G01N 21/88 — выявление дефектов, трещин или загрязнений

Номер патента: 28346

Опубликовано: 30.11.1932

Автор: Сухарников

МПК: G01N 21/88

Метки: изделиях, металлических, трения

...слоя П т и зоб рете н ия ечатн, Труд", Зак, 2336 - 10 Ленпромпечатьсоюа, Т Трещины, появляющиеся в металлических, изделиях вообще нежелательны, а на ответственных частях машин в частности представляют даже серьезную опасность. Простой наружный осмотр 1 даже через лупу не всегда достигает цели. Настоящим изобретением предлагается нижеследующий способ обнаружения трещин в металлических изделиях.Подлежащая осмотру часть или из-делие, например - вагонная колесная ось, подвергается сначала тщательной очистке и обмыванию керосином так, чтобы вся наружная поверхность ее имела совер-, шенно чистый металлический вид. Затем эта поверхность густо смазывается смесью минерального масла с керосином или вообще маслянистою жидкостью, а по...

Номер патента: 62465

Опубликовано: 01.01.1943

Авторы: Валитов, Катаев, Левин

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, изделиях, обнаружения, поверхностных, размеров

...при нормальной работе трубки и при полной одинаковости деталей и фотоэлементов, расположенных одинаковым образом по отношению к деталям, результирующий ток в сопротивлении оказывается равным нулю. Но как только на место изделия попадет нестандартный экземпляр его, отличающийся от стандартного образца цветом, формой или каким-либо дефектом поверхности, так тотчас же баланс токов, протекающих через сопротивление, нарушится, Возник62465 нут импульсы напряжения, которые усилятся затем усилителем и приведут к срабатыванию электромагнита сбрасывателя, отбрасывающего неполноценное изделие в сторону брака.Ввиду полной осуществимости требующегося для этих целей телевизионного передатчика с бегущим лучом на четкость порядка 500 и более строек,...

Номер патента: 98163

Опубликовано: 01.01.1954

Автор: Гаврилов

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектоскоп, оптический

...6, В котоом кспит 51 патрон с эгсктросмной 1, может с помоцью гайки 7 опускаться и подниматься 50 нЯпряВ;15 юцей Втулке Ь.Якп) Обазо 1 реГУ111 ет ПО 10 жспие злоктроласпы по Высоте. ВяжимнОе КОЛЬ 0 9 гмжпт лля крсплсни 5 втулки с лержятелем лампы па кожу);с)Нри испытании материала тороидная линза лефектоскопа тявпся ня смоченную волой полированную повсркцость обработанцо,о с ,ЛВМ СТО)Он ПОЗ с 1 с 5 ОГО ИСТс 1 10.Л п светя От Ялект 0,131 Гы 1, Отяженцье коцически Отряжя Гелем 4 и процедцИе тороидную линзу ), палают внутрь лит под ) глямц, большими чем угол полного вцутрецнего отражения, Ня 1 ИГ. с) В КЯЧССТВС ПрИМСря ПОКЯЗЯН )од ЧЕТЫрЕК Л 5 сс 1 (Г, О, и, с), П;у- ПИК О СвссГ 5 ПЕС 51 ТОКИ и ОтсКЕЦНЫ.; от КОЖМ. 3 2 П 01 От 3;КЯТЕ- ля...

Номер патента: 159675

Опубликовано: 01.01.1964

МПК: G01N 21/88

Метки: 159675

...схема предложенного прибора.Прибор состоит из трех частей, осветителей темного поля проходящего света А и отраженного света Б и измерителя видимости В.Осветитель темного поля проходящего света имеет лампу накаливания 1, затемняющий экран 2, параболический отражатель 3 и стоПрибор для контрол стекла по количеству с фектами на стекле с и состоящим из переме ской оси объектива с я чистоты повета, рассеязмерцтелемщаемого вдол отсчетной ш верхности нного деидц мости, ь оптичеалой, маПодписная группа11 б лик 4, на котором помещают исследуемый образец 5.Осветитель темного поля отраженного света имеет аналогичный отражатель б, обойму 7 и ряд миниатюрных электролампочек, расположенных по окружности обоймы ц закрытых прозрачным рассеивающим...

