G01B 9/02 — интерферометры

Страница 6

Устройство для перемещения и юстировки органа настройки объемного резонатора

Загрузка...

Номер патента: 344263

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Петров

МПК: G01B 9/02

Метки: настройки, объемного, органа, перемещения, резонатора, юстировки

...и неработоспособно - в пере вернутом состоянии. Устройство также осуществимо и в том случае, когда стержни выполнены из проволоки, питаемой электрическим током.На чертеже представлена схема предлагае мого устройства.Устройство для перемещения и юстировкисодержит подвижную стенку 1, которая в данном случае одновременно является органом настройки, и неподвижную стенку 2, 25 между которыми расположены стержни 3 н4, В объемном резонаторе оптического диапазона к стенке 1 может быть прикреплено зеркало.Концы стер а- ЗО кладками 5 и н 1.962 Подписио ираж 406 каз 2273118 ЦНИИП 1 пография, пр. Сапунова и 2. Накладка 5 имеет механизм регулировки расстояния между местами контактов стержня 4, состоящий из винта 7 и упора 8. Длина стержня 3,...

Способ измерения линейного размера прецизионного эталона

Загрузка...

Номер патента: 344264

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Кайнер

МПК: G01B 11/02, G01B 9/02

Метки: линейного, прецизионного, размера, эталона

...измерительной поверхности пластины и опре деляют размер эталона как алгебраическуюсумму расстояний от свободной и притертой измерительных поверхностей эталона до свободной измерительной поверхности образцовой стеклянной пластины.20 Предлагаемый способ поясняется чертежоми осуществляется следующим образом.Образцовую стеклянную пластину 1 с притертым к ней эталоном (мерой) 2 устанавлиливают на столик 3 интерференционного при бора, например интерференционного компаратора, образцом вверх и определяют по интерференционным полосам расстояние 1 от свободной измерительной поверхности эталона (меры) до свободной измерительной поверхно сти стеклянной пластины. После этого устаЗаказ 219818 Изд.941 Тираж 406 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам...

Переносной интерферометр для контроля формы поверхности детали

Загрузка...

Номер патента: 345352

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Щукин

МПК: G01B 9/02

Метки: детали, интерферометр, переносной, поверхности, формы

...стекло в виде сетки в системе прямоугольных координат.Для повышения точности контроля в качестве источника света осветительнои системы применен источник холодного свечения,На контрольном стекле выполнена сетка всистеме прямоугольных координат заданной5 толщины (5 - 7 мк) на основе смол и нитролаков, которая играет роль контактной прокладки и предохраняет стекло от повреждения. На него можно укладывать детали партиями. Смола и нитролаки обеспечивают дли 10 тельную работу, а также при надобности ихможно легко смыть ацетоном или спиртом инанести новые.На фиг. 1 схематично изображен предлагаемый пнтерферометр, общий вид; на фиг. 2 -15 вид сбоку.Интсрферометр содержит корпус 1, диафрагму 2, полупрозрачное плоское зеркало 3,установленное...

Иммерсионный интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 346571

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Московское, Пат, Пур

МПК: G01B 9/02

Метки: иммерсионный, интерферометр

...б, эталонное сфериче- О ское зеркало 7, конденсорную линзу 8, лазерный источник 9 непрерывного действия, объектив 10, диафрагму 11. Центры кривизны С, и С сферических поверхностей 4 и 5 линзы 8 совмещены с геометрическими фокусами Р, и 5 1 е контролируемой асферической поверхности. Благодаря нормальному падению на поверхность 4 и равенству показателей преломления линзы 8 и иммерсионной жидкости 2, 20 все лучи, идущие из точки 11 (С 1), достигаютконтролируемой поверхности 1, не меняя своего направления. Отраженные от контролируемой поверхности лучи падают нормально на полупрозрачную сферическую поверхность б, 25 после отражения от которой повторяют свойпуть в обратном направлении и за светоделительным кубиком б интерферируют с лучами,...

Оптико-электронное устройство

Загрузка...

