G01B 9/02 — интерферометры

Номер патента: 554466

Опубликовано: 15.04.1977

Автор: Гончаров

МПК: G01B 9/02

Метки: движущихся, измеритель, размеров, частиц

...Измеритель содержит исследуемый объемс источником монохроматического света 1,интерферометр Фабри-Перо 2, образованныйполупрозрачным покрытием плоских поверхностей линз и дистанционного кольца 4, дп 25 афрагму 5 и фотоприемник б, подключенныйк регистрирующему устройству 7.Устройство работает следующим образом.Излучение, рассеянное частицей в исследуемом объеме 1, заполняет зрачск линзы 2 и30 параллельными пучками проходит через ип554466 Формула изобретения Составитель А, МедведевТекред М. Семенов Корректор Л, Денискина Редактор И. Шейкин Заказ 978/10 Изд. Кв 385 Тираж 904 Подписное ЦНИИПИ Государствеггггого комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушскаи наб., д. 4/5Тггпографггн, пр,...

Номер патента: 564519

Опубликовано: 05.07.1977

Автор: Уверский

МПК: G01B 9/02

Метки: линейных, объектов, перемещений, поверяемых

...зеркала 8 и 10,Наблюдательная ветвь интерферометра содержит объектив 13, призму 14 двойногоизображения,экран со шкалой 15, эерка 5ло 16, Схема отсчета (фиг.2) содержитсчетчик 17 полос, фотоприемники 18 ипризму 19. Счетчик снабжен приспособлением для программирования,Работает устройство следующим образом,Пучок лучей от источников света 1 или2, проходя обьектив коллиметра, призму 5и, когда требуется, светофильтр 6, падаетна зеркало 7, разделяется на два пучка,один из которых направляется на неподвижное зеркало 8, а другой , пройдя компенса,тор 9, - на подвижное зеркало 10, закрепленное на измерительном стержне 11. Обазеркала частично закрыты непрозрачнымиширмами 12. После отражения от зеркал8 и 10 пучки лучей, частично...

Номер патента: 564520

Опубликовано: 05.07.1977

Авторы: Зверев, Кирилловский, Орлов, Родионов, Сокольский

МПК: G01B 9/02

Метки: вогнутых, интерферометр, поверхностей, погрешностей, сферических, формы

...линзы, которая переноситизображение интерференционной картины в плоскость наблюдения 2, где интерференционная картина анализируется.Работает устройство следующим образом. Свет иэ осветителя 1 проектируется а точку О и далее, проходя объектив 2, нв, рассеивающую пластинку 3, В каждой точке пластинки " происходит разделение светового .луча на две составляющие: нерассеяннуюстроящую изображение источника О в точ-, ке О, и рассеянную ЕЕ, освешаюшую контролируемую поверхность зеркала 4 в любой точке, в том числе и в точке К. Точка 0 находитя в вершине контролируемой псверхности зеркала 4, а центр рассеивающей пластинки 3 находится на оптической оси контролируемой поверхности и совмещен с центром ее кривизны. (Отражение без рассеяния...

Номер патента: 567947

Опубликовано: 05.08.1977

Авторы: Горшков, Кряхтунов, Лозбенев, Максимова, Харионов

МПК: G01B 11/255, G01B 9/02

Метки: вогнутых, кривизны, поверхностей, радиуса

...интерферещионных колец иполе зрения.Из зависимостиг2 = 1 Ягде- величина смешения зеркала;У - зонаповерхности (пол= зренияинтерферометра)М - радиус контролируемой поверхности,К - количество интерференционныхколец в поле зренйя;Л - алина волны света,определяют радиус кривизны поверхности.На схеме показаны: точечный источниксвета 1, зеркальный интерферометр сдвига2, светоделитель 3, зеркала 4 и 5 интерферометра, контролируемая поверхность 6,эталонная линза 7,Способ осуществляется следующим образом, 25Световой пучок, отраженный от контролируемой поверхности 6, направляют в зеркальный интерферометр сдвига 2. Поворотомодного иэ .зеркал интерферометра, например5, осуществляют боковой сдвиг волновогофронта, отраженного от зеркала 4, В...