Номер патента: 178558

Опубликовано: 01.01.1966

МПК: G01N 21/88

Метки: 178558

...схем для контроля поверхности плоских металлических образцов, а также понижает точность определения степеникоррозии отдельных участков поверхности изделия,По предлагаемому способу для повышенияточности определения степени коррозии отдельных участков поверхности изделия усиленный сигнал светочувствительного элементаограничивают снизу до исчезновения на экране изображения всех участков поверхности,кроме обладающих наибольшей ной способностью. Соотьетствую ром замеряют среднее значение и, например, при помощи потенц пенсируют отклонение прибора. редно уменьшают напряжение снизу до появления на экране участков меньшей отражательно и определяют таким же путем верхности каждого из них. Способ контроля качества поверхности...

Номер патента: 206139

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Жорницкий, Кипнис, Кундзич, Миркин, Украинский

МПК: G01N 21/88

Метки: белых, листовых, прибор, слабоокрашенных, сорности

...свет попадает на фотоэлектронный све 25 топриемник 11. Лампа источника света питается стабили чрованным напряжением постоянного тока от стабилизатора 12.Цилиндр с закрепленным на нем образцомсовершает вращательно-поступательное дви 30 жение относительно неподвижных светоприемника и микрообъектива, и происходит последовательная развертка поверхности образца. При попадании под световое пятно соринок в цепи фотоэлектронного светоприемника возникает электрический сигнал, амплитуда и длительность которого пропорциональны контрасту и размеру соринки соответственно,Сигнал усиливается усилителем 18, откуда он поступает на ограничитель 14 фона, который ограничивает сигнал снизу. Ограничитель исключает влияние соринок и пятен меньших визуально...

Номер патента: 266352

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Кат, Кешаииди

МПК: G01N 21/88

Метки: 266352

...рядов ячеек металлической сетки. Ячейки металли ческой сетки выполнены эллипсообразными,1-1 а чертеже показан списываемый прибор.В корпусе приоора 1 монтируют кольцо 2 с отверстием 3 в центре (70 хб 5 мм), По меньшим сторонам отверстия в опорном кольце за- ЗО крепляют сегментообразные встав рые имеют вырез с нижней сторон (прямой стороне), образуя с опорнь прямоугольные пазы, служащие нап ми для перемещения щелевой диаф нижней стороны к щелевой диафр крепляют зубчатые рейки б, имеющ ние с шестеренками 7, сидящими на маховичков 9 привода щелевой диа Над диафрагмои расположено матовое стекло 10 с мегаллической сеткой 11 с ячейками 12, находящееся з загрузочной тарелке 13 с ручкой 14, которую вставляют в прорезь корпуса диафаноскопа и...

Номер патента: 307068

Опубликовано: 01.01.1971

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектоскоп, фотоэлектрический

...развертывающее устройство 4, находящееся перед фотоэлектрическимпреобразователем 5 в виде светочувствительного р - и-перехода, включенного в контур 6автогенератора 7 в качестве его емкости,Этот контур связан через буферный каскад8 с одним из входов преобразователя 9 частоты, а автогенератор 7 через линию задержки10 - с другим входом преобразователя; выходпреобразователя 9 соединен с исполнительнымустройством 11.Дефектоскоп функционирует следующим образом.От освещенной источником света 1 поверхности 2 поток направляется проекционнымустройством 3 через оптико-механическое разПредмет изобретения 3 б5 о1 Составитель А. ДуханинРедактор К. Шанаурова Техред А. А. Камыгппикова Корректор Т, А. Китаева Заказ 2238 г 14 Изд.890 Тирак 473...

Номер патента: 405132

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Скл, Табачников, Чулок

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектоскопии, поверхности, резисторов, фотоэлектронное

...длину,10 15 20 25 30 35 40 равную длине детали 1, и ширину, соизмеримую с диаметром минимального дефекта, формируется осветителем 3 и падает на исследуемую поверхность.Формирование луча осуществляется следующим образом, Световой поток от источника света 4 преобразуется в параллельный пучок лучей конденсором 5 и линейно поляризуется поляризатором 6, Поляризованный луч 2 формируется до прямоугольного сечения щелевой диафрагмой 7, отражается от элемента автоколлимации 8 и, пройдя через объектив 9, попадает на поверхность исследуемой детали 1, Отраженный луч 10 также проходит (в обратном направлении) объектив 9 и элемент автоколлимации 8, а затем попадает на качающееся зеркало 11, которое разворачивает изображение луча 10 в плоскости...

