G01B 9/02 — интерферометры

Номер патента: 657240

Опубликовано: 15.04.1979

Авторы: Горшков, Лозбенев, Харитонов

МПК: G01B 9/02

Метки: асферических, вогнутых, поверхностей, формы

...12 блоковрегистрации интерференционных картин,Устройство работает следующим образом,От осветителя 1 пучок лучей полупрозрачной пластиной 2 направляетсячерез оптический компенсатор 10 наконтролируемую фокусирующую поверхность 9. После отражения от нее и вторичного прохождения оптического компенсатора в обратном направлении, световойпучок попадает на входную полупрозрачную пластину 3. Входной полупрозрачнойпластиной и дополнительными полупрозрачными пластинами 7 и 8 первоначальный световой пучок разделяется на четыре пучка, которые распространяются почетырем оптическим ветвям.В основном блоке регистрации 11 .образуется сдвиговая интерферецциоцнаякартина в результате взаимодействия пучков света, распространяющихся пр двумоптическим ветвям...

Номер патента: 662795

Опубликовано: 15.05.1979

Авторы: Мамонов, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G02B 3/02 ...

Метки: астрономических, зеркал, интерферометр, формы

...Зеркало 4 исключают из хода лучей. Затем фотографируют интерференционную картину и сравнивают форму интерференционных колец с их теоретическим видом, на основе чего и делают заключение о погрешностях формы контролируемой поверхности в данкой зоне. Сопостав.ляя результаты контроля различных зон контролируемой поверхности (астрономического зеркала) делают общее заключение о правильности ее формы, т. е.о соответствии ф . действительной формы зеркала теоретической.Формула изобретения еломлен я линзы де и - показатель пр ид - ее толщина;К - абсолютное значение радиуса элоццой сферической поверхности;г - абсолютное значение вершинногорадиуса гиперболической поверхности линзы.11 а фиг, 1 изображена принципиальнаяоптическая схема предлагаемого ....

Номер патента: 662796

Опубликовано: 15.05.1979

Авторы: Андреев, Архипов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометра, настройки, сканирующего

...соответственно квыходам усилителей 9 и 13, а выходы детекторов через усилители мощности 11 и 15подключены к приводу 5,Устройство работает следующим образом,Пучок излучения источника 1, предварительно расширенный до заполнений зеркал 2 и 3 интерферометра направляется ца светоделитель 4, которым он делится на две части. Одна часть излучения отражается от светоделителя и падает на подвижное зеркало 2, а вторая часть проходитчерез свето- делитель и падает на неподвижное зеркало 3.При последующем отражении от зеркал 2 и 3 первая часть проходит через светоделитель, а вторая отражается от него и направляется в одну сторону с первой частью, Обе части излучения рекомбинируют и создают интерференционную картину, Если интерферометр...

Номер патента: 664022

Опубликовано: 25.05.1979

Автор: Прытков

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: оптических, поверхностей

...поверхность пространственного модулятора 5 излучения, в качестве которого может служить фотопластинка, фототермопластик и другие материалы. Индексом б обозначена контролируемая деталь 6, которая расположена эа рассеинателем 3 на рас664022 4рассеянное назад излучение источника 1 света и рассеянное впередизлучение, отраженное от контролируемой поверхности детали 6. Изменяяфазу между этими волнами, напримеризменяя положение оптической поверх ности, можно наблюдать на поверхностипространственного модулятора излучения интерференционную картину. Устройство работает следующим образом.Излучение от источника 1 света через конденсатор 2 освещает рассеиватель 3 и через него контролируемую деталь 6. Рассеянное рассеивателем 3 о излучение через...