Номер патента: 568838

Опубликовано: 15.08.1977

Авторы: Олейник, Хайрулина, Чайковский

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, размерам, распределения, функции, частиц

...измерении размеров частиц; (Ъ(а) ) - средняяЦ скорость движения частиц радиуса а; - . -- относительное разрешение спектроанализа тора.Функцию 1(а) определяют, исходя из условий эксперимента. Для случая разделения частиц по скоростям посредством наложения внешнего силового поля: где Р (а) - сила, действующая на частицу радиуса а; 5 - поперечное сечение частицы; о - ее плотность; С - коэффициент сопротивления,Когда разделение частиц по скоростям производится посредством создания градиента скорости потока, расчет Р(а) ароводят, исходя из уравнения движения частиц в турбулентных потоках. Если о о, (о, - плотность среды), оно имеет следующий простой вид: где У, - проеиция скорости потока на ось х: 11,. - проекция скорости частицы радиуса а...

Номер патента: 569844

Опубликовано: 25.08.1977

Авторы: Архипов, Шаров

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометра, настройки, сканирующего

...и выработки команды для срабатывания муфтыпереключения редуктора.ЩИЙОДа,при перехо.де из режима настройки в режим юстировки,Использование устройства позволяет автоматизировать процесс настройки интерферометра в автономных условиях и использовать его в быстросканирующих Фурье спектрометрах, где канал монохроматическогоизлучения является неотъемлемой их частью. 10На чертеже приведена структурная схема устройства для настройки сканирующего интерферометра.Устройство содержит сканирующий интерферометр .1, канал монохроматического изл 1-1 чения 2, приемно-усилительнь,й тракт 3 ка- нала монохроматического излучения, выпрямвтзльный блок 4, управляемый аналого-циф ровой преобразователь 5, блок 6 изменения величины шага двигателей и...

Номер патента: 569845

Опубликовано: 25.08.1977

Авторы: Королев, Меньшикова

МПК: G01B 9/02

Метки: аберраций, волновых, дифракционной, изображения, интерферометр, качества, оптических, систем, точке

...установлена линза 15 и вин товой окулярный микрометр 16.30Предлагаемый интерферометр работает следующим образом.На вогнутой алюминированной поверхнос ти зеркала 5 выполнено дифракционное от верстие, которое освещено через линзу 2 сфокусированным плоскополяризованным пуч ком света из оптического квантового генератора 1 непрерывного действия. Сферическая световая волна, возникающая на дифракционном отверстии, распространяется в боль с) шом телесном угле и попадает в объектив 3 коллиматора и в объектив. 11 системы не блюдения. После объектива 3 волна прохо дит через 1 иафрагму 4 и плоскопараллельную пластинку 7, вырезанную из кристаллического кварца и имеющую разность хода (2 + 1), Размер диафрагмы 4 равен диа.Лметру зрачка...

Номер патента: 570768

Опубликовано: 30.08.1977

Авторы: Брикс, Волкова

МПК: G01B 9/02

Метки: абсолютного, интерференционный, пластин, плоскопараллельных, показателя, преломления

...предлагаемогоспособа показано на чертеже,Устройство содержит спектральную лампу10 1, конденсор 2, объектив коллиматора 3, интерференционный фильтр 4, плоскопараллельную пластину 5 из исследуемого вещества,объектив б, фотодиод 7, электронное регистрирующее устройство 8.15 Покрытую с двух сторон полупрозрачнымпокрытием плоскопараллельную пластину изисследуемого вещества вводят в пучок лучеймонохроматического света, выходящий из осветителя, состоящего из спектральной лампы,конденсора, объектива коллиматора и интерференционного фильтра. С помощью объектива на фотодиоде получают интерференционную картину многолучевого типа. Сигнал фотодпода анализируют электронным регистри 25 рующим устройством 8 для определения дробной части порядка...