Номер патента: 381977

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Ппге, Толокнов, Эбельс

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектоскопии, инфракрасной

...19 фотоблокд 20 связяи тросом 2( скасосетодержателсм 22 фотоблокя 20 фиг, 2).Кассетодержатель 22 скользит ио ияирдпляОщпм 28 ня роликах 24, обеспечив;иощ:м м:(н:(- мальнос усилие ири сго иерсдвижсниях.ТРОС 21 НсТяГИВсЕТС 51 С ОМО 1 цшо ТТОСс 23:груза 26, зякренлспных с другой стороны фо.тоблокВнутри кс(ссстодер)к(с,5 Проход(1 ио;(ыВа:1 7, ВраЩдюЩийся с тОЙ жс скорос.О, чтои изделие 1. Напротив о(ссртого конц В- ,(а 27 зясРСП,(си с)Отс(ОД.:(Яциоиис(5(,(с)(- пя 28,И ЗО б Р с Ж С И:С,С(0 0И 51 Т И с )10:СХ 1 5 Ц ИО Ид 10 15 )о 25зз 10 4;) 50 О й) ной лампы 28 раздваивается на призме 29, часть его отклоняется на 90 н, пройдя через объектив 80, фокусируется на плоскости пленки в кассете 81; другая часть изображения светящейся точки...

Номер патента: 412583

Опубликовано: 25.01.1974

МПК: G01N 21/88, G02B 17/06, G02B 21/06 ...

Метки: 412583

...общий вид предлагаемого алмазоскопа.Ллмазоскоп содержит стереоскопический микроскоп 1 типа МВС, поляризатор 2, анализатор 3, столик 4, манипулятор 5, осветитель б косого дневного света, штатив 7 с механизмом фокусировки, основание 8 и осветитель для работы в проходящезпсм поле, содержащий эллипсоитель 9, лампу 10, матовое стеклотель, выполненный в виде ымато5 ного усеченного конуса 12, задиафрагму 14,Ллмазоскоп работает следующим образом.Кристалл алмаза 15 крепится в держателеманипулятора 5, Освещение проходящим све том обеспечивается лампой 10 и матовым стеклом 11 при открытой заслонке 13. Наблюдение внутренних дефектов кристалла алмаза в темном поле обеспечивается той же лампой 10 с помощью эллипсоидцого отражателя 9 и кони...

Номер патента: 418774

Опубликовано: 05.03.1974

Авторы: Гребнев, Казанский, Мавлютов, Проектный

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, обнаружения, фотоэлектрическое

...следующим образом.Сходящийся поток источника 1 света пропускают через полупрозрачное зеркало 2 и направляют в центр лиска 3 параллельо оси 15 вращения, где уст; павлея призма 4. В прсломлеццом этой призмой световом потоке ца краю диска расположен плоский отражатель 5. При вращении диска 3 с помощью электро двигателя 10 через пассик 11 отраженный от 20 отражателя 5 луч света совершает круговуюразвертку на поверхности контролируемого материала 12.Световой поток, проходящий через материал, пересекает ось вращения диска 3 и точке 25 А, где располагается фотоэлектрический преобразователь 8. Луч света. отраженный от контролируемого материала, падает ца сферический отражатель 6 с фокусом в точке отражения, установленный ца краю диска 3....

Номер патента: 447609

Опубликовано: 25.10.1974

Авторы: Нагорный, Якимович

МПК: G01N 21/88

Метки: визуального, зерен, прибор, риса, трещиноватости

...лампунакаливания 5 и линзовый конденсатор 6,В корпусе 1 также размещена кассета, состоящая из пластин 7, выполненной иэ упругого эластичного материала, напримеррезины, и покровного стекла 8 для фиксации пластины в растянутом положении,В передней и задней стенках корпусавыполнены горизонтально расположенныепрорези для ттеремешения кассеты, вставляемой в корпус, а внутри его смонтирован механизм перемещения кассеты, содер-,жащий два направляющих валика 9 и 10,выступающих над плоскостью полки, а также два прижимных ролика 11, свободно насаженных на ось 12 и укрепленных на подпружиненных рычагах 13, Один из валиковпосажен на ось свободно, а другой жесткосоединен со своей осью, на одном из концов которой за пределами корпуса укреплена ручка...