Номер патента: 673839

Опубликовано: 15.07.1979

Авторы: Астахова, Забелин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, сдвига

...интерферометр15 и с помощью поляризационных элементовосуществлять выделение интерференционнойкартины, не зависящей от размеров источника света,Принципиальная схема интерферометрасдвига приведена на чертеже.Интерферометр содержит источник 1 света, линзу 2, поляризатор 3, полупрозрачныезеркала 4 и 5, отражательные зеркала 6 и 7,полуволновую новую пластину 8, сферичес. . 673839 Формула изобретения Составитель А. Медведев Техред О. Луговая Корректор Г. Назарова Тираж 865 Подписное ЦН И И П И Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб д. 4(5 филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4Редактор И. ШубинаЗаказ 4056(35 кое зеркало 9, объективы 10, 11, анализатор 12 и исследуемую...

Номер патента: 676862

Опубликовано: 30.07.1979

Авторы: Карпов, Коган, Михайлов, Полонин, Попов

МПК: G01B 9/02

Метки: линейных, оптико-электронное, перемещений

...помощи поворотного устройства 4 йа угол а, который выбирают 10 исходя из условия срабатывания первого элемента каждого столбца вслед за последним элементом предыдущего столбца, В общем случае величину угла а можно определить из соотношения 15 а = агс 1 да+Ы+9и б+(л - 1)с где а, Ь - геометрические размеры отдельного элемента; 20и - число элементов в столбце;д - .расстояние между элементами в строке;с - расстояние между элементами встолбце; 25р - угол наклона полос в интерференционной картине, относительно вертикальной оси.Т 1 ри смещении объекта происходит движение полос интерференционной картины, 30, При попадании границы радела двух но- в лос на поверхность отдельного элементафотопреобразователя он переходит в новоесостояние - из 1 в О...

Номер патента: 678274

Опубликовано: 05.08.1979

Автор: Литвиненко

МПК: G01B 9/02

Метки: кинематической, механизмов, погрешности

....5 и цилиндрическое - зеркало 7 на конечных звеньях поверяемогомеханизма 8 симметрично и перпендикулярно 5 - лазерному лучу, Эту операцию осуществляютизвестиым способом, наблюдая интерференциюлучей двух плеч интерферометра, одного плеча,ограниченного референтным зеркалом 3, а дру.гого - цилиндрическим зеркалом 7. В дальнейшем при измеренйи кинематической погрешности референтное зеркало 3 не используют. Ла. .зерный лу 1, падая перпендикулярно на дифракционную решетку 5, диафрагирует на лучиО, 1 1, т 2 и т.д, порядков, С помощью диафрагмы 6 мы выбираем рабочие лучи. Пройдядиафрагму, рабочие лучи отражаются от цилин.дрического зеркала 7 и в том же направлениивозвращаются на дифракционную решетку 5.Проходя через решетку в обратном...

Номер патента: 679790

Опубликовано: 15.08.1979

Авторы: Лустберг, Петрова

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферических, оптических, отклонения, поверхностей, профиля

...является низкая производительность контроля. Это вызвано длительностью процесса выставления оптических элементов в схеме контроля иэ -за жестких допусков на взаимное положение зеркал.Цель изобретения - повышение точности и производительности контроля.Поставленная цель достигается тем,что вершину контролируемой поверхности устанавливают в центре кривизйыэталонного сферического зеркала,На чертеже изображена схема, реализующая предлагаемгй способ контроля,Способ предназначен для контроляасферических поверхностей высокогопорядка, радиус при вершине у которых превосходит 100 м и профиль контролируемой поверхности определенуравнениемХ = ау + ву +4В предлагаемом способе для контроля асферических поверхностей высокого порядка оптических...

Номер патента: 684296

Опубликовано: 05.09.1979

Автор: Кузнецов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, качества, оптических

...4 установлен смеццый свстодслитсль 9 и 1 остироВочняя НР 0.1 юлятсгьцяя систсля 10 с пс.рс. крсстием.Прсллягясчый ицтс рферочетр работает сг 1 сдчк)псич Обря:50 м.1 л чок свстс) От моцох 170 ыятичсского источцикя 1 излучения после отракения от плоских зеркал 2 и 3 расширяется телескопической спстечой 4, затем микрообъектив 5 преобразует его в схолящийся пучок, лучи которого по нормалям прохолят одну половицу сферической поверхцости свстоделитсльного блока 6 и собираются в центре кривизны эталонной поверхности а, образуя црслметцую светящукся точку О. От поверхности а свет частично отражается и, возвращаясь по нормалям, создает волновой фронт сравнения с цецтроч в точке О. Другая часть света без преломления проходит поверхность а и падает...

