G01B 9/02 — интерферометры

Номер патента: 149228

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Голубкова, Коронкевич, Финкельштейн

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, концевых, мер, плоскопараллельных, проверки

...10, расположенные против измерительныхповерхностей концевых мер, покрыты светоделительным слоем 1 серебра или алюминия.Лучи, отраженные от передних поверхностей мер и светоделигельного слоя пластины, а также задних поверхностей и призмы, интерфсрируют. Картины интерференционных полос рассматриваются через наблюдательную систему, состоящую из объектива 12 и зрительной тру.бы 13 небольшого увеличения,терферометр пенсатор тип асшприть сак для тельного149228Отрицательная линза 14 вводится в ход лучей перед началом измерения. При этом можно видеть изображение входного зрачка, отраженного от передних и задних поверхностей концевых мер, а также от пластины 7 и призмы 10.По виду и взаимному расположеник интерференционных полос судят о...

Номер патента: 149574

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Медведев

МПК: C03B 23/08, C03C 27/06, G01B 11/30 ...

Метки: линейка, оптическая, стеклянная

...оптической линейки изготовляетсяпластинка 1, а также ее отдельные точные элементы, выполненные ввиде полированных цилиндрических сегментов 2. В холодном состоянии на обратную сторону сегментов со слоем клея (например, эпоксидного) накладывается заранее подготовленная пластинка 1, так каксегменты предварительно перед этим закрепляются парафином наточной горячей поверхности, то они тем самым ориентированы относительно друг друга, а при склейке относительно общего основания 3, После полимеризации клея линейка в подогретом состоянии отделяется от склеечного приспособления (к которому сегменты былиприкреплены парафином), протирается бензином и проверяется на качество сборки. Проверка осуществляется большим пробным стекломна общую...

Номер патента: 149910

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Кривовяз, Пуряев

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: вращения, второго, интерферометр, качества, поверхностей, порядка

...Оба пучка встречаются на разделительной грани кубика б и интерферируют между собой. По возникающей интерферекциопной картине делают заключение о качестве контролируемой поверхности.Путь лучей в воздухе в обеих ветвях интерферометра уравнивается путем перемещения объектива 7 совместно с эталонным зеркалом 8 (эталонный блок), при этом несколько нарушается условие яркости интерференционной картины и выдерживается условие контрастности. Чтобы одновременно выдерживать условия яркости и контрастности, необходимо, чтобы радиус эталонного зеркала 8 был равен длине хода луча от фокуса обектива 9 до поверхности автоколлимационного зеркала 10.Автоколлимационное зеркало совместно с контролируемой поверхностью 11 составляет контрольный...

Номер патента: 154059

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: G01B 9/02

Метки: 154059

...пара,1,1 ельных др г другу зеркала, вводимых (оптически) в одну из ветвей интерферометра, в результате чего отпадает необходимость в механических соедгнециях вращающейся детали с зеркалом ицтерферометра.На чертеже показана оптическая схема для осушсствлеция предлагаемого способа.На врашаюшейся детали, например поворотном лимое с центром вращения в точке Оь закреплены два параллельных друг другу зеркала 1 и 2. Система Оптических злеентОВ 3 и 1 Вместе с зералязи 1 1 и составляет одну ветвь ицтерферометра, система 3, 5 и 6 - другую. При ВВедении пары параллелыЫх зеркал В ВетВь интерфе 3 Озетзя Входящи 1 и выходящий пучки лучей остаются параллельными независимо от углоВого полокеня лимоа, Однако геоетриеская длина и;тей В рязлц 1- ных...

Номер патента: 155942

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: G01B 11/08, G01B 9/02

Метки: 155942

...диаметры измеряются следующим образом.Пучок света от лампочки накаливания, пройдя линзу 2 и диафрагмы 3 и 4, попадает на объектив 5, нз которого выходит параллельный пучок лучей. Последний собирается микрообъективом 6 в его фокусе. Кубик 12 разделяет пучок лучей на два пучка, один из которых собирается в точке А а другой - в точке А . Точка А) совмещена с фокусом микрообъектива 7, а точка Аа - с фскусом микрообъектива 10, Перемещением штихмаса точку А, совмещают с поверхностью 19 измеряемого изделия, например цилиндра или кольца подшипника. Отраженный от поверхности 19 первый пучок лучей после прохождения через микрообъектив 7 становится параллельным и собирается микрообьективом 8 в точке Аа на противоположной стороне...

