G01B 9/02 — интерферометры

Номер патента: 190028

Опубликовано: 01.01.1967

МПК: G01B 11/02, G01B 9/02

Метки: 190028

...отнапример образцового калибизготовляют из прозрачного Зависимое от авт, свидетельстваЗаявлено 21.1 Х,1965 ( 1028632/25-28) публикозано 16,Х 11,1966. Бюллетеньата опубликования описания ЗО 1.Ю 67 ОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ РАЗМЕ Известен способ измерения детали на интерферометре с двумя лучами, направленными навстречу друг другу и отражающимися от проверяемых участков поверхности детали.Однако таким способом можно проконтро лировать лишь размеры наружных поверхностей детали, например концевых мер.Предлагаемый способ отличается тем, что с целью измерения отверстии детали, например образцового колибра-кольца, ее изготов ляют из прозрачного материала,На чертеже изображена схема устройства для осуществления описываемого способа.Объект из...

Номер патента: 190618

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Скоков

МПК: G01B 9/02, G01J 3/26

Метки: интерферометр, многолучевой, переменной, разностью, типа, фабри-перо, хода

...повредить зеркальные слои пластин. На чертеже представлена схема предложенного многолучевого интерферометра типа Фабри - Перо с переменной разностью хода.Интерферометр состоит нз полупрозрачных 5 зеркальных пластин 1 и 2, подвижной системы отражающих зеркальных поверхностей 3 и 4, расположенной между зеркальными пластинами, и регистрирующей системы.Световой, пучок от источника падает иа,по лупрозрачную зеркальную пластину 1, многократно проходит между зеркалами 1 и 2 по пути 1 - 3 - 4 - 3 - 2 и обратно. Образованная в результате многократного отражения между зеркалами 1 и 2 многолучевая интерферен ционная картина наблюдается с помощьюоптической системы б на экране б. Ребра зеркальных поверхностей 3 и 4 параллельны друг другу и лежат в...

Номер патента: 192435

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Константиновска

МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...

Метки: двухлучевой, интерферометр, исследования, неоднородностей, прозрачных

...чивание волнового фронта в ветви, и регистрирующую систему. Это позволяет снизить требования к точности изготовления оптических деталей интерферометра и сохранить преимущества прибора с большим рабочим 2 полем,Применение лазера позволяет увеличить интенсивность интерференционной картины.На чертеже изображена принципиальная схема предлагаемого интерферометра. 3 Узкий пучок газового оптического квантового генератора (ОКГ) падает па полупрозрачную пластину 1 и делится на два пучка,Пучок, отраженный от пластины 1, преобразуется в широкий пучок с помощью конденсорной системы 2, зеркала 8 и зеркально-менискового коллиматора 4 (типа коллиматора теневого прибора). После коллиматора 4 световой пучок проходит через исследуемый объект 5,...

Номер патента: 197218

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Ловков, Скоков

МПК: G01B 9/02, G01J 3/26

Метки: интерферометр, многолучевой

...параметров.Для таких неоднородностей, характеризующихся разными величинами и направлениями градиентов плотности, необходима исходная настройка различных участков интерференционного поля на различную ширину и ориентировку полос.Известные многолучевые интерферометры не позволяют проводить одновременную настройку интерференционной картины, обеспечивающую получение системы полос с различными параметрами за один цикл эксперимента, т. е, без перенастройки устройства.В данном устройстве это достигается тем, что одна из зеркальных пластин выполнена в виде многоэлементного блока, состоящего из системы зеркальных пластин с различными Он содери коллиматора ную пластин блок 4, пред 0 кальпых пла ми отражен тировочные родность 5,стему 7. 5...

