G01N 21/55 — способность к зеркальному отражению
Способ определения прочности типографской печати на бумагах и прибор для растирания печатного шрифта при осуществлении этого способа
Номер патента: 84198
Опубликовано: 01.01.1950
Автор: Коркин
МПК: G01N 21/55
Метки: бумагах, осуществлении, печати, печатного, прибор, прочности, растирания, способа, типографской, шрифта, этого
...опгеП) стержня. Н)движно прикреплс.нного к оснонянщо кронштейна 2, Н 1 верхней плоскстР Дска се 05 ВС 1;ГРКалье ОВсРс 1.:1 е длЯ ссгЬцс кРИВОшипа 4. Верхняя 1 лсксть плоцадки 1 сокрьта рсЗРНо. (Рсс 3 пмссг гладку 10 нижнюю плоскость 121кс покрыту 0 ре 31 шОЙ. Гтсрт(с 1 сободпо Вра Ястс 5 В ОГс)с "Рп ;);сит(.1.с. Пр 1 Врс 1 щ( ппи )л5 ткс ) В)с 1 Нсет с 5 крч 50111 ип, уВ;ек 25 Зя соЙ диск д 1 Отвсрстпи 1(отор 01 О неходится ПЯЛЕЦ КРНВОЩ,ПЯ.Сам дпск пс Вранаетс 5 ВО(ср) Г своей Вер 11 ксДЬНОЙ Оси, Я ско.1 ЬЗи 1 по паправляюп;(.му ст(кпО тпъ досигается то, что ка)кдая точка Н 1(ПСС ПЛС 1;Ст ДГССКЯ СО)С/)ЯСГ КРУОВЫЕ ДВ 1 ЖСЬИЯ.ГС)11 С)К, )СЗИПОВ 1 МП ПВСрХПОСТЯ:1 П ДИСКЯ Н ПЛЦс 1 ДКИ ОЛО. хить няпсчятс 11 пын) лист Ома и и 2 псГО кусок...
Рефлексометр
Номер патента: 95079
Опубликовано: 01.01.1953
Автор: Юров
МПК: G01J 1/16, G01N 21/55
Метки: рефлексометр
...оси,соединяющей отверстия 9 и 10 и,пройдя через отверстия 10, и 11,опять попадет в шар б.Произведя отсчет и в положении 11, определяют коэффициент, зеркального отражения как отношениеио.,: -Если образец вогнутый или выпуклый, то структура пучка света после отражения изменяется и телесный. угол, либо поджимается" (вогнутый образец), либо увеличивается (выпуклый образец). Если диаметры отверстий 10 и П больше возможных диаметров сечения пучка в плоскости этих отверстий, то измененис телесного угла, нс влив ющее на вели пиу отражс п ного светового потока, на осчете нс скажется и Формула (1) будет справедлива и для нсплоских образцов.контроль размеров светового пучка, проходящего через отверс гия 10 и 11, можно осуществлять простейшим...
Способ контроля степени блеска поверхностей и прибор для осуществления этого способа
Номер патента: 102257
Опубликовано: 01.01.1956
Автор: Буглай
МПК: G01N 21/55
Метки: блеска, поверхностей, прибор, способа, степени, этого
Способ контроля возвратно-отражающих стекол и прибор для осуществления этого способа
Номер патента: 106769
Опубликовано: 01.01.1957
МПК: G01N 21/55
Метки: возвратно-отражающих, прибор, способа, стекол, этого
...01 прис)ори до срвп ивс)ых стскол что;осСтс 51 путем установки в трубе оптисской системы 1 ялплея умень пяОпей угол зрсиия В несколько раз.Для Вкрапи 1 зовИи 5 п 000 чиого света в зрительной трубе устясовлеиы две диафрагмы: о;и у отрицательной линзы трубы, а вторая са некотором расстоянии от положительиой линзы перед ней. Перед отрицатсльиой линзой трубы расположен фотометрнческий клин, а перед клином установлены две дополиительнце диафрагмы, экрашруоцие побошы й свет.Д,;5 Осуцсствлспи 51 1(оптро;я испытуемоес и эталонное стекла устанавливают я отдельном шите па расстоянии 7,3 л 18 шагов) от приборя. Световой пучок осветителяа и 1 з 1 и г я с,т с я 1 я с р 1 В и и и я . м ы е стекл тяк, чтобы опи расположились симметрично...
