Арлов
Задатчик поля векторов смещений
Номер патента: 1518654
Опубликовано: 30.10.1989
Авторы: Арлов, Сарычев, Семин, Шкорупило
МПК: G01B 5/00
Метки: векторов, задатчик, поля, смещений
...следующим образом,Па первом этапе производится тарироа з эадатчика с помощью классического интерферометра, Тарировка задатчикэ по нормальным и касательнымсоставляющим смещений производитсяраздельно. При тарировке Аормальньхсмещений в качестве испытуемого зеркала в классическом интерферометреиспользуются зеркальные секторы 18.Для э"ого сначала проводят фотосъемку исходной интерферограммы сектороа18Затем сжимают сильфон 5 с помощьюмикронинта 8. При этом внутри герметичного объема возрастает давление,что приводит к выпучинанию мембраны.Значение передаточного отношения1 около 0,001) между перемещениемштока микронинта и смещением центральной точки мембраны достигаетсяэа счет подбора толщины мембраны иобъъма нкладьппа 9. После этого...
Способ определения динамических характеристик автоматического автоколлиматора
Номер патента: 1283573
Опубликовано: 15.01.1987
Авторы: Арлов, Киселев, Степаненко
МПК: G01M 11/00
Метки: автоколлиматора, динамических, характеристик
...3 и 4, при этом в качестве базовой выбирают зафиксированную поверхность 3. Отражающая поверхность 4 может поворачиваться вокруг горизонтальной и вертикальной осей с помощью винтов 5 и 6 дпя выставки ее на заданные углы относительно поверхности 3, Поверхности 3 и 4 располагают по окружности движения отверстия 1 О диска 7 модулятора, закрепленного на оси 8 двигателя 9 . К выходу автоколлиматора подключают двухканальный самописец 11 для регистрации выходных сигналов в гори зонтальной и вертикальной плоскостях Амплитуда выходных электрических сигналов автоколлиматора пропорциональ-. на углу поворота каждой иэ отражающих поверхностей. 45Сначала в статике определяют значения задаваемых углов в горизонтальной и вертикапьной плоскостях по...
Интерферометр сдвига
Номер патента: 1128110
Опубликовано: 07.12.1984
Авторы: Андреева, Арлов
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, сдвига
...Я ,Недостатком известного устройства является,невозможность изменения ширины интерференционных полос, что 13 накладывает ограничения нагеометрию исследуемых объектов и усложняет методику измерений.Цель изобретения в . расширение функциональных возможностей интер ферометра сдвига и упрощение методики измерений.. Для достижения поставленной цели в интерферометре сдвига один из объек" тивов оптической системы установлен 25 с возможностью перемещения вдоль оптической оси относительно. поло 10 3жения, в котором его фокус совпадает с фокусом другого объектива оптичес" кой .системы.На чертеже представлена оптическая схема предлагаемого интерферометра сдвига.Интерферометр содержит осветитель, состоящий из источника 1 света, установленного в...
Интерферометрический задатчик перемещений
Номер патента: 1024685
Опубликовано: 23.06.1983
МПК: G01B 5/00
Метки: задатчик, интерферометрический, перемещений
...смикрометрическим винтом и опорой,снабжен закрепленной на корпусевтулкой, ось которой паралельна осимикрометрического винта и проходитчерез центр опоры, последовательноразмещенными во втулкештоком, . 40контактирующим с опорой цилинцричес-.койпружиной и регулировочным винтом, ;а передаточный механизм выполнен ввиде расположенной междумембранойи штоком плоской пружины с прорезью, 45в средней части, имеющей ширинуменьшую диаметра сферической опоры,размещенной в ней, и со сферическимнаконечником на одном иэ концов,взаимодействующим с микрометрическим 5 Овинтом, и установленого в корпусес воэможностью поворота вокруг осиролика, контактирующего с другимконцом плоской пружины.на чертеже показана схема интерферо-,метрического задатчика...
Способ контроля изменения длины детали с помощью эталона
Номер патента: 879258
Опубликовано: 07.11.1981
Авторы: Арлов, Новаковский, Степаненко
МПК: G01B 5/00
Метки: детали, длины, изменения, помощью, эталона
...ающие торцы эталона и детали до их овладения.Благодаря такому выполнению этало а обеспечивается минимальный зазор и сопряжении, что создает хо пловой контакт эталона и дет879258 Формула изобретения Составитель И. ГаранинаРедактор О.Юркова Техред А,Бабинец Корректор О.Билак Заказ 9695/3 тираж 645 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений н открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная, 4 одновременно сохраняется воэможностьснимать эталон с детали на периодэксплуатации последней и устраняетсявлияние сил трения в сопряжении,на длину детали .Способ контроля изменения длиныдетали с помощью эталона поясняетсячертежом, где изображен общий виддетали-втулки...