Номер патента: 197219

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Ловков, Харитонов

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: интерферометр, исследования, неоднородностей, прозрачных

...независимую пару когерснтных световых пучков и направляю. щих их на систему плоских зеркал, полупро зрачную пластину и приемную часть, образующих вторую двухлучевую интерференцион. ную картину.Этот интерферометр позволяет получить одновременно две интерференционные двухлучевые картины в одной плоскости с различной начальной настройкой (различной ориентировкой, шириной интерференционных полос и компенсацией разности хода).На чертеже изображена схема описываемого интерферометра.Световой поток от источнидит коллиматор 2, попадает стину 3 и делится ею на дв оторых проходит через эта еркало 4 и полупрозрачную п ой пучок - через рабочую б и полупрозрачную пласти в приемную систему 7. Исследуемая неоднородность устанавливается в камере 8 в...

Номер патента: 198008

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Всесоюзный, Зорин, Шестопалов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, фотоэлектрический

...фиксации части интерференционной полосы, генератора 9 линейного напряжения, электронного ключа 10, генсратора 11 стабильной частоты и счетчика 12 импульсов.Измерения линейных перемещений на фотоэлектрическом иитерферометре производятгя следующим образом.Ня датчик б подается линейное напряжение от генератора 9. Одновременно сигналом от генератора 9 открывается электронный 20 ключ 10, который пропускает импульсы ста.бпльной частоты генератора 11 на счетчик 12.При изменеш 1 и разности хода лучей в интерферометре до величины, при которой срабатывает схема фиксации части интерференцц онной полосы, сигнал с выхода последней закрывает электронный ключ и счетчик прекращает счст. Для заданной длительности Л 11 нсй 11 ОГО НЯпря кения и частоты...

Номер патента: 198689

Опубликовано: 01.01.1967

МПК: G01B 11/30, G01B 7/34, G01B 9/02

Метки: направляющих, оптико-электронное, прямолинейности

...отражатель 3 интерферометра. Входы фазового нуль-органа 12 соединены с фотоэлектрическими преобразователями 9. Усилитель 13 электрически связан с фазовым нуль.15 органом. Источник 14 компенсационного воздействия соединен с усилителем 13 и выдает сигнал на датчик 11 и далее на регистрирующий 16 и отсчетпый 16 приборы.Выходной пучок интерферометра пластиной 20 7 разделяется па два пучка, падающие на щелевые диафрагмы 8, вырезающие из одной пространсгвенцо разделенной полосы (илп разных полос) участки, сдвинутые на некоторый постоянный по фазе угол, и имеющие шприцу, 25 немного меньшую ширины ицтерференционпойполосы. За диафрагмами установлены фотоэлектрические преобразователи 9, сигналы которых подаются на вход фазового нуль-органа 12,...

Номер патента: 200224

Опубликовано: 01.01.1967

МПК: G01B 9/02, G02B 21/00, G02B 27/28 ...

Метки: интерференционный, микроскоп, поляризационный

...спектральных линий призмы 2 покрывает изображение в фокусе объектива.Двулучепреломляющая призма 2 размещена внутри тубуса микроскопа с возможностью 30 перемещения в направлениях, параллельном и5 10 15 25 30 35 перпендикулярном оптической оси объектива б. Параллельный сдвиг призмы 2 вызывает покрытие ее плоскости расположения интерферометрических полос фокусным изображением сменных объективов различных увеличений. Сдвиг в перпендикулярном направлении А приводит к изменению фаз дуализированных световых волн и служит для измерения разницы оптического пути от исследуемого объекта.Когда углы при вершине а, и а призм 1 и 2 имеют одинаковый поворот, достигается максимальная дуальность исследуемого объекта, равная сумме...

Номер патента: 200226

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Константинов, Харитонов

МПК: G01B 9/02, G01M 9/06

Метки: двухлучевой, интерферометр

...образуется оптическими элементами 8, 9, 10, а другая рабочая ветвь - оптическими элементами 8, 11,10.5 Световые пучки, распрострацгпощиеся подвум ветвям ицтерферометра, проходят через полупрозрачную пластину 10 и интерферируют между собой, Интерференционная картина, локализованная в плоскости прозрачной мо дели 4, расположенной в камере 12 с исследуемой, неоднородностью, наблюдается в приемной части 13. При воздействии ца модель 4 газового потока в приемной части 13 интерференциоццая картина изменяется вне 15 прозрачной модели 4. Внутри модели 4 интерференццоццая картина не наблюдается из-за большой разности хода между ицтерферирующими лучами, возникающей при прохождении света через прозрачную модель 4. По цз менению интерференционной...