Способ выявления участков феррита на поверхности железоуглеродистых сплавов
Номер патента: 113064
Опубликовано: 01.01.1958
Автор: Перцев
МПК: G01N 21/55
Метки: выявления, железоуглеродистых, поверхности, сплавов, участков, феррита
...относится к способам контроля структуры металла стальных изделий путем выявления участков феррита на поверхности изделий. Известные способы не дают возможности выявлять наличие ферритной составляющей быстро и без разрушения образца,Для устранения этого недостатка предлагается способ, согласно которому на исследуемую поверхность металла направляют под углом световой луч и по отраженной фиолетовой части луча судят о наличии ферритной составляющей. Свойство феррита отражать фиолетовые лучи дает возможность легко и быстро обнаруживать на поверхности стальных изделий ферритную составляющую. Участки феррита представляют собой наиболее слабую часть стального изделия. Описанный метод контроля способствует повышению каПредмет изобретения...
Прибор для оценки условий освещения
Номер патента: 114254
Опубликовано: 01.01.1958
Автор: Дашкевич
МПК: G01N 21/55
Метки: освещения, оценки, прибор, условий
...этялсеных сгъектОВ В приссре слух(ит экран 1 с пянссш- ЕЫМ са НЕМ ЧСРПЫМ КРУжком 2, и РЯСПОЛОЖЕННЫЙ ПЕРЕД ЭКРЯПОМ ШЯРИК э гякОГО же диаметра, ксэрфпппеет котсрОГО равен коэффиисту Отражения экрана.:рп измсрсии Видимсстеи чсреОГО кружка угловоЙ размер его при всех измерениях должен быть одинаков.БЕдимость черпОГО кружка является " ОдпОЙ стороны функцией ОсВС- щсннссти экряе 2 и распределения Относительно линии Визирования, я с ДРУГОЙ ГТОРОсЫ - (ЭУП(ЦИЕЙ СОСТОЯНИЯ ЗРЕНИЯ НЯОЛЕОДЯТЕЛЯ,Порог контрастной чувствительности Е для наоллдателя, производившего измерение видимости В тех условиях освещения, в которых производились эти измерния, гриблиекенно будет разсп:Г.1ГДЕ Е,с - ВИДИМОСТЬ СРНОГС КРУЖКЯТс 1 еобразусщпе ВВОЙства Освещения...
Способ определения инсоляции территорий, зданий и помещений при помощи номограмм движения солнца, количеств солнечней радиации и планировочной сетки и устройство для его осуществления
Номер патента: 115289
Опубликовано: 01.01.1958
Автор: Масленников
МПК: G01N 21/55
Метки: движения, зданий, инсоляции, количеств, номограмм, планировочной, помещений, помощи, радиации, сетки, солнечней, солнца, территорий
...объекта и светопроема, получения неооходимых характеристик инсоляции объекта, выявления данных о высоте здания и сооружения по планам аэрофотосъемки и т. п,оба и устройства заключ них) проицируют на помощью проектора 2, уст зме 3, причем в проектор номограмм, помещаемыхетенного сп диапозитивы 1 х объектов с ижном меха вых держател Сущность изобто номограммыфиг. 1) обследуема подъемно-передвва съемных кольц ется в том, чертежи 1 ановленного применены при проици Ъо 115289ровании номограмм в оправу трубки объектива проектора и в круглое отверстие поворотного диска камеры.Проектор в плане показан на фиг. 2, а в продольном разрезе на фиг. 3.Проектор снабжен светооптической системой 1, выносным поворотным диском 2, диапозитивной камерой и...
Прибор для измерения гладкости бумаги
Номер патента: 118073
Опубликовано: 01.01.1958
Автор: Курицкий
МПК: G01N 21/55
Метки: бумаги, гладкости, прибор
...преломления света в стекле и бумаге близки между собой. В участках, где контакт отсутствует и имеется воздушный зазор (точка Б), лучи преломляются так, что ни один преломленный луч не выйдет за пределы конуса, образующая которого составляет с нормалью к поверх. ности стекла угол, не превышающий 41. Если направление визирования глазом 3 (или фотоэлементом) находится вне этого конуса, то в него попадает свет только от участков контакта; при визировании под углом, меньшим 41, видны те и другие участки. Отношение интенсивности пучков света вне и внутри конуса является мерой площади образца, находящейся в контакте, т. е. мерой гладкости бумаги,118073Полное разделение рассеиваемых по-разному лучей света в предлагаемом приборе...
