Герловин
Устройство для измерения оптических передаточных функций объективов
Номер патента: 1840209
Опубликовано: 20.08.2006
Авторы: Герловин, Котов, Кузьмин, Лысенко, Маламед, Скворцов, Трегуб, Шульман
МПК: G01M 11/02
Метки: объективов, оптических, передаточных, функций
1. Устройство для измерения оптических передаточных функций объективов, содержащее осветитель, тест-объект в виде подвижного растра, коллиматор, расщепитель оптических каналов на основной и сравнения, установленные в оптических каналах анализаторы основной и сравнения и систему обработки сигналов анализаторов, отличающееся тем, что, с целью повышения точности в условиях вибраций изображения, расщепитель оптических каналов установлен перед тест-объектом, оба анализатора установлены в фокальной плоскости испытуемого объектива, а оптические оси каналов расположены в плоскости, параллельной штрихам растра.2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что за тест-объектом установлена линзовая система, выполненная в виде последовательно...
Устройство для ионно-лучевой обработки
Номер патента: 1210607
Опубликовано: 20.03.1995
Авторы: Герловин, Журавлев, Никитинский, Фурман, Ярмолюк
МПК: H01J 27/04, H01J 37/08
Метки: ионно-лучевой
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИОННО-ЛУЧЕВОЙ ОБРАБОТКИ, содержащее источник ионов, образованный газоразрядной камерой, профилированными эмиссионным и ускоряющим электродами, установленными с постоянным зазором между их рабочими поверхностями, в которых выполнены соосные отверстия равного диаметра, а также подложкодержатель плоских обрабатываемых деталей, при этом источник ионов установлен под углом к поверхности подложкодержателя, отличающееся тем, что, с целью повышения равномерности обработки деталей с линейными размерами, превышающими характерный линейный размер пучка ионов, форма рабочих поверхностей эмиссионного и ускоряющего электрода удовлетворяет условию
Способ изготовления образца для контроля микроскопов
Номер патента: 1631341
Опубликовано: 28.02.1991
Авторы: Герловин, Левина
МПК: G01M 11/02
Метки: микроскопов, образца
...кому прибор польэовано и микрообъе жения, Цель НОМУ С 8 ИДЕТЕЛЬСТ качества образца путем повышения однородности распределениячастиц латек са по поверхности образца. Цель достигается тем, что в способе изготовления образца для контроля микроскопов, включающем нанесение на стеклян ную подложку водной суспенэии латекса, высушивание суспензии, нанесение на подложку слоя алюминия толщиной 30-100 нм путем его испарения в ваку уме с последующим удалением" частиц пу тем протирания, перед нанесением водной суспензии латекса на подложку наносят слой двуокиси кремния толщиной 50-300 нм путем ее испарения в вакууме с последующим охлаждением подложки до температуры 0-10 С, а высушивание проводят при температуре 5"10 С. Наносят на подложку поверх...
Способ контроля сферических поверхностей объективов
Номер патента: 1578551
Опубликовано: 15.07.1990
Авторы: Агурок, Герловин, Голод, Дич, Скворцов, Трегуб
МПК: G01B 9/02, G01M 11/00
Метки: объективов, поверхностей, сферических
...Ы (г,сд+ М (г, -ц), (1) где М (г,) - двумерные Функции,описывающие отклонение от сферичности поверх- ностеР 3 и 5 соответственно в полярноР системе координат, полюс ко-.торой совпадает с оптической осью объектива.После регистрации интерферограммы А один из объективов, например объектив 4, разворачивают вокруг оптической оси на произвольный угол и затем регистрируют следующую интерферограмму В, Для нее определяют суммарную разность ходач,(г,р = И,(г,ц)+ У (г, - с-ч), (2)где- величина разворота объектива,Затем объектив 4 разворачивают вокруг точки 0 так, чтобы оптические рси объективов 2 и 4 образовали угол, с вершиной в точке О. При этом происходит смещение зрачков объективов друг относительно друга. Оптимальным является смещение зрачка...
Способ контроля вогнутой сферической линзовой поверхности и устройство для его осуществления
Номер патента: 1534299
Опубликовано: 07.01.1990
Авторы: Агурок, Герловин, Лысенко, Скворцов, Трегуб
МПК: G01B 9/02
Метки: вогнутой, линзовой, поверхности, сферической
...О, отражается от плоского зеркала 6 и падает на поверхность 9 в точке Р, симметричной точке Е относитель- Зб но оптической оси, и сноза разделяется.Луч У отражается от поверхности 9, попадает в точку О на плоском зеркале 6, отражается от плоского зеркала 6 и проходит в интерферометр, пересекая 4 О контролируемую поверхность 9 в точке 6.Луц У проходит в интерферометр, пересекая контролируемую поверхность 9 в точке Г. Таким образом, лучи Х и 1 выходят из точки О , а лучи Х выходят пзточки О, отстоящей от тоцки О на расстоянии 2"й, где К . - радиус кривизны контролируемой поверхности 9. Прс йди через линзу 8 и обьектив 4 В обратном направлении, луци попадают в отверстие наклонного зеркала 3 и не попадают на регистратор 5 интерферограмм....
