G01N 21/45 — с помощью методов, основанных на интерференции волн; с помощью шлирного метода

Номер патента: 60094

Опубликовано: 01.01.1941

Автор: Недвига

МПК: G01N 21/45

Метки: воздухе, газов, рудничных, содержания, шахтном

...г, и г., - оборотные призмы;и 6 - газовые камеры; Х - зеркало; О - окуляр; Е - личза, сближающая спектры; д - металлическийй кран; а, О и с - вводы в поглотители РРАнализ шахтного воздуха производится следующим образом,Присоединив резиновую продувную грушу к отводу а и соединив , краном д поглотительную трубку , с отводом И, который соеди камеру Е с компенсатором, и вывинтив винт. заглушку, продувают свежим воздухом камеру.Эту операцию надо проводить в чистой атмосфере. Когда не производится измерения, компенсатор должен стоять на нуле и сообщаться с камерой и поглоти телем, а последний через тонкий капилляр всегда сообщается с атмосферой. Когда нужно провести замер метана, то присоединяют продувную грушу к отводу 0 и через поглотитель...

Номер патента: 61541

Опубликовано: 01.01.1942

Авторы: Бреннер, Лебедев, Покровский

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: газовый, интерферометр

...как это показано на фиг. 3. Пучок света от щели 3 проходит через середину зеркала б (указан пунктиром кружок в промежутке между средними отражающими полосками на фиг, 3). После этого свет расходящимся пучком проходит через кювету 7, отражаясь от зеркала 8, снова проходит через кювету 7 и падает на вогнутую поверхность зеркала б. Здесь свет отражается от металлических полосок и идет обратно четырьмя отдельными сходящимися пучками, которые проходят через кювету, отражаются от зеркала 8, снова проходят через кювету, через среднюю прозрачную часть зеркала б, компенсатор б и полупрозрачное зеркало 4 и сходятся в линию перед цилиндрическим окуляром 9, который служит для наблюден;. я интерференционной картины. Бипризма 10 применена для...

Номер патента: 78570

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Поляков

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45, G02B 21/14 ...

Метки: интерференционном, микроскопом, объектов, поле, прозрачных, рассматривания

...5 и окуляр б, В микроскопе, в месте образования изображения щели 8 объективом 5, устанавливают плоскопараллельную пластинку 7, покрытую полупрозрачным слоем, алюминия с пропускной способностью 0,3 - 035. На алюминированной поверхности пластинки 7 сделана щель (или щели) шириной 0,01 - 0,02 мм.Плоскопараллельную пластинку 7 устанавливают так, чтобы изображение щели 8 было совмещено со щелью в пластинке 7. Тогда пучок лучей света, пройдя через щель в пластинке 7, подвергнется лишь дифракционным изменениям и создаст одну из двух иятерферирую щих волн. Другой интерферирующей волной являютсялучи, прошедшие через рассматриваемый объект и полупрозрачный слой пластинки 7 и подвергшиеся изменению уже в зависимости от оптических свойств...

Номер патента: 84597

Опубликовано: 01.01.1950

Авторы: Кусаков, Разумовская

МПК: G01N 21/45, G01N 33/28

Метки: жидкостей, прибор, текучести

...выше и, следовательно, текучесть масла больше, точки интерфсренционных линий смещаются дальше, Отсюда ясно, что при линейном распределении температуры на поверхности пластинок любая нз интерференциснных линий, полученных при сдувании масла (при наличии поперечного по отношению к направлению сдувания градиента температуры), в определенном масштабе сразу будет представлять собой кривую зависимости текучести (величины, ооратной динамической вязкости) от температуры, Эти кривые, схематически изображенные на фиг. 5, либо могут быть визуально наблюдаемы и сравниваемы для различных масел (для различных масел должны сравниваться интерференционные линии, имеющие один и тот же номер), либо могут быть сфотографированы в отраженном...

