Патенты с меткой «кристаллитов»

Номер патента: 472682

Опубликовано: 05.06.1975

Авторы: Бертулис, Станкевичус, Толутис

МПК: B01J 17/00

Метки: кристаллитов, роста, скорости

...линии Л - Л (фиг. 1) производят кратковременный локальный нагрев выше температуры начала рекристаллизации (280 в 2 С), Луч создают пушкой электронов высоких энергий электронографа (типа ЭГЛ) при 0=80 кв. Диаметр луча 80 - 100 мкм.Приготовленную подложку с материалом одним концом крепят в специальном держателе - нагревателе, обеспечивающем жесткое крепление подложки по отношению к двум радиационным нагревателям, Приспособление для крепления одновременно используют для отвода тепла. Свободный конец подложки нагревают одним стержневым радиационным нагревателем, расположенным на высоте 10 - 12 мм от подложки параллельно полоскам материала. Другим радиационным нагревателем большой площади, расположенным параллельно подложке на высоте 12 -...

Номер патента: 501342

Опубликовано: 30.01.1976

Авторы: Конторович, Маликова, Рыбакова, Щукин

МПК: G01N 23/20

Метки: кристаллитов, материалах, пористых, размера

...к тому же не всегда мождостаточно надежно. ф рениюммах.ляется емеэ 10ть ушире х раз ениямиет бы упрощение анализаеления размеровристых материалов,ка, строительные, сорбенты и т.д.что исходный машок, размер часет релаксацию микмеряют уширениеуказанного порошка,уширением рентгеого материала,Бель изобретения -рентгенограмм для опредкристаллитов в случае потаких как металлокерамиматериалы, каталиэаторьЭто достигается тем,териал превращают в поротиц которого обеспечиваронапряжений в них и изрентгеновской линии откоторое сравнивают сновской линии от исходи Способ реализуют следующим образом.Снимают рентгенограммы и измеряют ширину рентгеновской линии образцов или промышленных изделий пористого материала и порошка, полученного после...

Номер патента: 532046

Опубликовано: 15.10.1976

Автор: Стрелков

МПК: G01N 29/04

Метки: величины, веществе, кристаллитов, методом, твердом, ультразвуковым

...рассеивается и отражается от его структурных неоднородностей, Отраженные сигналы (реверберационные шу 1 мы) подаются на усилитель 3 высокой частоты и через детектор 4 и блок отсечки 5:поступают на вход осциллографа, Компенсация потерь, связанных с,расхожде,нием и затуханием акустического импульса в среде, производится блоком 7 ВРЧ. Компенсацию потерь на рассеивание ультразвука, величины, переменной даже в пределах одного изделия, проводят следующим образом.Усиленный и продетектированный сипнал от реверберационных шумов поступает на интегратор 9, который формирует пилообразное напряжение, Это напряжение подается на один из первых каскадов усилителя 3 высокой частоты, изменяя его чувствительность по закону, обратному закону изменения...

Номер патента: 1318873

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Алейникова, Беликов, Кудашов, Работкина, Шеменева

МПК: G01N 23/20

Метки: кристаллитов, размеров, рентгенографического

...для всех тех плоскостей (Ь 1 1 ), которые могут дать дифракционные пятна, попадающие на выбранную окруж ность. Набор этих плоскостей находят из условия, что значения межплоскостных расстояний д(Ь;Е 1;) для этих плоскостей исследуемого материала не превышают величины %, /2 зп 9, где19 = - агсд (г/А) (здесь А - расстоя 4ние образец - рентгенопленка),В качестве примера определяют линейный Размер кристаллитов по точеч ной множественной лауэграмме, полученной с титановой пластинки толщиной 0,5 мм, при съеме "на просвет" на установке УРС, трубке БСВс медным анодом при ускоряющем напряжении 30 кВ и токе 10 мА. 11 ри 9 равном 10 радиус окружности г=А 82 9 = =40 д 20. =14,56 мм. Угол сходимости 8=0,012 рад. При напряжении на трубке равном...

Номер патента: 1637526

Опубликовано: 15.05.1993

Авторы: Дмитриев, Котосонов, Левинтович

МПК: G01N 25/18, G01N 27/02

Метки: диаметра, кристаллитов, поликристаллических, углеродных

...- увеличение точности определения диаметра кристаллов поликристаллических углеродных материалов, Способ заключается в измерении коэффициента теплопроводности и коэффициента связности углеродных материалов, на основе которых ысю диаметр кристаллитов 1 а по формуле 1, = В (1 /Г к), где (1. - коэффициент теплопроводности материала,1 - коэффициент связности, В - численный множитель, зависящий от температуры измерения, Г - численный коэффициент, определяемый макротекстурой материала,рехзондовым способом проводность а и попе ротивление М в магнитн и рассчитывают велич связности по соотношенс Нгт" -агде с - постоянный коэ ффициент,Если образец имеет выраженную макроструктуру, вводят дополнительный поправочный коэффициент Р, определяемый...