Номер патента: 486257

Опубликовано: 30.09.1975

Автор: Майсов

МПК: G01J 1/08, G01N 21/88

Метки: инфракрасный, облучатель

...поверхности вогнутого и выпуклого зеркал обращены друг к другу.На чертеже изображена схема предлагаемого инфракрасного облучателя.Он состоит из источника излучения 1, выполненногов виде нагреваемого проволочногокольца, кольцевого параболического зеркала2, свогнутого зеркала 3, выпуклого зеркала 4. 2Облучатель работает следующим образом.Источник излучения 1 нагревается припроождении через него электрического тока.Так как он расположен в фокусе кольцевогопараболического зеркала 2, то падающие на 3 2зеркало 2 лучц, параллельным пучком распространяются в направлении вогнутого зеркала 3, Зеркало 3 и выпуклое зеркало 4 образуют фокусирующий объектив, направляющий лучи в место цагрева через отверстие на полосе вогнутого зеркала 3.Вся...

Номер патента: 590649

Опубликовано: 30.01.1978

Автор: Терехов

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, металлических, обнаружения, поверхностных

...поверхностных дефектов металлических изделий, заключающийся в то:с, что поверхность изделия осматривают, например, с помощью оптических средств, о тл и ч а ю щ ц й с я тем, что, с целью повышения эффективности обнаружения, поверхность изделия предварительно обрабатывают дуговым разрядом, используя контролируемое изделие в качестве одного из электродов. 20 Изобретение относится к области дефектоскопии и может быть использовано для обнаружения поверхностных дефектов, напримерволосовин, закатов, трещин, на металлических изделиях, например на проволоке, трубах,прутках.Известен метод выявления поверхностныхдефектов на поверхности металлических изделий путем осмотра контролируемой поверхности, например, с помощью оптическихсредств...

Номер патента: 515390

Опубликовано: 05.08.1978

Авторы: Гусаров, Сурков

МПК: G01N 21/88

Метки: дисковой, ножей, рубительной

...по появле т.е. по к чительно нтроля овоммя рубки судяттонов, что энантроля. ес ес со ю г вен ижа ретения - повынеиие ка 39ля ножей машины при ее Цель изобчества контраработе.Поставленчто вращающиют импульснотой пульсациннкновению ста, и по теиэкране судят,них. ая цель достигается тем ся ножевой диан освещапотоком света с часто- соответствующей возробоскопического эффеквому профилю ноаей на о наличии дефектов в Иэобретконтроля т ния лесной мьваленност контроля н машины.Известны дисковых ру посредствен аенным гла ОЖЕЙ ДИСКОВОЯ РУБИТЕЛЬНОЙ Для контроля ножей 5 дисковой рубительиой машины световые импульсы от источника 2 света направляют на вращающийся ножевой диск 1. При импульскои освещении вращающегося диска иЛи любого другого...

Номер патента: 642606

Опубликовано: 15.01.1979

Авторы: Бахрах, Липкин, Розиньков

МПК: G01B 9/02, G01N 21/88

Метки: дефектоскопии

...совмещают инфракрасное изображение с интерферограммой и по соответствию попей06 Фполем поверхностных смещений, зарегистрированным на интерферограмме и попем температур, зафиксированным на инфракрасном изображении.Испопьзование описываемого способа при расшиФровке лазерных интерферо грамм при неразрушиощем контропе материапов и издепий позвопит достоверно и нагпядно выявлять дефекты издепий, аномапии в химических и физических свойствах материапов и обнаруживать дефекты соединений различных материапов. деформации обнаружиыют дефекты изделия,Обнаружение дефектов происходитпутем сравнения понученных изображений в одной ппоскости и в одном масштабе. Йпя бездефектных издепий места локапизации понос на интерферограмме соответствуот...