Номер патента: 100552

Опубликовано: 01.01.1955

Авторы: Ананьев, Сакин

МПК: G01N 21/45

Метки: газовый, интерферометр

...путь в обратном направлении и поступают через призму 8 в объектив 9, в фокальной плоскости которого возникает интерференционная картина, получаемая благодаря небольшому наклону призмы 5 или узла б - 7 относительно оси, параллельной Б-Б. Интерференционная картина рассматривается через окуляр 10.Толщина пластин-зеркал 4 и б, а также расстояние между призмой 5 и зеркалом 7 выбираются такими, чтобы пути лучей, проходящих сквозь воздушную и газовую камеры как в воздухе (газе), так и в стекле были равны между собой.3 ЧЬ 100552 При применении в интерферометре белого (немоиохроматическогс) света в середине фокальной плоскости на нити Д-Д будет наблюдаться (для воздуха) белая полоса, Смещение этой полосы, соответствующее той или иной...

Номер патента: 101955

Опубликовано: 01.01.1955

Автор: Ананьев

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: анализируемой, влияния, газовых, давления, изменений, интерферометров, компенсации, показаний, способа, среды, температуры, точность, этого

...от ширины полосы и Фокусного расстояния объеддтддва зрительной трубки.11 зменяя ширину полосы цнтерФерен о 161 З 55цио иной картины, прп постоянном фокусном расстоянии объектива, возможно подучить различные углы поворота призмы.На фиг, 1 изображена оптическая схема интерс 1 ерометра; на фиг. 2 - вид одной из форм выполнения устройства ддя осуществления предлагаемого способа в трех проекциях и разрез по (АВ).В оптической схеме газового интерферометра, например, типа Рпкен, можно либо поворачивать верхнюю призму (1), либо плоскопаралл ель ную пластину (2), либо передвигать среднюю линзу (3) телескопической системы (4) в продольном (осевом) направлении. Ддя сообщения указанных смещений отдельным основным узлам оптической системы могут...

Номер патента: 103230

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Уханов

МПК: G01N 21/45

Метки: аберраций, теневой

...устройств основаны на применении непрозрачных экранов, например, лезвия ножа, нити, щели решеткц цлн экрана с Фигурным вырезом п т. п.Способы, основанные на прцмененцц непрозрачных цлн цветных решеток, пригодны для измерения только больших аберрации.Способы, в которых попользуется в качестве экрана тонкая нить, также непригодны для измерения малых аоерраций пучков с малым апертурным углом.Предлагаемый тепевой спосоо позволяет измерять аберрациц независимо от цх величины.Измерения производятся прн помощи узкого прямолинейного Фазового экрана, перемещаемого микрометром.Сущность способа заключается в том, что вместо непрозрачной нити, применяемой при обычном теневом способе, вблизи пзображенпя щели теневой установки располагают сетку...

Номер патента: 113253

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Мальцев

МПК: G01N 21/45, G01N 25/02, G01N 33/26 ...

Метки: газ-бензол-масло, изотерм, равновесий, системы, фазовых

...труб- продувается Установкатерм фазовыгаз - бензол -мостатированботерами с мфильтром икой, через для опрравнов масло, сн ным зме аслобензо хлоркаль которые В известных лабораторных установках, предназначаемых для определения изотерм фазовых равновесий системы газ в бензол в м невозможно достичь полного равновесия определяемой системы из-за недостаточной продолжительности контакта фаз при прерывистой циркуляции газа.Особенность предлагаемой установки заключается в том, что в ней осуществляется непрерывная циркуляция газа и применены включаемые в цепь циркуляции определяемой системы термохолодильник, газоанализатор, а также дроссельный капилляр.На прилагаемом чертеже изображена описываемая установка, вид сбоку.Она состоит пз...

Номер патента: 117777

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Бабенко, Опанасенко, Пилюгин

МПК: G01N 21/45

Метки: микрокристаллоскопического, открытия, персульфат-иона

...на предметном стекле с каплей 2 - 2,5% раствора реактива Х-(параметоксифенл)- р -нафтохин;льдиннйхлорида, При наличии персульфат-иона образуется характерный кристаллический осадок, хорошо видимый под микроскопом.К- (параметоксифенил) - р -нафтохинальдинийхлорид является доста. точно специфичным реактивом на персульфат-ион, так как не образует трудно растворимых осадков с 27 наиболее распространенными анионами, В то же время образуемые с 4 анионами (кроме персульфат-иона) Осадихорошо различаются мехкду сооой по пптсрчзсрспционОЙ Окраске.Предмет изобрстспия Способ микрокристаллоскопическо о открытия персульфат-ио 1 щ, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что в качестве реактива применяют Х-(парамстоксифсштл) - 3 -нафтохинальдинийхлорид....

