Устройство для испытания интегральных схем

(23) Приоритет Опубликовано 15.05.80. бюллетень18 по делам изооретенийи открытийДата опубликования описания 18,05.80(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИСПЫТАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ1Изобретение касается испыгания ин;тегральных микросхем на воздействие климатических и электрических нагрузок, и может быть применено на автоматических и технологических линиях при массовом производстве интегральных схем.Известно устройство для испытания интегральных схем, содержащее корпус с подвижно закрепленными гребенками с установленными в них пружинными контако тами и неподвижное основание с контактами 111Однако такое устройство не обеспечивает надежной работы в условиях повышенных температур.15Известно также устройство для испытания интегральных схем, содержащее корпус с подвижно закрепленными гребенками с размещенными в них пружинными контактами, неподвижное основание с контактами, планки с направляющими парами и прижимную крьыку 121Недостатком этого устройства является невозможность испьгтания интегоаль,2ных схем различных типоразмеров безизменения конструкции корпуса устройства,Цель изобретения - повышение надежности контактирования и расширение функциональных воэможностей - достигаетсятем, что предлагаемое устройство дляиспытания интегральных схем снабженоповоротными крышками с размещеннымив них пружинными контактами, установленными с возможностью взаимодействияс пружинными контактами подвижнойгребенки, а планки с направляющими пазами закреплены на неподвижном основании с возможностью перемещения.На фиг. 1 изображено предлагаемоеустройство, общий вид; на фиг. 2 - разрез А-А на фиг. 3; на фиг. 3, - устройство без крышки, вид сверху.В корпусе 1 размещены подвижныегребенки 2 с пружинными контактами 3,нагреватель 4 с медной теплопередаюшейпластиной 5, температурные датчики 6и 7 задания и контроля температуры.Устройство для испытания интегральных схем, содержащее корпус с подвижно закрепленными гребенками с размещенными в них пружинными контактами, неподвижное основание с контактами, планки с направляющими пазами и прижимную крышку отличающееся тем 55что, с целью повышения надежности контактирования и расширения функциональных воэможнос;тей, оно снабжено поворотными крь 1 шками с размещенными в 3Вверху находится прижимная крышка 8 степлоизолированным слоем и аналогичнойтеплопередающей пластиной. Выводыиспытуемой микросхемы 9 находятся внаправляющих пазах подвижных планок10 и 11 на встроенных в них контактах12. В верхней части платы находятсяповоротные крышки 13 с пружиннымиконтактами 14 для правой планки и 15для левой планки, число которых соответствует количеству выводов испытуемыхИС. Для перемещения левой и правойпланок с направляющими пазами используются пазы 16, 17, Для прижатия по"воротных крышек используется защелка18 и уплотнительная резиновая прокладка19 для плотной посадки крышки 8, Стопорные винты обозначены позицией 20,контактные выводы - 21 и оси - 22.Устройство работает следующим об- Юразом,Интегральные схемы укладываютсявыводами в направляющие пазы подвижных планок 10 и 11 на контакты 12, Взависимости от ширины корпуса расстояние между подвижными планками регулируется путем перемещения их по направляющим пазам 16 и 17 и стопоритсявинтами 20, Затем спускают вниз подвижные гребенки 2 с пружинными контактаЭОми 3, которые выходят из зацепления сконтактами 14 и 15 и, повернув крьпыки13 вокруг осей 22, укладывают испытуемые интегральные схемы своими выводами на контактах 12, обеспечивая пер 35вое контактирование. Крышки 13 закрывают на защелки 18, и пружинные контакты 14 и 15, вмонтированные в поворотные крышки 13 прижимают выводы ис40,пйтуемых микросхем к контактам 12подвижных планок 10 и 11. Затем поднимают вверх гребенку 2 и контакты 3,которые своими торцами поджимаютСя кпружинным контактам 14 и 15, обеспечи 45вая этим самым второе контактирование.Затем крышка 8 закрывается и выводыот пружинных контактов 3 и выводы 21от контактов 12 образуют линию дляпроверки двойногб контактирования откаждого вывода испытуемой микросхемы, При закрытии крышки 8 она дополнительно поджимает поворотйые крышки1,3 и их контакты 14 и 15 к выводамиспытуемых ИС. Далее устройство подиючается через разъем к внешнемуустройству регулирования и поддержаниятемпературы. Электрический испытательный режим на испытуемые микросхемы 334задается через контакт 3 и вывод 21 и, .таким образом, интегральные схемыпроверяются на безотказность, долговечность и т.п.При измерении статических или динамических параметров электрический испытательный режим снимается, а температурный режим остается без изменения,Температура во внутреннем объеме термостатируюшего устройства регулируетсяот + 40 до +150 С и более. Это осуо оществляется за счет нагревателей 4 идатчиков задания температуры 6, контроль температуры осуществляется датчиком 7, медная теплопроводящая пластина 5 служит для выравнивания температуры в полезном объеме термостатирующего устройства,Перед измерением статических параметров исследуемых микросхем проверяется наличие контакта, после чего измерительная головка контрольно-измерительного прибора устанавливается непосредственно на выводы 21, идущие отвыводов первой микросхемы, После замера параметров аналогичная операция повторяется со всеми последующими микросхемами, находящимися внутри термостатируюшего устройства. При измерениидинамических параметров свыше 1 мГцподвижные гребенки 2 после проверкиналичия контакта опускаются вниз, темсамым, исключается дополнительная емкость,Устройство позволяет испытывать все типы схем с планарными выводами с шагом 1,25 на теплоустойчивость, надежность, а также при конструктивных и параметрических испытаниях в условиях повышенных температур и электрических нагрузок, используя при этом только один тип термостатируюшего устройства. Формула изобретения5 734 них пружинными контактами, установленными с возможностью взаимодействия с пружинными контактами подвижной гребенки, а планки с направляющими паза- . ми закреплены на основании с возможностью перемещения. 833б Источники информации,принятые во внимание при экспертизе 1, Авторское свидетельство СССР% 479274, кл. Н 05 К 7/12, 1974. 2. Авторское свидетельство по заявке М 2385730, от 19,07,76.734833 Составитель О. Кудрявцеваактор Н, Каменская Техред О. Андрейко Коррект Скворпова 30 иал ППП Патент, г Ужгород ул Проек Заказ 2099/55НИИПИпо делам Тираж 84 Подписноеударственного комитета СССРизобретений и открылийква, Ж:35, Раушская иаб., д. 4/5