Номер патента: 155964

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: 155964

...ня полупрозрачную пластинку 4 и разделяется здесь па два потока. Один из ннх падает нормально к плоскому зеркалу 5, отражается от него и идет обратно. Другой поток проходит через объектив б, кривая сферической аберрации которого совпадает с кривой аберраций норм 1 лей контролируемой поверхности или близка и ней. После прохождения через объектив б совокупность лучей второго потока образует волновую поверхность, уравнение которой является уравнением контролируемой поверхности 7. Очевидно, что пр 11 атом условии лучи, в 1.1 ходящие из Ооъектива б, Образуют сОвокуп 11 Ость ИОрмалей кОнтрОлируемой ПОверхности. Падая нормально к поверхност 11, все лучи отражаятся от чее и повторяют свой путь в обратном направлении. Таким образом, оба потока...

Номер патента: 156714

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: 156714

...достпп 1 уто тем, что пробное стекло ьыполнено в виде мениска, а оптическая головка снабжена поворотным механизмом, служащим для вращения головки вокруг центра кривизны мениска, с которым совмещен центр кривизны исследуемой псверхности.аемого интерферо156714 совмещен с той же точкой. При этом пучок лучей падает по нормалям к поверхности пробного стекла О и к исследуемой асферической поверхности и, отразившись от обеих, лучи интерферируют и совершают тот же путь в обратном направлении. Пройдя через полупрозрачное зеркало 5, пучок лучей попадает в телескопическую лупу по сетке 12, по которой и производится наводка поворотной системы па интерфсренционные полосы, наблюдаемые через окуляр 13. Отсчет угла поворота (т. е, полярный...

Номер патента: 156715

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: 156715

...царапин при наложении эталона на контролируемую деталь, позволяет вести контроль непосредственно на шпинделе оптического станка и дает повышенную контрастность интерференционной картины.Это достигается тем, что между эталоном и контролируемой деталью помещены прокладки, наклеенные на эталон, и для освещения применен монохроматический источник света.На чертежике изобразкена оптическая схема интерферометра, которая содержит монохроматический источник света 1, матовое стекло 2, пластинку-отражатель 3 и эталон 4.В качестве эталона взято рабочее стекло заданного диаметра, рабочая поверхность которого обработана с точностью до 1 интерференционной полосы (в линейной мере не более 0,03 лк). На поверхности эталона приклеены три пластинки 5...

Номер патента: 157534

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: G01B 9/02, G01D 5/32

Метки: 157534

...3 через светофильтр 4 проектируют на отверстие А в плоскости диафрагмы 5. После оптической детали б объектив 7 изображает отвер157534стие А в точке Л, С точкой А совмещен центр кривизны эталонной поверхности 5, мениска 8. С этой же точкой примерно совмещают центр кривизны поверхности 5 контролируемой линзы 9. В результате отражения от поверхности 5, и 5 когерентных волн на эталонной поверхности мениска образуется интерференционная картина, которую объективом 7, оптическими деталями б, 10, 11, 12 (призма Довэ) и объективами 13 и 14 проектируют в плоскость диафрагмы 15, имеющей сканирующее отверстие малых размеров. Линза 1 б вместе с другими оптическими деталями проектирует отверстие А в плоскость фотокатода фотоумножителя...

Номер патента: 157789

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: G01B 11/255, G01B 9/02, G02B 5/28 ...

Метки: 157789

...и Окуляра.На чертеже изображена оптическая схема устройства.И точник 1 белого света помещен в фокусе двояковыпуклой линзы 2 Поворотный интерферегционный светофильтр 3 помещен в наЪо 157789 ра,лелыом и",1 ке светОВВх лучей, пдуцих От липзь к разделитсльнОЙ пласти 1 е 4, Отра)каощей их на 110 сопос стскло а, контактирующее с контролируемой де алыо 6. ИпчеР(1)еренциону 0 картину, Возникающую В Возду 1 ппом зазоре между прооным стеклом и контролтруел 10 й дста:1 ыО, наол 10 да 10 т чс)ез Опт 1 с-скуО систему, сост 051 щО пз Обьектива 7 и окуляра о.При поворотах светофильтра Вс)круг осп 9 благодаря изменению угла падения света на свеофильтр пзменяется длина волны света, падающего на контролируемую деталь. Это вызывает перемещение...