Интерферометрическое устройство для контроля фазовых колец
Номер патента: 1465857
Опубликовано: 15.03.1989
Авторы: Герловин, Фрейберг
МПК: G02B 21/14
Метки: интерферометрическое, колец, фазовых
...темной интерференционной полосы 19 совмещена с индексом 15, и снимают первый отсчет по оптическому уст" ройству 10, Затем разворачивают анализатор 11 до получения,интерференции на. зоне 16, при этом середина темной интерференционной полосы оказывается смещенной относительно индекса 15 на величину П, Перемещают призму Волластона таким образом, что интерференционная картина перемещается на величину 0 и снимают второйотсчет, По разности первого и второго отсчетовопределяют величину контролируемого фазового сдвига. В результате расположения интерференционных полос вдоль направления раздвоения изображения они пересекают серповид" ное изображение фазового кольца .18 в широкой и протяженной его части и хорошо различимы даже в случае низкого...
Устройство для контроля качества изображения оптических систем
Номер патента: 1420428
Опубликовано: 30.08.1988
Авторы: Агурок, Герловин, Сокольский, Трегуб, Усоскин
МПК: G01M 11/00
Метки: изображения, качества, оптических, систем
...и может быть использовано для контроля качества изображения оптических систем, ошибок изготовления, сборки и юстировки узлов и изделий в целом.Цель изобретения - создание устройства для контроля качества изображения оптических систем, позволяющего измерять характеристики качества в широкой области спектра.На чертеже показана схема предлагаемого устройства.Устройство содержит осветительную систему, состоящую из лампы 1 накаливания, конденсора 2 и трех точечных источников 3, перед которыми установлены интерференционные фильтры 4 и 5, выделяющие излучение с длинами волн Х иИсточники расположены в фокальной плоскости контролируемой системы 6. Диафрагма Гартмана 7 установлена между системой 6 и плоским зеркалом 8. В расфокусированной...
Ротативная установка для исследования гидродинамического сопротивления элементов судовой обшивки
Номер патента: 1163176
Опубликовано: 23.06.1985
Авторы: Амфилохиев, Герловин, Заметин, Мазаева
МПК: G01M 10/00
Метки: гидродинамического, исследования, обшивки, ротативная, сопротивления, судовой, элементов
...и заполненный водой резервуар, в котором размещен конец вала с возможностью закрепле 30 ния исследуемого образца, причем этот вал кинематически связан с электродвигателем, снабжена шкивом с ободо.ф, ступицей и спицами, насаженными на вал, а на его спицах закреплены датчики крутящего момента, при этом обод шкива выполнен с возможностью закрепления на нем исследуемого образца.На фиг.1 изображена ротативная установка, вид в плане 1 на фиг.2 -40 шкив с датчиками крутящего момента и исследуемым образцом.Ротативная установка содержит заполненный водой резервуар 1, в котором размещен вал 2 с исследуемым45 образцом 3 и кинематически связанный с электродвигателем ч. Исследуемый образец 3 крепится к шкиву с ободом 5, ступицей 6 и спицами 7, на...
Способ контроля формы поверхностишариковых линз
Номер патента: 800627
Опубликовано: 30.01.1981
Авторы: Герловин, Филиппов
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: линз, поверхностишариковых, формы
...картина наблюдается с помощью окуляра б, Шариковая линза 7 помещается на опору, имеющую наклонную поворотную платформу 8 (фиг,2) с неподвижейными упорами 9, которые фиксируют положение центра шариковой линзы.Испытуемую шариковую линзу 7 помещают в лазерный интерферометр на опору, содержащую поворотную платформу 8 и упоры 9, определяющие положение шариковой линзы. Объектив 4 интерферометра фокусируют сначала на центр кривизны шариковой линзы, что наблюдается как стягивание в точку двух отраженных от шариковой линзыпучков, а затем приближают шариковую линзу к объективу 4, наблюдаяв окуляр б до тех пор, пока в плоскооти изображения не появится, интерференционная картина, содержащая2-5 колец, Затем поворотную платформу вращают,...