Номер патента: 200227

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Клочкова, Контиевский

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: интерферометр, качества, оптических, плоских, поверхностей

...4 и б. Интерференцпонная картина, представляющая собой полосы равной толщины, наблюдается визуально за диафрагмой 8, находящейся в фокальной плоскости объектива 3. Лучи направляются в наблюдательную систему с помощью светоделительной пластины 9.Между объективом 3 и пробным стеклом 5 введен блок, состоящий из нескольких призм Дове 10. Отражающие грани и главные сечения призм параллельны выходящему из объектива пучку лучей, причем отражаюгцие грани всех призм Дове лежат в одной плоскости, что достигастся установкой призм на плоско- параллельную стеклянную пластину 11.Если в наблюдаемой интерференционной картине полосы равной толщины направлены параллельно плоскости, в котороп лежат отражающие грани призм Дове, а изображения полосы,...

Номер патента: 200816

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Ермилов, Овечкин, Харитонов

МПК: G01B 9/02

Метки: газовых, исследования, неоднородностей

...2, с помощью линзы 3лиматора 4 преобразуется 30 на пути которого помещена камера 5 для исследуемой неоднородности, Пройдя камеру 5, пучок падает на коллиматор б; отражается от него и попадает на полупрозрачную пластину 7. Свет, отраженный от пластины 7, проходит через светофильтр 8, пропускающий излучение только от ОКГ, и попадает на экран 9.Часть пучка от ОКГ, прошедшая через полупрозрачную пластину 2, проходит через фильтр 10, срезающий излучение источникасвета 11.Пучок света от второго источника 11 проходит оптическую систему 12, рабочую ветвь интерферометра (2, 3, 4, 5, б, 7), светофильтр 13, срезающий излучение от ОКГ, и попадает на экран 14. Для получения теневой картины в фокальной плоскости коллиматора б установлен нож Фуко...

Номер патента: 201721

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Пур

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: вогнутых, вращения, интерферометр, качества, отражающих, поверхностей

...осуществить ход лучей, при котором выпуклая параболическая поверхность работает как вогнутое 25 параболическое зеркало, фокусируя действительные лучи, падающие, параллельным пучком на параболическую поверхность.Предлагаемый способ позволяет контролировать качество выпуклых, параболических 30 линз только по интерфернционным кольцам,Получение интерференционных полос принципиально невозможнопоэтому определение очень малых:погрешностей затруднено.Описываемый интерферометр применим практически для любой формы второй, поверхности параболической линзы 8 (а, б, в, г). При контроле серии одинаковых линз, например,:выпукло-плоских (в), дополнительную линзу можно выполнить переменной толщины, в виде двух, подвижных клиньев,...

Номер патента: 202550

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Забелин

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевой, интерферометр, сдвига

...при помощи конденсорной системы проектируется на щель 1, установленную в центре кривизны сферического зеркала 2 или в фокусе объектива коллиматора, Световой пучок, пройдя через щель, попадает на вспомогательную полупрозрачную пластинку 3 и, отразившись от нее, падает на сферическое зеркало 2 (или объектив коллиматора), Пройдя дважды поле исследуемых неоднородностей, свет направляется на полупрозрачную пластинку 3, проходит через нее и попадает на первую разделительную пластинку 4 интерферометра. Отраженная от этой пластинки часть светового пучка падает на зеркало 5. Отразившись от зеркала 5 я пройдя клиновый компенсатор 6, сходящийся световой пучок дает изображение светящейся щели в плоскости разде,чительной пластины 7.Часть света,...

