G01B 9/02 — интерферометры
Устройство для стабилизации скорости перемещения каретки подвижного зеркала интерферометра
Номер патента: 954811
Опубликовано: 30.08.1982
Автор: Шаров
МПК: G01B 9/02
Метки: зеркала, интерферометра, каретки, перемещения, подвижного, скорости, стабилизации
...преобразователь, входкоторого соединен с выходом реверсив;-ого счет лтка и генератор импульсов,вт едены задающий регистр и функциональный преобразователь выход которОго соединен с приводом каретки подвижного зерквлв интерферометра, а входс выходом цифро-анвлогового преобразователя, при этом счетный вход реверсивного счетчика подключен к выходугенератора импульсов, установочныевход - к информационным выходам задающего регистра, авход управленияк выходу усилителя-формирователя контрольного интерферометра и управляющему входу пифро-аналогового преобразователя,30 35 40 45 50 55 ного счетчика 6 в аналоговый сигналрассогласования, который функциональнымпреобразоватепем 9 в соответствии сзаконом управления преобразуется в...
Устройство для контроля толщины полупрозрачных объектов
Номер патента: 956975
Опубликовано: 07.09.1982
Автор: Курбатов
МПК: G01B 9/02
Метки: объектов, полупрозрачных, толщины
...чертеже приведена схема устройства для контроля толщины полупрозрачных объектов. Устройство содержит источник 1 излучения, которыйустановлен перед зеркалом 2 с приводом 3, Объектив 4 установлен наФокусном расстоянии от зеркала 2перед диафрагмой 5 с приводом б.Объект 7 устанавливается эа диафрагЗ 0 мой 5 и зеркалом 8, эа которым в956975 диафрагмы, добиваются одинаковых показаний.Таким образом, снабжение устройства зеркалом, установленным с возможностью вращения, его размещение в 5 определенном месте и конкретное выполнение диафрагмы позволяет повысить точность контроля толщин. Формула изобретения фокусе объектива установлен приемник излучения, например фотоприемник 9У соединенный с входом счетчика 10 импульсов.Устройство работает...
Интерферометр для линейных измерений
Номер патента: 962762
Опубликовано: 30.09.1982
Авторы: Бржезинский, Добрего, Цейтлин, Шишигин
МПК: G01B 9/02
Метки: измерений, интерферометр, линейных
...с Фоточувствительным устрой.ством 10 и переключаемой диафрагмой фв3. Измерительный пьеэокерамическийэлемент 5 связан электрически с фазовым детектором 11 центра интерференционной полосы на Фоточувствительном устройстве 1 О и ЗВИ 15, а меха" ффнически - через соединительную муфту 16 с дополнительным, модулируемым напряжением питания от генера 2 4тора 1, и через блок 14 обратнойсвязи по детектированию центра интерФеренционной полосы на втором фоточувствительном устройстве 12 компенсационным пьезокерамическим элементом 8, на котором закреплено дополнительное опорное зеркало 9, связанное оптически через разделительную пластину 2 с указанным фоточувствительным устройством 12 и однойиз поверхностей объекта 18 измерения или установочной базы...
Способ определения корреляционной функции лазерного излучения и устройство для его осуществления
Номер патента: 921304
Опубликовано: 15.10.1982
Авторы: Басов, Зубарев, Миронов, Михайлов, Окулов
МПК: G01B 9/02
Метки: излучения, корреляционной, лазерного, функции
...7, подвижное зеркало 8 и калориметры 9 и 10, При этом лазер 1, кювета 2 с нелинейной средой 3 и зеркало 4 образуют обращающий волновой фронт отражателя 11. Входящие и выходящие из кюветы лучи одномодового лазера 1 обозначены соответственно через Е, и Е а аналогичные лучи исследуемого излучения обозначены соответственно через Ез, Е и Е, Е".Устройство работает следующим образом.Излучение Е, лазера 1 через боковые стенки кюветы 2, нелинейную среду 3 поступает на отражательное зеркало 4 и по тому же пути возвращается в кювету 2. От источника света 5 исследуемое излучение с волновым фронтом Е, через полупрозрачные зеркала 6 и 7 подается в кювету 2 и отражается от нее, образуя волну с обращенным волновым фронтом. Эта волна оказывается...