Номер патента: 126645

Опубликовано: 01.01.1960

Автор: Уханов

МПК: G01N 21/45

Метки: градиентов, исследования, неоднородности, оптически, оптических, оптической, прибор, прозрачных, систем, сред

...с похлученных с помощИнтерферснцся сщение интерференДля проведенкие кохсйенсаторь ая часть прибора состоит из осветителя 1, конденсатоа 3, трехгранной призмы 4, поляризацпонной призмы 5 . Наблюдательная часть прибора содержит фазовый эк, оборачивающий объектив 9, сетку 10, окуляр 11 и анасследовансся, например, зеркала 13,Чажена, оно изокомпенсатор 6, объектив Я и оборачивающий объектив оскости окуляра 11, Вблизи точки схождения лучей пос. расположеса диафрагма со щелью или отверстием. Изй вьполйяется в два этапа. Сначала известным тсневыч сий аберраций измеряют плавно изменяющиеся аберазно изменяющиеся аберрации (ступенс, канавки) сошью интерференции поперечно смещенных полей, поью призмы 5 Волластона и...

Номер патента: 129870

Опубликовано: 01.01.1960

Автор: Скоков

МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...

Метки: взаимно-перпендикулярных, двух, интерференционной, интерферометр, картины, одновременной, плоскостях, регистрации

...чертется в приемных частях аждой из двух систем инт конденсаторы 3 - 9. енционную картину, локализо 1 оскости чертежа и оси пучка ых частях 11, 12. Система пучртину, локализованную в плоежа и оси пучков 5 - 10. Кар, 14. Для компенсации рязерференциониых полос служат едмет изобретения ометр для одновременной рсгистряции и в двух взаимно-перпендикулярных плоскос света, ооъектива, плоских зеркал, камеры срфереиционх, состояшииисс те гсемым нтерф пои картинь из источник Известныерегистрации илярных плоскосПредлагаеммомент временв двух взаимнодяч, решаемыхческих исследовНа чертежОбъективовскольким напрП направлениеправление.Система пванную в плос7 - 2, Картинаков П 1 и Л 7 дскости, перпендтина регистрирности хода в ксоответственноне...

Номер патента: 131968

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Жариков, Микитас, Субботин, Цвеклинская

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45, G01N 21/61 ...

Метки: газоанализатор

...21, 22, 23, ограниченных стеклянными пластинками, призмы 24 полного внутреннего отражения, подвижной призмы 25 полного внутреннего отражения, объектива 2 б, дополнительного подвижного объектива 27 и окуляра 28.Перед проведением анализа все вредные пространства частей газо- анализатора (кроме полостей интерферометра) заполняются азотом, после чего проводится холостой анализ (воздуха в помещении лаборз. тории). При соответствующем положении крана 4 из пипетки 29, заполненной рудничным воздухом, проба газа в количестве 50 - 60 .ил продувается через интерферометр 7 (на что затрачивается 10 - 20 сек) и по шкале последнего, отградуированной в процентах, определяют содержание метана. Затем кран 4 переключают и в измерительную бюретку 1...

Номер патента: 131969

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Жариков, Субботин

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: интерферометр

...интерферометра,Интерферометр состоит из оптической и электрической частей Онтичсская часть включает в себя: конденсор 1; Глоскопарал лельную пластинку - зеркало 2; газовоздушную камеру 3, имеюГцу 1 о три сквозных полости 4, 5, 6, ограниченные стскляннымн пластинками, подвикную призму 7 полного внутреннего отражения; призму 8 полногл внутреннего отражения; зритсльную трубку с окуляром 9 и объективом 10, В фокальной плоскости зрительной трубки помещена щелевая диафрагма с отсчетной шкалой. В корпусе интерферомстра имеется окно, между которым ц кондснсором 1 установлена рассснвающая свст пластинка 11 из матового или молочного стекла.В качестве электрической части интерферометра использован шахтерский головной аккумуляторный светильник...