Номер патента: 573708

Опубликовано: 25.09.1977

Автор: Ковалев

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевого, имитатор, интерферометра, модуляционного, работы

...своимвыходом соединен электрически со вто"рым выходом сумматора 4.Устройство работает следующим образом.С балансных выходов задающего генератора 1 сигналы Ц=Ц Мой 1 и Ц=-Ы, Ялй 1подаются на балансные входы синусйокосинусного преобразователя 2, на выходах которого получают сигналы1) =ЦМа ЗИ И 1 И Ц=17 сод(р эи а 1,где- угол поворота ротора синусно-косинусного преобразователя. Частота сигнала с косинусного выхода преобразователя удваивается с помощью удвоителя 3, на выходе которого появляется сигнал 0:Осозу сов Лой. Удвоитель частоты может быть выполнен в виде фазочувствительного выпрямителя без сглаживающего фильтра на выходе. В сумматоре 4 30происходит суммирование сигналов 0=0 кхзпу МоИ 1 с синусного выхода синуснокосинусного механизма...

Номер патента: 574604

Опубликовано: 30.09.1977

Авторы: Герловин, Филиппов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: детали, поверхности, полированой, сферической, формы

...интерференционной картины, по которому судят о форме детали,Повышение точности контроля обеспечивается за счет того, что, во-первых, регистрируется не форма интерфервнционных полос, зависящая также и от качества других деталей итерферометра, а изме)ение полос, зависящее только от формы контролируемой поверхности, и, во-вторых, схема не трес)уст перенастройки в процессе контроля. Упропсинс контроля обеспечивается отсутствием измерения и построения функций волновой аберрации,На чертеже приведено схематическое изображение устройства для осуществления предлагаемого способа контроля формы детали, а именно полусферической линзы, являющейся заготовкой для зеркал микроинтерферометров.Устройство содержит интерферометр 1, который включает в себя...

Номер патента: 575474

Опубликовано: 05.10.1977

Авторы: Захарченко, Коломиец

МПК: G01B 9/02

Метки: градиентов, показателя, преломления

...интерферометр с числом отражений лучей одинаковой четности блок ре575474 чЫ т) ЬА= - рси по х луча. Составитель А. МТехред И, Климка едев редакторЗаказ 401 орректор, .М, Не ванова ЦНИИ Тираж 907 Государстве одпис кое Совета Минитров ССС ого комитет по де 5, Москва, м изобретении и открыти К, Раушская наб., д,5 илнал ППП Патент", г. Ужгород, ул. Про тная,гистрации ширины интерференционных полос, выполненный в виде диссектора с частотомером, работающим а режиме измерении периода, и узел управления, синхронизируюший работу указанного блока регистрации.На чертеже показана блок-схема предлагаемого устройства.Устройство содержит источник света 1, интерферометр 2 с числом отражений лучей одинаковой четности, например типа Жаме на,...

Номер патента: 577396

Опубликовано: 25.10.1977

Авторы: Кадыров, Скоков

МПК: G01B 9/02

Метки: двухканальный, интерферометр, многолучевой

...13, регулируемые ,шторки 1 4.Оптические элементы 5, 7, 9 формируют канал сравнения 1, а элементы 5, 8 - канал исследования П . Сосуд с исследуе мой средой помещен внутри интерферометра Фабри-Перо, установленного в канале ППоток излучения от источника света 1 направляется проекционной оптической системой 2-4 на полупрозрачное, зеркало 5, 15 разделяющее поток излучения на два канала: канал сравнения 1 и канал исследования П .В каждом канале световые потоки, пройдя через эталон Фабри-Перо и отразившись от зеркал 7, 8, падают на соответствующие 20 грани призмы 10, сводящей оба световых потокав один, проходящий через камерный объектив 12 на фоторегистрирующее устройство 13.В поле зрения фоторегистрируюшего уст 25 ройства 13 наблюдаются...

Номер патента: 577397

Опубликовано: 25.10.1977

Автор: Лапшин

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевой, фурье-спектрометр

...в точках О и О на осиинтерферометра, из подвижного кольцевогоплоского зеркала 3, обе поверхности которого являются отражающими, из светоделительного элемента 4, установленного на 10оси на одинаковом расстоянии от точек Ои О. Исследуемый источник излучения (идиего изображение) находится в точке Оа приемник помещается в точке О. Расстояние между зеркалами 1 и 2 меньше их радиуса кривизны, а светодедитедьный элементразмещен симметрично относительно их раэнесенных фокусов,Устройство работает следующим образом.Расходящийся пучок излучения точечного 0источника, находящегося в точке О падаетпа светоделительный элемент 4, где расщепляется на два когерентных пучка: один, прходящий в сторону зеркала 1, и второй, .отраженный в сторону...