Номер патента: 688821

Опубликовано: 30.09.1979

Авторы: Островский, Чащин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, майкельсона, типа

...на два равных пучка, распространяющихся вдоль оптических осей 8 ц 10, которые перпендикулярны к поверхностям зеркал 3 ц 4 интерферометра. Поле отражения от этих зеркал пучки проходят прежние оптические пут" ц выходят в направлении 11. При равенстве оптических путей в направлениях осей 8 и 10 интерферометр скомпенсирован, т. е. оптическая разность хода между двумя пучками равна нулю.При измерении, например, показателя преломления вещества, которое помешают между неподвижным зеркалом 3 и компенсирующей пластиной 2, происходит изменение величины оптического пути, а следовательно, и оптической разности хода688821 т = - . - =о 2 оза Поиск Заказ 855/10 1 зд Аа Тираж 866 Подписное ип, Харьк. Фил. пред. Патент между пучками света, идущими в...

Номер патента: 700778

Опубликовано: 30.11.1979

Авторы: Андреев, Кравченко, Смирнова

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, неплоскостности, оптических, поверхностей

...6, измерительный столик 7, контрольную сетку8, выполненную в виде двух прямыхвзаимно параллельных прозрачныхштрихов 9 (см,фиг.2) на зеркальномпокрытии, Фотоприемники 10; матовыйэкран 11, микровинт 12, электронныйбдок 13 обработки и светОиндикаторы 14.Пластина 4 с образцовой поверхностью 5 и контролируемая поверхность1 5 с изделием 1 б образуют интерференционную пару. Фотоприемники 10 установлены под штрихами 9 сетки 8 наизмерительном столике 7, стоят одинпротив другого под разными штрихамии попарно соединены по дифференциаль.ной схеме в электронном блоке 13обработки,Источник света должен быть монохроматичным и с малой расходимостьюлуча, например газовый лазер.Работает интерферометр следующим .образом.Луч источника света,...

Номер патента: 702240

Опубликовано: 05.12.1979

Автор: Иогансен

МПК: G01B 9/02

Метки: волны, отражения, электромагнитной

...возвращение энергии из крайних световодов в основной световод 4.Реализация рассмотренных способовотражения электромагнитной волны увеличивает коэффициент отражения и снисвижает потери; обеспечивает отражениеволны, не нарушая целостности основногосветовода, а также не изгибая его; обеспечивает отражение в многомодовом световоде одной заданной моды,без отражения остальвйх мод; повышает качество.и расширяет область применения интер,ференционных устройств на тонких свето 2 оводах. ся следующим выражениемк с к 2 01,).где К и К - соответственно продольна2поперечная составляющиеволновог. вектора в светводе;д - толщина световода;с - величина мнимой частиволнового вектора в диэлектрике между световодми на участке туннельной связи;д -...

Номер патента: 706689

Опубликовано: 30.12.1979

Авторы: Лазарева, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: вогнутых, высокоапертурных, интерферометр, качества, поверхностей, сферических

...А,совмещенной с центром кривизны С выпуклой 20поверхности линзы 4. Поэтому лучи света падают нормально на выпуклую поверхность линзы4, частично отражаются от нее, а частично направляются к контролируемой поверхности 9, отражаются от нее и повторяют свой путь в обратном направлении, Лучи, отраженные от выпуклой поверхности линзы 4, создают эталонныйволновой фронт сравнения, а лучи, отраженныеот контролируемой поверхности 9 - анализируемый волновой фронт, При настройке интер- З 0ферометра линза б, объектив 7 и фотопленка 8выключаются из хода лучей, а глаз наблюдателярасполагается непосредственно за окуляром 5.Апланатическую линзу 4 смещают в направлении4 Гперпендикулярном к оптической оси О - О, Так З 5как величина смещения очень...