Устройство для автоматического измерения сдвига ахроматической полосы в интерферометрах
Номер патента: 972210
Опубликовано: 07.11.1982
Авторы: Бабенко, Глотов, Евтихиев, Левинсон
МПК: G01B 9/02
Метки: ахроматической, интерферометрах, полосы, сдвига
...импульсы с компаратора 9 поступают в цифровой процессор 4 на входе блока 13 коммутации. От переднего фронта каждого импульса компаратора 9 блок коммутации открывает ключ 16 и импульсы тактового генератора 14 через делитель 15 частоты на два поступают на суммирующий вход реверсивного счетчика 18. Задний фронт им 1 О 25 зо 35 4 О 45 пульса компаратора 9 через блок 13 коммутации закрывает ключ 16 и обнуляет число, записанное в реверсивном счетчике 18. Таким образом, в счетчике 18 в масштабе времени, задаваемом частотой тактового генератора 14, оказываются последовательно записанными половины длительностей полу- волн переменного сигнала. Прохождению через фотоприемник 2 ахроматической полосы соответствует максимум амплитуды переменного...
Устройство для контроля оптических поверхностей деталей
Номер патента: 974117
Опубликовано: 15.11.1982
Авторы: Голиков, Гурари, Прытков
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G02B 27/28 ...
Метки: оптических, поверхностей
...4 и 9 - параллельны.При такой ориентировке поляроидовчерез одно из отверстий диаФрагмыбв котором установлены поляроид7 и блок 8 вращения плоскости поляризации ) проходит только свет, отразившийся от рассеивателя 3, а свет,отраженный поверхностью детали 11,гасится. В то же время, через второеотверстие диафрагмы 6 проходит свет, 15отраженный как рассеивателем 3, таки деталью 11,Затем записывают на пространственном модуляторе 10 излучения голограмму контролируемой детали 11 в ее исходном положении. При записи голограммы опорным пучком является свет,прошедший через поляроид 7 и блок 8вращения плоскости поляризации, апредметным пучком - свет, прошедший 25через поляроид 9.После записи голограммы перемещаютдеталь 11 так, чтобы центр...
Интерферометр для контроля формы выпуклых сферических поверхностей крупногабаритных линз
Номер патента: 977942
Опубликовано: 30.11.1982
Авторы: Горшков, Лавритов, Пуряев, Фомин
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: выпуклых, интерферометр, крупногабаритных, линз, поверхностей, сферических, формы
...объектив 6, компенсатор 7, основную иммерсионную линзу 8, образованнуюжндкоетью,заполняющей простран Иство между контролируемой линзой 9 н ком-пенсатором 7,и эталонное сферическое зер. кало 10, дополнительную иммерсионную линзу 11, установленную между светоотделительным элементом 4 и компенсатором з . 7 и образованную жидкостью с показателем преломления; отличным от показателя преломления основной иммерсионной линзы 8,линзу 12 и иммерсионную камеру 13, Контролируемая линза 9 устанавливается ) 55 в верхней части иммерсионной камеры 13 таким образом, что ее контролируемая поверхность К концентрична эталонной поверхности Э эталонного сферического, зеркала 10, Линза 3.2 установлена в нижней час 40 ти имерсионной камеры 13 и в месте с...
Интерферометр для измерения углов поворота объекта
Номер патента: 983449
Опубликовано: 23.12.1982
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, объекта, поворота, углов
...светоделительной пластине 2 на пути 40 световых лучей 3 и 4 причем на пути отраженнбго луча 3 установлены последовательно зеркала 5 и б, а на пути проходящего луча 4 - зеркала б и 5, концевой отражатель отраженного 45 луча 3, выполненный, например, в виде плоского зеркала 8 и установленный за зеркалом б на выходе отраженного от этого зеркала отраженного луча 3, концевой отражатель проходящего луча 4, выполненный, например, в виде плоского зеркала 9 и установленный за зеркалом 5 на выходе отраженного от этого зеркала проходящего луча 4, и отсчетное устройство 10.Интерферометр работает следующим образом.Световой луч от источника 1 света.направляется на светоделительную пластину 2, которая формирует два световых луча - отраженный 3 и...