Номер патента: 203927

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Янушкевич

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, использовании, наклона, основанный, полос, прибор, равного

...объектив 5. Свет от источника света через входную щель, полупрозрачное зеркало 6, объектив 2 и цилиндрический объектив в виде сходящегося к оси О пучка направляется сквозь прозрачную стенку изделия на цилиндрическую поверхность измеряемого отверстия,Цилиндрический объектив и изделие располагают один относительно другого таким образом, чтобы фокальная плоскость объектива совпала с осью измеряемого отверстия. При этом плоскость и ось входной щели должны быть параллельны оси измеряемого отверстия.Отразившись от участков А и Б цилиндрической поверхности отверстия и снова пройдя объективы 5 и 2, свет с помощью полупрозрачного зеркала направляется в окуляры стему, которая позволяет наблюдать жение щели и на ее фоне интерференц...

Номер патента: 203972

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Трофимова, Цорин

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевой, интерферометр, перемещений

...Лнтерференционные полосы перемещаются при этом относительно неподвижно установ. ленных щелей 11 и 12, на которые они проектируются зеркалами 8 и 9.При определенном, соотношении размеров щелей и их положения относительно интерфе. ренционной картины,на фотокатоды фотоприемников И и 14 попадает модулированный световой поток, а на выходе фотоприемников появляются синусоидальпые электрические сигналы, сдвинутые для осуществления реверсивного счета полос по фазе на л/12. Сдвиг фаз достигается смещением интерференционной картины на щели 12 с помощью наклонов зеркала 9 или введением в ход лучей пластинки Л/8, Л/16 и т. д,Полученные сигналы усиливаются усилителями 15 и 1 б, преобразуются схемой преобразования импульсов 17 в...

Номер патента: 203973

Опубликовано: 01.01.1967

МПК: G01B 11/08, G01B 9/02

Метки: 203973

...компенсационную пластину 4, эталонное зеркало б, отражается от него и возвращается к пластине 3. Второй луч проходит через пластину 3 и попадает на коническую личзу б, которая 25 преобразует его в систему плоских медианных пучков, выходящих из линзы под углом а к оптической оси системы. Световой лу, отразившись от внутренней поверхности измеряемой детали 7, падает через вторую кони- ЗО ческую линзу 8 на отражающую поверхность 9 (плоское зеркало). От зеркала 9 луч, пройдя весь путь в обратном направлении, возвращается к пластине 3 н интерферирует с лучом, отразившимся от зеркала 5.Интерференционную картину наблюдают с помощью объектива 10 через выходную диафрагму 11. Внутренняя поверхность отверстия наблюдается в виде кольца,...

Номер патента: 205337

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Герлович, Нагибина, Оптики

МПК: G01B 11/16, G01B 9/02, G02B 1/02 ...

Метки: главных, модели, напряжений, оптическое, прозрачной

...пластины б, 7, 8, расположенные последовательно одна за другой.Вторая пластина 7 наклонена относительно третьей пластины 8 на некоторый угол, а первая пластина б наклонена относительно третьей на угол 2 а.Таким образом, проходящие лучи, дважды отраженные от каждой из полупрозрачных поверхностей пластин, выходят параллельным пучком из интерферометра и собираются выходным объективом 9 в плоскости двойной диафрагмы 10 с верхним отверстием 11 и нижним отверстием 12,Интерферирующие лучи, используемые для получения суммы глазных напряжений, проходят огверстие 12, падают на плоское зеркало 13, отражаются от него и направляются на регистрирующую систему 14 (объектив фотокамеры) . Кроме указанных интерферирующих лучей в схеме...