Номер патента: 708143

Опубликовано: 05.01.1980

Авторы: Арлов, Голованов, Гуйван, Кукса, Никитенко, Сычева

МПК: G01B 9/02

Метки: белом, взаимного, двух, интерференционных, полос, свете, сдвига, систем

...определенного количества целых полос, с последующим делением полученного промежутка времени на число этих полос, Результат. умножается на коэффициент преобразования К, устанавливающий однозначное соответствие между шириной интерференционной полосы и периодом электрического сигнала. Таким. образом в блоке 6 формируется код коэффициента пересчета, устанавливающий соответствие между длиной волны монохроматического света и промежуточном времени, в течение которого электронный луч передающей трубки перемещается по строке из одной точки в другую. Код коэффициента пересчета запоминается в цифровой форме и поступает на входы блоков 9 и 12 формирования временных интервалов непрерывно в течение цикла измерений. Для измерения сдвига двух...

Номер патента: 708144

Опубликовано: 05.01.1980

Авторы: Данилина, Каменщиков, Комиссаров

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, плотности

...0,05 длины волны света, и невозможность определенияпрофиля распределения плотности, т.е. недостаточный динамический диапазон. Бель изобретения - повышение точностяизмерения и расширение динамического диапа.зона,Это достигается тем, что в интерференцион.ном способе измерения плотности оптическипрозрачных веществ создают одновременноспектроинтерференционные трехлучевую и двухлучевую картины, в рабочем участке спектратрехлучевой картины формируют не менеедвух изапик, определяют длину волны одногоиэапика и измеряют спектральные расстояниямежду соседними изапиками в исходном и рабо"чем состоянии. По наклону двухлучевых полос определяют направление изменения плотности и судят об ее абсолютном значении.Для определения профиля плотности...

Номер патента: 708145

Опубликовано: 05.01.1980

Авторы: Биенко, Буров, Толкун, Чехович

МПК: G01B 9/02

Метки: границ, полосы

...и зеркалом;Х - длина волны когерентного монохро 35 матического излучения;а - расстояние между соответствующими точками гцепей диафрагмы;и - любое целое положительное число.Устройство работает следующим образом.Все интерферируюшие лучи, проходящие через соответствующие точки щелей, имеют. одинаковую разность хода, вследствие чего интерференционная картина на выходе светоделительного элемента представляет собой темное поле. Фотоприемник 4, служащий длА регистрации световых сигналов, установлен на пути потока, идущего от светоделительного элемента. При сканировании изображения полос дифференциальной диафрагмой происходят последовательные засветки или затем. нения щелей, приводящие к линейным нарастаниям или спадам величин световых...

Номер патента: 712654

Опубликовано: 30.01.1980

Авторы: Невский, Норченко, Шварцман

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр

...этих пластин.На фиг. 1 изображена принципиальная схема интерферометра в случае измерения смещения контролируемой поверхности объекта относительно опорной поверхности; на фиг. 2 - то же, в случае измерения изменения показателя преломления прозрачного объекта; па фиг. 3 - то жс, в случае измерения изменения длины объекта.Интерферометр содержит источник 1 света, одинаковые плоскопараллельные про712654 г,Составитель Л, Лобзовахред А, Камышникова роекторы: А, Галахова и О. Данишева актор Т. Морозова Изд.124рственного комитета СССР3035, Москва, Ж, Раушск Заказ 2790/16НПО Поиск Гос ипография, пр. Сапунова зрачные пластины 2 и 3, установленные под углом 90 одна к другой, опорное зеркало 4, расположенное так, что его отражающая поверхность...