Номер патента: 160862

Опубликовано: 01.01.1964

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: 160862

...испаряться. Интенсивность испарения масла в каждой точке мембраны 10 определяется интенсивностью иисрракрасоз радиации в данной точке,В результате неравномерного испарения масла происходит визуализации невидимого изображения иитерфереициоииых полос иа поверхиости мембраны 10 при ее освещении через тепловой фильтр 17 от источника 18 видимого света, установленого в фокальиой плоскости объектива 19, расположенного перед полупрозрачным зеркалом 20, Объектив 19 формирует пучок лучей, который проходит ,через окошко о 1 кюветы и падает иа мембрану 10. Йитерфереициоиая картина иа мембране 10 при помощи объективов 19 и 22 может рассматриваться визуальпо через окуляр 23 или при включеипом зеркале 21 фотографироваться фотокамерой 2 з. При вс:си...

Номер патента: 160863

Опубликовано: 01.01.1964

МПК: G01B 9/02, G02B 23/04

Метки: 160863

...отличцелью увелсти путемпо всей ппустановленпример фо выполкельсонем, с пособнопучков лескопа тво, наВ известных перископических интерферометрах, выполненных по схеме интерферометра Майкельсона, интерферирующие пучки до объектива телескопа идут на некотором расстоянии друг от друга и это расстояние определяет угловую ширину интерференционных полос, равную Х/а,Отличительной особенностью предлагаемого интерферометра является то, что в нем перед объективом телескопа установлено светоделительное устройство, например фотометрический кубик, который сводит интерферирующие пучки по всей ширине, т. е, расстояние между интерферирующими пучками равно нулю. Поэтому в фокальной плоскости телескопа будет наблюдаться только одна, бесконечно широкая...

Номер патента: 165904

Опубликовано: 01.01.1964

Авторы: Галеева, Контиевский

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02, G02B 23/04 ...

Метки: оптических, плоских, поверхностей, прибор

...с точным промежуточным кольцом 4. В фокальной плоско сти объектива 5, совпадающей с диафрагмой 6, образуется интерферепционная система колец. Коллиматор 7 обеспечивает телецентрический ход лучей. Свет от правой н левой частей интерференционной системы колец идет вначале различными путями (ромбические призмы О, измерительные клинья 9, объективы 10), затем изображения правой и левой частей интерференционной системы колец при помощи зеркал 11 и светоделительной пластинки 12 совмещаются в фокальнон плоскости ок.- ляра 13. При перемещении диафрагмы 14 из. менения в промежутке между пластинками, вызываемые ошибками изготовления нли не- параллельностью пластинок, приводят к расхождению правой и левой частей интерференционного кольца,...

Номер патента: 168915

Опубликовано: 01.01.1965

МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...

Метки: 168915

...пластины, а по 5 касательным - зеркала, одно из которых перпендикулярно большой оси, причем направления всех элементов интерферометра пересекаются в точке пересечения этих касательных и эллипсу. вестны интер(рерометры для исследования прозрачных неоднородностей, в которых осуществляется либо двукратное прохождение луча в исследуемом объекте, либо локализация полос в любой точке объекта,Предложенный ингерферометр позволяет объединить эти способы исследования.В основу геометрического построения предложенного интерферометра положен эллипс, в фокусах которого находятся две разделительные пластины, а по касательным - зеркала, одно из которых перпендикулярно большой оси, причем направления всех элементов интерферометра пересекаются в...

Номер патента: 171591

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Зубаков, Чунин

МПК: G01B 11/26, G01B 9/02

Метки: интерференционный, конических

...отражающая коническая поверхность, позволяющая получить круговую интерферен ционную картину, по которой производят контроль угла конической поверхности и прямолинейности образующей.На чертеже изображена схема прибора для осуществления способа. 30 Свет от источника 1 монохроматического излучения проходит через коллиматор 2, попадает на светоделительную пластину 8, разделяющую падающий пучок света на два, один из которых направляется к плоскому эталонному зеркалу 4, а второй к контролируемой конической поверхности 5, расположенной в рабочей ветви интерферометра,Лучи света отражаются от контролируемой конической поверхности, попадают на вспомогательную поверхность, образованную вращением плоского эталонного зеркала 6 вокруг...