Номер патента: 207400

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Бипг, Янушкевич

МПК: G01B 11/12, G01B 9/02

Метки: диаметров, кольцах, отверстий

...что, с целью повышения точности измерения диаметров отверстий и опре-. деления отклонений их от правильной геометрической формы, разность размеров отверстия и пробки определяют по интерференционной картине, наблюдаемой сквозь прозрачную стенку кольца,1 показано кольцоаттестованной пробког- то же, вид сверху,стие кольца 1 вводита 2 и прижимается к введеннои в вид спереди; На фиготверстиена фиг. 2В отверчая проб аттестовантенке отверИзвестны способы измерения диаметров отверстий в кольцах из любого материала по аттестованным цилиндрическим пробкам, Контроль диаметров отвсрстий заключается в определении разности размеров отверстий и пробки, введенной в отверстие, и осуществляется механическим, оптическим или электрическим путем. Однако...

Номер патента: 207427

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Уверский

МПК: G01B 9/02

Метки: измерений, интерферометр, контактный, линейных, уверского

...образце они могут быть совме.щены известным способом. ципиальная Лва встречерометра в точника 1 с ветофильтр рая раздека. Один иззеркало б,25 Контактизмсрений двухлучево из светоде и неподвиж 30 емого объ терферометры предназначены аружных линейных размеров ий методом с авнения с конКонтактные индля измерения нразличных издел Рцевыми мерами.Известен контактный интерферометр для линейных измерений, построенный по принципу двухлучевой интерференции света при контактном касании измеряемого объекта. Известные контактные интерферометры для линейных измерений недостаточно точны потому, что не обеспечивают стабильность контактных сближений между измеряемым объектом и предметным столом.Предлагаемый интерферометр свободен от указанного...

Номер патента: 211829

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Вольфганг, Германска

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевой, интерферометр

...окуляра смещена относительно оптической оси интерферометра в плоскости, перпендикулярной интерференционным полосам.Причем, может быть использован любой окуляр, хроматическая аберрация которого отлична от нуля,Плоскость может быть или повернута или смещена параллельно оптической оси окуляра, Ахроматичность только одного минимума первого порядка получается также при комбинированном смещении: повороте и параллельном смещении. Смещение оси окуляра и аберрация хроматизма увеличения влияют друг на друга. Чем больше аберрация хроматического увеличения, тем меньше может быть в некоторых пределах смещение при постоянном расстоянии между интерференционными полосами.При увеличении расстоянияренционными полосами, сме а минимума и нулевая...

Номер патента: 233944

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Кайнер

МПК: G01B 9/02, G01D 13/02

Метки: визирования, оптической, системы, шкалы, штриху

...систему для зображения попереч триха шкалы и совм ия с вершиной или ой профиля штриха. Спосо штриху инте рфе тем, что 15 ванин с ференц зрения филя ш зирован 20 ной точОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт, свидетельстваЗаявлено 18.Х 11.19671204903/25-2 СПОСОБ ВИЗИРОВАНИЯ ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМ ПО ШТРИХУ ШКАЛЫИзвестны способы визирования оптической системы по штриху шкалы (объекта) с использованием интерференционной системы. Для применения таких способов штрихи должны быть изготовлены по специальной форме и особого качества, причем используемая при этом аппаратура является сложной, а точность визирования оптической системы па штрих невысокая.Предложенный способ отличается от известных тем, что, с целью повышения...

Номер патента: 234706

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Скоков, Харитонов

МПК: G01B 9/02, G01J 3/26

Метки: интерферометр, многолучевой

...пройдя оптическую систему 2, падает на плоские полупрозрачные зеркала 8 и 4. Интерференционная картина регистрируется приемником б с помощью оптической системы б. Камера 7 с исследуемой неоднородностью установлена между зеркалами 8 и 4. Для наблюдения второй интерференционной картины между зеркалами 8 и 4 после камеры 7 установлена полупрозрачная пластина 8, с помощью которой световой поток направляется на дополнительную мет изобретения Предлагаемое устройство о сти оптических исследований в прозрачных средах.Известен многолучевой инт Фабри-Перо для изучения газ нородностей, содержащий дв прозрачных зеркала и регистр му. оптическую систему, содержа лупрозрачное зеркало 9, опт 10 и приемник 11, Незавпси зеркал 4 и 9 при неподвижн 5 каждой...

