G01N 23/20 — с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения

Номер патента: 42718

Опубликовано: 30.04.1935

Автор: Порай-Кошиц

МПК: G01N 23/20

Метки: вещества, исследовании, методом, прибор, рентгенограмм, рентгенографическом, сравнения, структуры

...призмы 1, отражаются (как указано на фиг. 6) вверх над этой же призмой, все Ь 1 ярк,2 ср. В указанном примере очень яркая линия4 составилась из линий3 и2 средней яркости.Предмет изобретения.Прибор для сравнения рентгенограмм при рентгенографическом исследовании структуры веществ методом сравнения пространственно совмещенных рентгено.грамм, отличанидийся применением двух лучи, прошедшие мимо серебряного слоя, отражаются вверх над призмой П. То же происходит с лучами, идущими через призму 11. Таким образом, две рентгенограммы пространственно совмещаются указанным на фиг, 8 способом (вид сверху). При передвижении рентгенограмм они могут быть сравнены по всей своей длине. В случае, изображенном на фиг. 8, имеют совпадение как по...

Номер патента: 90273

Опубликовано: 01.01.1950

МПК: G01N 23/20, H05G 1/02

Метки: 90273

...яг)яжентй под влиянием льтрдзвукозыхволн, не п)Оязляется 1-;а лдеегрдь;,е,;гя по;,чепия пу)кнь.х рсптгспогрс):1 используе тся стробоско.пичсскиЙ Зф 1 ект. т, е. п)ое 3 ВОДится питднс рентГеноВскоЙ труок 1 ненспрерызгь 3 ВысОкпм положительых 1.я."ря)ен 1 е, д и 1 льсяъ 1положител ПОГО 1 апряжспия От ГенерятОрд прямо",Голиьх импмльсОВ, синхрОнизированного с Гесрятором вьсокОЙ чястОты, пита 0 И.,ульразвуксвой вибратор, Получепная лдуеггдемма будет соотзстствовать упруго дефор 5 еровднноу кристаллу.Если вырезанный при помощи де:афраги.пучок рентгеногых лучсп бНет прохоить параллельно фронту плоской",.ьтразВукОВО Во,1.ны, то произойдет съещение пяте интерференции рентгенОвых, чей.90273 При изменении фазы синусоидальных колебаний...

Номер патента: 95214

Опубликовано: 01.01.1953

Автор: Сандлер

МПК: G01B 15/06, G01N 23/20

Метки: камера, лучах, металлов, обратной, рентгеновских, съемки

...на катод 9 рентгеновской трубки.Фокус рентгеновской трубки, места отражения иптерференционных линий от образца и места их фокусировк 11 на кассетах б и 8 располагаются на круге фокусирования 10,Сравнивая интенсивность двух указанных интерференционных ли 11 ий, можно с достаточной степенью точности изучать в широком температу 1 ном интервале процессы, связяннь 1 е с искажением кристаллической решетки материала (процессы старения, пластическую деформацию, кинетику фазовых превращений, явле 11 ия отжига, рекристаллизации и пр.).В процессе съмки исследуемый образец может вращаться посредством синхрошюго двигателя П с редуктороч 12 1 фыг, 1), заключенного внутри камеры. Это обеспечивает равномерный нагрев иследуемого95214 Предмет...

Номер патента: 175818

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Бродов, Бычков, Кузнецов, Рюрикова, Таюкин

МПК: G01K 7/02, G01N 23/20

Метки: вакуумная, камера, многокадровая, рентгеновская, ртвкм, температурная

...блок 5 дается проточной водой через поло корпусе и специальный штуцер (на не показан),Камера юстируется так, чтобы исто вичного пучка рентгеновских лучей,0 в заключительную часть разрезного175818 Фиг, 1 3тора 14 через бериллиевое окно 15, был максимально близок к образцу.Держатель 2 образца укрепляется на съемной гониометрической головке 1 б с помощью цапгового зажима 17, защищенного тепло вым экраном 18. И монокристаллы, и поли- кристаллы предварительно юстируются на гониометре, затем головка 1 б надевается на стержень - держатель гониометрической головки, после чего образец центрируется. 10Размеры и крепление корпуса 19 низкотемпературного блока такие же, как у высокотемгературпого блока.Пучок лучей вводится через щель 20 и выводится...