Номер патента: 172085

Опубликовано: 01.01.1965

Автор: Шапочкин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, прозрачнб1х, слоев, толщины

...с поворотным механизмом.На фиг, 1 изображена принципиальная схема установки для контроля толщины прозрачного слоя на вогнутой поверхности относительно большой кривизны; на фиг. 2 - то же, 10 для выпуклой поверхности оптической детали.Оптическая деталь 1 с контролируемымслоем 2 освещается монохром атическим источником 3 света из действительного оптического фокуса поверхности.15 Интерферирующие пучки лучей, отраженные от поверхностей слоя и детали, будут составлять с оптической осью малые углы, и интерференционную картину можно наблюдать на любой зоне детали у через микроскоп 4, 20 ось которого параллельна оптической оси де.тали. Зная из предварительного расчета теоретическое положение интерференционных полос по зонам поверхности и...

Номер патента: 173454

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Захарьевский, Кузнецова

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: 173454

...прямого зрения и отсчетное устройство.На фиг. 1 показана принципиальная схемаоинтерферрометра; на фиг, 2 - общий профилограммы контролируемой поверхностеи пластинки 5 покрыта посветоделительной пленкой,Интерференционная картина, воспроизводящая микропрофиль контролируемой поверх ности 6, возникает в плоскости изображения7 и рассматривается через окуляр 8. В плоскости изображения установлена щелевая диафрагма, и глаз 9 наблюдателя видит одну светлую линию, За окуляром помещена спек тральная призма 10 прямого зрения, котораяразворачивает светлую линию в спектр, перессченный полосами, число которых зависит от разности хода в двух ветвях интерферрометра. Шероховатость контролируемой по верхности изображается в виде зигзагов (см.фиг. 2) на...

Номер патента: 174001

Опубликовано: 01.01.1965

Автор: Скоков

МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...

Метки: интерферометр, одновременной, регистрации

...поля плотностей в газовых средах путем наблюдения в один и тот же момент времени многолучевой интерференционной картины в двух плоскостях. Интерферометр выполнен в виде двух оптических систем, создающих одновременно две иптерференционные картины, локализованные в двух взаимно перпендикулярных плоскостях.На чертеже представлена схема предлагаемого многолучевого интерферометра.Свет от точечного источника 1 через объектив 2 попадает на полупрозрачную пластину 8, разделяющую падающий пучок света на два параллельных пучка. Один пучок света отражается от зеркал 4 и 4, проходит эталоны 5 и б Фабри-Перо и падает на объектив б,которыи дает изображение плоскости О - О в плоскости приемника 7. Другая часть светового пучка проходит эталоны 8 и...

Номер патента: 177116

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Контиевский, Ухов

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: двух, интерферометр, лучевой, фурье-спектрометрии

...а также создает возможность для применения его в далекой инфракрасной области спектра. На фиг, 1 представлена схема описываемого интерферометра; на фиг. 2 - конструкция светоделительного элемента.Параллельный пучок лучей 1 и 2 падает на зеркальную поверхность 3 плоскопараллельной пластины 4 светоделнтельного элемента интерферометра. Половина пучка (лучи 1) отражается от зеркальной поверхности пластины, падает на плоское зеркало 5, отражается от него, вновь падает и отражается от .-поверхности 3, Лучи 2 (другая половина пучка) проходят через продольные сквозные параллельные пазы б, сделанные в пластине 4, падают на плоское зеркало 7, отражаются от него, проходя снова через пазы пластины, и выходят параллельно лучам 1. При этом лучи...

Номер патента: 182365

Опубликовано: 01.01.1966

Автор: Духопел

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: вращения, выпуклых, гиперболических, поверхностей, эллиптических

...иммерсионной жидкостью. лаполнение происходит автоматически, если дополнительная линза и кювета жестко связаны между собой. м ет изобрете птических вращения ичаюиий- езаберраптическую дкостью и ют в раТваймана,верхности и картине. Споси гипе любых ся тес ционно деталь дополь бочую провер осущес Данное изобретение относится к измери. тельной технике - контролю асферических поверхностей.Предложен способ контроля выпуклых эл. липтических и гиперболических поверхностей вращения любых относительных отверстий, который позволяет проверять асферически. поверхности без применения специального об ьектива.Проверяемую деталь с помощью иммерси. 10 онной жидкости и дополнтиельной линзы превращают в безаберрационную систему, кото. рую...