Интерферометр для измерения перемещений объекта
Номер патента: 983450
Опубликовано: 23.12.1982
Автор: Старков
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, объекта, перемещений
...4 жестко связаны между собой и с перемещающимся объектом и выполнены в виде прямоугольных параллелепипедов с тремя гладкими оптическими поверхностями а, Ь, с у светоделителя, и а(, Ь(, с у светосоединителя 4 с полупрозрычным отражающим покрытием на поверхностях Ь и Ь, .Полупрозрачные отражающие поверхноСти Ь и Ь( расположены параллельно друг другу и под углом 45 д к направлению перемещения объекта (направление перемещения измеряемого объекта на фиг. 1 указано двойной стрелкой под светоделителем 3) 50 55 60 На фиг. 1 изображена принципиаль- . ная схема интерферометра для измерения перемещений объекта; на фиг. 2 вид А на фиг,1, 35Интерферометр содержит последоваПрямоугольные параллелепипеды,образующие светоделитель 3 и...
Интерферометр для контроля формы поверхностей оптических деталей
Номер патента: 987378
Опубликовано: 07.01.1983
Автор: Комраков
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: интерферометр, оптических, поверхностей, формы
...(фиг, 3), отражающая поверхность зеркала 5 вогнутая сферическая, при контроле выпуклой гиперболической 50 поверхности (фиг. 2).Интерферометр работает следующим образом.Излучение лазера 1 проходит микро- объектив 2, светоделитель 3 и фокусируется объективом 4 в точку на поверхности со светоделительным покрытием центральной эоны зеркала 5. Часть излучения отражается светоделительным покрытием зеркала 5 в обратном направлении и представляет собой волновой фронт сравнения. Другая часть проходит светоделительное покрытие, отражается от контролируемой поверхности 7 и падает на зеркало 5 по нормалям к его отражающей поверхности. Отражающая поверхностьзеркала 5 возвращает излучение вновьна контролируемую поверхность 7, после отраженич...
Интерферометр для исследования прозрачных неоднородностей
Номер патента: 987379
Опубликовано: 07.01.1983
Автор: Борисов
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, исследования, неоднородностей, прозрачных
...выходе описывается полной периодической функцией. Подсчет показателя преломления производится по Формуле показатель преломления исследуемой среды в измеряемой области- дина волны источника света;показатель преломления окружающей среды;перемещение световода наодин период;- целое, кратное числу прохождений рабочего луча черезисследуемую среду. где и Озеркала 3, экран 4 с отверстием, фотоумножитель 5 и световод 6, способный с помощью перемещающегося устройства двигаться вдоль направления рабочего луча через исследуемый объект 7, Луч от когерентного источника 1 света, например лазера, раздваивается с помощью светоделительной пластины 2 на рабочий и опорный лучи. Система зеркал 3 за пределами рабочего пространства вновь сводит лучи вместе,...
Интерферометр для контроля качества оптических систем
Номер патента: 991150
Опубликовано: 23.01.1983
Автор: Кузнецов
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, качества, оптических, систем
...систему, состоящую из лазера 1, плоских зеркал 2 и3, телескопической системы 4 и микрообъектива 5, светоделительный блок 6, выполненный в виде двух призм 7 и 8 с наклеенными на их грани линзами 9 - 12 и эталонноесферическое зеркало 13 и расположенный вобратном ходе излучения за светоделительным блоком 6 регистратор 14 интерференционной картины,Светоделительная поверхность блока 6образована склеенными гранями призмы 7и 8. На грани, призмы 7 и 8 наклеены линзы 9 - 12 соответственно, Радиусы кривизнылинз выбраны так, что светоделительный блокпредставляет в двух взаимно перпендикулярных направлениях идентичные концентрическиеменисковые линзы, оптическая ось каждойиэ которых составляет угол 45 со светоделительной повсрхностью...
Интерферометр радиального сдвига
Номер патента: 991151
Опубликовано: 23.01.1983
Авторы: Ермакова, Лапо, Орлов, Сокольский
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, радиального, сдвига
...4 и 5 образуют телескопическую систему Галилея, афокусное расстояние отрицательного объектива 5 по абсолютной величине близко кфокусному расстоянию положительного объектива 4,Показаны также коллиматор 6, вспомогательный объектив 7, регистратор 8 интерференционной картины и контролируемая опти- э 5ческая система 9.Интерферометр работает следующим образом.Контролируемый волновой фронт падаетпа светоделительную пластину 1, которая делит его на два волновых фронта. Один изних направляется зеркалом 2 в положительный объектив 4, а второй - зеркалом 3в отрицательный объектив 5. Оба волновыхфронта проходят телескопическую системуГалилея, образованную объективами 4 и 535во встречных направлениях, отражаются оттглоских зеркал 2 и 3 соответственно,...