Номер патента: 144304

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Левин

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: изменений, интерференционный, кристаллов, показателя, преломления, прибор, стекол, термических

...стороны объектива 5, также в его фокальной плоскости, устанавливается ирис-диафрагма 7. Источник монохроматического света 8, имеющий несколько линий точно известных длин волн (например, кадмиевая, ртутная или гейслерова лампа) изображается конденсором 9 на ирис-диафрагму 7 в плоскость последней. Полупрозрачная пластинка 10 направляет пучок света на объектив 5. Благодаря этому на столик прибора будет падать параллельный пучок лучей. Объектив 11, установленный вблизи ирис-диафрагмы 12, дает в своей фокальной плоскости, совпадающей с коллектором 13, изображения трех систем интерференционных полос, т. е. от термометра и образцов на преломление и расширение. Это интерференционное поле с помощью двух ромбических призм 14 и 15, а также зеркал...

Номер патента: 147021

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Жариков, Цейслер

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: интерферометр, шахтный

...окуляром 9, плоскопдрдллельцос стекло 10 Гдзовоз.ушыс камсры мсют по три свозы( ол( и //, /2,1 И, ограсиые лоскои 3,) 1, )Г (, 1 ь н ы ) 1 с" Г с к я ц )ыи , 3 г т 1 к я )111 1-1,1 сЗовая;Иция Н 1)ибора (.Огтоит изес тиссси Обогос)Г)сц х,;)у) от друга лй )гдзоьч)й и воз/у 1 о Газовая лиця цд схсмс Отмечс - на точками фиг.;).Прц засасывдии в прибор рули)Ого возлу. а 0длдсглотитсльцый патрон 13, заполсццый хмчсским .спл(5 ителем изшлковым) ) скис1 ОГО Газа В и)ОГ)( Оух). этс) 133 О гослицит(,1 ьи О и 1 р у б к с и 0 1),с) и Ол ) (3 ь бВ ы кГ )1 0 к /, 1, с и ) 0 х О, и т В, р уГу 10 соедицитс)ы)у(0 трубку, Г 10 кото;)Ой по:)алдена В цижцОю )деть п)1 т. рона, здполе;)ную грдцулироваццым сц,Икдгег)сх) для поглощс цпя паров волы. )ЯгСс газ...

Номер патента: 148550

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Кеймах, Кудрявцев

МПК: G01B 9/02, G01J 4/04, G01N 21/45 ...

Метки: интерферометр-рефрактометр, поляризационный

...Волластона 10, Лучи света, проходя вторую призму Волластона 10, поляризуются во взаимно перпендикулярных плоскостях и попадают на анализатор 11, с которого через линзу 12 они попадают на фотоэлектрическоеследящее устройство 13,148550Переменная составляющая фототока через усилитель 14 питает управляющую обмотку 15 двухфазного реверсивного электродвигателя 1 б, ротор которого через редуктор 17 и шестерню 18 механически связан с анализатором 11. Кроме того, ротор электродвигателя 1 б связан с регистрирующим устройством 19, фиксирующим показатель преломления измеряемой среды. Сосуды 7 и 8 с измеряемой и эталонной средой помещены,в резервуар 20, связанный с термостатом 21, что обеспечивает постоянство температуры сред в процессе...