Номер патента: 180265

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Зубенко, Квитка

МПК: G01N 23/20, H05G 1/02

Метки: гониометр, рентгеновский

...по А-Л.Несъемный коллпматор 1 с выбранной расходимостью рентгеновского пучка жестко свя зан с ппжнцм основанием 2 гоциометра. Съемная ловушка 3 служит для перехвата неиспользуемого излучения, Цилиндрическая кассета 4 с интервалом регистрируемых углов 484 имеет продольный разрез, а профиль торцовых колец 5 обеспечивает прашгльное крепление пленки при отсутствии оптической подставки. Плоская кассета б, строго расположенная относительно рентгеновского пучка и образца, крепится, как и цилиндрическая, на каретке 7. Каретка переме. щается ходовьгм винтом Ь по цилиндрическим направляющим 9. Ходовой винт и ось 10 гоппометрпчсской головки приводится в движение от реверсивного двигателя 11 посредством вала 12 и цилиндрических шестерен через...

Номер патента: 236846

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Боровский, Лукирский

МПК: G01N 23/20, G01T 1/36

Метки: анализа, бескристального, рентгеноспектрального, химического, элементов

...интенсивность излучения, регистрируемая счетчиком, булет приблизительно равна236846 10 Прсдмст изобретения Составители Л, Н, Линник1 зсдактор Л. К. Ушакова Тскрсд Л. К. Малова Корректор Е. Н. Миронова Заказ 1842/19 Тираж 480 ПодписноеЦ 11 ИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Мгпистров СССР Москва, Центр, пр. Серова, д. 4 Типография, пр. Сапунова, 2 где У(; г) - интсгральная интенсивность ли,нии характеристического спектра, Йу( ) - коэффициент отраженгя зеркала с номером 1, Т (/ г) - эффективность счетчика для излучения с тои же длиной волны, равная произведенио коэффициента пропускания излучения входным окной,счетчика и коэффициента поглощения излучения в рабочем объеме счстчика. Более точное выражение для...

Номер патента: 238679

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Горн, Ильин, Иоффе, Крапивин

МПК: G01N 23/20, G01T 1/36

Метки: анализа, изотопного, многокомпонентных

...в том случае, если условия регистрации эталонного и исследуемого спектров одинаковы; изменение условий измерения каждый раз требует набора новой картотекн эталонных спектров. Кроме того, для реализации способа требуется боль шое количество сложного оборудования.Предлагаемый способ сочетает в себе широкие методические возможности проведения анализов, некритичность к изменениям условий измерения, а также, простоту аппаратур ной реализации.На чертеже показан спектр среды, содержащий три гамма-излучателя, где 1, 2, 3 - фотопики, соответствующие энергиям Еуь Еу., Еу 4, 5 - участки под фотопиками Еуа 15 и Еуе и 6, 7 - участки, примыкающие к участкам под фотопиками,Предлагаемый способ изотопного анализапо энергиям гамма-излучения реализуется...

Номер патента: 254858

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Барский, Ком, Шаензон

МПК: G01N 23/20, G01T 1/36

Метки: канал, рентгено-спектральный, рентгеновского

...совпадает с осью поворота кристалла.10 На чертеже показан предложенный канал,Канал состоит из корпуса 1 и корпуса 2,сочлененных через вакуумное уплотнение 3.Входной коллиматор 4 и кристаллодержатель5 с кристаллом-анализатором 6 крепятся в15 корпусе 1, а выходной коллиматор 7 и детектор 8 - в корпусе 2. На оси кристаллодержателя закреплены механизм 9 грубого поворота кристалла и механизм 10 тонкой юстировкиугла поворота кристалла.20 Оси входного и выходного коллиматоров, атакже ось поворота кристалла лежат в плоскости чертежа. Кристалл расположен перпендикулярно плоскости чертежа, что соответствует максимальному углу отражения от кри 25 сталла.Описываемый канал работает следующимобразом,Корпус 1 неподвижен, он...

