электрооптические элементы 9 и 10 (фиг.2)одновременно подается,полуволновойимпульс напряжения на время сущест-6вования полезного сигнала (ь 10 с)Так...

Способ определения концентрации твердой фазы в угольной пульпе на выходе радиального сгустителя и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1318861

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Панин, Погорелов, Сытников

МПК: G01N 21/47

Метки: выходе, концентрации, пульпе, радиального, сгустителя, твердой, угольной, фазы

...схему 15 умножения и индикатор 16.Устройство работает следующим образом.Через измерительную кювету протекает исследуемая пульпа 17, Осветитель 1 излучает световой поток Уо Примерно 10 Е этого светового потока благодаря светоделительной пластине 4 направляется на фотоприемник .7.Остальная часть светового потока Р попадает на светоделительную пластину 3. Благодаря этой пластине формируются два световых потока Р и Ф,1 Причем первый больше второго в 8- 12 раз.Световой поток ф, направляется на пульпу, протекающую в кювете 2, примерно у центра гипотенузной грани кюветы. При этом часть света зеркаль. но отражается от прозрачной грани кюветы (световой поток ф ), другая часть проходит сквозь прозрачную грань, падает на исследуемую пульпу и...

Способ определения прозрачности оптической среды

Загрузка...

Номер патента: 1318862

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Ваулин, Денчик, Задде

МПК: G01N 21/47

Метки: оптической, прозрачности, среды

...во времени интенсивности около первого отражателя, можно представить в виде 1 а, 21,10 1 (с) = -ш +а созКа Я- к Ф к=121. 1 а, 21 21.1, ( -- ) = -;, - + -- асозКсо( - )Ск: где 1 - максимальная амплитуда интенсивности посыпаемого импульса; ак - коэффициент разложения Фурье; К = О, 1,2,3;+2 1Отсюда для амплитуды д первойгармоники на выходе квадратичногоприемника 2(А,-А,Т)1 а40 для второй гармоники амплитуда Таким образом, измеряя амплитудыпервой и второй гармоник принятогосуммарного сигнала, для определенияпрозрачности оптической среды достаточно образовать их соотношения или 50 отношение разности к сумме. Последнееотношение более предпочтительно, таккак в устройствах, реализующих предлагаемый способ, всегда при калибровке можно уравнять...

Способ определения изменения параметров поверхности объекта

Загрузка...

Номер патента: 1318863

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Андреев, Рукман, Шелемин

МПК: G01N 21/55

Метки: изменения, объекта, параметров, поверхности

...на поверхности 2 систему 7 полос 8 излучения с распределением плотности мощности Б по гармоническому закону поперек оси полосы. Перемещают систему 7 полос 8 в направлении, перпендикулярном осям полос 8.Затем регистрируют в процессе пе. ремещения полос смещение Ьх центра полосы и амплитуду основной волны Б, по величинам которых судят об изменении температуропроводности на участках поверхности объекта 1.При синусоидальном распределении плотности мощности в направлении поперек полос перемещения этой картины по объекту со скоростью Ч и при выполнении условия 45 где а - среднее значение температуропроводности;Ь(а) - локальное отклонение температуропроводности от средней (при условии его малости) величины;Ьх - величина смещения центра...

Устройство для подачи порошковых проб в спектральном анализе

Загрузка...

Номер патента: 1318864

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Аполицкий, Слесарев

МПК: G01N 21/67

Метки: анализе, подачи, порошковых, проб, спектральном

...срезающего ножа 4. 64 2Устройство работает следующим об-разом.Шток 14 через поршень 13 равномерно подает пробу 12 в рабочую камеру 3 к срезающему ножу 4. От источника избыточного давления (0,10,5 атм) в рабочую камеру 3 черезотверстие 10 и многозаходную винтовую канавку 9 равномерно подают распыляющий газ (воздух, аргон и,т.п.),выход которого осуществляется черезтранспортную трубку 6. Затем включают электродвигатель 2, приводящийпо вращение срезающий нож 4. В результате вращения срезающего ножа 4происходит срезание, дробление, истирание, перемешивание распыляемогопорошка, отбрасывание его к стенкамрабочей камеры и переведение порош-.ка во взвешенное состояние, При этомлишь ничтожная часть мелкодисперсного порошка увлекается газовым...