Номер патента: 654852

Опубликовано: 30.03.1979

Авторы: Бахманов, Савиковский, Хомутов, Чухлиб

МПК: G01B 11/30, G01N 21/88, G02B 21/26 ...

Метки: качества, пластин, поверхности

...образом, показание счетчика однозначно соответствует радиусу сканирования,В дальнейшем происходит последовательный просмотр колец одинаковой ширины, например колец 28, с соответствующим уменьшением радиуса сканирования,После окончания просмотра центрального круга 29 (см. фиг. 2) цикл контроля оканчивается, и блок управления 23 выдает команду на остановку держателя 5. Подсчет количества дефектов и дефектных зон происходит в ходе просмотра колец сканирования.На фиг. 3 в качестве примера в зоне кольца сканирования 27 изображены три дефекта: два в виде близко расположенных точек 30 и 31 и один в виде царапины 32. Сигналы 33 от них и на выходе фотоприемника 11 (см. фиг. 1) изображены на фиг. 4. На выходе амплитудного дискриминатора 12...

Номер патента: 685961

Опубликовано: 15.09.1979

Авторы: Вороной, Еременко, Зубков

МПК: G01N 21/88

Метки: просвечивание

...источником света.На чертеже показана предлагаемое устройство, общий вид,Устройство состоит иэ бункеранакопителя 1 с изделиями 2 и механизмом подачи 3. Источник света 4 может перемещаться внутри изделия, аФотоэлектронный индикатор 5 фиксирован вдоль изделия, Средство длягодачи изделия фотокассеты) на позицию контроля выполнено в виде подпружиненного лотка б, кинематическисвязанного с приводам 7 через механизм вращения 8. В нижней частиустройства расположен механизм разбраковки 9, связанный с фотоэлектронным индикаторам, Для предотвращенияпопадания света места ввода источника света и оси механизма вращенияизделий снабжены светонепроницаемыми уплотнениями,Устройство работает следующимобразом,При включен:и привода 7 подающий механизм 3...

Номер патента: 724996

Опубликовано: 30.03.1980

Авторы: Васильев, Егоров

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектоскопии, капиллярной, контрольный, образец

...10 фектоскопии, общий вид.Контрольный образец содержит две зажимные пластины 1 и 2, одна из которых (1) жестко закреплена на платформе 3, а другая (2) сопряжена с первой посредством 15 направляющих 4 и регулировочного винта5 и кинематически связана с подпружиненной (пружины 6 и 7) резьбовой втулкой 8, с толкателем 9, плечо которого взаимодействует с датчиком перемещения 10 (инди катором), Резьбовая втулка 8 имеет выступы и может входить в зацепление с жестко закрепленной на винте 5 муфтой 11, причем толкатель 9 имеет возможность осевого перемещения по втулке 8 за счет резьбы.25 Чувствительность индикатора 10 увеличичину отношения шага резьбы гу резьбы регулировочногоТипография, пр. Сапунов При вращении регулировочного винта 5 сводятся...

Номер патента: 855453

Опубликовано: 15.08.1981

Авторы: Голубовский, Львов, Пивоварова

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, поверхности, фотоэлектрическое

...систему 3 Формированиялучистого потока,фотоприемник с предусилителем 4, усилители 5 и 6 срегулируемым коэффициентом усиления,выпрямители 7 и 8, ключи 9 и 10, Зф блок запоминания 11, дискриминатор12 амплитуды, блок 13 выходных сигналов, блок 14 задания временныхинтервалов.Устройство работает следующим 33 образом.С помощью осветительной оптической системы 1 на поверхности контролируемого изделия 2 создаетсяосвещенная зона. Размеры эоны опреде- Щ ляются размером контролируемого из-,делия и видом дефектов, Изделиеперемещается в зоне контроля и одно"временно вращается вокруг своей осисимметрии, что позволяет осуществитьразвертку части нли всей поверхностиизделия.Конструктивно роторная линия может быть выполнена так, что один...