Устройство для измерения оптической передаточной функции
Номер патента: 684367
Опубликовано: 05.09.1979
Автор: Герловин
МПК: G01M 11/00
Метки: оптической, передаточной, функции
...фильтров, Фазослвигаюших элементов и усилителей.На фиг,1 изображено устройство для измерения оптической передаточной функции с оптическим элементом переменного пропускания и модулятором; на фиг.2 показано взаимное расположение непрозрачного экрана со щелями, оптического элемента и модулятора; на фиг.3 - графики пропускания опгического элемента при измерении мнимой части оптической передаточной Функции; на Фиг.4 устройство для измерения оптической передаточной функции с опти - ческим элементом переменного пропускания и диссектором; на Фиг, 5 устройство для измерения оптической передаточной функции с несколькими фотоэлектрическими приемниками, аналогоными умножителями и сумматором.Устройство с оптическим элементом переменного пропускания...
Способ контроля формы полированой сферической поверхности детали
Номер патента: 574604
Опубликовано: 30.09.1977
Авторы: Герловин, Филиппов
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: детали, поверхности, полированой, сферической, формы
...интерференционной картины, по которому судят о форме детали,Повышение точности контроля обеспечивается за счет того, что, во-первых, регистрируется не форма интерфервнционных полос, зависящая также и от качества других деталей итерферометра, а изме)ение полос, зависящее только от формы контролируемой поверхности, и, во-вторых, схема не трес)уст перенастройки в процессе контроля. Упропсинс контроля обеспечивается отсутствием измерения и построения функций волновой аберрации,На чертеже приведено схематическое изображение устройства для осуществления предлагаемого способа контроля формы детали, а именно полусферической линзы, являющейся заготовкой для зеркал микроинтерферометров.Устройство содержит интерферометр 1, который включает в себя...
Способ шлифования криволинейных поверхностей
Номер патента: 512035
Опубликовано: 30.04.1976
Авторы: Бенин, Герловин, Михаэль, Писаренко
МПК: B24B 19/14
Метки: криволинейных, поверхностей, шлифования
...совершают поворотное движение синхронно с поворотом детали.Оси поворота детали ц жесткцх абразивных д инструментов параллельны ц расположены нарасстоянии А.Поверхности жесткцх абразцьных инструментов в продольных и поперечных сечениях сопряжены с соответствующими профцлямц 0 продольных ц поперечных сечений детали. Движение резания инструментам сообщают в направлении стрелки 1 в плоскости, перпендикулярной к плоскости, проходящей через оси поворота инструментов и деталей. Обкатку сопряженных профилей деталей ц инструментов осуществляют в результате пх синхронного поворота в направлении стрелок со 1 и о 2.Профилирование жестких абоазцвных инструментов 2 осуществляют посредством профильного эталона 3, имеющего профили продольного и...
Устройство для шлифования криволинейных поверхностей
Номер патента: 500037
Опубликовано: 25.01.1976
Авторы: Бенин, Герловин, Михаэль, Писаренко
МПК: B24B 19/14
Метки: криволинейных, поверхностей, шлифования
...с иэделием и далее на величину глубины резаний после чего включается привод 10 подачисинхронизирукаей гильзы 13, Перемешаясь вверх, торцами круговых пазов синхронизируюц 1 ая гильза 13 воздействует на ролики 15, 16, вследствие чего абразивные инструменты поворачиваются вокруг своих осей одновременно с поворотом качалки приспособления, обеспечивая при этом шлифо- .10 ;вание переменного профиля криволинейной :поверхности иэделия, Для восстановления поверхности абразивных инструментов 27они вводятся в контакт с поверхностью алмазсодержаших планок 7, правящего ко- ф 5 ноида 6 и аналогично процессу шлифования, установив синхронизирующую гильзу в нижнее исходное положение, вводят в контакт с поверхностью алмазсодержаших планокповерхность...
Устройство для обработки сферических поверхностей
Номер патента: 475218
Опубликовано: 30.06.1975
Авторы: Бенин, Герловин, Михаэль, Писаренко
МПК: B23B 5/40
Метки: поверхностей, сферических
...плоскости планшайбы, проходит также через точку Б, являющуюся вершиной резс ца 7, расположенной на расстоянии - от2 оси О - О. Траверса 3, вертикальный суппорт 4 и ползун 5 закреплены неподвижно посредством стопорных устройств станка (не показаны).Изделие 23 закреплено в приспособлении 22, при этом планшайба 2 установлена в положение, показанное на фиг. 1, характерное тем, что точка Б находится на рассстоянии т от верхнего торца изделия 23, при этом величина его рассчитана по формуле в которой значения величин указаны ранее.Как видно из формулы, чем меньше высота изделия Й при постоянном диаметре .О, тем больше величина зазора т и, следовательно, величина холостого пробега резца по окружности точения изделия. Звездочка 14 установлена...