Способ прямого пламенно-фотометрического определения галогенов в биологических объектах

Загрузка...

Номер патента: 1318865

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Гончаров, Густилин

МПК: G01N 21/72

Метки: биологических, галогенов, объектах, пламенно-фотометрического, прямого

...Фиг. 2 и 3 приведен спектрэмиссии галогенидов.В табл. 1 приведены соответствующие значения, по которымвидно, что сигналы хорошо различимии идентифицированы.Спектры молекулярной эмиссии большинства органических галогенидсодержащих соединений сходны по основнымпРиведенным в табл.Пределы обнаружения Вг, С 1, Л, Рприведены в табл. 2,П р и м е р 1. Определение хлора,брома, иода, фтора в органах животных.Навеску воздушно-сухого образца .массой 0,2 г обрабатывают 1 мл концентрированной свежеперегнаной азотной кислоты, тщательно перемешивают и через 10-15 мин добавляют10 мл ацетона. После непродолжительного встряхивания (около 1 мин) иотстаивания деконтацией .отделяютосадок от анализируемого раствора.Полученную смесь анализируемого образца и...

Способ определения воды в ацетоне

Загрузка...

Номер патента: 1318866

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Драпайло, Лантух, Пилипенко, Фалендыш

МПК: G01N 21/78, G01N 33/18

Метки: ацетоне, воды

...25 ной 2 мм с крышкой.В качестве раствора сравнения используют раствор, приготовленный 0,010 О, 020 О, 030 0,035 0,039 0,040 0,041 0,042 0,043 0,044 0,045 0,050 0,060 Для сопоставления предела обнаруже нияи точностипредлагаемого способас известным проведены опыты по определению различного содержания водыв ацетоне по предлагаемому и известному способу. аналогично описанному беэ добавки воды. Интенсивность полосы поглощения раствора при 3350 см составляет 9,7 ., что соответствует по градуировочному графику 0,0029 об,воды, Относительная ошибка определения при 6 параллельных опытах составляет 3,3%.Влияние предлагаемого интервала концентраций хлорида кобальта на чувствительность определения отражено в табл. 1. Как следует из данных табл.1,...

Способ определения 1-гидразинофталазина гидрохлорида

Загрузка...

Номер патента: 1318867

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Артемченко, Бурмистров, Ничволода, Петренко, Трубина

МПК: G01N 21/78

Метки: 1-гидразинофталазина, гидрохлорида

...100, 86 П р и м е р. Количественное определение 1-гидразинофталазина гидрохлорида в субстанции. Точную навеску 15 анализируемого вещества в пределах 0,010-0,020 г растворяют в воде в мерной колбе вместимостью 50 мл и доводят до метки этим же растворителем.1 мл полученного раствора помещают в 20 мерную колбу вместимостью 25 мл, прибавляют 3 мл 0,5%-ного раствора Х-толуолсульфонил-хлор,4-нафтохинонимина в диметилформамиде и доводят диметилформамидом до метки, Параллельно проводят опыт со стандартным раствором 1-гидразинофталазина гидрохлорида и контролем,Оптическую плотность анализируемых растворов измеряют на фоне контроля 30 при помощи спектрофотометра при 537 нм в кюветах с толщиной слоя 1 см.Расчет количественного содержания...

Устройство для контроля текстильных и трикотажных полотен

Загрузка...