Номер патента: 235341

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Пур

МПК: G01B 9/02, G01N 11/02

Метки: интерферометр, оптических, систем

...от центра зеркала 7 до Е, Р, и Р., - волновые фронты, идущие цз контролируемой системы после отражения лучей от зеркал 8 и 9. По 25 вознцкающец интерференционной картине,для наблюдения которой служит диафрагма 4, определяют погрешности контролируемой системы 6.Пучок лучей, выходящий из контроли ЗО мой системы 6, прц помощи зеркала 7 раляется на два пучка, идущих к сферическим зеркалам 8 и 9 разных радиусов. После отражения от этих зеркал и выхода из контролируемой системы пучки лучей образуют два волновых фронта Р, и Р, деформированные относительно друг друга на незначительную величину, хотя отклонение каждого волнового фронта от сферы или плоскости может быть очень большим. В результате взаимодействия этих волновых фронтов возникает...

Номер патента: 236025

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Зобрете

МПК: G01B 11/25, G01B 9/02

Метки: асферических, поверхностей, полированных, профиля

...- лений кои грйл русьо 1 иовср. ности й(сииян) г изуал)иыя илп фгйалсктрияки Пй(н);)л по )пслу из)спсипй 0 сисиПег);и ья. - и 01 й СИ 1 Р;1/1 ЬИ 010 И 1)ТР фС Р(Ии 01110 й и 51 Г 1(3.ДЛ 51 КОП 1 Рй/151 ЯсфСРИ)С 1 И; П 01 СР;ИйТИ Ра;Л П Ч ПА. Кои фи 3 С 3) 21111 П Я 110 3 1(.3 ПИ)1 проссса коптроля в предлагясхот,310 йбс коитрогпрусяу)о повсркпось перс (.иянг;. 1 н) ближаишси се профилю тряекории ир 5)йлиисйиой или кругоой.112 фиг. 1 прс;Гялспг 1 Оп иСН 251 .с)131 иптсР(1)СРОх 1 стРЯ, п)1 Пй)Я 01 ци к 0103)03 й)и(- став,яст 5 Пре;,)яяови спйсоо, и кйл иисрферруОщи; луисй; иа ф;г. 2 -- )п 011 з)ппи 251 с;с)1)1 иптср(1)с рйстря.Интерферохстр одержи Г )яйиороп ги - с 1 ий пстйчппк сс Г 1 1, 0)спу)0 гпафр)3)с р а.лег 311 сльи 1 й )бок ),...

Номер патента: 240301

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Меньших

МПК: G01B 9/02, G02F 1/21

Метки: потока, преобразования, светового

...во времени функции "., При этом на выходе прибора возникает реалпзуощпй операцгпо дифференцирования результирующий ответный оптический сигнал Д,Другая разновидность прибора,фиг. 2) со.держит отражатель 6 и полупрозрачное зеркало 7, а интерферометр Фабр-Г 1 еро работаст в режиме отражения и используется в каче.стве одного из отражателей интерферометр 10 Яайкельсона (поз. 8).В оснорр работы устройства лежит расщепление падающего потока когерентного света с заданным изменением интенсивности во времени на два пу ка, один из которых не под вергается временным преобразованиям, а другой экспоненциально затягивается во времени, а также последующее выравнивание интенсивностей световых потоков в стационарном состоянии и сложение указанных...

Номер патента: 244665

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Комиссаров, Харитонов

МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...

Метки: газодинамических, интерферометр, исследования

...на них света, Пласти.5 ны б и б установлены под углом 45 к оппи.ческой оси,прибора (наиболее оптимально с учетом габаритов их и удобства,в настройке) .Отраженный от пластины б пучок света совмещается с,пучком света, прошедшим через О пластину б с помощью соединительной полу.прозрачной пластичны 7; эта пара пучочков света совмещается с пучком света рабочей ветви интерферометра, прошедшим через камеру 8 с исследуемой неоднородностью 8. При, этом в приемной части 9 интерферометра, в одной из,половин поля зрения, наблюдается трехлучевая интерференционная картина; в другой - двухлучевая картина, образованная пучком света, прошедшим через пластилину 5, и соответствующим пучком света рабочей ветви интерферометра, прошедшим через соседний...