Фотоэлектрическое устройство для контролирования степени насыщенности краски печатных оттисков
Номер патента: 120021
Опубликовано: 01.01.1959
Авторы: Бельский, Верим, Гринберг, Обновленский, Цыркин
МПК: G01N 21/55
Метки: контролирования, краски, насыщенности, оттисков, печатных, степени, фотоэлектрическое
...которой применен двухкаскадный усилитель на полупроводниковых триодах ПП, и ПП (типа П 1 Е) с заземленными коллектором и эмиттером, осуществляется от обмотки 8 трансформатора через выпрямитель Вз, собранный на четырех германиевых диодах (например, типа ДГ-Ц 22) .Устройство, работает следующим образом. Перед началом работы устройство настраивают на нормально отпечатанный оттиск на листе 9. Световой поток, испускаемый лампой 3 и падающий на оттиск, отражается от него и попадает на светочувствительный слой фотосопротивления 5. При этом электрическая проводимость сопротивления изменяется с изменением отражающей способности листа 9, т. е. непосредственно зависит от степени насыщенности краски оттиска.Переменное сопротивление Йь включенное...
Фотоэлектрический блескомер
Номер патента: 123734
Опубликовано: 01.01.1959
Автор: Данилов
МПК: G01N 21/55
Метки: блескомер, фотоэлектрический
...влияния цвета в качествс оптн стве источника с включенным и , установленныи между последс целью устрансания 11 рибора, в ские линзы, а в схемми мнейния 1 м (ач Известны блескомеры для измерения коэффициента отражения поверхности, содержащие две линзы, одна из которых установлена между источником света и поверхностью, а другая - между исследуемой поверхностью и фотоэлементом, Основной недостаток их заключается в том, что показания прибора зависят от цвета исследуемой поверхности.В описываемом блескомере этот недостаток устранен тем, что в качестве источника света применена газосветная лампа, а в качестве оп. тических линз - цилиндрические линзы.Принципиальная схема фотоблескомера приведена на чертеже.Газосветная лампа 1 через...
Шаровой фотометр
Номер патента: 134047
Опубликовано: 01.01.1960
Автор: Ронжин
МПК: G01N 21/55, G01N 21/59
...пропускания, рассеяния и поглощения поверхностей, граничащих с воздухом. Однако в ряде случаев необходимо знать величину отражательной способности и другие оптические характеристики поверхностей, граничащих с другими, более плотнымисредами.Предлагаемый шаровой фотометр состоит из двух тонкостенныхметаллических полусфер, каждая из которых имеет плоские кольцевысфланцы с пришлифованными плоскостями. Для герметизации междуфланцами помещена кольцевая тонкая прокладка из прессшпанаФланцы полусфер стягиваются между собой болтами, образуя сферу.В сфере имеется ряд отверстий - для осветителя и для приемника лучистой энергии, для введения исследуемой поверхности и экрана,предотвращающего прямое падение света от исследуемой поверхностина...
Прибор для измерения коэффициентов отражения плоских зеркально-отражающих поверхностей при падении на них света по нормали
Номер патента: 135256
Опубликовано: 01.01.1961
Автор: Знаменский
МПК: G01N 21/55
Метки: зеркально-отражающих, коэффициентов, них, нормали, отражения, падении, плоских, поверхностей, прибор, света
...П 1)и цоложс:пи 1 - 1 светодслительюй и,астицки 5 Отражснна 51 от цес часть потока интенсивностью l г (где г коэффициент отражения светоделительной пластинки) попадает непосредственно на фотоэлемент г), вызывая сигнал а=У,. г. Г 1 ро);одящая часть потока при этом нс исполь зуется. При положении / - 1 свтодлцтельцой пласт 1 нки 5 11 ро);одящая через нее часть потока падает по нормали на испь)туемыш образ 1 7, отражается от него и Возвращатся на пластинку 5, которая напра)- ляет часть этого потока на фотоэлемент 6, вызывая сигнал ) = - от Р г (где ткоэффициент цропускация свето;и цт 1 льцой цл,) стинки, 9 искомый коэффициент отражения образца).Коэффициет отражения й образца 7 Определяот из отношения из мр.11 ых гротоэл.,ссом...