Номер патента: 347561

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Мамучашвили, Шестопалов

МПК: G01B 9/02

Метки: оптико-электронное

...и 21, В интерферометре между светоделительным устройством 9 и плоским отракателем 5 расположены две линзы 22.Устройство работает следующим образом.Пучок света от осветителя 1 через устройство 8 и линзы 22 направляется иа отражатели 4 и 5 интерферометра 3, которые персмсщаотся вместе с кареткой 2. Пучки света от отражателей 4 и 5 попадают иа щелсвую диафрагму 9. Модуляция светового потока осуществляется плоским отражателем 4, прикрепленным к датчику 6 линейных перемещений, который колеблется под действием источника 18 модулирующих колебаний.Через щелевую диафрагму 9 модулированный световой поток поступает на уголковый отражатель 10, делящий световой поток на два параллельных и равных между собой пучка и направляет их па...

352479

Загрузка...

Номер патента: 352479

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Иностранец, Иностранна, Соединенные

МПК: G01B 9/02

Метки: 352479

...углом к этим поверхностям.25 Если поверхности 8 и 15 перпендикулярныоптической оси 18, то на счетчик полос. 17 попадут лучи, совпадающие с оптической осью. Если эти поверхности имеют с осью 18, например, угол а, то на счетчик попадут лучи 30 5 а и 11 а, составляющие угол а с оптическойосью, но также перпендикулярные поверхностям 8 и 15. Повороты плато 9 не изменяют разности хода между соответствующими лучами, принадлежащими пучкам б и 11. Таким образом, смещения интерференционных полос вызываются лишь перемещениями плато 9 вдоль оси 18,Отражающие поверхности плато 9 могут быть как наружными (фиг. 1), так и внутренними (фиг. 2),На неподвижной части устройства имеется перекрестие 19 (фиг. 1), с которым поочередно совмещаются,...

Интерферометр для контроля волновых аберраций элементов оптических систем

Загрузка...

Номер патента: 355488

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Пур

МПК: G01B 9/02

Метки: аберраций, волновых, интерферометр, оптических, систем, элементов

...то Нось 10. Форма дсфор- анрованноЙ зе 1)алиОЙ иовсрхнос(и ятгсстуется с помощью колец 11 ьютона, которые образуются при введении в систему полупрозрачной пластины 11,тр отличается ользх ется зеркоторая под и пневматичер, близкую кенного испыому повышаетфероме она исп астины, ских ил ает фо та, иска даря эт нципиальная роля оптичеаберрациями 2 Иа фиг, 1 пр схема интсрферо ских систем со с конечного расс Свет от монох пример, лазера) руется на от ройдя черезедставлена п 1 метра для кон значительными О ЯИ 51,рома 1 ического 1 1 конденсорнсп верстие точечноторую, попада сточника (налинзой 2 фоой диафрагмы ет сначала на 3 кусид, п Предложенный инте тем, что в качестве этал кальная поверхность пл воздействием механиче ских нагрузок приним к...

Интерферометр для контроля качества вогнутых цилиндрических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 355489

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Духопел, Симоненко

МПК: G01B 9/02

Метки: вогнутых, интерферометр, качества, поверхностей, цилиндрических

...пучок направляется па цилиндрическую линзу б, с помощью которой ня гряп 5 гх а и б кубика 7 собирается в прямыс ли нии, параллельные образующим цилиндрических поверхностей линзы 8 и проверяемой детали 10 и расположенныс, соответственно, в фокальной плоскости линзы 8 и пл)Скост 51 центров кривизны проверяемой поверхности.10 1.1 я гранях а н б нанесены зсркальныс по,1)ски, в середине которых прорезаны узкие прозрачныс цели (св. внд по стрелке Л), Щель па граш 6 совмещена с фокальной линией лпнзь 1 б и пропускает к поверхности проверяс мОЙ детали гольку ту часть пучка, котора 51дифрагировала на щели. После отражения от детали 10 пучок направляется в пнтерферов 1 етр мимо зеркальной полоски, 1 кой х),1 пучка обеспечивается соответствующиз...

Способ измерения кривизны световой волны

Загрузка...

