Способ дефектоскопии

Союз Советских Социапмстмческих Республик(5) М. Кл6 01 Н 9/021 б 01 й 21/46 оударотоенный немоте ссср по делам нзобретоннй и отнрытнй(54) СПОС ФЕКТОС КОПИ рисоединением заявки Изобретение относится к дефектоскопии издений и материапов при эпектромагнитном неразрушающемконтропе с испопьзованием методов регистрации и расшифровки гоцографических и спекп- интерферограмм и инфракрасной фото- графии. Пенью изобретения явпяетсн обнаружение, дефектов иэдепий, аномалий в химических и физических свойствах материалов и дефектов соединений разпичных материапов.Известны способы дефектоскопии, в которых попучают инфракрасные изображения нагретого издепия и проводят одеялу по иэопиниям равных температурЦОднако эти способы не дают возможности отличать области с одинаковой температуройр но с разпичными деформационными свойствами.Ближайшим техническим решением явпяется способ дефектоскопии заюпочающийся в обпученииобъекта когерентным светом и формировании интерферограммы интерферограммы могут быть попучены методами гонографической интерферометрии и снекп" -интерферометрийн предполагающих сравнение интерферограмм контропируемого издепия с ннтерферогреиеноя этенонного неоеэня ЯОбнаружение деактов происходит по изменению частоты, кривизны и покапизации понос, характеризующих попе поверхностных смещений контролируемого издепия.Однако этот способ требует напичня этапонного издепня и мапо пригоден при контроле единичных иэдепий разпичной спожности.Бепыо изобретении является повышение достоверности и качества контропя материапов и издепий и выявпение дефектов в отсутствие этанонного издания.Цепь достигаетсй темр что по пред лагаемому способу одттовременно регистрируют инфракрасное изображение издепия, совмещают инфракрасное изображение с интерферограммой и по соответствию попей06 Фполем поверхностных смещений, зарегистрированным на интерферограмме и попем температур, зафиксированным на инфракрасном изображении.Испопьзование описываемого способа при расшиФровке лазерных интерферо грамм при неразрушиощем контропе материапов и издепий позвопит достоверно и нагпядно выявлять дефекты издепий, аномапии в химических и физических свойствах материапов и обнаруживать дефекты соединений различных материапов. деформации обнаружиыют дефекты изделия,Обнаружение дефектов происходитпутем сравнения понученных изображений в одной ппоскости и в одном масштабе. Йпя бездефектных издепий места локапизации понос на интерферограмме соответствуот экстремумам (максимкамиди минимумам) темнературного попына инфракрасном изображении. При наличии дефектов в контролируемом изделиина интерферограмме появмпотся искажения и допопнитепьные места локализации попос, которые указывают местораспопожение дефектов. 1На чертеже изображена схема применения способа при контропе издепия методом "спекпв-интерферометрии.Световой пучок пазера 1 расширяется объективом 2 и попадает на поверх- щность контронируемого издепия 3. Отраженный свет собирается объективом4 в ппоскость регистрации 5, где поме щается фотодетекторьИнтерферограмма попучается методом 2двойной экспозиции, причем при второйэкспозиции контропируемое издепие нагревается пибо за счет собственного разогрева при нодкщочении напряжения, вибовнешним тепповьц источникомзППопученная интерферограмма Контропируемого издепия совмещается с инфракрасным изображением того же издепия,зарегистрированным при помощи детектора инфракрасного изнучения тепповизора, жидких кристаппов и т.п,), Обнаружение дефектов производится при нахождении взаимного соответствия между Формула изобретения Способ дефектоскопии 9 закпк)чз 20 щийся в обпучении объекта когерентным светом и формировании интерферограммы, о т и и ч а ю щ и й с я тем, что, с цепью новыщения достоверности контропя, одновременно регистрируют инфракрасное изображение объекта, совмещают его с интерферограммой и по соответствию деформаций интерферограммы и теппового попы на инфракрасном изображении обнаруживают дефекты объекта.Источники информации, принятые во вйиьлание при экспертизе: Методы неразрущающих испытавний под рел Р, Шарка, М, Мир, 1972, са 48 1 а 2. Гинзбург И. М. и др. "Гопография,методы иаппаратура", М, "Сов. радио 1974, с. 163-179.