Номер патента: 578562

Опубликовано: 30.10.1977

Авторы: Бутусов, Ермакова

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, кваз, плоских, поверхностей, прогибов

...функции формирователя наклонного освещения детали, свстоделителя, совместителя интерферирующих световых лучей и держателя детали.Предлагаемый интсрферомстр работает следующим образом.Деталь 5 располагается на гипотенузной грани призмы 4 контролируемой поверхностью вниз. Катетная грань призмы освещается плоской свстовой волной, причем угол падения О на эту грань выбирается с помощью зеркала 3 таким образом, что на гипотенузную грань призмы световая волна падает под углом, близким к углу полного внутреннего отражения. На гппотенузной грани призмы срормпруотся два световых луча: один отражается от границы раздела стскло-воздух вФормула изобретения 2 Составитель В, Лобзова Техред И, Михайлова Рсдактор Т. Морозова Корректор Л. Котова...

Номер патента: 579537

Опубликовано: 05.11.1977

Авторы: Коваль, Колпаков, Кучин

МПК: G01B 9/02

Метки: микроинтерферометр

...2 смеханизмом 3 фокусировки и интерферен ционную пластину 4.Интерференционная пластина 4 сравнения через держатель 5 укреплена наплоской пружине 6 с возможностью разворота вокруг оси, перпендикулярной 30 плоскости чертежа и проходящей черезобъектив 10. Второй конец пружины 6 закреплен с цилиндрическим наконечником 7 ось которого А-А лежит в рабо чей плоскости Б интерференционной пластины 4 и перпендикулярна ее рабо чему ребру, проходящему через точку К перпендикулярно плоскости чертежа. Ось наконечника 7 и подшипник 8 способствуют развороту интерференционной пластины 4 вокруг оси А-А до совмещения ребра с плоскостью исследуемой детали 9, Это, а также выполнение интерференционной пластины в виде многоугольника позволяют...

Номер патента: 587320

Опубликовано: 05.01.1978

Авторы: Голод, Любомудров, Скворцов, Сойту, Ясицкий

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевой, интерферометр, объекта, перемещений

...двух одинаковых587320 Составитель Л. Лобзова Техред В. Рыбакова Корректор Е. Осипова Редактор Е. Месропова Заказ 2352/17 Изд.600 Тираж 681 ПодписиоеНПО Поиск Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий113035, Москва, 7 К, Раушская иаб., д, 4/5 Типография, пр, Сапунова, 2 противоположно ориентированных линзовых объективов и двояковогнутой линзы с отражающими поверхностями и радиусами, равными по величине фокусным расстояниям объективов, а призменный блок выполнен с нечетным числом отражений,На чертеже приведена принципиальная оптическая схема предлагаемого интерферометра.Интерферометр содержит источник 1 све та, например лазер, светоделитель 2, призменный блок 3, имеющий нечетное число отражений, подвижный оптический...

Номер патента: 503429

Опубликовано: 05.03.1978

Авторы: Зелинский, Черных

МПК: G01B 9/02

Метки: голографический, интерферометр, исследования, объектов, трехмерных, фазовых

...пленки 19,ф когерентное излучение лазера 1 прнпомощи светодепительной пластины 2 делится на два ауока, один из которыхЖс выполняет роль сигнального, второй чо является опорным пучком.йрнф помощи систем плоских зеркал 3-5 н6-10 пучки %с и Фо направляютсяна регистрирующую среду 15 под углоооЭ друг к другу, Отрицательные линзы 11 и 12 Формируют расходящиеся световые пучки Ма н Фс . Пучок %Онепосредственно освещает регистрирующую среду 15, Пучок ЧЧс, освещает диффузный .рассеиватель 13. Диффузный рассеиватель 13 выполнен в виде поверхности вращения второго порядка, 5 например в форме полуцилиндра, полусФеры и т.д., вогнутостью обращенной к объекту, и позволяет формировать световые лучи в диапазоне углов 0-180, поскольку...