Устройство для определения абразивных примесей в нефтепродуктах
Номер патента: 136574
Опубликовано: 01.01.1961
МПК: G01J 1/02, G01N 21/55
Метки: абразивных, нефтепродуктах, примесей
...катушки. Лента 1 прижимается к ленте 2 роликом 8 при помощи нажим- ного приспособленця 9. Лента 1 движется периодически в результате применения однозубной передачи и храповиков в коробке 10 передач. Анализируемый нефтепродукт из трубопровода 11 через капельницу 12 поступает на бумажную ленту 2 и пропитывает ее, оставляя на поверхности ленты абразивные примеси. Эти примеси сдирают часть оксида с поверхности ленты 1, которая светлеет пропорционально количеству примесей. Через определенный промежуток времени наматывающая катушка 13 металлической оксидированной ленты поворачивается на некото рый угол, в результате чего контактирующая поверхность ее проходитМ 136574 Предмет изобретения Устройство для определения абразивных примесей в...
Устройство для измерения абсолютных коэффициентов зеркального отражения
Номер патента: 141658
Опубликовано: 01.01.1961
Автор: Мотовилов
МПК: G01N 21/55
Метки: абсолютных, зеркального, коэффициентов, отражения
...с)здают большие, не поддающиеся уету погрешности, одной из причин которых яв.ляется переворачивание светового пучка после отражения от измери;ельного зеркала,В предлагаемом устрэйстве до измеряемого зеокала установленапризма Дове-Д, вращающая свс)ово пучок. Это позволяет повыситьточность определения яосОлютньх ксэффициентОВ зеокгльОГО Отражения и исключить;1 огрешность, гносиму 10 псреворячивянием пучкаСхематическое изображение описьваемого устройства приведенона чертеже,СветдВОЙ пучок, сфокус 111)ОВЯ 1 нь 1 Й ьбъективом ), проЙНЯ призх 1 удостигает призмы 3 Дове-Д, расположен ной по ходу луча перед измеряемыы зеркало) 4. С Г 10)10 щыо призмы о происходит Врдшение кяк пря.мого пучка, проходящего через измерительное зеркало 5, призму 6и...
Устройство для измерения абсолютных коэффициентов зеркального отражения
Номер патента: 149906
Опубликовано: 01.01.1962
Автор: Мотовилов
МПК: G01N 21/55
Метки: абсолютных, зеркального, коэффициентов, отражения
...тем, что, с системе примеУстроиство отражения с пр собой зеркал, у ных для враще целью вращени иены два плоск Известные устройства для измерения абсолютных коэффициентов зеркального отражения с использованием системы из трех связанных между собой плоских зеркал, предназначенных для вращения светового пучка и установленных до измеряемого зеркала, не дают возможности вращать широкие или расходящиеся световые пучки.В предложенном изобретении для избежания указанного недостатка в системе из трех зеркал использованы два плоских и одно вогнутое зеркало,На чертеже показана оптическая схема устройства, имеющая три зеркала 1, 2 и 3, из которых зеркало 3 - вогнутое 1 сферическое, эллиптическое, параболическое), а зеркала 1 и 2 -...
Способ рефлексометрических измерений
Номер патента: 151063
Опубликовано: 01.01.1962
Автор: Левин
МПК: G01N 21/55
Метки: измерений, рефлексометрических
...8, через щелевую диафрагму 9 на зеркало 1 количество отражений между зеркалами 1 и 2 было минимаЛьным, например равнялось трем.Отраженное изображение осветителя 7 посредством объектива 10 совмещают с фотоэлементом 11 и фиксируют при помощи измерительного прибора, например гальванометра, величину фототока. Затем зеркало 2 перемещают в направлении, перпендикулярном его плоскости, до тех пор, пока количество отражений не возрастет и не станет равным любому целому числу натурального ряда. При этом длина хода луча остается неизменной. Снова производят измерение величины фототока, причем разность между количеством отражений во втором и в первом случаях выбирают достаточно большой, и по зафиксированным показаниям прибора расчетным путем...