Номер патента: 156712

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: G01N 21/45, G01N 21/59

Метки: 156712

...ири ) иы. ) ЯЗПОСТ 51 к),а, равны). Псбольцом иеетио)5, числ полуволи.Па С)те)ке изооражеио устроЙство, иллюстируи)гцсе прслгоженНЫ 11 СПОСОО.Свет от щс,.и моно),)ат и)а 1 иопазает в и:Тс:еромстр Майкельсои 2, В 0 ии пз пучков кот 01)010 по)ещеи 2 э Гало 251 кювет 1 2, а В руго - - К 10 ВЕТЯ 3 С ВЕИЕСТВО), ,ОМПСИСЯТ 01) 4 ПОЗВОГЯЕТ ГЬ 12 ВИО )Е- нять разность );ода, а кли или;иафрагма 5 - плавно ослаблять п 5- ок. ПООЙЛЯ Дна 1)1)ЯГ)1 о, Гг"ок иг,гЛаст иа фотПрис)1:ик /,Из)Срс:.Пс прОизвол 51 т слс,цуоцги. 00)230). В)ссто кюветь 3 поси: аОт а: 15 ОГПпуО к 10 всту Оез Вещества, кс) с:сатор 0) -,г имволят сиП 1,мини):5 у, 2 Зате):яи)р 2 гъ 01 0 - , игло. Б)ест) пмстой кю;с) ы ПО)ецаот ковету о с Всисство), снова пг;волят ко)1 пеисато)Ол г...

Номер патента: 168915

Опубликовано: 01.01.1965

МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45

Метки: 168915

...пластины, а по 5 касательным - зеркала, одно из которых перпендикулярно большой оси, причем направления всех элементов интерферометра пересекаются в точке пересечения этих касательных и эллипсу. вестны интер(рерометры для исследования прозрачных неоднородностей, в которых осуществляется либо двукратное прохождение луча в исследуемом объекте, либо локализация полос в любой точке объекта,Предложенный ингерферометр позволяет объединить эти способы исследования.В основу геометрического построения предложенного интерферометра положен эллипс, в фокусах которого находятся две разделительные пластины, а по касательным - зеркала, одно из которых перпендикулярно большой оси, причем направления всех элементов интерферометра пересекаются в...

Номер патента: 174001

Опубликовано: 01.01.1965

Автор: Скоков

МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...

Метки: интерферометр, одновременной, регистрации

...поля плотностей в газовых средах путем наблюдения в один и тот же момент времени многолучевой интерференционной картины в двух плоскостях. Интерферометр выполнен в виде двух оптических систем, создающих одновременно две иптерференционные картины, локализованные в двух взаимно перпендикулярных плоскостях.На чертеже представлена схема предлагаемого многолучевого интерферометра.Свет от точечного источника 1 через объектив 2 попадает на полупрозрачную пластину 8, разделяющую падающий пучок света на два параллельных пучка. Один пучок света отражается от зеркал 4 и 4, проходит эталоны 5 и б Фабри-Перо и падает на объектив б,которыи дает изображение плоскости О - О в плоскости приемника 7. Другая часть светового пучка проходит эталоны 8 и...

Номер патента: 177116

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Контиевский, Ухов

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: двух, интерферометр, лучевой, фурье-спектрометрии

...а также создает возможность для применения его в далекой инфракрасной области спектра. На фиг, 1 представлена схема описываемого интерферометра; на фиг. 2 - конструкция светоделительного элемента.Параллельный пучок лучей 1 и 2 падает на зеркальную поверхность 3 плоскопараллельной пластины 4 светоделнтельного элемента интерферометра. Половина пучка (лучи 1) отражается от зеркальной поверхности пластины, падает на плоское зеркало 5, отражается от него, вновь падает и отражается от .-поверхности 3, Лучи 2 (другая половина пучка) проходят через продольные сквозные параллельные пазы б, сделанные в пластине 4, падают на плоское зеркало 7, отражаются от него, проходя снова через пазы пластины, и выходят параллельно лучам 1. При этом лучи...

Номер патента: 188061

Опубликовано: 01.01.1966

Автор: Забелин

МПК: G01N 21/45

Метки: картины, наблюдения, теневой

...2, попал тора 8 и далее цапредлагаефпг. 1; ца ая система. ором спсз я сквозь цоает ца объьсслсдуемый 3 Известные способы одновременного наблюдения теневой картины в двух плоскостях, заключающиеся в освещении объекта через щель теневого прибора и формировании объективом коллиматора соответствующе о изображения. требуют примсцсия сложных оптических систем и поляроидов.Предлагаемый способ позволяет наблодать теневую картину в двух произвольно выбранных сечениях с независимыми наст ройками картины и расширить объем ицфорвации о распределении плотностей в аэродинамических полях. Он отличается тем, что наблюдаемый обьект освещают двумя анги- параллельными световыми пучками, направи ляемыми через щели двух теневых приборов и объективы...