Номер патента: 712655

Опубликовано: 30.01.1980

Авторы: Данелян, Джагаров, Джиджоев, Манукян

МПК: G01B 9/02

Метки: калибратор, сдвигов, фазовых

...работает следующим образом,712655 с, 1- /О 1 .с) тавитель А. Медведевд А. Камышникова Редактор Н. Коля ректоры: А. Галахов и О. Данишев каз 2790/17 Изд.124 Тираж 810НПО Поиск Государственного комитета СССР по делам изобретений П 3035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Подп испо открытий Гипография, пр Сапунова Световой поток источника 1 через свето- делитель 2 поступает на модулятор 3, управляемый источником модулирующих колебаний 4 и далее на поляризатор 5. Модулированный и поляризованный световой 5 поток разделяется на светоделителе 6 на два световых потока. Отраженный от делителя 6 световой поток посредством зеркала 7 передается на делитель 8. Пройдя делитель 8 и поляризатор 9, световой поток по ступает на фотоприемник 10 и...

Номер патента: 715927

Опубликовано: 15.02.1980

Автор: Литвиненко

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, резольвометр

...сЛуч свет тво работает следующим образом,а от источника 1 расширяется с по.конической системы 2 и попадаето на зеркало 3 и фотопластинкуую в держателе фотоматериала 5.ическую пластинку 4 попадает какс телескопическойсистемы 2, такенный от зеркала 3. В плоскостики эти лучи интерферируют. Ин.ная картинка фиксируется на715927 4 поворотного механизма, меняющего его поло жение системы зеркалофотослой относительно облучающего йх света. Кроме того, запись информации на фотопластинку производится эа одну экспозицию, что позволяет увеличить точность и ускорить процесс измерений. 10, Интерференционный резольвометр, содержащий отклоняющее зеркало, отличающийся тем, что, с целью упрощения конструкциии повышенйя точности измерений, зеркало вы 15...

Номер патента: 715928

Опубликовано: 15.02.1980

Авторы: Медовиков, Прилепин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферирующих, лучей, разности, хода

...ис- . точника света, изменяют длину когерентносги источника света, находят не менее двух последовательных минимумов контраста интерференционной картины, определяют по ним средние значения длины когерентности, а разносгь хода лучей находят из соотношения, связывающего ее значение со средними значениями длин ко. герентности, при этом точную зависимость конт раста от длины когерентности и разности хода Наиболее является с терферирую Изобретение относится к области оптической интерферометрии и может быть использовано для измерения расстояний в геодезии.Известны способы определения раэноспг хо. да, основанные на измерении дробных частей порядка интерференции при использовании не.3 скольких известных. длин волн источника све та...

Номер патента: 715929

Опубликовано: 15.02.1980

Авторы: Гудзенко, Захарченко, Коломиец, Осадчев, Тищенко

МПК: G01B 9/02

Метки: гетеродинный, изменения, оптического, пути

...в волноводпую волну и преобразователь 8волноводной волны в объемную; генераторыэлектрических колебаний 9 и 10, частотьг которых отличаются на заданную величину; поглоти.тель 11,.зеркала 12 - 15, кювету 16 с исследуе.мой средой, полупрозрачную пластину 17 и фотоприемник 18.При включении устройства в ячейке 2 об.разуются две бегущие навстречу друг другуакустические волны с разнесенными на задан ную величину частотами. Монохроматическоевходное излучение от источника 1 одйократнопропускают через ячейку 2 перпендйкулярнонаправлению распространения акустическихволн. За счет дифракции Рамана-Ната из вход.ного излучения на выходе ячейки 2 в первомпорядке дифракции (как и в более высокихпорядках) образуются две пары пучков, причем частотъг...

Номер патента: 720292

Опубликовано: 05.03.1980

Автор: Дубров

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометров, оптических, следящая

...- ного усилителя.На чертеже показана схема следящей системы для оптических интерферометров.Следящая система содержит гальванометр, включающий в себя зеркало 1, рамку 2, фокусирующую линзу 3; дискриминатор в виде прозрачно- отражательного растра 4, коллиматоры 5, фотоприемники 6,7, дифференциаль - ный усилитель 8, балластное сопротивление 9, регистрирующее устройство 10, интегратор 11, усилитель мощности 12 и средство перемещения растра в виде серводвигателя 13 с индикатором 1 4. При этом последовательно включенные балластные сопротивления 9 и рамка 2 гальванометра соединены с выходом дифференциального усилителя, а последовательно включенные интегратор 11, усилитель мощности 12 и серводвигатель 13 подключены к входу усилителя...