Способ измерения взаимного сдвига двух систем интерференционных полос в белом свете
Номер патента: 708143
Опубликовано: 05.01.1980
Авторы: Арлов, Голованов, Гуйван, Кукса, Никитенко, Сычева
МПК: G01B 9/02
Метки: белом, взаимного, двух, интерференционных, полос, свете, сдвига, систем
...определенного количества целых полос, с последующим делением полученного промежутка времени на число этих полос, Результат. умножается на коэффициент преобразования К, устанавливающий однозначное соответствие между шириной интерференционной полосы и периодом электрического сигнала. Таким. образом в блоке 6 формируется код коэффициента пересчета, устанавливающий соответствие между длиной волны монохроматического света и промежуточном времени, в течение которого электронный луч передающей трубки перемещается по строке из одной точки в другую. Код коэффициента пересчета запоминается в цифровой форме и поступает на входы блоков 9 и 12 формирования временных интервалов непрерывно в течение цикла измерений. Для измерения сдвига двух...
Способ измерения разности углов поворота двух валов
Номер патента: 679787
Опубликовано: 15.08.1979
Авторы: Арлов, Голованов, Гуйван, Кукса, Миронов, Никитенко, Сычева, Титов
МПК: G01B 11/00
Метки: валов, двух, поворота, разности, углов
...Юи м т Мгде А,Т - соответственно, амплитуда и период развертки угла;д.м,й) - гармоническое управляющее напряжение.Частота гармонической модуляциивыбирается значительно большей (неменее, чем в 4-5 раз) частоты раз -вертки, а амплитуда напряжения гармонической модуляции Ар, равной5-10 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 Излучение после модулятора 2 полупрозрачным зеркалом 5 разделяют на дна, одно из которых направляют на ан али з атор 6, а другое с помощью зеркала 7 - на анализатор 8.Снетовые лучи после анализаторов направляют на фотоприемники 9 и 10, которые преобразуют их в электричес- кие сигналы, пэступающие на вход бпока 11 регистрации временного интервала.При этом угловое положение оси п.эопускания (или непропускания) каждого...
Поляризационный интерферометр переменного сдвига
Номер патента: 619787
Опубликовано: 15.08.1978
Авторы: Андреева, Арлов
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, переменного, поляризационный, сдвига
...на 90 относительно двух других и установлена в плоскости промежуточного иэоб.ражения объекта.В такой схеме величина сдвига изображений определяется параметрами и разностью расстояний первыхпризм от плоскости промежуточиэображения, а ширина полос619787 Формула изобретения оставитель Л. ехред З.Чужию оваКорректор С. ГПодписноеИинистров СССРй Редактор И. МарголисЗаказ 4491/37ЦНИИПИ Государспо д113035 Иоск асиня Тираж 872твенного комитета Совеелам изобретений и отква ЖРаушская наб ы ПП Патент, г. Ужгород, ул, Проектная, 4 Филиал параметрами призмы, расположеннойв этой плоскости,На чертеже изображена принципиальная схема описываемого интерФерометра.Интерферометр содержит источник 1света, коллиматор 2, полупрозрачную 8пластину Э,...
Интерферометр сдвига
Номер патента: 438865
Опубликовано: 05.08.1974
Автор: Арлов
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, сдвига
...объ ектив 5 вместе с объективом 4 образуетуменьшенное изображение 7 объекта, расположенное вблизи задней фокальной плоскости объектива 5.Сдвиговое устройство расщепляет падаю 5 щую на него световую волну на две, расходящиеся под углом 0 одна к другой. В качестве устройства сдвига может быть использовано любое из известных приспособлений для углового расщепления световых лучей. Объектив 8 формирует на экране 9 раздвоенное изображение объекта. В области переналожения изображений наблюдаются интерферепционные полосы, характеризующие разность фаз между точками волновых фронтов, разделенными расстоянием сдвига АПеремещение устройства сдвига в 1 тической оси приводит к изменению Н согласно формулеКорректор Л. Котова Редактор В, Смирягииа...