Номер патента: 266267

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Астрин, Любимов, Надобников, Поклад, Рабодзей, Шидловский

МПК: G01N 23/20, H05G 1/02

Метки: микроскоп, рентгенотелевизионный

...окно б с помощью зеркала 12.Рентгеновская установка и рабочая камера установлены на общем каркасе 18.Для отвода выделяющегося тепла рентгеновидикон с фокусирующей и отклоняющей системой имеет водяную рубашку 14.В торцовую крышку 5 рабочей камеры вмонтированы телескопические манипуляторы, каждый из которых состоит из трех пар концентричных трубок, вставленных одна в другую, При вращении рукоятки 1 б,шток с резьбой 1 б передвигает исследуемый объект, закрепленный в патроне 17, вдоль оси рабочей камеры перпендикулярно направлению просвечивания, Объект вращается вместе с патроном при вращении рукояток 18 с помощью телескопической пары 19 и гибкого валика 20, При помощи фрикциона 21 и рукоятки 22 патрон с объектом может поворачиваться на...

Номер патента: 269555

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Панчук, Проектный, Среднеазиатский, Стулов

МПК: G01N 23/20

Метки: измерительная, проточная, рентгеновского, ячейка

...более высокую надежность. 25Для достижения этой цели используется предлагаемая проточная измерительная ячейка, содержащая гидравлическую насадку (сопло), ширина выходной щели которой обес- . печивает пропускание всех твердых частиц, 30 содержащцхся в пульпе. Пульпа цз сопла цсгекает в кюветы, образуя в аналитическомпространстве струю пл ккопараллельцой формы, не касающуюся окна кюветы. Это предохраняет окно от абразивного действия струцпульпы, увеличивает срок службы проточнойячейки ц повышает надежность ее работы.Сущность изобретения поясняется чертежом,на котором схематцчно изображена проточнаяизмерительная ячейка рентгеновского дцфрактометра для транспортировки ц анализа пулпы.Проточная цзмерцтельная ячейка, согласноизобретению,...

Номер патента: 280910

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Всесоюзный, Глт, Жолондиовский

МПК: G01N 23/20

Метки: емкостях, жидкости, регулятор, уровня

...верхнего шланга. Зависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 18,111.1969 (Эй 1311672/18-10 Изобретение относится к области регулироания уровня жидкости в емкостях.Известные, регуляторы уровня, содержащие датчик, выполненпьй в виде сосуда, соединенного гибкимп шлангами с емкостью и связанного с запорным органом наполняющего трубопровода, не обладают достаточной точностью и надежностью в условиях вязких и загрязненных сред,Предлагаемый регулятор уровня жидкости в емкостях отличается тем, что он сгаб 5 кен соединенным с источником жидкости под давлением соплом, установленным в емкости ниже датчика и направленным в отверстие его верхнего шланга.На чертеже приведена принципиальная схема предлагаемого регулятора.В емкости 1 установлено сопла 2,...

Номер патента: 280960

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Бондаренко, Сидоров

МПК: G01N 23/20

Метки: 280960

...в продольном,и поперечном разрезах,В массивных поддержках 1,и 2 находипся бериллиевый косинус 3, внутри котстрого раапоП редм ет,из о брет ен 251 строисттво для рентгеноста при,вьесском давлении идержащее массивные поддерзаключен двойной бериллиееру для исследуемого образ уктурного тем ператуски, в коып конус, а внутри нали е, со торых и кам Изобретениских нсследовметрах давленИзвестны уного анализатическом давлподдержек, вконус для упдавление, и длучей, Эти удить нсследов400 С ложен прафитовый нагреватель 4, соединенньш с токоподводами 5 и 6. Нагреватель центрирован изоляцотонными кольцами 7. В нижней поддержке, выполнен нагнал 8 для ввода 5 газа в кащру 9. Силовой подвод 10 осуществляет коитакт с токоподводом 5. Изоляционные...