Номер патента: 356452

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Губчик, Сухоруких

МПК: G01B 9/02

Метки: волны, кривизны, световой

...волны, затем выводят нить из фокальной плоскости (расфокусируют) . Расфокусировку производят при измерении положительной кривизны (сходящаяся волна) против хода лучей, при измерении отрицательной кривизны (расходящаяся волна) - по ходу лучей. Фотографируют теневую картину от расфокусированной нити (решетки) и на полученной фотографии находят вершины5 теней от нитей: точки, в которых прямые, перпендикулярные нити, касательны к середине тени.В точках, совпадающих с вершинами теней,определяют кривизну сечения поверхности 10 световой волны плоскостью, перпендикулярной нити.Для теневого прибора с зеркально-менисковой системой (серийный теневой прибор ИАБ) кривизна К определяется по фор муле: где- второе фокусное расстояние...

Способ контроля плоскостности прозрачныхдеталей

Загрузка...

Номер патента: 357462

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Бйш, Концевой, Кудин, Кудр, Меньшиков, Уль, Шемиот

МПК: G01B 9/02

Метки: плоскостности, прозрачныхдеталей

...взаимо действия лучей, отраженных от эталонной иконтролируемой поверхностей. Однако на полезную интерференционную картину наложен ряд паразитных, вызванных интерференцией лучей, отраженных от верхней и нижней по верхносте проверяемой детали, от эталоннойповерхности и нижней поверхности детали 7 и т. д в результате чего расшифровка полезной интерференционной картины сильно затруднена н не всегда возможна,15 Если задать падающему пучку угловые колебания с,периодом, меньшим постоянной времени приемника световой энергии (например, 1/25 сек при наблюдении глазом), то интерференционные картины начинают разлы ваться, причем тем сильнее, чем больше разяость хода между интерферирующими лучами.При изменении разности хода за один период...

Интерферометр с дифракционной решеткой

Загрузка...

Номер патента: 358611

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Белозеров, Спорник, Яничкин

МПК: G01B 9/02

Метки: дифракционной, интерферометр, решеткой

...получать переменную величину и направление сдвига волновых фронтов при различной ширине и ориентации интерференционных полос,Схема предложенного интерферометра показанн а н а чертеже.Интерферометр содержит источник света 1, объектив 2 осветительной части, объектив 3 приемной части, дифракционные решетки 4, б и экран б.Световые пучки, сформированные объективами 2 и 3, дифрагируют сначала на решетке 4, Нулевой порядок дифрагированного светового пучка, прошедшего через решетку 4, дифрагирует на решетке б. В результате взаимодеиствия световых пучков, дифрагированных на обеих решетках, в первых порядках дифракции одного знака образуется интерференционная картина. Ширина интерферен ционных полос зависит от шага дифракционных решеток и...

Автоматический интерференционный рефрактометр

Загрузка...

Номер патента: 360594

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Эцин

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: автоматический, интерференционный, рефрактометр

...согласовании двух интерферометров.На чертеже изображена схема предлагаемого рефрактометра.Предлагаемый рефрактометр содержит осветитель с источником белого света, состоящий из электрической лампы 1 накаливания, объектива 2 и поляризатора 3, и осветитель с источником монохроматического света, состоящий из спектральной лампы 4, объектива 5 и поляризатора 6. Направления пропускания поляризаторов 3 и б составляют между собой угол 90, Оптические оси осветителей совмещены с пол 1 ощью полупрозрачной пластины 7, расположенной между осветителями и интерферометром Майкельсона. Интерферометр содержит призму 8 Кестерса, кюветы 9, 10 соответственно с исследуемой и образцовой жидкостью и зеркало 11. В,ветви интерферометра помещен компенсатор 12...

Наблюдательная система интерферометра

Загрузка...

Номер патента: 384000

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Контиевский

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометра, наблюдательная

...полос,На чертеже приведена оптическая схема предлагаемой наблюдательной системы интер фер ометр а.Задняя фокальная плоскость объектива 1 совмещена с передней фокальной плоскостью линзы 2. Между линзами 2 и 3 введены две расположенные под углом плоскопараллельные пластины 4 и 5. Ребро б, образованное пересечением поверхностей 7 и 8 пластин, расположено в плоскости 9, сопряженной с плоскостью 10 локализации интерференцчонных полос, Угол между поверхностями 7 и 8 меньше 180. Передняя фокальная плоокость линзы 3 совмещена с .плоскостьв 9. Интерференционная картина наблюдается глазом, помещенным за диафрагмой 11, расположенной в задней фокальной плоскости линзы 3.Наведение на центр интерференционной по лосы осуществляется по...