Номер патента: 940021

Опубликовано: 30.06.1982

Авторы: Беридзе, Супруненко, Филатов, Шленский

МПК: G01N 21/88

Метки: повреждения, светорассеивающих, усталостного

...вокруг передающего световода, причем выходы приемных световодов, находящихся на каждой окружности, объединены между собой.На чертеже приведена схема устройства.Устройство состоит из источника 1 света передающего световода 2 и приемных световодов 3.Работа устройства осуществляется следующим образом,На центральный световод 2 подается световое излучение от источника 1 света, засвечивающее участок исследуемого материала. Световодами 3 регистрируется свет, рассеянный дефектами. Регистрация света, рассеянного в разных направлениях (концентрическое размещение световодов 3) позволяет определить повреждение в толще материала, а динамика перераспределения интенсивности света, распространяющегося по световодам, удаленным на разные расстояния от...

Номер патента: 1004829

Опубликовано: 15.03.1983

Авторы: Гурылев, Дикушин, Лабутин, Лебедев, Лопухин, Шумилин

МПК: G01N 21/88, H01L 21/66

Метки: дефектов, структуры

...состоянии контролируемая структура закреплена в устройстве перемещения структуры 2. Блоком управления 7 включаются блок подсвета структуры 5, которыЯ обеспечинает подсвет необходимого участкаструктуры и блок преобразования изображения структуры в электрическийсигнал б. Изображение структуры через микроскопы 4 поступает на фо" точувствительную часть блока преобразования изображения структуры в электрический сигнал 6, с блока преобразования изображения структуры в электрический сигнал 6 электри . ческий сигнал поступает на блок управления 7. Блоком управления 7 обеспечивается отображение информации на экране экранного пульта 10.Оператор по изображению структуры на экранном пульте корректирует положение изображения на экране блоком...

Номер патента: 864968

Опубликовано: 30.01.1984

Авторы: Гребенюк, Гребнев, Жуков, Зайченкова, Макарычев, Суминов

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, оптических

...Г 21.При контроле дефектов оптических деталей типа линз с цельюподдержания постоянным положенияфокуса на детали, фокусирующая линза перемещается с помощью шаговогодвигателя вдоль оптической оси.Недостаточная чувствительностьконтроля дефектов с помощью этогоустройства обусловлена тем, что регистрация сигнала осуществляетсяпо методу светового поля, когда приемник излучения работает в режиме 40постоянной засветки, что приводитк снижению его чувствительности иповышению инерционности.Кроме того, переход с одного типа деталей на другой с разными 45радиусами кривизны затруднен необходимостью перестройки закона перемещения фокусирующей линзы,Цель изобретения - повышение чувствительности и оперативности контроля дефектов оптических...

Номер патента: 1078295

Опубликовано: 07.03.1984

Авторы: Перевозчиков, Петров, Супруненко, Филатов, Филипенко, Шленский

МПК: G01N 21/88

Метки: волокнистых, материалах, оценки, повреждений, светорассеивающих, усталостных

...просвечивают в направлении, перпендикулярном плоскости укладки волокон, ирегистрируют интенсивность прошедшего света 23,Недостаток известного способазаключается н низкой точности измерений.Целью изобретения является повышение точности оценки.Указанная цель достигается тем,что согласно способу оценки усталостных повреждений н светорассеинающих волокнистых материалах сосвязующим компонентом, заключающемуся н том, что исследуемый материалпросвечивают в напранлении, перпендикулярном плоскости укладки волоконрегистрируют интенсивность прошедшего света, исследуемый материалдополнительно просвечивают н направлении, параллельном плоскости укладки волокон, и регистрируют интенсивность прошедшего света, затем нагревают до температуры на 15-20...

Номер патента: 1074239

Опубликовано: 30.12.1984

Автор: Саркисян

МПК: G01N 21/88, H01L 21/66

Метки: лазерный, микроскоп, сканирующий

...связана с характерными частотами сканирования так, что за время сканирования разрешаемого элемента на образце зондирующие ,лучи переключаются более чем в 10 раз. Последнее условие аналитически выражается следующим образом: 10 Ь В С Т, где ь 1 - время следования импульсов генератора прямоугольных импульсов, Т - время сканирования разрешаемого элемента на поверхности1образца: Т- - , где- частотапГ рстрок растра, о- число разрешаемых световым пятном элементов на строке.Фотоответный сигнал, индуцированный под действием зондирующего света, усиливается усилителем Фотоответа 10 и логарифмируется логарифмическим усилителем 11. Дифференцирующий каскад фиксирует изменение логарифма фотоответного сигнала, происходящее в результате изменения...

