Способ определения изменения параметров поверхности объекта
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИРЕСПУБЛИК Н 9) 1 И 21/5 САНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ ВУ АВТОРСКОМУ С ТЕ 23 И. Рукма 1 пйгагей Мдсгоагдоп Еог Мейд,1961.льство СССР М 2 1/55, 1983. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИИ(56) Тазара ес а 11.ясоря апй дгя арр 1 дсса 1 ияе. Меът ЛогЕ,Авторское свидетеВ 1061008, кл. С 01 54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИЗМЕНЕНИЯАРАМЕТРОВ ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА(57) Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для целей дефектоскопии. Целью изобретения является обеспечение возможности обнаружения оптическими методами изменений на поверхнос ти объекта коэффициента температуропроводности. Способ заключается.в создании на поверхности объекта системы прямолинейных полос оптического излучения, искривление которых из-за неоднородностей температуропроводнос ти регистрируется приемным устройством. 1 ил.) Ь(а) Ьх 4 Т а А ф 40 откуда чувствительность по обнаружению Ь (а): аг2 ц А ф Изобретение относится к измерительной технике, в частности к:средствам дефектоскопии с использованием оптических методов.Цель изобретения - обеспечение 5 возможности обнаружения изменения коэффициента температуропроводности на поверхности объекта.На чертеже изображена схема, поясняющая предлагаемый способ. 10На схеме показан исследуемый объект 1 с поверхностью 2, на которой указаны неоднородности 3 и 4 (зоны с измененной температуропровод 15 ностью), источник 5 излучения 6, систему 7 полос 8, сформированную, например, полупрозрачной маской 9 и системой 10 перемещения полос и измерителя 11 теплового поля (тепловизора).20Способ осуществляют следующим образом.Поверхность 2 исследуемого объекта с неоднородностями 3 и 4, расположенными как на поверхности, так и на25 глубине Ь сравнимой с длиной волны излучения подсветки, облучают оптическим излучением 6 источника 5 и формируют на поверхности 2 систему 7 полос 8 излучения с распределением плотности мощности Б по гармоническому закону поперек оси полосы. Перемещают систему 7 полос 8 в направлении, перпендикулярном осям полос 8.Затем регистрируют в процессе пе. ремещения полос смещение Ьх центра полосы и амплитуду основной волны Б, по величинам которых судят об изменении температуропроводности на участках поверхности объекта 1.При синусоидальном распределении плотности мощности в направлении поперек полос перемещения этой картины по объекту со скоростью Ч и при выполнении условия 45 где а - среднее значение температуропроводности;Ь(а) - локальное отклонение температуропроводности от средней (при условии его малости) величины;Ьх - величина смещения центра полосы "в зоне расположения,неоднородности.При этих же предположениях амплитуда У температурной волны на поверхности равна: где К - коэффициент поглощения излучения поверхностью объекта;8 - плотность мощности нагревающего излучения,% - коэффициент теплопроводностиобъекта.После регистрации Ьх и Б средством для наблюдения теплового поля объекта имеется возможность выявить как знак Ь (а), так и величину (размер) зоны, где имеет место отличие температуропроводности от ее среднего значения.Например, при а2, Ьх 1 Ь(а ) А ф А 4 а Ьхи,полагая : 0,001, получим Ь (а) = 0,012, т.е. 1,27 т.е, 1,27.Формула изобретениягде 7 - скорость перемещения системы полос;а - температуропроводность;А - пространственный период полос,получаем из решения уравнения теплопроводности;у,Аг, Ь(аг)Ьх 8, (ат ) Способ определения изменения параметров поверхности объекта, состоящий в освещении поверхности оптическим излучением и регистрации провзаимодействовавшего с поверхностью излучения, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью обеспечения возможности обнаружения на поверхности объекта изменений коэффициента температуропроводности, при освещении1318863 ставител хред В.К арнавски едактор С. Пекар орректо утяга аказ 2501 ПодписяСР омитет и открыт я наб.,д 5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 на поверхности объекта формируют систему параллельссссх прямолинейных полосоптического излучения с поперечнымраспределением плотности мощности погармоническому закону, перемещаютсистему по,пос в направлении, перпен/35 Тираж 776 ВНИИПИ Государственногопо делам изобретении 3035, Москва, Ж, Раушс дикулярном им н регистрссруют в процессе перемещсния искажения прямолинейности полос и амплитуду температурной волны, по величинам которыхсудят об изменении температуропроводности на поверхности объекта.
СмотретьЗаявка
3967736, 16.10.1985
АНДРЕЕВ ВИТАЛИЙ ИВАНОВИЧ, РУКМАН ГЕОРГИЙ ИОСИФОВИЧ, ШЕЛЕМИН ЕВГЕНИЙ БОРИСОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 21/55
Метки: изменения, объекта, параметров, поверхности
Опубликовано: 23.06.1987
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1318863-sposob-opredeleniya-izmeneniya-parametrov-poverkhnosti-obekta.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения изменения параметров поверхности объекта</a>
Предыдущий патент: Способ определения прозрачности оптической среды
Следующий патент: Устройство для подачи порошковых проб в спектральном анализе
Случайный патент: Жидкостной смесительный клапан