Устройство для контроля интегральных микросхем

Номер патента: 708269

Авторы: Горохов, Николаев, Храпко

ZIP архив

Текст

Союз Советских Социалистических Республик(23) Приоритет - ,6 01 Н 31/28 ГосударственныИ комитет СССР оо делам нзобретеннИ н открыткИДата опубликования описания 08018 0(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ ИИК РОСХ ЕИИзобретение относится к измерительной технике, может быть использовано в системах контроля и диагности" ки неисправностей элементов радиоэлектронной аппаратуры. Известно устройство для обнаружения неисправностей в логических схемах, содержащее счетчик, выходы которого соединены с блоком регистрации, эталонньщ блоком и контролируемык блоком, соединяемьи своими выходами с соответствующими входами блока регистрации и блока сравнения, вторые входы которого подключены к 15 выходам эталонного блока, а выходы . - к блокам индикации и регистрации, Устройство содержит генератор управ,ляющих сигналов, тактовые выходы ко" торого подключены к управляющим входам эталонного и контролируемого блоков, к соответствующим входам блока сравнения, блоков индикации и регистрации и к счетному выходу счетчика выход установки нуля генератора управляющих сигналов соединен с соответствующими входами счетчика, блока регистрации, эталонного и контроли,руемого блоков, а его входы - с выходами блока сравнения 1, 30 Это устройство не может быть использовано при диагностике цифровых узловНаиболее близко к предлагаемому устройство для контроля интегральных микросхем, содержащее одноконтактный зонд, соединяемый с выводси контролируемой микросхемы, эталонную микросхему, блок сравнения и индикаторисправ ности 2) . У этого устройства ограниченные функциональные воэможности.Цель изобретения - Расширение функциональных возможностей - дости" гается благодаря тсиу, что в устройство для контроля интегральных микросхем, содержащее одноконтактный зонд, соединяемый с выводом контролируемой микросхемы, эталонную микросхему,. блок сравнения и индикатор исправности, введ 6 ны блок памяти и коммутатор, причем. вход коммутатора соединен с одноконтактньм зондсм, а его выходы соединены со входами блока памяти, выходы которого соединены с соответствующими входами блока сравнения и эталонной микросхемы, выходы которой соединены с соответствующими входами блока сравнения, а выходы последнего708269 Формула изобретения ЦНИИП ираж каз 8478/4 Подписное связаны со входом индикатора исправности.На чертеже прив едена структурнаяэлектрическая схема устройства,Установка тестового контроля 1 задает входные воздействия в виде двоичных кодов на входы контролируемогоцифрового узла 2 и производит поканальное сравнение ответных реакцийузла 2 с заранее известными наборамидвоичных кодов.Сигналы, поступающие. на входыконтролируемой микросхемы 3 и снимаемые с ее выходов, при помощи одноконтактного зонда и коммутатора 4записываются последовательно в блокпамяти 5.Запись информации в блок памяти 5происходит в процессе прохождениятестовой программы для контроля цифрового узла 2. За каждый полный циклпрохождения программы в блок памятизаписывается информация с одного вывода контролируемой микросхемы 3,После записи всех двоичных последовательностей со входов и выходовконтролируемой микросхемы 3 происходит считывание информации из блокапамяти 5, причем информация, соответствующая выходным каналам интегральной микросхемы 3, подается навходы эталонной микросхемы б и блокасравнения 7. Ответнйе сигналы с эталонной микросхемы б поступают на соответствующие входы блока сравнения7. По результатам сравнения выходныхсигналов эталонной микросхемы б исигналов, записанных в блок памяти 5с выходов контролируемой микросхемы3, делается вывод о правильностифункционирования контролируемой микросхемы 3,Результаты поканального сравнениявыводятся на индикатор исправности 8. Предлагаемое устройство обеспечивает возможность диагностики интегральных микросхем путем записи информации в блок памяти через одно- контактный игольчатый зонд со всех 5 ее выводов в трудно,.оступных местахи в узлах, покрытых защитным слоем лака. Положительным эффектом предлагаемого устройства является возможность диагностирования интегральных микросхем в условиях, где применение группового контактного зонда исключено 1 при этом не требуется привлечения 15высококвалифицированного персонала,Устройство для контроля интеграль 20 ных микросхем, содержащее одноконтактный зонд, соединяемый с выводомконтролируемой микросхемы, эталоннуюмикросхему, блок сравнения и индикатор исправности, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью расширенияфункциональных возможностей, в неговведены блок памяти и коммутатор,причем вход коммутатора соединен содноконтактным зондом, а его выходысоединены со входами блока памяти,выходы которого соединены с соответствующими входами блока сравнения иэталонной микросхемы, выходы которойсоединены со входом индикатора ис прав ности ф Источники информации,.принятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССРР 441532 кл, 6 01 В 31/28, 1974.40 2. Авторское свидетельство СССРР 483633, кл. 0 01 В 31/28, 1975. Филиал ППП Патент;г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Смотреть

Заявка

2633413, 26.06.1978

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-1586

НИКОЛАЕВ ЕЛИЗАР ИЛЬИЧ, ХРАПКО ЕФИМ ЗИНЬДЕЛЕВИЧ, ГОРОХОВ АЛЕКСАНДР ВИКТОРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 31/303

Метки: интегральных, микросхем

Опубликовано: 05.01.1980

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-708269-ustrojjstvo-dlya-kontrolya-integralnykh-mikroskhem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для контроля интегральных микросхем</a>

Похожие патенты