Номер патента: 720293

Опубликовано: 05.03.1980

Авторы: Кладов, Шакуля

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферирующими, между, угла, фронтами

...о знаке угла,т.е.принадлежности фронта плечу интерферометра.Наиболее близким по технической сущности .к предложенному является20 способ измерения угла между интерферирующими фронтами, основанный на изменении разности хода лучей в двух- лучевом интерферометре и счете числа полос в поле интерференции не подвижного источника света, Получение требуемой информации о величине и знаке угла в этом способе достигается путем дифференциальной фотоэлектрической регистрации числа полос 30 в четырех противоположных точкахплоскости изображения интерференционной картины во время изменения раз -ности хода (2),Недостатком этого способа являетсясложность автоматизации процесса измерения, поскольку его реализация требует применение четырехканальной...

Номер патента: 721666

Опубликовано: 15.03.1980

Авторы: Бутусов, Горелик, Корниенко, Лукьянов, Турухано

МПК: G01B 9/02

Метки: двух, координатах, линейных, перемещений

...зеркала 5 и объединяющего устройства 7 совмещаются в пространстве, т.есовмещаются их волновые Фронты и подаются на фотсприемник 9 для измерения разности фаэ между ними. При смещении решетки вдоль линии ОЫ Фазы световых волй в дифракциснных порядках ОА и ОВ получают 20 приращения с противоположными знаками и фотоприемник 9 выделяет удвоенную разность фаэ, величина которой пропорциональна смещению дифракционной решетки. 25Рассмотрим зто более подробно. Запишем (см.фиг.2) пропускание дифракционной решетки в одной из плоскостей в виде2 йи,сх+дх) -2 ио Сх+дх),+е,где со - пространственная частотахдифракционной решетки вдоль координаты Х; 35ЬХ - смещение решетки вдолькоординаты Х,Осветим дифракционную решеткус пропусканием световой волной...

Номер патента: 721667

Опубликовано: 15.03.1980

Авторы: Кольцов, Михеев, Розов, Шуренков

МПК: G01B 9/02

Метки: зеркальных, интерференционный, линейных, перемещений, угловых, элементов

...зеркало 2, четнертьнолнонуюпластину 3, полупрозрачное зеркало 4,неподвижный отражатель 5 и поднижныйотражатель б, связанный с механическим объектсм, поляризационные фильтры7, 8 и диафрагмы фотоприемников 9,10. Схема электронной обработки сигналон нключает фотоприемник 11 опорного сигнала (7 о, фотоприемник 12 измерительного сигнала П, фотоприемник 13 сдвинутого на четверть периодасигнала з, формирователя прямоугольных сигналов 14, 15, 16, осущестнля 721667вшие клиппирование входных сигналовс Фотоприемников, Формирователи 17,18 счетных импульсов на положительный перепад клиппированных сигналов,блок управления коммутацией 19, состояние выходного сигнала которогоопределяется фаэоным соотношениемвходных сигналов (либо + - , либо--...

Номер патента: 724921

Опубликовано: 30.03.1980

Авторы: Киселев, Кулешов, Литвинов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометрический, плосткостности, расстояния

...излома, либо изменением длины волны СВЧ колебаний, либо приближением или удалением решетки 3 от вала.Методом последовательных приближений при произвольном положении объекта 4 (вала), параллельном решетке 3, поочередно регулируя узел 2 и изменяя разность хода составляющих пучка, получают циркулярно- поляризованные колебания в результирующем отраженном пучке. Затем эти колебания сДвигают по частоте на постоянную величину, пропуская их через сдвигатель 6 частоты, йреобразуют в линейно-поляризованные, пропуская через анализатор 7 поляри- зации, детектируют, усиливают на удвоенной частоте сдвига, еще раз детектируют (с целью повышения чувствительности лучше синхронное детектирование) и подают на прибор постоянного тока (начертеже не...