Интерферометр для измерения линейных перемещений
Номер патента: 991152
Опубликовано: 23.01.1983
Авторы: Зайцев, Зайцева, Зацман
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, линейных, перемещений
...излучениеобоих пучков по фазе.Один из пучков падает на стражатель 3, другой - на отражатель 4,после отражения от которых оба пуч"ка направляются в опорный и рабочийканалы, интерферируют друг с другоми поступают на чувствительные плошад ки фотоприемников 9 и 10фотоприемник 9 Формирует на своемвыходе электрический сигнал, частота которого зависит только от величинысдвига частот излучений пучков, выходящих из модуляторв 2, и являетсяопорной.фотоприемник 10 формирует на своем выходе электрический сигнал,частота которого зависит как от величины сдвига частот излучений пуч Зков, выходящих из модулятора 2,так иот скорости перемецения уголкового отражателя 7,устанавливаемого на измеряемом объекте.В результате этого частота сигнала на...
Устройство для измерения дробной части интерференционной полосы
Номер патента: 991153
Опубликовано: 23.01.1983
МПК: G01B 9/02
Метки: дробной, интерференционной, полосы, части
...свходом третьего счетчика 15, выходкоторогосоединен . с вторымвходом блока 18 сравнения, дополнительный вход второго счетчика17 подключен к выходу регистра 20памяти, управляющий вход которогоподключен к выходу второго формирователя б, а выход блока 18 сравнениясоединен с входами первого и второго счетчиков 15 и 17.Устройство работает следующим образом.Источник 1 монохроматического излучения с интерферометром 2 формирует интерференционную картину, которая преобразуется фотоприемником 4в электрический сигнал, При микроперемещении объекта 22, связанногос интерферометром 2, происходит смещение интерференционных полос интерФеренционной картины относительноФотоприемника 4,Одновременно происходит сканирование интерференционной...
Устройство для измерения перемещений объекта
Номер патента: 991154
Опубликовано: 23.01.1983
Авторы: Борисов, Осадчев, Погосов, Пьянков, Теричев, Тищенко
МПК: G01B 9/02
Метки: объекта, перемещений
...элемент 12 с электро- проводящей поверхностью, ориентиро" ванный паралелльно плоскости интерферометра, и пластину 13 иэ проводящего материала, один конец которой шарнирно связан с чувствительным элементом 12, а другой конец - с поверхностью планарного интерферометра 2 через скользящий шарнир (не показан).Устройство работает следующим образом.Оптическое излучение от источника 1 излучения с помощью узла 3 ввода излучения вводится в планарный волновод 4, разделяется светоделителем 5 на два луча, объединяемых на смесителе 8. С помощью узла 10 вывода991154 Формула изобретений ВНИИПИ Зак 07/54 Тираж 600 Подписное ППП ффПатентф, г.ужгород, ул.Проектная,4 Фили объединенный луч выводится из планарного волновода 4 и поступает на блок11...
Интерферометр для измерения больших перемещений
Номер патента: 993011
Опубликовано: 30.01.1983
Автор: Голубев
МПК: G01B 9/02
Метки: больших, интерферометр, перемещений
...полос прекращают (не выключая счетчика 8, чтобы сохранить сосчитанное число полос, а преградив путь световому потоку) и передвигают .камеру 4 вдоль линии измерения при неподвижном положении подвижного уголкового отражателя б до тех пор, пока он снова не займет исходное положение в камере 4. Затемопять перемещают подвижный уголковый отражатель б в неподвижной камере, возобновляя при этом счет полос тех пор, пока подвижный уголковыйотражатель б не пройдет всю измеряемую ди ст а н цию. На фиг. 1 изображена схема интерферометра для измерения больших перемещений, ца фиг. 2 - вариант конструк 40 ции вакуумной камеры с помещенным в цей подвижным уголковым отражателем.Ицтерферометр содержит ( фиг. 1) источик 1 света, светоделитель 2 для...