Номер патента: 284750

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Жак, Иностранна, Иностранцы

МПК: G01N 23/20

Метки: автоматический, дифрактометра, образцов, распределитель

...8 перемещаегся вниз.Неподвижный паз 24 расположен наклоннона основании 18. Нижняя часть паза 24 находится над второй обоймой 25, предназначенной для приема образцов, подвергшихся анализу.Автоматический распределитель работаетследующим образом.На фиг. 1 распределитель показан в исходном положении, когда производится анализобразца. После анализа конечный импульсшага дифрактометра вызывает вращение вала14 в направлении стрелки А и связанного сним кулачка 15, на котором имеется ролик 16.При вращении кулачок 15 толкает рычаг, который в свою очередь, вызывает перемещениестойки 8 вниз. Во время движения стойкиопорная люлька 4 отделяется от упора 1 иповорачивается в горизонтальное положениеиз-за эксцентричности ее центра тяжести.Когда...

Номер патента: 295067

Опубликовано: 01.01.1971

Автор: Хацернов

МПК: G01N 23/20

Метки: кристаллических, образцов, рентгеновского

...пучка целесообразно увеличивать соотношение расстояний фокус - образец, образец - пленка,В случае поликристаллического крупнозернистого образца от каждого кристаллита, находящегося в просвечиваемом объеме, формируется отдельная лауэграмма, размеры пятен которой зависят от размеров кристаллита н геометрии съемки. Полная дифракционная картина, возникающая при этом, состоит из наложенных одна на другую10 15 20 25 30 35 лауэграмм, число которых равно числу крпсталлитов в просвечиваемом объеме.Контроль мопокристалличности образца предложенным способом проводят, сопоставляя форму и размеры лауэ-пятен рентгенограммы с формой и размерами освещенной площади образца. В случае соответствия этих параметров образец является...

Номер патента: 297912

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Артемьев, Генералов, Степанов

МПК: G01N 23/20

Метки: анализа, руд, фазового

...ходят пь ся графи едмет изобретени одержащпх ры которыхый на резоийся тем,ности измео определяИзобретение относится к авещественного состава руд с Рно-физического метода,Способ экспрессного опредесостава проб, основанный набауэра, известен.По этому способу источник резонансного излучения приводят в движение по гармоническому закону, диапазон скоростей разбиваютна отдельные интервалы, перекрывающие мессбауэровские линии анализируемых соединений и область нерезонансного пропускания, вэтих интервалах последовательно измеряютинтенсивность резонансного у-поглощения и,сопоставляя с результатами калибровки, определяют содержание анализируемых соединений в пробе.Однако анализирующая способность этогоспособа ограничена набором соединений,...

Номер патента: 312401

Опубликовано: 01.01.1971

МПК: G01N 23/20

Метки: рентгенограммы

...университетзобретенияаявитель СОБ ПОЛУЧЕ ЕНТГЕНОГРАММЫ 2 бам рентге быть приме хаотическое движение путем сообщения о цу-держателю вибраций со звуковой часПри этом в процессе хаотического двин кристаллов каждый из них побывает в возможных ориентациях. бр аз. отой, ения всеПредмет изобретен Способ получения рен 0 иийся тем, что, с целью лучения порошковых ре лов без измельчения состояние, кристаллы п движение путем сообщеС целью полученирамм с кристалловошкообразное со, тенному способу,присоединением заявки Изобретение относится к спосоноструктурного анализа и можетнено для исследования кристалловИзвестен способ получения репри котором используется явленирентгеновских лучей на хаотичесленных в пространстве кристаллнах. Способ не...

Номер патента: 316983

Опубликовано: 01.01.1971

МПК: G01N 23/20

Метки: непрерывной, регистрации, структурных

...дифракционных максимумов, что Огрднчнвдет верхний предел рабочих .давлений и температур;необходимость применения а;Етнкоррозно;1- ной защиты для предотвращения взднмодсйствия агрессивно среды внутри автоклава с бериллиевых 1 и окнами, предназначенными для Входа и Выхода рснтгееОвских лу чей, ч 1 О также значительно ослабляет интснснвносг 1 рснггеновскнх максимумов вследствие доосннтельного поглоецсння В защитном сло. Эгн явления исключают возможность нр 1 мснсния известного способа для нзу ения гзднмодгнст - впя растворов с твердым;Обрд;Ед миЦель изобрстсня - обсснечнп Возможность изучения взаимодейстьня нолнкрнсгдллнческих образцов с растворами нрн повышенных температурах н давлени 1 х, превышающих давление насыщенны.;...