Номер патента: 192435

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Константиновска

МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...

Метки: двухлучевой, интерферометр, исследования, неоднородностей, прозрачных

...чивание волнового фронта в ветви, и регистрирующую систему. Это позволяет снизить требования к точности изготовления оптических деталей интерферометра и сохранить преимущества прибора с большим рабочим 2 полем,Применение лазера позволяет увеличить интенсивность интерференционной картины.На чертеже изображена принципиальная схема предлагаемого интерферометра. 3 Узкий пучок газового оптического квантового генератора (ОКГ) падает па полупрозрачную пластину 1 и делится на два пучка,Пучок, отраженный от пластины 1, преобразуется в широкий пучок с помощью конденсорной системы 2, зеркала 8 и зеркально-менискового коллиматора 4 (типа коллиматора теневого прибора). После коллиматора 4 световой пучок проходит через исследуемый объект 5,...

Номер патента: 197219

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Ловков, Харитонов

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: интерферометр, исследования, неоднородностей, прозрачных

...независимую пару когерснтных световых пучков и направляю. щих их на систему плоских зеркал, полупро зрачную пластину и приемную часть, образующих вторую двухлучевую интерференцион. ную картину.Этот интерферометр позволяет получить одновременно две интерференционные двухлучевые картины в одной плоскости с различной начальной настройкой (различной ориентировкой, шириной интерференционных полос и компенсацией разности хода).На чертеже изображена схема описываемого интерферометра.Световой поток от источнидит коллиматор 2, попадает стину 3 и делится ею на дв оторых проходит через эта еркало 4 и полупрозрачную п ой пучок - через рабочую б и полупрозрачную пласти в приемную систему 7. Исследуемая неоднородность устанавливается в камере 8 в...

Номер патента: 199491

Опубликовано: 01.01.1967

МПК: G01N 21/45

Метки: исследования, неоднородностей, прибор, прозрачных, теневой

...ракурсом через исследуемую неоднородность. 20 Другая система установлена между камерой и приемной частью и обеспечиьает прохождение дополнительного светового пучка в приемную часть.Эти две оптические системы позволяют оп ределять параметры пространственных неоднородностей путем получения теневых картин в двух взаимно изменяющихся ракурсах.На чертеже изображено описываемое устройство. 30 Свет от источника 1 проходит через щель 2, коллиматор т, камеру 4 с исследуемой неоднородностью и направляется в приемную часть 5 устройства. Между коллиматором 3 и камерой 4 установлена полупрозрачная пла ти га б, создающая дополнительный световой пучок, направляемый на систему подвижных зеркал 7 и 8 (ца чертеже изображен вариант расположения...

Номер патента: 239227

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Лебеденко, Панов

МПК: G01N 21/45

Метки: величины, пересыщения, раствора

...используют их показатели преломления, измеряемые интерферометрическим методом, и полученную величину математически пересчитывают на величину пересыщения раствора.По предлагаемому способу отбираются пробы раствора в пересыщенном и насыщенном состояниях при одинаковой температуре. Для определения разности, показателей преломления в отобранных пробах можно использовать, например, жидкостный интерферометр ИТР.Если пробы раствора отобраны при температбре раствора ниже комнатной, то они 5 переносятся в кюветы иитерферомстра безвсякой дополнительной подготовки, Если же пробы анализируемого раствора отобраны при температуре раствора выше комнатной, то их необходимо предварительно разбавить 0 так, чтобы они кристаллизовались при температуре...

Номер патента: 244665

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Комиссаров, Харитонов

МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...