Устройство для измерения перемещений в двух координатах

Загрузка...

Номер патента: 387207

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Авторы

МПК: G01B 9/02

Метки: двух, координатах, перемещений

...на дифракционную решетку. Пучок, 10 прошедший пластину 4 и попавший на светоделящую пластину б, в свою очередь, расщепляется на два пучка, один из которых проходит через пластину б без изменения направления на дифракционную решетку после от ражения на зеркале 7.Светоделящая пластина 4 установлена в паре с зеркалом 5, а светоделящая пластина 6 - в паре с зеркалом 7 таким образом, чтобы плоскости пересечения каждой пары зеркала 20 и пластины образовали угол а и 1, равныемежду собой, а линии пересечения плоскостей каждой пары образовывали угол 90 (угол аоо).При установке светоделящих пластин и зер кал, как указано выше, за интерфометром образуется три пучка, центральные лучи которого пересекаются,в одной точке пространства.В зону...

Многолучевой клиновидный интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 389397

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, клиновидный, многолучевой

...плоскости чертежа,После прохождения через двоякопреломля 25 ющую призму б световой пучок, идущий отосветителя, распадается на два пучка света,поляризованных во взаимно перпендикулярных направлениях. Применение двоякопреломляющей поляризационной призмы в каче 30 стве светоделительного устройства позволяетго г 5 зо г 2 Л. Гоихмраненко оставительТехред 3. Т рректоры: Л, Царькови Л, ОрловП едактор Т. Орловская одписное Сапунов пографии, пр. использовать в интерферометре высококогерентные лазерные источники света.Первый пучок проходит через призму как через плоскопараллельную пластинку. Второй пучок отражается от гипотенузной грани призмы 6, зеркала 7 и, еще раз отразившись от полупрозрачной грани пластины 8, пространственно...

Устройство для сравнения длин волн

Загрузка...

Номер патента: 391386

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Брызжев, Мирошниченко, Химченко

МПК: G01B 9/02

Метки: волн, длин, сравнения

...Д, Брызжев, О. Н. Мирошниченко и В, П Изобретение относится к области точных измерений длины волны светового излучения и может быть использовано для изучения стабильности излучения монохроматических источников света, метрологического сравнения длин волн монохроматических излучений.Известные устройства измерения длины волны света с помощью перемещающегося зеркала интерферометра, которое установлено на движущуюся каретку, обладают недостаточной точностью ввиду косвенного сравнения измеряемой длины, волны с эталонной через промежуточную шкалу.Цель изобретения - повышение точности измерения.Это достигается применением предлагаемого устройспва, особенностью которого является непосредственное автоматическое компарирование измеряемой...

Поляризационный интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 391387

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Комиссарук, Яничкин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, поляризационный

...1. После призмы 2 Волластона расходящийся пучок света преобразуется коллиматорным объективом З,в параллельный, проходит сквозь об ьект исследования и камерным объективом 4 направляется па элемент 5, поворачивающий плоскость поляризации и вторую призму б Волластона.,Пройдя поляроид 7, свет направляется на приемник излучения, например фотопластинку,Принцип работы устройства заключается в следующем. Первая призма 2 Волластона придаетастигматизм обеим волновым повсрхностям обыкновенного и необыкновенного .тучей. Эле мент 5 поворачивает плоскость поляризациилучей на 90 и, благодаря этому, вторая призма б Волластона компенспрует астигматизм, внесенный в световой поток призмой 2, Если призмы 2 и б установлены перпендикулярно 20 оптической...

Интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 395705

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Комиссаров

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр

...покрытия, адвух образованных при этомния лучей прохождение черези отражение от двух. Для выдпучков на входе и выходе порагмы. тр отличается о установлены световые пучки с нанесенными 20 етоделительныими друг, другая луча измерирез все четыре для каждого из 25 в ветви сравнеодно покрытие еления рабочихмещецы дцафЭто повышает чувствительность и точность измерения разности хода до 0,004 длины световой волны ь установках больших габаритных размеров.На чертеже изображена оптическая схема предлагаемого пнтерферометра.Луч света из осветителя 1 через входную диафрагму 2 падает на разделительную пластину 8, где в результате отражения от ее светоделцтельных покрытий он делится на три луча. Один луч проходит в измерительной ветви...

Интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 395706

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Каторгин, Шир

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр

...через блок зеркал 2, 3 и 4, попадает на зеркало 5 и отклоняется им на полупрозрачное зеркало б.Во втором плече интерферометра зеркало 7 отклоняет излучение в блок зеркал 8, 9 и 10, пройдя который излучение попадает на полупрозрачное зеркало б. Блоки зеркал в процессе работы поворачивают на угол вокруг оптической оси в противоположных направлениях.Интерферометр устанавливают в фокусе объектива телескопа, а интерференционная картина наблюдается в плоскости его выходного зрачка, Световое излучение от объекта светоделительным зеркалом 1 направляется в оба плеча интерферометра. При повороте одного из блоков зеркал на угол а вокруг оптической осп волновой фронт на выходе его поворачивается на угол 2 а. Таким образом, волновые фронты на...

Двухлучевой интерферометр для контроля качества поверхностей оптических деталей и аберраций

Загрузка...

Номер патента: 396543

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Контиевский

МПК: G01B 9/02

Метки: аберраций, двухлучевой, интерферометр, качества, оптических, поверхностей

...и,следовательно,:с ограничивают точности измерения местных ошибок.На чертеже приведе а схема предтагаемогоинтерферо., етра для случая контроля плоскихповерхностей.Иптерферометр содержит осветительное устройство, Вклочаюцсе псточнп( 1 излученп 5,конденсор 2 и диафрагму 3; объектив 4, в фокальной плоскости которого находится диафрагма 3; систему пз свстодслптелей 6, 6 изеркал 7, 8; обордчптдопхуо систему пз трехплоских зеркал 9, 10 и 11, Выполненную пои 1 ротпой относ;тельно оптической оси О - Оинтерфсрометрд, Кдртпнд ш тсрферепцпп двухпучков, отражеп;ых от контролируемой поверхности 12, рассматривается наблюдательным хустрогством (например, глазом), помещенным за диафрагмой 13, расположенной вфокдльной плоскости обьектпва 11. Одна...

Способ исследования оптических неоднородностей

Загрузка...

Номер патента: 397745

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Васильев

МПК: G01B 9/02

Метки: исследования, неоднородностей, оптических

...чтобы отклонение лучей в другом направлении, чаще всего перпендикулярном первому, приводило к изменению освещенности теневой кар тины. Затем определяют цвет каждой точки изображения и фотометрируют изображение397745 35 40 оставитель Л, Гойхман Техред Т. Курилко Корректор Н. Учгкина ловска едактор Тираж 755комитета Совета Мин истробретений и открытийРаушокая наб., д. 4/5 Поди исССР Тип. Харьк. фил. пред. кПатен в каждом цвете. По изменению освещенности (или связанной с ней величины),и цвета пзооражения измеряют две проекции угла отклонения световых лучей. в исследуемой неоднородности,Получаемая теневая картина непрерывна, поэтому измерения можно проводить в любой точке изображения. Становится возможным одновременное проведение...

Интерференционный способ измерения величины линейных и угловых перемещений

Загрузка...

Номер патента: 399722

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Авторы

МПК: G01B 17/00, G01B 9/02, G01B 9/08 ...

Метки: величины, интерференционный, линейных, перемещений, угловых

...поглощаетс 1 поглотителем 23. В результате дифракции ца ультразвуке пучок 11 ца выходе акустооптического модулятора 20 расщепляется ца два: пучок света 24, соответствующий нулевому порядку дифракции, и пучок 25, соответствующии минус 1 - сму порядку дифр акции.Модуляторы 13 и 20 расположены 1 ак, что пучки 18 и 25 в пространстве за одуяоро., 20 совмещаются, причем пучок 1 Я (частично) проходит через модулятор 20 без отклонений, так как в этом случае сн падает ца модулятор 20 под углом Брэгга. Поле иггсрференцци совпадающих пучков 18 и 25 восприцимаегси 5 тс 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 4фотоприемником 26, ФооприехИик 26 работаст в режиме фотосмещеция и, так как оптические частоты ицтерферирующих пучков 18 и 25 различы, выделяет ца...