Номер патента: 334509

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Мартыненко, Фесенко

МПК: G01N 23/20, H05G 1/02

Метки: 334509

...второй группон камер.В предлагаемо.;1 устройстве кристалл помещен внутрь прозрачного для рентгеновских лучей капилляра, внутри котоиого колеблется концентратор. Диаметр ка 1-.1:, в ;.-яра выбирается на 0,1 - 0,2 л 1 л больше линейного размера кристалла,при этом кристалл не западает между стенкой капилляра и 1 онцентратором, и поперечные биения кристалла малы. Кристалл получает свободное движение с шестью степенями свободы н пребывает вэ всех отражающих положениях, что обеспечивает получение непрерывнь 1; днфракционных линий,На чертеже изображено предлагаемое устройство. аявитель Ростовский о Знамени государственный334509 Составитель И. ПетроваГончар Техред Т. Ускова Корректор Т. Китаев Редакто Заказ 170/793 Изд.460 Тираж...

Номер патента: 352316

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Агафонова, Архипов, Афанасьев, Бакалов, Государственный, Золотухина, Королев, Лайнер, Московский, Обработки, Проектный, Проценко, Сплавов, Шевакин, Этерман, Янин

МПК: G01N 23/20

Метки: есндяст1иблио"ека, клишеbufcvjuiuohah, листов, пате11иш-1лвг, сплава, способности, травим, цинкового

...травимости цинковых листов, идущих на изготовление клише.Известен способ эмпирического контроля травимости листов из цинковых сплавов, при котором используют копировальные устройства, установки для обработки копий, травильные машины, фотокопировальные материалы и реактивы для травления. После проведения многократных травлений определяют так называемый кислотный допуск (Ти):К (ЬУ 1 тра)ив 1У 1 Уагде К - коэффициент, учитывающий тип используемой травильной машины, свойства используемых материалов и условия получения копии для травления (определяют по данным травления качественных материалов);а - минимальное количество азотнойкислоты в ванне, при котором достигают хороших качественных результатов;Ь - максимальноекислоты в ванн гают...

Номер патента: 358658

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Бабенко, Кравченко, Левитин, Серебренников

МПК: G01N 23/20

Метки: вакуумная, высокотемпературная, дифрактометру, приставка, рентгеновскому

...представляет собой камеру, которая при помощи станины 1 крепится к столику гоциометра рентгеновского дифрактометра.В станине имеется паз для перемещения камеры перпендикулярно оси рентгеновского пучка, Вакуумная камера состоит из основания 2, корпуса д, токоподвода 4 и крышки 5.Корпус имеет водяные рубашки для охлаждения. Нагревателем 6 является графитовый цилиндр диаметром б - 20 люлю. В средней части нагревателя с целью обеспечения высоких температур диаметр его уменьшен в 1,5 раза ц сделана площадка с пазами типа ласточкин хвост для закрепления в них образца, Нагреватель впрессован во фланец 7, имеющий хороший электрический контакт с основанием 2 камеры. Верхняя часть нагревателя присоединяется к токоподводу 4 медными...

Номер патента: 384061

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Ефремов, Кохов, Лаврентьев, Мамикон

МПК: G01N 23/20

Метки: анализа, излучения, интервале, рентгеновского, спектральном, узком

...по площади частей таким образом, что в первом фильтре одна часть изготовлена из двух элементов, имеющих энергии К-края поглощения ц 1.-края поглощения больше энергии К,-излучения определяемого элемента, и другая часть цз двух элементов, имеющих энергии К-края поглощения ц 1,-края по глощецця меньше эцсрпш К:-излучения определяемого элемента. а во втором фильтре одна часть цзготоьлсна цз двух элементов, один из которых имеет энергию К-края поглощения больше, а другой эцергшо 1.-края погло щения меньше энергии К-излучения определяемого элемента, и другая часть цз двух элементов, пеовый цз которых имеет энергию К-края поглоще;шя меньше, а второй энергию 1.-края поглощения больше энергии К,-излу чения определяемого элемента.Использование...