Номер патента: 185093

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Андрианова, Дрейден, Лиоте, Попов

МПК: G01B 9/02, G02F 1/29

Метки: интерференционный, модулятор

...элементов различных напряже О ний, что ведет к изменению показателя преломления.Электрооптические элементы размещены в плечах интерферометра, например типа Майкельсона, а вместо плоских зеркал установле ны возвратно-отражательные призмы, Модулятор позволяет расширить полосу частот модуляции и повысить стабильность модуляции путем управляемого изменения разности хода интерферирующих лучей, гоПринципиальная схема предлагаемого интерференционного модулятора изображена на чертеже.Параллельный пучок света падает на интерференционный кубик 1, после прохожде ния которого световой поток раздваивается и поступает в плечи интерферометра. В каждом из плечей интерферометра размещены электрооптические элементы 2 и 3 и возвратно- отражательные...

Номер патента: 185511

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Ловков, Отпущенников, Сабодаш, Уйй, Хари

МПК: G01B 9/02, G02B 27/28

Метки: мотбка

...прибора, и анализатор, 4":тацов.чецный в приемной части, отличаоисиися тем, что, с целью определения зависимости распределецц напряжений в 5 прозрачной модели цз оптически активногоматериала при обтекании ее газовым потоком, в цем за поляризатором и перед анализатором установлены оптические пластины с разностью хода в четверть длины волны. Применяемые для исследования параметрсв газовой неоднородности в аэродинамических установках поляризационные интерферометры, содержащие полярзаор, установленный перед или за входным зрачком, и анализатор в приемной части, це позволяют определить зависимость распределепи напряжений в исследуемой модели, возникающих при воздействии ца нее газового потока. 1Предлагаемый интерферометр отличается тем, что...

Номер патента: 187320

Опубликовано: 01.01.1966

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02, G02B 23/02 ...

Метки: интерференционный, микропрофи, омет

...падает на обьектив 6, а другой ,после прохождения через компенсационную пластину 7) - на об.ьектив 8. Обьск)п)3 6 вмссте с призмой 9 вводится внутрь контролируемой детали 10 и проектирует на сс поверхность изоора)кение щели ). Оъсктив ( дастизображение щели вблизи р(бр прзмы 1,работнощей как двугранно( зеркало. Призманеобходима для того, чтобы тражшпый пучоклучей после обратиго пр(хо)кдп 351:Срс:3объектив В шел под небольшим угло) к своспе)1)она)ал).нол)л НГ)п)ав,)ени)0, чт поз)30 Л 5 ет полечить 1)нте(1)ср(чп;31 ннс 1 ,3 с тр(.буеми) ширины,Г 1 учки лучей, отраженные от граней призмы 1 и от контролируемой поверхности 10,вновь соединяются пластиной 5 и попадают взрительную трубу, состоящую из бъ ктпва12 ОН 1 Л 511)а 13 и Б 11 клоча 10...

Номер патента: 188064

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Всесоюзный, Трофимова

МПК: G01B 9/02, G01D 5/36

Метки: двухлучевой, длясмещений, интерферометр

...с пучком лучей первой ветви.Зеркала 7 и 8 могут быть параллельные илиустановлены под некоторым углом один к дру гому и к ходу лучей, ооеспсчивающим требуемое число отражений.Интерференционная картина может наблюдаться визуально через объектив 10 и щель 1 У или с помощью полупрозрачной пластины 12 о и поворотного зеркала 13 проектироваться надве щели 14 и 15, Для фотоэлектрического преобразования световых потоков в электрические сигналы используются фотоэлектронные умножители 16 и 17. Для преобразования 5 информации в дискретно-цифровую формуслу)кит электронная схеха, состоящая из усилителей 18 и 19, схемы формирования импульсов 20 и реверсивного счетчика импульсов 21,Малые разности хода лучей в интерферо метре измеряются следующим...

Номер патента: 177633

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Всесоюзный, Шестопалов

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02, G01D 5/36 ...

Метки: направляющих, оптическое, прямолинейности

...3 и используемым в качестве подвижного зеркала 25 уголковым отражателем 4, который крепитсяна подвижной каретке 5 проверяемых направляющихх.При равномерном движении каретки 5 ввыходном пучкс ннтерферометра перемещаст ся система полос, причем колебание ширины1776:3 оставитель В. Чудов хрсд Т. П. Курилко Редактор Л. А. Утехина кторы: Г. Е. Опарина и Ю. М. федулова каз 15/13 Тираж 1050 Формат бум. 60 К 90/з Объем 0,21 нзд. л. Подписнс1 ИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССМосква, Центр, пр. Серова, д. 4,Типография, пр, Сапунова, д. полос, вызываемое наклонами отражателя, характеризует прямолинейность направляющих.Текущая ширина полосы измеряется фазовым методом автоматически следующим образом: "1Выходной...