Номер патента: 630983

Опубликовано: 23.03.1985

Авторы: Амазасиян, Горюнов, Саркисян

МПК: G01N 21/88, H01L 21/66

Метки: выявления, дефектов, поверхности, полупроводниковых, приборов

...прибор 10, видеоусилитель 11сигнала Фотоответа,Устройство работает следующимобразом. Поляризованный свет от источника 1 направляется через электрооптическую ячейку 2 на сканирующее устройство 3. Последний формирует растр, который расщепителем 4светового луча расщепляется на двечасти: растр видеолуча и растр зондирующего луча. Первый из них проходит через поляризатор 5 и объективом 7 проецируется на экран 9,а второй - растр зондирующего лучаобъективом 8 фокусируется на поверхность исследуемого образца (поляризатор 6 не используется). Сигналфотоответа усиливается электроннымусилителем 11 и подается на электрооптическую ячейку, которая с поляризатором 5 составляет модуляторинтенсивности видеолуча. На экране9 Формируется...

Номер патента: 1187028

Опубликовано: 23.10.1985

Авторы: Абакумов, Базанов, Колтунов, Татаринов

МПК: G01N 21/88

Метки: детали, дефектов, координат, реализации, центра, яркости

...20. Выходы схем11 и 12 деления соединены с входамипервого 21 и второго 22 компараторов, выходы которых соединены с со ответствующими вентилями 18 и 19, авторые входы соединены с выходамидатчиков 23 по Х и 24 по У линейного перемещения. Диафрагма 3 механически связана также с датчиком 25 рО минимального диаметра диафрагмы 3,. выход которого соединен с .третьимвентилем 20 и параллельно с вторыми входами аналоговых ключей 13и 14. Источник 26 питания соединен 25 с вторыми входами вентилей 18 - 20. Предлагаемый способ осуществляютпри помощи описанного устройства сле дующим образом.Световой поток от поля анализа 30 детали 1 проецируют с помощью объектива 2 через диафрагму 3 ца сйетоделительный кубик 4, Разделенныйсветовой поток в двух...

Номер патента: 1213401

Опубликовано: 23.02.1986

Авторы: Козубенко, Кубяк, Нехорошев, Нижник, Песляк, Пилипенко, Потиченко

МПК: G01N 21/88

Метки: исследования, кинетики, развития, трещин

...обоймы 3,охватывающей исследуемый объект 4.Первый пакет 5 волокнистых световодов выполнен так, что входные торцысветоводов снабжены проекционными 1объективами б, снабженными механизмами 7 юстировки их рабочих состояний, а выходные торцы образуют экран 8. При этом торцы пакета 5 световодов образуют контрформу исследуемой части объекта 4.Устройство работает следующимобразом.Свет от осветителя 1, напримерстробоскопичвской лампы, направляется на входные торцы световодов до- .полнительного пучка 2. Через волокнистые световоды освещается исследуемая поверхность объекта 4. Отраженный от объекта свет принимается фокусирующими устройствами 6 инаправляется по световодам пучка 5,транспортируя изображение 13401 гисследуемой поверхности, на экран...

Номер патента: 1239568

Опубликовано: 23.06.1986

Авторы: Горелов, Космодемьянский, Сорокин

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, обнаружения, поверхности

...в процессе изготовления изделия,на выходе порогового элемента 10получают сигнал о (С) и по его наличию судят о годности или негодности контролируемого изделия.В связи с тем, что по предлагаемому способу компенсируется коррелированная составляющая шумов, определяемых шероховатостью поверхностиизделия, увеличивается величина отношения сигнал-шум и повышается надежность, обнаружения дефектов на поверхности изделий,П р и м е р. Способ реализуют в макете для контроля механических дефектов поверхности. стальных изделий, изготовленных на автоматических роторных линиях вытяжными операциями. Габаритные размеры изделий: диаметр й .= 6,мм, длина Й = 60 мм, частота обработки поверхности И = 0,63 мкм. Корреляционную функцию коэффициента...