Спектрометр
Номер патента: 996858
Опубликовано: 15.02.1983
Автор: Розуванова
МПК: G01B 9/02
Метки: спектрометр
...1, модулятор 2, щель 3, зеркало коллиматорного объектива 4, дифракционную решетку 5, 3 996858клиновой интерферомвтр б, крышеобраэное зеркало 7, Фотоприемник 8.Спектрометр работает следующим образом.Излучение от источника 1 проходит через модулятор 2, щель 3 и с по мощью зеркала коллиматорного объек-. тива 4 направляется на дифракционную решетку 5. Дифракционная решетка разлагает излучение в спектр с разрешением В, затем излучение попадает на 10 многолучевой клиновой интерферометр б, который при толщине(15 где- длина дифракционной решетки;О - угловая дисперсия дифракЧционной решетки;20ина волны иссле емогодл дуизлучения,повышает разрешающую способностьустройства и она становится равнойй, 25 где М - коэффициент тонкости...
Интерферометр для контроля вогнутых цилиндрических поверхностей
Номер патента: 1000745
Опубликовано: 28.02.1983
Авторы: Духопел, Рассудова, Симоненко, Федина
МПК: G01B 9/02
Метки: вогнутых, интерферометр, поверхностей, цилиндрических
...число штрихов может достигать одной 45 с от ни или более .Наблюдательная система состоит иэ цилиндрической линзы 7 и объектива 8.Интерферометр работает следующим образом.Расширенный телескопической труб(кой 2 пучок от лаз ерного источ ника 1 света попадает на цилиндрическую линзу 3 и собирается ею в линию на узкой зеркальной полоске, нанесенной на первой поверхности плоско- параллельной пластины 4. После отражения от зеркальной полоски све товой пучок попадает на дополнительную цилиндрическую линзу 5, которая 6 О через интерференционную систему б направляет его в сторону контролируемой детали 9. При подготовке к проведению контроля деталь 9 устанавливаетя так, чтобы геометрическое 65 место центров кривизны проверяемойцилиндрической...
Двухлучевой интерферометр для измерения перемещений объектов
Номер патента: 1000746
Опубликовано: 28.02.1983
Авторы: Милосердин, Ремизов, Сизов
МПК: G01B 9/02
Метки: двухлучевой, интерферометр, объектов, перемещений
...перемецений объектов; на фиг. 2 - разрез А-А на фиг. 1.Двухлучевой интерферометр для . измерения перемещений объектов со держит монохроматический источник 1 света, узел разделения и рекомбинации опорного и основного пучков лучей, состоящий из плоских отклоняющих зеркал 2, 3, 4 и светоделительных пластин 5, б, 7, ближнюю к узлу разделения и рекомбинации двух пучков лучей систему неплоских отражателей с параллельным ходом лучей, состоящую из центрапьного зеркала 8 и главного вогнутого зеркала 9, выполненного в виде сегмента, симметричного относительно его диаметра, и дальнюю систему неплоаких отражателей, состояцую из главного вогнутого зеркала 10 и цент рального зеркала 11, Фотоприемники 12 для реверсивного счета интерференционных...
Интерферометр для измерения расстояний
Номер патента: 1000747
Опубликовано: 28.02.1983
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, расстояний
...часть света от лазера 1,выходящая в сторону противоположнуюизмеряемому расстоянию, отражаетсяот граней лазера и плоского зеркала11, выходит через грань лазера,обращенную в сторону измеряемогорасстояния, коллимируется коллимирующей оптической системой 2,"отражается от светоделителя 3 и поступает вветвь сраннейия интерферометра. Отражатель 5 возвращает падающий нанего пучок в обратном направлении, 40затем этот пучок проходит через снетоделитель 3 и поступает на регистратор 7 интерференционной картины. Примногократных прохождениях этого пучка между гранями лазера 1 и плоскимзеркалом 11 он последовательно коллимируется и фокусируется дополнительной коллимирующей системой 8 и получает дополнительную оптическую раз -ность хода в...
Устройство для контроля формы зеркал
Номер патента: 1002828
Опубликовано: 07.03.1983
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G02B 26/12 ...