Номер патента: 1318868

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Волков, Иванов, Кокеткин, Хавкин, Чугунов

МПК: G01N 21/86

Метки: полотен, текстильных, трикотажных

...зеркальной системы направляются на компенсатор 8. Плоские прямоугольные зеркала 9 направляют каждый из.световых пучков на соответствующий участок контролируемой поверхности, при этом зеркала сообщают каждому из световых пучков определенные разности хода лучей, обеспечивающие равенство длин хода каждого иэ световых пучков, в результате на каждом из отдельных участ-,5 ков контролируемой поверхности получаются резкие изображения диафрагмы 2,Плоские прямоугольные зеркала 9.расположены таким образом, чтобыбыло обеспечено необходимое перекрытие между отдельными сканируемымиучастками контролируемой поверхности. Изображение диафрагмы 2, проецируемое на поверхность контролируемого материала, переносится объективом11 приемной оптической...

Устройство для измерения влажности и плотности материалов

Загрузка...

Номер патента: 1318869

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Елкин, Леонидов, Хорев, Шитов

МПК: G01N 22/04

Метки: влажности, плотности

...выходной мощности колебанийгенератора, Излученная передающей антенной 11 мощность колебаний частично поглощается в исследуемой среде ипринимается приемной антенной 12, а Ю затем поступает в приемник 17 и затемв цепь обработки.В цепи обработки сигналы из дополнительного и СВЧ-каналов через масштабные УПТ 19 и 18, необходимые для 15 установления соответствия между показаниями индикаторов и величиной мощности прошедшего через среду импульса, поступают в блок 20 аналоговогоумножения, где осуществляется деление 20 первого сигнала на второй. В результате деления на выходе блока 20 появляется сигнал, величина которого определяется только плотностью исследуемого образца. Это является возможным потому, что величина поглощеннойв среде...

Рентгеновский дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1318870

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Валуев, Ефанов, Лютцау, Парамонов, Сарпов, Хакимьянов

МПК: G01N 23/02

Метки: дефектоскоп, рентгеновский

...высоковольтном напряжении на высоковольтном источнике регистрируемоеизлучение по разному поглощается вразнотолщинных изделиях. Это приводит к изменению чувствительностиконтрОля так, что при контроле изделий больше толщины при оптимальнойчувствительности контроля изделияменьшей толщины чувствительностьконтроля. существенно падает. Для выравнивания чувствительности при контроле изделий с различной толщинойускоряющее высоковольтное напряжениеизменяют автотрансформатором так,чтобы напряжение высоковольтногоисточника возрастало при контролеизделий большей толщины и уменьшалось при контроле изделий меньшейтолщины. Величину изменения ускоряющего высоковольтного напряженияустанавливают таким образом, чтобыпоглощаемая способность...

Рентгеновская малоугловая камера

Загрузка...

Номер патента: 1318871

Опубликовано: 23.06.1987

Автор: Сафонов

МПК: G01N 23/20

Метки: камера, малоугловая, рентгеновская

...измельченного катализатора и его чистого носителя засыпают в отдельные кюветы 5, стенки которых выполнены из ядерных фильтров. Кюветы с образцами устанавливаются в держатели, закрепленные на валу 4, имеющем электронагреватель 6 и холодильник полость для подачи жидкого азота. Воздух из вакуумного корпуса камеры откачивается. С помощью электронагревателя б, установленного на валу 4, осуществляется сушка образцов в ва кууме. Пористые стенки кювет, выполненные из ядерных фильтров 4, обеспечивают удаление влаги из образцов. Обезвоженные образцы охлаждаются до низкой температуры при подачи жидкого азота в полость 9 вала 4 с держателями. Затем включается испаритель 10.Пары вещества заполняют вакуумную камеру и конденсируются в порах об разцов...

Способ послойного рентгеноструктурного анализа поверхностных слоев поликристаллов

Загрузка...