Номер патента: 638130

Опубликовано: 25.05.1980

Авторы: Гудзенко, Осадчев, Теричев, Тищенко

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, тонкопленочный

...опорного и сигнадьн го пучков на выходе интерферометра. Издученный в поддожку дифрагировайший на бегущей акустической поверхностной водне сигнальный пучок имеет частоту ИфУ что дает возможность осушествдения гетеродинной обработки исследуемого сигнада, несущего информацию об изменении разности фаз сигнадьного и опорного пучков, по которой и судят Об изменениях температуры припегаюшей к несушему слою среды, о величине слабых потоков энергии, падающей на несущий слой, о показателе преломления жидксстей и газов, обтекающих несуший слой. Формул а изобр ет ения Тонкопленочный интерферометр ддя оптического и субмилдиметрового диапазона волн, содержаший подложку из пьезоэдектрика с расположенным на ней тонкопденочным диэлектрическим водноводом...

Номер патента: 741041

Опубликовано: 15.06.1980

Авторы: Кайнер, Ляховский

МПК: G01B 11/24, G01B 11/255, G01B 9/02 ...

Метки: интерферометр, криволинейных, майкельсона, поверхностей, типа

...саттестованной длиной.На фиг. 1 изображена оптическаясхема интерферометра типа Майкельсона для измерения криволинейных поверхностей; на фиг. 2 - то же, в процессеконтроля,Интерферометр содержит (фиг. 1)осветительную систему 1, светоделительный кубик 2 с зеркальной гранью3, образующей референтное зеркало,измерительную ветвь, включающую элемент, предназначенный для наложенияна измеряемую поверхность (фиг. 2)и выполненный в виде гибкого световода 4 с отражательным торцом 5; оптическую систему (окуляр 6), предназначенную для образования в плоскости иэображения интерференционной картины.Работает описываемый интерферометр следующим образом.5Гибкий световод 4 накладывается на измеряемую пов ерхнос ть 7 (фиг. 2) . Крепление световода 4 к...

Номер патента: 748125

Опубликовано: 15.07.1980

Авторы: Густырь, Пучков, Томашевский

МПК: G01B 9/02

Метки: длины, интерференционный, интерферометров

...9 импульсов, полупрозрачные зеркала 10 и 11, лазеры 12 и 13, контролируемый интерферометр 14.Интерференционный способ измерения длины интерферометров осуществляется следующим ббразом.Пучок света от источника 1 света с непрерывным спектром излучения (в диапазоне длин волн Л - Лг ) проходит коллиматор, состоящий из отрицательной линзы 3 и положительной линзы 4, и параллельным пучком падает на интерферометр 14. После объектива 5 сходящийся пучок света, проектирующий изображение источника 1 света на входную щель монохроматора 7, проходит монохроматор 7 и на выходе его регистрируется световой поток с помощью фотоумножителя 8 со счетчиком 9 импульсов. С целью воэможности регистрации изменений светового потока с помощью Фотоумножителя 8...

Номер патента: 750272

Опубликовано: 23.07.1980

Автор: Иогансен

МПК: G01B 9/02

Метки: волоконный, интерферометр

...а выходной участок выполнен в виде трех световодов с общей туннельной связью. Кроме того, для упрощения конструкции входной и выходной участки связи выполнены в виде трех световодов с общей туннельной связьюНа фиг. 1 и фиг. 2 представлены конструкции волоконных интерферометров.На фиг. 1 изображен волокнистый . интерферометр с использованием на входе участка туннельной связи двух световодов.Интенферометр содержит источник монохроматического излучения 1, основной световод 2, входной участок туннельной, связи двух световодов 3, образующие плечи интерферометра световоды 4 и 5, туннельный ответвитель 6, элемент подстройки фазы 7, выходной участок тун 5 7502Использование изобретения позволяет одновременно измерять как величину, так и знак...