...12установлена диафрагма 16, имеющаясвободу перемещения по двум направлениям в своей плоскости.Устройство работает следующимобразом,Лазер, образованный глухим плоским зеркалом 1, активным элементом2 и полупрозрачным зеркалом 3, генерирует в полосе усиления активногоэлемента 2 на частоте, определяемоймгновенным значением длины оптичес. кого резонатора и скоростью ее,изменения.При вращении барабана 5 уголковыеотражатели 4, поочередно попадающиев оптический тракт лазера, т.е. отрезок оптической оси лазера, заключенный между зеркалами 1 и 3, периодически изменяют длину оптического резонатора, вызывая тем самым частотную 1002828 4ъюдулвцию лазерного излучения по некоторому пилообразному закону (кривая 17 изменения частотной модуляциина...
Способ определения толщины оптически прозрачных слоев
Номер патента: 1002829
Опубликовано: 07.03.1983
Авторы: Бандура, Моисеенко, Пашкуденко, Прохоров, Чирков
МПК: G01B 9/02
Метки: оптически, прозрачных, слоев, толщины
...наредуцированной плоскости 13, и для еенаблюдения необходимо переместить фокус объектива 2 от поверхности слоя11 на расстояние, равноес 1о щ еигде д - вертикальное перемещение объектива 2 от появления системы а интерференционных полосдо системы б, мкм;д - геометрическая толщина слоя,мкм;и - показатель преломления слоя.50 д =с 1 лгде д - вертикальное перемещение объ-.2ектива 2 от а до с систем полос мкмд - геометрическая толщина слоя, 55мкм;и - показатель преломления слоя,Решая систему уравнений из двухуказанных соотношений. толщину слоя На фиг. 1 изображена принципиаль 45ная схема устройства, реализующеГопредлагаемый способ; на фиг. 2 вид интерференционной картины, записанный на самописце в виде эгектрических сигналов,Способ...
Устройство для измерения перемещений объекта
Номер патента: 1008615
Опубликовано: 30.03.1983
Автор: Старков
МПК: G01B 9/02
Метки: объекта, перемещений
...коллиматор 2, светоделитель .3, подвижный отражатель 4, две диафрагмы 5 и б и два Фотоприемника 7 и 8. Коллиматор 2 представляет собой телескоп с увеличением 5 (крат.) Светоделитель 3 выполнен в Форме прямоугольного параллелепипеда с четырьмя гладкими оптическими поверхностями а, в, с, й, с зеркальным покрытием на 3/4 поверхности входной грани а и полупрозрачнымпокрытием на половине поверхности выходйой грани с. Причем зеркальное покрытие в месте входа пучка отсутствует фиг. 3 ), а полупрозрачное покрытие в месте выхода пучка отсутствует (фиг.2, незаштрихованная часть ). Оптические грани параллелепипеда расположены под углом 45 к направлению перемещения объекта (не показан ), стрелка е. В качестве подвижного отражателя 4 используется...
Устройство для измерения дробной части интерференционной полосы
Номер патента: 1010454
Опубликовано: 07.04.1983
МПК: G01B 9/02
Метки: дробной, интерференционной, полосы, части
...блоками деления, входыкоторых подключены, соответственно к выходам первого и второго, третьего и четвертого полосовых фильтров, блоком сравнения, входы которого подключены к выходам второго и третьего полосовых фильтров, коммутатором, информационные входы которого подклюцены к выходам первого и второго бло ков деления, управляющий вход коммутатора подключен к выходу блока сравнения, а выход коммутатора соеди- нен с входом блока управления.На чертеже представлена функциональная схема устройства.Устройство для измерения дробной части интерференционной полосы содержит интерферометр 1 с элементом 2 сканирования, фотоприемник 3, генератор 4, управляемый делитель 5 напряжения, блок 6 отделения постоянной составляющей, фазометр 7, полосовые...
Устройство для измерения перемещений
Номер патента: 1017915
Опубликовано: 15.05.1983
МПК: G01B 9/02
Метки: перемещений
...ИОМИТЕТ ССОПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ(54) (57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЭИЕРЕНИЯ ПВРЕИЕЩЕНИй,содержащее двухчастотиы.источник излучения, ннтерферометртипа Иайкельсона, отражатели онорно-.го и измерительного иаеч которого фвынолнены в видв угоающщ отражателей, и анализатор и нриемник излу-.ченйя, иоследовательно установленныена аасоде иитереромвтра, б т лч а в щ:е е с я . тем, что, с. цвлью.новваення точност, оно снабженоиолуволноаой иластжной, установленной: в, олорйок нлече ннтерферометрана агути излучения от светоделителк отражателю, и четвертьвовновой о : иластиной, разйещвйной между светоавлителем й анализатором. Я1617915 Составитель В ПотаповРедактор О. Колесникова Техред В,далекорей Корректор А. ПовхЮ 4 В Ю Юе ю Ф ЮЮ Заказ...