Номер патента: 1318872

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Бодрова, Почта, Тихонович

МПК: G01N 23/20

Метки: анализа, поверхностных, поликристаллов, послойного, рентгеноструктурного, слоев

...интегральной ширины и данных, приведенных в таблице, на блюдается соответствие между В и В в , что указывает на отсутствие60,90градиента свойств поверхности эталонного образца.Предлагаемый способ рентгенострук турного анализа поверхностных слоев поликристаллов позволяет, не прибегая к аналитическим методам, определять глубину анализируемого слоя из получаемых экспериментально величин и проводить анализ поверхностного слоя образца дифференциально па конкретным подповерхностным слоям.Использование предлагаемых технических условий эксперимента зна чительна уменьшает искажение профиля дифракционной линии и ее геометрическое уширение, обусловленное дефокусировкой.572 4 ния количественной информации о структурных нарушениях...

Способ рентгенографического определения размеров кристаллитов

Загрузка...

Номер патента: 1318873

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Алейникова, Беликов, Кудашов, Работкина, Шеменева

МПК: G01N 23/20

Метки: кристаллитов, размеров, рентгенографического

...для всех тех плоскостей (Ь 1 1 ), которые могут дать дифракционные пятна, попадающие на выбранную окруж ность. Набор этих плоскостей находят из условия, что значения межплоскостных расстояний д(Ь;Е 1;) для этих плоскостей исследуемого материала не превышают величины %, /2 зп 9, где19 = - агсд (г/А) (здесь А - расстоя 4ние образец - рентгенопленка),В качестве примера определяют линейный Размер кристаллитов по точеч ной множественной лауэграмме, полученной с титановой пластинки толщиной 0,5 мм, при съеме "на просвет" на установке УРС, трубке БСВс медным анодом при ускоряющем напряжении 30 кВ и токе 10 мА. 11 ри 9 равном 10 радиус окружности г=А 82 9 = =40 д 20. =14,56 мм. Угол сходимости 8=0,012 рад. При напряжении на трубке равном...

Высокотемпературная камера-приставка к рентгеновскому дифрактометру

Загрузка...

Номер патента: 1318874

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Богун, Никишин, Петьков, Подорожный

МПК: G01N 23/20

Метки: высокотемпературная, дифрактометру, камера-приставка, рентгеновскому

...клапаном и нагревательной системой установлена ловушка 22.Нагревательная система с образцами 5 и 12 окружена блоками экранов: цилиндрическими 23, торцовыми-верхними 14 и нижними 24. Блок 23 цилиндрических экранов - двухсекционный. Одна из секций - легкосъемная, что облегчает замену вышедшей из строя термопары 15. В камере имеется смотровое окно 25, При необходимости для предварительной градуировки камеры можно использовать оптический пирометр. Смена нагревательного элемента происходит без нарушения юстировки образца. Корпусы камеры, насоса и силовые токовводы 26 охлаждаются водой. Устройство работает следующим образом.Корпус 1 камеры-приСтавки отсоединяют от основания 21, на держатель образца 6 устанавливают экран 8 иобразец 5, проверяют...

Импульсный спектрометр ядерного магнитного резонанса

Загрузка...

Номер патента: 1318875

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Витвицкий, Перевезий, Подьелец, Чернецкий

МПК: G01N 24/00

Метки: импульсный, магнитного, резонанса, спектрометр, ядерного

...эхосигнала в начальный момент, а первый 10 одновибратор 12 Формирует строб заЬэха писи в момент времени --- ,2 Поступая с элемента 13 аналоговой памяти и детектора 9 сигналы сравниваются на элементе 14 сравнения. Если сиг - налы одинаковые, элемент 14 сравнения на выходе выделяет сигнал логического "0", который, проходя логический 20 элемент НЕ 16, дает разрешение на прохождение стробирующего импульса через элемент И 18 на вычитающий вход . реверсивного счетчика 19. По приходу с блока 1 импульсных программ очередного импульса код реверсивного счетчика 19 уменьшается и амплитуды радио- импульсов на выходе аттенюатора 4 увеличиваются. Процесс увеличения радиоимпульсов повторяется до тех пор, 30 пока величина постоянного напряжения фна...

Импульсный спектрометр ядерного квадрупольного резонанса

Загрузка...