Номер патента: 179494

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Вители, Вольфганг, Ханс

МПК: G01B 11/26, G01B 9/02, G01J 3/06 ...

Метки: детали, положения, углового

...(например, вращающегося зеркала монохроматора) заключается в том, что угловое положение детали фиксируют по интерференционной картине, которую получают в интерферометре Майкельсона. Для этого в одной из ветвей интерферометра устанавливают ряд зеркальных полос, укрепленных на оси вращения детали с возможностью их углового регулирования и фиксирования в определенном положении относительно детали, Число зеркальных полос соответствует числу угловых полокений детали.Для повышения точности фиксации углового положения детали поверхности зеркальных полос делают слегка сферическими, что позволяет получать концентрические интерференционные кольца на выходе интерферометра. Способ позволяет с высокой степенью точ ности воспроизвести угловое...

Номер патента: 180374

Опубликовано: 01.01.1966

Автор: Бокштейн

МПК: G01B 9/02, G03B 21/10

Метки: геометрически, изображения, оптического, плоского, подобного, предмета

...экран 2, с помощью узких пучков лучей 3,параллельных оси установки 00, совпадающих с нормалями к плоскости предмета, которые отбираются при помощи селектирующейдиафрагмы 4, установленной в задней фокальной плоскости объектива б.На фиг. 1,б показана та же схема при заданном угле г пучка лучей с нормалями кплоскости предмета, отличном от нуля, и равный этому углу г поворот предмета, объектива и экрана и сдвиг вдоль оси установки объектива, диафрагмы и экрана на величиныбоб бдиау бэкр выраженные формулами (1),д (8)На фиг. 2, а показана аналогичная схема спредметом 1, помещенным в прозрачную среду б, с показателем преломления п, отличную от воздуха, плоская граница 7 с которымпараллельна плоскости предмета и находитсяот последнего на...

Номер патента: 180376

Опубликовано: 01.01.1966

Автор: Контиевский

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: интерферометр, качества, оптических, плоских, поверхностей

...чтобправлениемпендикулярнВысокая тционную пол Известны интерферометры для контроля качества плоских оптических поверхностей по измерению искривлений полос равной толщины посредством двухлучевой интерференции, содержащие осветительную и наблюдательную системы.Предлагаемый интерферометр отличается от известных тем, что между объективом наблюдательной системы и контролируемой поверхностью, наложенной на эталонную поверхность, введена призма Дове, главное сечение и отражающая грань которой параллельны оптической оси объектива наблюдательной системы.Призма Дове установлена на направляющие, которые обеспечивают ее прямолинейное перемещение в двух взаимно перпендикулярных направлениях, параллельных плоскости контролируемой...

Номер патента: 180377

Опубликовано: 01.01.1966

МПК: G01B 9/02, G01M 11/02

Метки: 180377

...систему 8 и автоколлимационное зеркало 9, направляющее отраженный поток света через светоделительное зеркало б, систему линз 10 и 11 и измерительную систему 12 (винтовой окулярный микрометр) в глаз наблюдателя.Эталонное зеркало, контролируемая система и автоколлимационное зеркало в целом составляют систему многолучевого интерферометра Фабри-Перо.Измерение изгиба интерференционных полос производят винтовым окулярным мик рометром 12, в полость сетки которого линзы 10 и 11 проектируют зрачок испытываемой оптической системы. Если линза 11 выведена из хода лучей, то в плоскость сетки винтового окулярного микрометра проектируется ряд 10 изображений отверстия 4, При этом, наблюдая в окуляр микрометра, можно осуществить настройку системы...

Номер патента: 181334

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Блох, Всесоюзный, Новгородцева, Шапиро

МПК: G01B 9/02, G01M 11/02, G02B 6/04 ...

Метки: между, направлением, угла

...световыми лучами, выходящими из световода,На чертеже изображена схема устройства для осуществления предложенного способа.Устройство состоит из лампы накаливания 1, коллиматора 2, создающего тонкий пучок параллельных лучей света, отсчетной шкалы 3, поворотного столика 4 с зажимами для свето- вода, экрана 5 и световода б.Сущность описываемого способа заключается в следующем,На входную торцовую поверхность световода направляется из коллиматора (объектив которого перекрыт непрозрачной отсчетной шкалой) узкий параллельный пучок света от лампы накаливания. За выходным торцом установлен экран, на котором наблюдается интерференционная картина. Наклонами поверхности входного торца световода в двух взаим но перпендикулярных направлениях...