Номер патента: 246710

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Коробкин, Тницкий

МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...

Метки: газовыхсред, диагпостики, ионизированных

...сигнала излучения го лазера, от,гичаюигийсг тем, что, с определения параметров среды, наприонцентраций свободных электронов, атомолекул, а также массовой плотности влено 02.Х,1967 ( 1187783/26-2рисоединением заявкиДанное изобретение относится к области методов измерений параметров газоразрядной плазмы. Ряд известных в настоящее время способов диагностики плазмы с использованием газсвых лазеров основан на получении с помощью интерферометров различного типа Интерференционных картин и дальнейшей их интерпретации.Применение в качестве источника света газового лазера не приводит в этих известных способах к существенному увеличению точности определения коэффициента преломления исследуемой плазмы, в результате оказывается возможным...

Номер патента: 247509

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Долинский, Зверев

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, поверхностей, правильности, торических, формы

...газовый лазер, разделительный блок, например полупрозрачную пласти ну 2, эталонное зеркало 3, объектив 4, окуляр б с сеткой б и отражающую систему, выИнтерферометр работает следующим образом.Пучок лучей от источника 1 направляется на полупрозрачную пластину 2, которая разделяет его на два пучка. Один пучок попадает на плоское эталонное зеркало 8 и, отразившись от него, направляется в окуляр б, а другой - пдст в объектив 4 и далее на коническое зеркало 7 (илп на сочетание конического или цилиндрического зеркала 8 с коническим зеркалом 9), преобразующее изображение, даваемое объективом, в кольцевую линию, совпадающую с геометрическим местом центров кривизны образующих окружностей торической поверхности кольца шарикоподшипника 10.После...

Номер патента: 256343

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Гудков, Подпальный, Пономарев, Фурашев, Чеховских, Шадрин, Штаб

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: воздуха, рудничного, состава

...камер ко смой смесью, а др с ью, огл ичаютт 1 пйс ния точности, в ка используют рудин но пропущенныц 30 глощающего опрсленин зовац торого 5 гая ч тем честв чный5 ЕРЕЗ дел яех Известны способы определения состава рудничного воздуха при помощи интерферометра, одна из камер которого заполняется исследуемой смесью, а другая - сравнительной смесью, в качестве которой используют чистый атмосферный воздух,Предложенный спосоо отличается от известного тем, что в качестве сравнительной смеси используют рудин шый воздух, предварительно пропущенный через слой сорбента, поглощающего определяемый компонент. Это позволяет повысить точность анализа.При определении содержания Н рудничным воздухом заполняют аналитическую камеру, при этом рудничный воздух...

Номер патента: 266223

Опубликовано: 01.01.1970

МПК: G01B 11/06, G01B 9/02

Метки: пленок, толщины, тонких

...свидетель попадает только одно вещество. На свидетели осаждение проводят столько раз, сколько раз наносят слои из определенного вещества на деталь. Вещество пспадает на свидетель, 20 когда он находится в рабочем положении,Остальные свидетели защищены от попадания вещества экр аном. Свидетелями могут служить разные участки одной и той же плоскопараллельной пластинки.25 Контроль толщины слоя на рабочем свидетеле осуществляется обычным фотометрическим способом. На свидетель направляют лучистый псток от источника света 1 лампы накаливания), Отраженный от свидетеля 1 либо 30 прошедший через свидетель) свет направляют266223 Составитель Л. ЛобзоваРедактор Л. Г. Герасимова Техред Л. Я, Левина Корректор В. Трутней Заказ 1646/11 Тираж 480...