Способ определения оптических характеристик
Номер патента: 173451
Опубликовано: 01.01.1965
МПК: G01N 21/55
Метки: оптических, характеристик
...Способ о стик микро дящем мон свете, согл Известные способы определения оптических характеристик микрообъектов в отраженном и проходящем монохроматическом и поляризованном свете, согласно которым на предметный столик микроскопа устанавливают эталонный препарат и регистрируют значение величины тока на выходе фотоэлектронного умножителя с последующим сравнением его со значением подобного сигнала, полученного при отражении от исследуемого объекта, требуют перемещения исследуемого объекта в процессе измерений,Предложенный способ отличается от известных тем, что значения, обусловленные отражением от эталонного образца и непосред"твенно от лампы осветителя в необходимых областях спектра, сигналов сводят в таблицу, устанавливают на место...
191850
Номер патента: 191850
Опубликовано: 01.01.1967
Авторы: Зубаков, Кацнельсон, Ленинградское
МПК: G01J 1/42, G01N 21/55
Метки: 191850
...лучей, Это дает Возможность изменять углы падения и апертурные углы освещающего пучка и повысить чувствительность устройства.На чертеже представлена принципиальная схема предлагаемого устройства.Устройство содержит колли мирова нный источник света 1, клиновую диафрагму 2, светоделительный элемент 3, объектив 4 и фотоприемник 5 излучения с фокусирующей линзой б и схемой обработки сигнала (на чертеже не показана). Объектив выполнен в виде зеркально-отражательного сектора вогнутой конической поверхности. Световой пучок от коллимированного источника света проходит клиновую диафрагму, светоделительный элемент, объектив 4 и освещает исследуемую поверхность 7 пятном, имеющим треугольную форму. Диффузпо или зеркально отраженный повсрхностзяо...
193113
Номер патента: 193113
Опубликовано: 01.01.1967
МПК: G01N 21/55, G01N 33/32
Метки: 193113
...является субъект сирующим уже происшедшие не изменения в балансе, поэтому на ных печатных машинах применим Второй способ, основанный на измерении диэлектрической проницаемости массы краски, помещенной между пластинами электрического конденсатора, является косвенным способом, характеризующим процесс проникновесния влаги в краску, по которому возможно предположить направление изменения отношения количества влаги и краски на форме. Он не может быть, применен в процессе печатания тиража в связи с тем, что для процесса измерения требуется снимать с валиков красочного аппарата такое количество краски, которое вызывает выход некачественной печатной продукции.Предлагаемый способ, являющийся объективным методом измерения баланса влаги и краски в...
193129
Номер патента: 193129
Опубликовано: 01.01.1967
МПК: G01N 21/55
Метки: 193129
...3, 4, линза 5, матовое стекло б и диафрагма 7. К тубусодержателю 8 крепится призма 9.Механическая часть служит для определения силы сдвига и состоит из стола 10, к которому крепится стальная пружина 11 с проволочными датчиками для определения силы сдвига. На ролики 12 ставится подвижная площадка 13 с электропечкой 14 и образцом 15, Для создания давления служит рычаг 16, который прижимает образец к подвижной прозрачной пластинке 17, Для полного оптического контакта пространство между пластинкой 17 и призмой заполняется иммерсионным маслом,Устройство работает следующим образом, Образец прижимается к подвижной пластинке с постоянной силой с помощью рычага 1 б, после чего подвижная пластинка приводится 5 в движение с помощью электромотора....
Устройство для фиксирования фазовых переходов в жидких и газообразных средах
Номер патента: 210416
Опубликовано: 01.01.1968
Авторы: Безруков, Куйбышевский
МПК: G01N 21/55
Метки: газообразных, жидких, переходов, средах, фазовых, фиксирования
...изогнутой трубки с полированной внутренней поверхностью. Тор цы трубки закрыты оптическими стеклами.На чертеже изображено описываемое устройство.Полость 1 заполняется исследуемым веще ством и помещается в термостат 2. От источника света 3 луч света поступает в полость под углом, если полость прямолинейной формы, или прямо, если трубка изогнута (как показано на чертеже). К торцам трубки пришлифованы оптические стекла 4 и а, Свет, прохо дя через полость, многократно в ней отражается и выходит с противоположной стороны трубки ослабленным. Затем в голости изменяется давление и при некотором его значении, соответствующем (при данной температуре) фазовому переходу, на поверхности трубки конденсируется вторая фаза. За счет интегрального...