Номер патента: 387269

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Хацернов

МПК: G01N 23/20

Метки: рентгеновских, съемки, топограмм

...как метод Ланга, предназначен для получения полной картины дефектов решетки в объеме кристалла, Изображение, зарегистрированное на топограмме, является проекцией всего объема кристалла в направлении дифрагированного пучка. В результате того, что изображения дефектов с разных глубин образца накладываются на топограмме, возможность разрешения отдельных дефектов с увеличением толщины образца уменьшается. Кроме того, невозможно судить о глубине залегания различных дефектов.Известен также способ съемки - так называемый метод ограниченных топограмм, который позволяет получать на одной топограмме изображение слоя только с одной глубины образца.Цель изобретения - разработка такого способа съемки топограмм, который позволил бы на одной...

Номер патента: 392383

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Бутыленко, Гажа

МПК: G01N 23/20

Метки: давления, сверхвысокого, создания

...собранных по коническим поверхностям сопряжения колец 1, разъемную камеру 2сверхвысокого давления, два массивных конических поршня 3, два цилиндрических поршня 4, две конические сжимаемые прокладки 5,зо сборную ячейку сверхвысокого давления, соГедактор М. Жиляева Корректор О, Тюрина Заказ5499 Изд.1796 Тираж 755 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и откоытий Москва, Ж; Раушская наб., д. 4/5Загорская типография,3стойщую из двух цилиндров 6, изгочовлОнныхиз упруго-пластичного теплоизоляционного материала, центральное запирающее кольцо 7 изпрозрачного для рентгеновских лучей непроводящего материала, стержневоЙ нагреватель 8, 5на который нанесен слой 9 исследуемого и реперного материала, и две...

Номер патента: 392384

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Лашко

МПК: G01N 23/20

Метки: центрирования

...образца, Величина Ь вычислена для всех углов рассеяния, при которых измеряется интенсивность, и равна ап2= ОС; Ь=О.1 И2 Цель изобретения - обесп ности точного центрирования в процеосе диоюретной съвмк мы и уменьшение времени це где О - угол рассеяния, а - расходимость пучка по коллиматору в схеме Брэгга - Брентано, Я расстояние от образца до средней точки коллиматора.1 о На чертеже представлена схема, иллюстрирующая предлагаемый способ.Эффективный участок АА ь т. е. освещенная часть поверхности образца, с которой регистрируется рассеянное излучение, лежит в 5 плоскости ВВ, центрированного образца (вэтой плоскости лежит ось вращения трубкн и счетчика). При перемещении образца по вертикали вверх в положение АА, интенсивность...

Номер патента: 405061

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Куковский, Федоренко, Физики, Хустик, Шпигун

МПК: G01N 23/20

Метки: автоклавная, дифрактометру, приставка, рентгеновскому

...с фокусировкой по Бреггу - Брентано от плоского образца, помещенного внутри корпуса 10 приставки против двух прямоугольных отверстий в стенке автоклава, предназначенных для входа и выхода первичного и дифрагированного рентгеновских лучей: Длина отверстий определяется экспериментально необхо димым угловым интервалом, а высоту выбирают с учетом возможности регистрации рефлексов слабой интенсивности. Для удержания давления в автоклавной приставке прямоугольные отверстия закрывают снаружи через 2 уплотнения бериллиевыми пластинами. Наружное крепление бериллиевых пластин не позволяет повысить рабочее давление в приставках, так как пластины имеют значитель ную площадь. Применение более толстых пластин или уменьшение высоты окон снижает...

Номер патента: 408191

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Бадер, Вител

МПК: G01N 1/00, G01N 23/20

Метки: анализа, кювета, рентгеноспектрального

...параллельно пленке закреплена решетка, установленная с возможностью регулирования расстояния до пленки и содержащая элемент внутреннего стандарта.15 Насыпаемая или наливаемая в кювету проба проходит через ячейки сетки или решетки и полностью заполняет объем между дном из слабопоглощающей рентгеновские лучи пленки, например лавсановой, и решеткой кюветы.20 Расстояние между решеткой и пленкой подбирают таким образом, чтобы вторичное излучение от решетки, проходящее через анализируемую пробу было достаточно интенсивным, что позволяет использовать его в качестве излуче ния от внутреннего стандарта,Кювета может быть использована многократно, поскольку анализируемый материал легко высыпается или выливается при перевертывании кюветы. Такое...