Номер патента: 444473

Опубликовано: 25.03.1978

Авторы: Белозеров, Черных

МПК: G01B 9/02

Метки: голографический, интерферометр

...зеркала 4,5, регистрирующее устройстно б, плоские зеркала 7,8, возвращающие волны на регистрирующую среду, фазовый объект 9, установленный в одной из ветвей инзерферометра послд регистрирующей среды.Световой пучок от ОКГ 1 коллимирув ся оптической системой 2, разделяется снетоделительной пластиной 3 на два пучка, которые с помощью зеркал 4 и 5 направляются на регистрирующее устройство б и записывают голограмму опорного пучка. Пройдя сквозь регистрирующее устройство б, световые пучки с помощьюзеркал 7 и 8 возвращаются в регистрирую щее устройство. Один из пучков проходичскноэь исследуемый .фазовый обьект 9. Другой пучок используется н качествеформула изобретения ШИ Заказ 1450 аж 5 б 4 Подписное опорного. При интерференции этих пучков,в...

Номер патента: 599158

Опубликовано: 25.03.1978

Автор: Рачков

МПК: G01B 9/02

Метки: величины, интерференционный, линейных, перемещений, угловых

...зеркал 2, 3, зеркала 4, укрепленного на подвижном объекте, фотоприемника 5, пьезоэлектрических модуляторов 6, 7 и опорного низко-частотного генератора 8 модулирующих сигналов,Процесс измерения величины линейныхи угловых перемещений заключается в следуюшем,Монохроматическое излучение источника1 направляют в интерферометр, модулируютего и разделяют полупрозрачным зеркалом2 на опорное и измерительное излучение.Измерительное излучение направляют к зеркалу 4, закрепленному на объекте. измерения.Отразившееся от зеркала 4 и затем от зеркала 2 измерительное излучение попадаетна фотоприемник 5, с помощью которого, чпполучая интерференционную картину, дудятоб измеряемой величине. Опорное излучение полупрозрачным зеркалом 2 направляют...

Номер патента: 603840

Опубликовано: 25.04.1978

Авторы: Бубис, Кузнецов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр

...ввиде прямоугольных призм 6, 7 и скпеенойс одним иэ них плосковьшуклой линзы 8, которая образует эталонный блок, телескопическую систему 9, дополнительныи светоделительный элемент 10, окуляр 11, а такжеплоское эеркапо 12, которое устанавливаютвместо допопнительного светоделительног оэлемента 10 при работе интерферометра,Работает интерферометр следующимобразом, 25Пучок света от монохроматического исзэчника 1 излучения после отражения от концевых плоских зеркал 2, 3 преобразуетсяотражательной линзой 4 в расходящийсяисходящий из задней предметной точки мик- ЗО.рообъектива 5, Микрообъектив создаетфточечноеизображение О источника светав. передней предметной точке, откуда лучипо нормалям падают на выпуклую поверхностьплоско выпуклой линзы...

Номер патента: 606097

Опубликовано: 05.05.1978

Авторы: Дубков, Киселев

МПК: G01B 9/02

Метки: датчик, интерференционный, линейного, перемещения

...числу. Огибающая становленныа акой инт7разностью хлятора спекния по волн лиэким к дя интерферлинейногосвета), с све ной мод луч ному иэобреционный датремещения ержащий по Изобретение относится кизмерительной технике и моиспользованО в частности дгических целей в лабораторрийных фурье спектрометрахционных измерителях линейнщений и вибраций.Известны интерференционные дконтроля линейного перемещения,щие для контроля за прохождениеремещающегося объекта через опрную точку в исследуемом интервалремещений и содержащие оптическучасть ) 11.В момент прохожденируемую точку оптическавырабатывает оптическибающая которого имеетЭтот максимум служитв электрической части енционные датчики контроля ремещения нашли широкое фурье спектрометрах, где...