Устройство для определения формы и размеров поверхности контакта твердых и эластичныхматериалов
Номер патента: 213403
Опубликовано: 01.01.1968
Авторы: Бекин, Герасимов, Ремизов
МПК: G01N 21/55
Метки: контакта, поверхности, размеров, твердых, формы, эластичныхматериалов
...поверхностью среза б похорде под углом 45, и непрозрачной несущей частя 7, выполненной с соответствующим срезом б для жесткого соединения с прозрачной частью 5 ролика,В устройстве применен стробоскоп 8 с источником света периодического освещения и отражения изображения контактируемой поверхности от зеркальной поверхности прозрачной части ролика, рабочая дуговая поверхность которой выполнена матовой с ма .- штабной координатной сеткой.Прозрачная часть ролика сделана из опги. ческого или органического стекла, а непрозрачная из конструкционного материала. Обе части ролика жестко соединены кле м или другим спэсобом, Полировачная зеркальная поверхность б позволяег при использовании эффекта полного внутреннего отражения повернуть...
Способ оценки качества полированной поверхности
Номер патента: 257035
Опубликовано: 01.01.1969
Авторы: Ейблкс, Концевой, Резвы
МПК: G01N 21/55
Метки: качества, оценки, поверхности, полированной
...способ отличается от известного тем, что отраженный от поверхнос 1 и пучок лучей отбрасывают на экран и оценивают степень неравномерности светового пятна.Это отличие позволяет повысить полноту оценки поверхности.На чертеже изображена схема определения качества полированной поверхности, иллюстрирующая предложенный способ. Контролируемая полированная поверхность 1 освещается равномерным по интенсивности пучком света, испускаемым, например, лазером 2. Отраженный от поверхности 1 пучок лучей отбрасывают через зеркало 3 на экран 4. Световое пятно на экране имеет для каждой поверхности свой вид. Изгибы, перекосы, неровности, которые могут возникнуть при полировке, отражают лучи под разными углами, что создает возможность для интерференции.По...
Способ оценки качества полировки поверхностей
Номер патента: 249738
Опубликовано: 01.01.1969
Авторы: Ацагорц, Вардан, Научно, Силикатов
МПК: G01N 21/55
Метки: качества, оценки, поверхностей, полировки
...на и исследова имер, камеи о оценки ка например,ю отраженно ства полировменных мате- светового луредмет изобретени Спос ностей мощью и 1 ийся цвета дения оо оценкнаприме отражен тем, что, амня на светового качествр, каменнного свет с целью результа луча пр а полировки поверхых материалов, с поового луча, отличаю- ,исключения влияния т измерения, угол панят равным 70 - 75,Целью изобретения является исключение влияния цвета камня на результат измерения.Достигается это тем, что угол падения светового луча принят равным 70 - 75,Направленный на исследуемую поверхность пучок скользящего света отражается в полу- рассеянном виде из-за микронеровностей поверхности камня. Преобладающим направлением отраженных лучей является направление,...
Экспресс-рефлексометр
Номер патента: 266264
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Друккер, Черниловска
МПК: G01N 21/55
Метки: экспресс-рефлексометр
...положения фотоэлемента юстируются приэтом так, что прои строго диффузном образце (для которого р=го) прибор дает одинаковое показание для обоих коэффициентов.Возможен также вариант устройства, в,котором фотоэлемент постоянно находится в тубу. се в углубленном положении, необходимом для измерения осевого коэффициента яркости, при измерении же коэффициента отражения в тубус вводится фокон или световод с матированным, входным торцом, оптически передающий свет к фотоэлементу от объектива во входном отверстии тубуса,В другом возможном варианте фотоэлемент неподвижно установлен в стенке шара и при измерении осевого коэффициента яркости перед ним в шаре помещается бленда с объективом, устраняемая при измерении,коэффициента отражения.Во...