401949

Загрузка...

Номер патента: 401949

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01B 9/02, G02B 5/04

Метки: 401949

...пучки светового потока должны быть направлены в диаметрально противоположные стороны, Кроме того, призма позволяет упростить настройку интерферометра. Призма работает следующим образом (фиг. 1, 2), Световой поток от источника света направляется на полупрозрачную грань АВСР, которая разделяет его на два пучка. Левый пучок последовательно попадает на грани АЯРО и МУСВ и, отразившись от них, выходит из призмы через грань МХРЯ, Пройдя остальную часть схемы интерферометра, пучок света возвращается в призму через грянь МЫРЯ и, отразившись последователь3но от граней МЛ"СВ и ОРРА, падает на полупрозрачную грань АВСР. Половина интенсивности левого пучка проходит полупрозрачный слой и выходит из призмы через грань АЛКР, а вторая половина,...

Интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 403949

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Духопел, Пахомова, Урнис

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: интерферометр

...содержит монохроматическпй источник 1 света, кондепсор 2, диафрагму (входддодд зрачок интерферомстра) 3,25 плоское зеркало 4, светоделительн пластину 5, тубуспую линзу 6, микрообъектив 7, полусферическую линзу 8, выключающийся объектив 9, окуляр 10.Позицией 11 обозначена контрол30 таль, 12 - капля иммерсионной ж25 ЗО 35 3образцовая сферическая поверхность; б - контролируемая поверхность.Работает предлагаемый интерферомстр следующим образом.Монохроматический источник света 1 с помощью конденсора 2 освещает отверстие диафрагмы 3, установленной в фокальной плоскости тубусной линзы 6. Прошедшие через диафрагму пучки плоским зеркалом 4 направляются сначала на линзу 6, а затем в микрообьектив 7, В предметной плоскости...

Интерферометр для измерения линейных перемыцений объекта

Загрузка...

Номер патента: 407185

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Сихарулидзе

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, линейных, объекта, перемыцений

...пу. тн между отражателями 7 и 9 в одной ветви и 8 и 10 в другой и попадают на плоские зеркала 11 и (2, после отражения от которых проделывают пройденный путь в обратном порядке, вновь соединяясь на разделяющей пластине 3.При описании одного полного витка ось пучка света смещается в сторону биссектрисы прямого угла подвижного уголкового отражателя параллельно самому себе на расстояние.2 в - 2(в - а), где в - расстояние между осью первого пучка лучей, падающего на подвижный уголковый отражатель, и биссектри 5 20 25 Зо 35 40 д 50 55 00 65 сой прямого угла последнего, Г 1 ри описании каждого нового витка пучок лучей смещается на ту же величину по отношению к предыдущему положению, при этом К - число прохождений пучком света пути между...

Радиусомер для выпуклых неполных цилиндрических и сферических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 408141

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Стандартизации, Якирин

МПК: G01B 11/255, G01B 9/02

Метки: выпуклых, неполных, поверхностей, радиусомер, сферических, цилиндрических

...рабочимиизмеряеют два оттсчетов и 25 ный коэфтличается тем зводительности лоскостей приз Изобретение относится нике и может быть ис щения производительнос выпуклых неполных цилИзвестен радиусомер ных цилиндрических и с тей, содержащий прозр призму с определенным между ее рабочими пло устройство со шкалой и лением для наводки на онных картин, возникаю не между рабочей пло призмы и измеряемой по циент проп онмым радиус игранного уг докартины.На чертеже показан предлагаемый радиусомер.Он содержит подвижный стол 1, на котором находится прозрачная установочная призма 2 с определенным углом О между рабочими плоскостями, отсчетное устройство 3 со шкалой 4 и визирным приспособлением 5, прижим 6, прижимающий измеряемый объект 7 с...