Номер патента: 545170

Опубликовано: 05.06.1978

Автор: Мустафина

МПК: G01B 9/02

Метки: голографических, интерферограмм

...к тины (1 .Недостаток этих способов заключается в их невысокой чувствительности,то затрудняет исследование шаговыхптических неоднородностей.Для повышения чувствительности голографических интерфрограмм применяютизвестный способ 2, заключающийсяв нелинейной регистрации голограммволнового фронта, последующем восстановлении его во втором или высшемпорядке дифракции, наложении его наволновой фронт сравнения, восстановленный по голограмме в том же порядкедифракции, но с обратным знаком. Этотспособ позволяет повысить чувствительность в 2раз (п - порядок дифракции), Недостатком способа являетсяотносительно незначительное увеличение чувствительности,.ен 1 но- :.: екал 58 блн Отекл "1 ЭЛ з545170 15 Составитель В. Мещанкин Редактор П....

Номер патента: 619787

Опубликовано: 15.08.1978

Авторы: Андреева, Арлов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, переменного, поляризационный, сдвига

...на 90 относительно двух других и установлена в плоскости промежуточного иэоб.ражения объекта.В такой схеме величина сдвига изображений определяется параметрами и разностью расстояний первыхпризм от плоскости промежуточиэображения, а ширина полос619787 Формула изобретения оставитель Л. ехред З.Чужию оваКорректор С. ГПодписноеИинистров СССРй Редактор И. МарголисЗаказ 4491/37ЦНИИПИ Государспо д113035 Иоск асиня Тираж 872твенного комитета Совеелам изобретений и отква ЖРаушская наб ы ПП Патент, г. Ужгород, ул, Проектная, 4 Филиал параметрами призмы, расположеннойв этой плоскости,На чертеже изображена принципиальная схема описываемого интерФерометра.Интерферометр содержит источник 1света, коллиматор 2, полупрозрачную 8пластину Э,...

Номер патента: 625132

Опубликовано: 25.09.1978

Авторы: Ермакова, Зверев, Королько, Родионов, Сокольский

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, исследования, качества, неоднородностей, оптических, прозрачных, элементов

...тием, в котором под углом 90 д к поверхности светоделителя помещеноплоское зеркало 4, блок фокусировки,выполненный в виде отражающего компонента 5 с положительной оптическойсилой, блок 6 наблюдения с регистратором (на Фиг. не показан) .Интерферометр работает совместнос исследуемой системой 7 и устанавливается(в зависимости от контролируемого объекта) либо в центре кривизны сферического зеркала, либо вФокусе исследуемого, объекта, установленного перед автоколлимационнойотражающей поверхностью,Принцип действия прибора представлен на примере исследования сферического зеркала. Свет от источника 1 16монохроматического света направляется на осветительную систему 2. Послевыхода из нее пучок светоделительной.пластийой 3 делится на дваопорный и...

Номер патента: 630523

Опубликовано: 30.10.1978

Авторы: Гершун, Егорова

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, спектрометр

...следующим юбразом.35 40 ПараллельнъЙ пучок коллимщрозаЛного объективом 1 авета разделяется на аветоделителе на два, падаюцие ооотзепспвенно па решетки б,и 7 примерио .по,нррмал. Поаколыу 1 решетии имеют аиммецричную нарезку штрхов, то в празые и левые их ,псрядки дифрагирует;римерно разное количество радиациями, причем в правые порядки дифрапирует рабочая длина,волны Л, а в левые - рабочая дляна волны Х 2. Плоские зеркала 8, 9 у 1 становлены таким образом, что угол падевия на них длин воли Х и л равен 45, вследствие чего указанные длины (зели точно следуют предписываемому схемой обратно-ируговому,ходу и,после зторичной:ифрищии и раком биьации на светоделителе интерферируют в напразле;нии выходного объекпив,а 2. Для тогда, чтобы длины...

Номер патента: 634092

Опубликовано: 25.11.1978

Авторы: Голобородько, Шульман

МПК: G01B 9/02

Метки: волн, длин, интерферометра, калибровки, сканирующего, шкалы

...необходимо делать очень большим. Целью изобретения является повышение точности калибровки и расширение области применения способа.Это достигается тем, что дополнительную интерференционную картину создают путем ввода контрольного светового луча между зеркалами калибруе634092 Формула изобретения Иссре 3 уеный сигнал Звйиньи сиен Фиг. гСоставитель Л.ЛобзоваТехред З.Фанта КОрректор Е.Пап ародная едакто П овета Моткрыти кая наб Тираж 830 нного комитетаам изобретений ква, Ж, Рауш писное истров аказ б 747/37 ЦНИИПИ Государств по дел 113035, Мод.4/5 Филиал ППП фПатентфф, г.ужгород, ул, Проектная,мого интерферометра и получения многократного отражения этого луча.На фиг.1 изображена оптическая схема, реализующая предлагаемый способ; на фиг.2...