Метки: газодинамических, интерферометр, исследования

...на них света, Пласти.5 ны б и б установлены под углом 45 к оппи.ческой оси,прибора (наиболее оптимально с учетом габаритов их и удобства,в настройке) .Отраженный от пластины б пучок света совмещается с,пучком света, прошедшим через О пластину б с помощью соединительной полу.прозрачной пластичны 7; эта пара пучочков света совмещается с пучком света рабочей ветви интерферометра, прошедшим через камеру 8 с исследуемой неоднородностью 8. При, этом в приемной части 9 интерферометра, в одной из,половин поля зрения, наблюдается трехлучевая интерференционная картина; в другой - двухлучевая картина, образованная пучком света, прошедшим через пластилину 5, и соответствующим пучком света рабочей ветви интерферометра, прошедшим через соседний...

Номер патента: 246710

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Коробкин, Тницкий

МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...

Метки: газовыхсред, диагпостики, ионизированных

...сигнала излучения го лазера, от,гичаюигийсг тем, что, с определения параметров среды, наприонцентраций свободных электронов, атомолекул, а также массовой плотности влено 02.Х,1967 ( 1187783/26-2рисоединением заявкиДанное изобретение относится к области методов измерений параметров газоразрядной плазмы. Ряд известных в настоящее время способов диагностики плазмы с использованием газсвых лазеров основан на получении с помощью интерферометров различного типа Интерференционных картин и дальнейшей их интерпретации.Применение в качестве источника света газового лазера не приводит в этих известных способах к существенному увеличению точности определения коэффициента преломления исследуемой плазмы, в результате оказывается возможным...

Номер патента: 256343

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Гудков, Подпальный, Пономарев, Фурашев, Чеховских, Шадрин, Штаб

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: воздуха, рудничного, состава

...камер ко смой смесью, а др с ью, огл ичаютт 1 пйс ния точности, в ка используют рудин но пропущенныц 30 глощающего опрсленин зовац торого 5 гая ч тем честв чный5 ЕРЕЗ дел яех Известны способы определения состава рудничного воздуха при помощи интерферометра, одна из камер которого заполняется исследуемой смесью, а другая - сравнительной смесью, в качестве которой используют чистый атмосферный воздух,Предложенный спосоо отличается от известного тем, что в качестве сравнительной смеси используют рудин шый воздух, предварительно пропущенный через слой сорбента, поглощающего определяемый компонент. Это позволяет повысить точность анализа.При определении содержания Н рудничным воздухом заполняют аналитическую камеру, при этом рудничный воздух...

Номер патента: 268732

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Физико

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: газа, плотности, распределения

...этой компоненты.Точки, в которых полосы обеих картин наложатся одна на другую, дадут кривые равной разности хода, проведенные через Х/2.Способ основан на том, что показатели преломления газов по-разному зависят от длины волны. Особенно сильная зависимость для каждого газа наблюдается вблизи линии его поглощения. Для получения фотографии кривых, равной разности хода длины волн излучений, выбираются возможно более близкими к длине волны полосы поглощения исследуемой компоненты газовой смесипричем они могут быть как симметричными, так и несимметричными относительно полосы поглоще ния.Для экспериментального осуществленияфотографирования в свете двух длин волн возможны несколько способов получения этих излучений: применение узкополосных...

Номер патента: 280920

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Казанджан, Сухоруких

МПК: G01J 9/02, G01N 21/45

Метки: газовой, динамике, измерений, интерференционных, плотности, потока

...2. Определяют угол 20 от между этой касательной и направлениемневозмущенного потока (осью О - Х),По углу ф и числу Маха невозмущепногопотока М, замеренному в эксперименте, вычисляют отношение плотностей за и перед 25 ударной волной, равноеПредмет изобретения Выбирают две темные пнтерференционные полосы 3, проходящие вблизи ударной волны. Отмечают точки В и С пересечения этих полос с прямой х=сопз 1, Отрезок АС должен быть таким, чтобы внутри него зависимость плотности от радиальной координаты г была близка к линейной. При этом длины отрезков АВ и ВС должны по крайней мере в 3 - 5 раз превышать погрешность измерения этих длин.Измеряют расстояния от точек А, В и С до оси симметрии - соответственно гх, гв и тс, Результаты измерений...