Абясов

Устройство параметрического контроля интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 694822

Опубликовано: 30.10.1979

Авторы: Абясов, Ажоткин, Кушуль, Скороходова

МПК: G01R 31/303

Метки: интегральных, параметрического, схем

...контактами панели 11 коммутации проверяемых номеров выводов.Вторая группа контактов панели 1 соединена с источником 2 питания, подающимсигналы логической единицы на грушу элементов И 10 через сменные вставки, осуществляющие нужные соединения групп контактов панели 11 в соответствии с типомисследуемых схем, т. е, для каждого типа 10 15 20 25 30 оа 4050 д 5 60 65 исследуемых схем сигналы логической единицы Од 51 Отс 51 ц 11 разл 1 пьс;Огцчсскс элементы И 10. Один пз логических элементов И 10 прц совпадении сигналов от источника 2 питания (через пансль 11) и с выхода дешифратора 6 подает сигнал 1, поступа 1 ощий через панель 16 ца программируемый источник 8 питацц 51 для включения требуемого номинала питания ца исследуемую интегральную...

Система для автоматического контроля больших интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 664178

Опубликовано: 25.05.1979

Авторы: Абясов, Ажоткин, Гаврилов, Кушуль, Мардер, Сковородин, Хвощенко

МПК: G05B 23/02, G06F 17/00

Метки: больших, интегральных, схем

...для данного типа БИС. В регистр 5 выходной тестовой комбинации из блока 3 памяти поступает выходная тестовая комбинация каждого контролируемого теста исследуемой большой интегральной схемы б, Регистр 5 соединен с многоканальным амплитудным дискриминатором 7 для задания порога каждого канала дискриминатора, В блок 3 памяти из УВМ 1 поступает импульс запроса. В каждой ячейке блока 3 памяти выделен ряд разрядов,в которых записывается число циклов тактового генератора, в течение которых на БИС 6 должна подаваться данная тестовая комбинация входных воздействий и один разряд, в котором записывается признак циклов для повторения группы тестов. При считывании из ячейки блока 3 памяти на входы контролируемой БИС б подаютсявходные воздействия, а...