Номер патента: 635395

Опубликовано: 30.11.1978

Автор: Комиссарук

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, поляризационный

...значительные углы наклона и45 тем самым расширяются возможности настройки интерферометра. Действие кристаллических пластпнск не зависит от величи 1 нысдвига, которая спределяется Основны 1 исветоделителями. Изготовление таких плас 50 тинок,гораздо проще, нежели изготовление1 пслярископа Савара илц призм . Волластона. 1 хогда пластинки 2 и 8 нормальны к гес. метрической оси пучка и призмы,3 и 7 занимают оптически сопряженные положения, в поле интерференции наолюдается нечно широкая полоса. Наклон пластинц 2 в результате поворота се на некоторь.: у-.ол вокруг оси, перпендикулярной ребрам х 11- ньев пр;зм З,и 7, вызывает двоснце пзсорэженля источника света в направлении ре. бер клиньев. Оптическая система 4 - 5 стра. ит два...

Номер патента: 641273

Опубликовано: 05.01.1979

Авторы: Архипов, Клементьев

МПК: G01B 9/02

Метки: зеркала, интерферометра, подвижного, привод

...йоскаа, Ж.35, Раув над ППП Патент, г. УжгоМелае Корректор Л. ВеседовскПодписноеСССРрытийб., д. 4/5Проектная, 4 Редактор В. СмирягннаЗаказ 7494/35 митета и отк скан и ражению между неподвижным 1 и подвиж. ным 2 зеркалами. Перемещение зеркала 2 линейно, параллельно самому себе и воз. вратно-поступательно осуществляется изменением разности хода интерфериру 1 О 1 цих пучков, т. е. Происходит сканирование, результатом которого является переменная интер. ференционная картина. При установке подвижного зеркала на подвижном штоке 3 такое перемещение происходит под действием привода 9, например линейного двигателя электродинамического типа. При наличии несоосности Или непараллельности установки мембран между зеркалами имеет место угол наклона,...

Номер патента: 642606

Опубликовано: 15.01.1979

Авторы: Бахрах, Липкин, Розиньков

МПК: G01B 9/02, G01N 21/88

Метки: дефектоскопии

...совмещают инфракрасное изображение с интерферограммой и по соответствию попей06 Фполем поверхностных смещений, зарегистрированным на интерферограмме и попем температур, зафиксированным на инфракрасном изображении.Испопьзование описываемого способа при расшиФровке лазерных интерферо грамм при неразрушиощем контропе материапов и издепий позвопит достоверно и нагпядно выявлять дефекты издепий, аномапии в химических и физических свойствах материапов и обнаруживать дефекты соединений различных материапов. деформации обнаружиыют дефекты изделия,Обнаружение дефектов происходитпутем сравнения понученных изображений в одной ппоскости и в одном масштабе. Йпя бездефектных издепий места локапизации понос на интерферограмме соответствуот...

Номер патента: 645020

Опубликовано: 30.01.1979

Автор: Попов

МПК: G01B 9/02

Метки: излучения, модуляции, оптического, параметров, угловой

...частоты сканирования и по их значениям находят параметры угловой модуляции.На чертеже изображено устройство для реализации способа.Устройство содержит светоделительные кубики 1 и 2, поворотную призму 3 с отражающим покрытием 4, держатель 5. призмы 3, установленный на пьезоэлементе 6, генератор периодических сигналов 7, фотоприемник 8, измеритель глубины модуляции 9 и диафрагму 10.Устройство работает следующим образом.Входное излучение подается на кубик 1 и делится на два луча, один из которых проходит кубик 1, отражательную призму 3 и поступает на кубик 2. Другой луч, отражаясь от кубика 1, также поступает на куЗаказ 2628/5 Изд.127 Тираж 865 Подписное НПО Государственного комитета СССР по делаМ изобретений и открытий 113035,...