Номер патента: 1318876

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Кричковский, Магера, Панькив, Проць

МПК: G01N 24/08

Метки: импульсный, квадрупольного, резонанса, спектрометр, ядерного

...его фазо-частотной характеристикой. Поэтому на выходе второгофазового детектора 18 будет иметь место постоянное напряжение, величинакоторого определяется разностью фазвысокочастотных колебаний, поступающих на его входы. Воздействуя наблок 8 подстройки индуктора, это напряжение изменяет собственную резонансную частоту колебательного контура к частоте заполнения радиоимпульсов возбуждения с УИВЧ 5, в свою. очередь, равную частоте выходных колебаний УГ 2.Таким образом осуществляется оптимальная сопряженная с изменением. частоты колебаний УГ 2 настройка индуктора в любом частотном диапазоне 45 работы спектрометра. Частота выходных колебаний УГ 2 под воздействиемприложенного с блока 1. грубой настройки напряжения изменяется до появленияна...

Устройство развертки магнитного поля для спектрометрической аппаратуры

Загрузка...

Номер патента: 1318877

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Афанасенко, Куликовских, Ромбак, Яновский

МПК: G01N 24/10

Метки: аппаратуры, магнитного, поля, развертки, спектрометрической

...с выхода дифференциального усилителя 8 проходит черезвторую схему 9 выборки и хранения,которая во время действия возмущающего импульса находится в режиме выборки ипоступает на источник питания,который изменяет магнитное поле в рабочем зазоре таким образом, чтобыуменьшить ошибку, т.е. устраняет нелинейность развертки за один шаг развертки.По окончании импульса. на первомвыходе задающего генератора 5 на втором и третьем его выходах вырабатываются импульсы, совпадающие по времени,но различающиеся полярностью, фронтыкоторых жестко синхронизированы соспадом импульса на первом выходе задающего генератора 5, а длительность их выбирается настолько малой,насколько позволяют управляемые эти-ми импульсами первая 7 и вторая 9схемы выборки и...

Радиоспектрометр электронного парамагнитного резонанса

Загрузка...

Номер патента: 1318878

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Куликовских, Лапицкий, Лившиц, Ромбак, Яновский

МПК: G01N 24/10

Метки: парамагнитного, радиоспектрометр, резонанса, электронного

...соответствует значению напряженности поляризующего магнитного поля в следующем (втором) канале участка развертки с нарастающей напряженностью магнитного поля. Процесс увеличения содержимого накапливающего сумматора 8 на величину, соответствующую ширине ЬЬ канала, будет продолжаться до тех пор, пока текущий номер канала участка развертки с нарастающей напряженностью магнитного поля не станет равным заданному числу каналов на этом участке, определяемому из соотношения ьНР / ьЬ . При выполнении этогоРусловия завершается формирование участка развертки магнитного поля с нарастающей напряженностью и программируемый контроллер 9 магнитного поля загружает в накапливающий сумматор 8 цифровой эквивалент напряженности (Н + Ь НР /2) магнитного...

Устройство для дифференциального термического анализа

Загрузка...

Номер патента: 1318879

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Гагарин, Тюлькин, Червяков

МПК: G01N 25/02

Метки: анализа, дифференциального, термического

...с одной стороны с медно-лавсановой пластиной 5 (эталонныя ячейка), а с другой стороны распределены по объему ячейки. Ячейки выполнены из теплоизоляционного материала, например асбоцемента, и имеют форму коротких полых стаканов с притертыми крышками 10. 5 10 15 20 25 30 35 40 45 ким фланцем 18, На фланце установлена теплоизоляционная подставка 19 для кассетыВо фланце 18 и подставке 19 выполнены ввод 20 для вакуумной откачки и наполнения при необходимости полости камеры 16 инертным газом, а также вводы 21 для хладагента. Ввод 22 через фланец 18 предназначен для тер- Фмопроводов и электрических проводов нагревателя 13. Для исключения тепло- вого контакта между подложкой 14 и корпусом камеры 16 установлены прокладки 25 из...