Прибор для интерференционной спектрометрии

Загрузка...

Номер патента: 363261

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Иностранец

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционной, прибор, спектрометрии

...большим углом схождения.В этом устройстве роль пластин, уравцивающих оптические расстояния от светоделцтельцого слоя до отражаощих поверхностей, вы полняют воздушные зазоры, Плоский зазоробразован прямоугольнымп брусками 17 и 18, вклеенными между гранью 13 и покрытой отражающим слоем внутренней поверхностью пластины 19. Клиновидный зазор образован 30 клиньями 20 и 21, вклеенными между гранью363261 Ъьч, ) иг.1 г иг,З Подписное Заказ 268/11 рам( 4 д. Мо 60 пографня, пр. Сапунова,11 и покрытой отражающим слоем внутренней поверхностью пластины 22,Предмет изобретения 1. Прибор для интерференционной спектрометрии, содержащий интерференционное устройство, выполненное по схеме Майкельсопа, фокусирующую оптическую систему и приемник световой...

Прибор для прецизионных измерений диаметра и погрешности формы тонких нитей

Загрузка...

Номер патента: 363862

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Добротин, Захаров, Крытов, Рагулина, Тараненко

МПК: G01B 11/08, G01B 9/02

Метки: диаметра, измерений, нитей, погрешности, прецизионных, прибор, тонких, формы

...выполнено в виде скобы, образованной направляющей б и двумя кронштейнами 7 и 8. В кронштейнах установлены два соосно расположенных зажимных патрона 9 и 10 с возможностью синхронного поворота относительно их общей оси, обеспечиваемого общей тягой 11.Каждый зажимной патрон содержит корпус 12 с призматической канавкой для свободного ввода нити на линию измерения. В корпусе установлены призма 1 З ориентации, два поворотных в плоскости, перпенди3кулярной оси призмы, эксцентрично смещенных на 1,5 мм относительно оси призмы и сектора 14 и 15, и рычаги 1 б управления. Ры. чаги кинематически связаны с секторами посредством ползуна 17 с пазами и шпилек 18, установленных в секторах, и охватывает коромысло 19, фиксирующее рычаг в заданном...

Осветитель интерферометров и теневых приборов

Загрузка...

Номер патента: 366347

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Ануфриев, Бутин, Кипель, Ловков, Сахаров

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометров, осветитель, приборов, теневых

...тельное количество, к входной щели прибора с помощью пучка светоотводов, входной торец каждого из которых принимает свет от определенного источника, а выходной торец полностью перекрывает ширину входной щели ЗО прибора, причем все торцы фиксируются у щели с помощью специального штуцера.На чертеже схематически представлено предлагаемое устройство.В корпусе 1 осветителя осесимметрично расположено несколько импульсных источников 2 света импульсных ламп, например ламп ИОШ, расположенных в цилиндрических светонепроницаемых двухслоиных экранах 3 с отверстиями для ввода световодов 4. Внутренний слой цилиндрического экрана 3 выполнен из диэлектрика с целью защиты от высоковольтного пробоя, наружный слой 5 - из материала с высокой магнитной...

Устройство для получения интерферограмм при изучении быстропротекающих процессов

Загрузка...

Номер патента: 368474

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Кремена, Петров, Харитонов

МПК: G01B 9/02, G01M 9/00, G01M 9/06 ...

Метки: быстропротекающих, изучении, интерферограмм, процессов

...соединенных фотоэлектронного преобразователя и усилителя-формирователя, вы:,од которого связан с основным источником света.На чертеже изображена схема предлагаемого устройства.Устройство содержит интерферометр 1 с основной 2 и дополнительной 3 приемными частями, включающими в себя скрещенныесветофильтры 4 и 5 (например, красный и зеленый соответственно), основной 6 и дополнительный 7 источники света со светофильтрами 8 и 9 (например, красным и зеленым соответственно). На выходе основной приемной части установлена фотокамера 10, а на выходе дополнительной приемной части - подвижная диафрагма 11 и фотоэлектронный преобразователь 12, соединенный с основным источником света через усилитель-формирователь 18.Дополнительный источник света...