Способ неразрушающего бесконтактного контроля поверхности тонких цилиндрических деталей
Номер патента: 280676
Опубликовано: 01.01.1970
МПК: G01N 21/55
Метки: бесконтактного, неразрушающего, поверхности, тонких, цилиндрических
...вращении детали с максимальными выводами вокруг оси вследствие радиального биения вывода световой луч соскальзывает с исследуемой поверхности, что приводит к появлению ложных сигналов на выходе системы.Целью изобретения является создание такого способа обнаружения дефектов поверхности аксиал.цых выводов радиодеталей, который бы позволил автоматизировать процесс контроля, Для этого луч света проецируется осветителем, формируется до прямоугольного се чецця достаточно малой ширины ц большойдлины.Прц вращении детали влияние биения выводов нс сказывается благодаря боой длине сечения прямоугольного луча. Ширина лу ча выбирается соизмеримой с размерамц минимальных дефектов.На чертеже схема 1 ическц показано распо.ложсцце выво;та исследуемой...
Идентификатор в. ф. ветрова
Номер патента: 287354
Опубликовано: 01.01.1970
Автор: Ветров
МПК: G01J 1/04, G01N 21/55
Метки: ветрова, идентификатор
...11 с зеркальной наружной поверхностью, служащее для нормализации света, отраженного от поверхности испытуемого образца,Внутренний диаметр кольца, как и продольного отверстия в ФЭУ, на 1,0 - 1,5 лглг больше внутреннего диаметра линз. Диаметр отверстия в затворе не нормализуется, но при открытом его положении оно должно быть больше отверстия в линза;:. Во избежание воздействия на ФЭУ рассеянного теплового излучения, которое может иметь место прп прохождении луча от лазера через оптико- электронную головку, между линзами, затвором и ФЭУ установлены прокладки 12 из теплоизоляционного,материала, поглощающего рассеянное тепловое излучение от линз до подхода его к ФЭУ.Трубка соединена с надставным патрубком 4, служащим для нормализации по...
Устройство для контроля качества отделкимебели
Номер патента: 329450
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Гончаров, Гончарова, Ленинградска
МПК: G01J 1/14, G01N 21/55
Метки: качества, отделкимебели
...полного внутреннего отражения и лупа установлены по отношению к сравниваемым поверхностям 15 так, что в оптической системе устройства призмы являются зеркалами, отражающими и совмещающими в поле зрения лупы одновременно одно и то же изображение оптической сетки. 20 ключатель Ь, ламп 9, багарсц питания 10 эталонную поверхность 11 и контролируемую поверхность 12. Устройство работает следующим образом.Свет от лампы 9 освещает молочное стекло 7 и через него - оптическую сетку б.1-1 цжним проемом 2 устройство ставится ца контролируемую поверхность 12, а к верхнему проему 2 прикрепляется эталонная поверхность 1,Изображение оптической сетки б на фоне освещенного молочного стекла 7 рассматривается через лупу 3 в направлении лучей 1 ц П,...
Устройство для исследования эластичных уплотнений
Номер патента: 384059
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Бабицкий, Брук, Недува, Султанова
МПК: G01N 21/55
Метки: исследования, уплотнений, эластичных
...соосно,внутренней поверхности полого вала на корпусе, выполненном из прозрачного матепиала, а внутреннее коническое зеркало установлено неподвижно относительного полого вала.На чертеже изображено устройство для использования эластичных уплотнений, разрез.Устройство состоит из смонтированных на стойках 1 и основании 2 корпуса 3 из прозрачного материала, прозрачного полого валавнутреннего а и наружного Ь конических зеркалисточников света 7, привода д, системы 9 подачи рабочей среды и кинофотоаппаратуры 10.Работает устройство следующим образом.Исследуемые уплотнения устанавливают на вал 4 закрепляют в корпусе 3, включают систему 9 подачи рабочей среды под давлением, привод 8 и источники света 7, освещающие наружную и внутренно;о контактг...
401914
Номер патента: 401914
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G01N 21/55
Метки: 401914
...в измерительную систему, падает на светоделитель 3, коэффициенты отражения и пропускания которого приблизительно равны. Отраженный от светоделителя 3 поток падает на исследуемый образец 4. После отражения от него свет проходит сквозь светоделитель 3 и с помощью зеркал 5, 6 и 7 посылается на приемник 2.Поток, направляемый в дополнительный канал, падает на светоделитель 8. Отраженный светоделителем 8, он с помощью зеркал 10, 11, 12 и 16 и модулятора 14 направляется на приемник 2, На пути от зеокала 11 к зеркалу 12 свет проходит через светоделитель 9. Число зеркал, имеющих полное отражение, как в измерительной системе, так и в дополнительном канале одинаково. В обоих случаях луч один раз отражается от светоделителя и один раз проходит...