Двухкоординатный интерферометр для измерения линейных перемещений
Номер патента: 1019233
Опубликовано: 23.05.1983
Авторы: Бондарев, Бржозовский, Игнатьев, Мартынов
МПК: G01B 9/02
Метки: двухкоординатный, интерферометр, линейных, перемещений
...Первыйблокопорный ) включает в себя опти"чески 1 связанные источник излучениямногомодовый лазер 1, модулятор 2,выполненный на основе вращающейсядифракционной решетки, отражатель 3,светоделительные пластины 1-6, призму 7, плоский отражатель 8, светоделительную пластину 9, фотоприемник 10, плоский отражатель 11, светоделительную пластину 12, Фотоприемник 13.Второй блок измерительный )оптически и электрически связанный с первымопорным ), включает светоделительные пластины 1 ч и 15, уголковые отражатели 16 и 17, Фотоприемник 18.Предлагаемый интерферометр работает следующим образом,Луч света от источника излучениямногомодового лазера 1 - проходитчерез модулятор 2, на выходе которо"го образуются лучи с различными час" тотами ы и щ -Я, где ы -...
Способ определения фазовых характеристик инфракрасного излучения
Номер патента: 1024700
Опубликовано: 23.06.1983
МПК: G01B 9/02
Метки: излучения, инфракрасного, фазовых, характеристик
...до 1 мм, обусловленный 30конечной величиной минимально возмож-ного диаметра пучка входного излученияи наличием сильных искажений волнового фронта за счет формирующей оптикииэ-заналичия аберраций. При этом в 35случае получения одного интерференционного кольца в пределах апертурыисследуемого излучения можно получитьинформацию только о величине среднего радиуса кривизны волнового Фронта,40а информация об искажении его полностью отсутствует.Цель изЬбретения - расширение диапазона измерений параметров оптического излучения источников с апертурой 45до 1 мм в инфракрасной области спектра.Поставленная цель достигается тем,что в способе определения фазовыххарактеристик инфракрасного излучения,основанном на делении входного излучения на две...
Поляризационный интерферометр
Номер патента: 1026001
Опубликовано: 30.06.1983
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, поляризационный
...между собой и расположены под углом 45 о кэ 60ппоскостн склейки, и расположен подуглом 60 о к оптической оси интерферометра,На Фиг, 1 представлена схема поля.уизационного интерферометра; на , 6 фиг. 2 - схема оптического поляризационного блока.Поляризационыый интерферометр содержит последовательно установленные источник 1 монохроматического излучения, светоделитель 2, оптический поляриэационный блок 3 (фиг. 2), выполненный в виде двух призм Дове из аниэотропного материала, склеенных основаниями таким образом, что их оптические оси параллельны между собой и расположены под углом 45 о к, плоскости склейки, расположенный под углом 60 о к оптической оси интерферометра, и оптически с ним сряэанный регистрирующий блок, выполненный в...
Интерферометр для контроля формы выпуклых сферических поверхностей
Номер патента: 1026002
Опубликовано: 30.06.1983
Автор: Пуряев
МПК: G01B 9/02
Метки: выпуклых, интерферометр, поверхностей, сферических, формы
...гиперболическими с эксцентриситетами; равными показателю преломления материала двояковыпуклойлинзы, линза с эталонной поверхностьювыполнена так, что ее поверхность,обращенная к двояковыпуклой линзе,.имеет радиус кривизны, обеспечинающий минимальную сферическую аберрацию для осевого пучка лучей, аформа другой ее поверхности выполняется в соответствии с геометрической формой контролируемой поверхности,На чертеже представлена оптическаясхема интерферометра.Интерферометр для контроля формывыпуклых сферических поверхностейсодержит источник 1 монохроматического излучения и последовательнорасположенные по ходу лучей конденсор 2, светоделитель 3, объектив 4,двояковыпуклую линзу 5, обе поверхности которой выполнены гиперболи,ческимис...