Номер патента: 371489

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Лагутов, Панчук, Проектный, Стулов

МПК: G01N 23/20

Метки: анализа, дифрактометра, измерительная, пульпы, рентгеновского, ячейка

...и вторичного дифрагированного пучков, Через кювету под давлением, пропускают лульпу Под абразивным действием текущей, пульпы после нескольких десятков часов, работы тонкое окно существующих измерительных ячеек изнашивается и требует замены. Смена окна усложняет обслуживание дифрактомегра и исключает длительную непрерывную работу,С целью повышения надежности и срока службы,предложено в измерительных ячейках пульпу,в зону облучения рентгеновскими лучами подавать замкнутой лентой, натянутой на два шкива. Работает измерительная ячеика следующимобразом,Приводным двигателем линейная скорость поверхности второго шкива б доводится до нескольких метров в секунду. Замкнутой лентой Ь вращение лередаегся на шкивов с лоластяии , Шкив,с лопастями...

Номер патента: 375535

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Институт

МПК: G01N 23/20

Метки: дифрактометру, исследовании, низкотемпературная, приставка, рентгеновскому, рентгеноструктурных

...для заливки жидкого азота в сосуд 14, а трубка 22 - для отвода паров жидкого азота.С фланцем б соединен кожух 23 вакуумной рубашки, с которой соединен полутомпаковый сильфон 24 с наружным кожухом 25, служащим для свободного доступа к образцу при его установке в захватах, снятии и юстировке. На кожухах 23 и 25 и,на силовой трубе 11 имеются два окна для прохождения рентгеновских лучей.Хвостовик 26 кожуха 23 вставлен в центральное отверстие подложки 27, которая соединена со столиком гониометра 28. Винт 29 служит для передачи вращательного движения от столика гониометра к камере.Для центрирования камеры относительно вертикальной оси служит центровочное кольцо 30, которое соединено с кронштейном 1 четырьмя винтами 31, Для фиксации камеры...

Номер патента: 381008

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Брайнис, Дударев, Кухто, Лисов, Махалов

МПК: G01N 23/20

Метки: дифрактометру, приставка, рентгеновскому

...снижает нагрузку на механическую часть измерительной схемы го ниометра и, таким образом, уменьшает погрешность измерений.На фиг. 1 показана предложенная приставка, вид сбоку; на фиг. 2 - разрез по Л - А.Приставка содержит станину, включающую ц в себя подвижно соединенные между собой5 10 15 г 0 г 5 Зо 35 основание 1 и направляющую 2, держатель образца, состоящий из рамки 3, блока 4, подвижной 5 и неподвижной б губок для закрепления образца; рычакно-блочный механизм нагружения 7 и груз 8, задающий усилие деформаций; термоизолируюшую камеру, состоящую из двух неподвикных щек 9, 10 с бериллиевыми окнамп для входа и выхода рентгеновских лучей и поворотной части 11, закрепленной на рамке 3. Механизм нагружения 7 смонтирован на...

Номер патента: 381983

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Бубен, Гришин, Никольский, Тальрозе, Точин

МПК: G01N 23/20

Метки: веществах, исследования, органических, переходов, структурных

...Такие вещества можно рекомендовать в качестве добавок, если необходимо повысить чувствительность,После откачки шлюза охлажденный образец вводят в вакуумную, камеру для, облучения. Температура, прои которой проводят облучение, должна быть приблизительно на 40 - 50 ниже температуры регистрируемого структурного перехода. Для большинства органических соединений вполне достаточно охлаждение до температуры кипения жидкогоазота (77 К).Величина электронного тока и время облучения выбирают, исходя из требуемой,величины дозы облучения. Для регистрации температуры структурных переходов наиболее удобен интервал доз 0,1 - 2 Мрад, так как, вопервых, максимальная интенсивность термолюминесценции наблюдается обычно при 0,5 - 2 Мрад; во-вторых, при...