Оптическая система для соединения световых пучков
Номер патента: 322752
Опубликовано: 01.01.1971
Автор: Герловин
МПК: G02B 27/14, G02B 27/16
Метки: оптическая, пучков, световых, соединения
...совмещено с входной щелью монохроматора. 30 Разнесение изображений в меридиональной и сагиттальцой плоскостях вдоль оптической оси позволяет максимально сблизить соединяемые пучки и исключить их расхождение внутри монохроматора.На фиг. 1 - описываемая оптическая система для соединения двух световых пучков ца входной щели монохроматора (один из вариантов); ца фиг. 2 - ход лучей в одной из ветвей системы в меридцоцальцой плоскости; ца фиг, 3 - ход лучей в той же ветви системы в сагиттальной плоскости (на обеих фигурах сечение пучка заштриховано).Оптическая система для соединения световых пучков состоит из линзовых систем 1 и 2, вогнутых зеркал 3 и 4 и плоских зеркал 5 пб Линзовые системы 1 и 2 (см. фиг, 1) создают два почти...
Устройство для регулирования производительности паровой холодильной машины
Номер патента: 239977
Опубликовано: 01.01.1969
Авторы: Архангельский, Герловин, Розенфельд
МПК: F25B 1/02, F25B 21/02
Метки: паровой, производительности, холодильной
...из полупроводниковых термоэлементов и размещен между конденсатором и регулирующим вентилем. Устройство для регулирования производительности паровой холодильной машины в таком выполнении позволяет повысить производительность машины и сократить необратимые потери.На фиг. 1 схемати ески изображена паровая холодильная машина с полупроводниковым гермоэлектрическим охладителем; на фиг. 2 - термоэлектрический охладитель в продольном разрезе.Устройство для регулирования производительности паровой холодильной машины работает по замкнутой схеме. жидкий холодильный агент через регулирующий вентиль 1 поступает в испаритель 2, где он кип холодльный эффект. Пары из ис засасьваотся компрессором 3, сжик затем поступают в конденсатор 4, кот...
Способ измерения механических величин
Номер патента: 184971
Опубликовано: 01.01.1966
Авторы: Герловин, Лихницкий
МПК: G01R 33/07
Метки: величин, механических
...гальвацомагцитцого эффекта, которое возникает при воздействии измеряемого механического фактора непосредственно на датчик, а регулировку чувствительности производят, изменяя один из основных параметров, определяющих эффект в чистом виде, например магнитное по На фиг, 1 показан га чик э.д.с. Холла обычн стичцой подложкой, ис ногальваномагнитцый датчик э.д,с. Холла с с одной из возможных обеспечивающих регист ного направления. Здес ный датчик; 2 - упруг льваномагнитный датй конфигурации с элапользуемый как меха- датчик; на фиг, 2 эластичной подложкой конфигураций вырезов, рацию усилий различь: 1 - гальваномагнитая подложка; 3 - приле. Известны способы измерения механических величин с преобразованием их в электрические с помощью...
Оптико-акустический способ газового анализа
Номер патента: 126657
Опубликовано: 01.01.1960
Авторы: Вейнгеров, Герловин, Слободская
МПК: G01N 21/61
Метки: анализа, газового, оптико-акустический
...поглощающего инфракрасное излучение газа, например углекислого газа. тений и открытий прн Совете Министров СССР Комитет по делам изРедактор Н. С. Кутафина. 173 дп. к пек. 4. ГО Цен б кои,Информанионно издательский отдел.ОГъеч 0,17 и. л, Зак. 1023 ира)к 680 Типография Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Петровка, 14,рыВранается приводимый Влек родвигаслсм,) диск 6 с отверстия;и, моду,и)у 0 Пни поступа 0 цу 0 В камеру ради 21,и 0, 1 апр 51)ксе, разв- васмое микрофоном 7, поступает на вход фазочувствительного устройства д. Это устройство выявляет сдвиг фазы развиваемого м;крофоном напряжения Относительно фазы поступаюшей В камеру радиации, яВляюшсйся мерой концснтрашш.Фсзо 1 Вствительное...
Автоматическое устройство в трамвайном вагоне, или троллейбусе для получения платы за проезд
Номер патента: 68032
Опубликовано: 01.01.1947
Авторы: Герловин, Горбунов
МПК: B61D 13/00
Метки: автоматическое, вагоне, платы, проезд, трамвайном, троллейбусе
...катушка 26,се)дечицк которой освобождает билет и размыкает контакт 27.9 тгм обесточиваются соленоиды 30, ЗХ, иавто)ат принимает начальное положение.В случае обрыва пли окончания лентыв первом билетном автомате, автоматически вкдючается в действие запасный билетный автомат, что достигается замыканием роликового контакта 51. нормальноразомкнутога лентоц, и вк:поче)паем натуяки 37,Сердечник воэбудпвшейся катушки 37размыкает контакт 36 и замыкает контакт38. После этого все вышеонпслацые опс 1:ацпп автомата, выдающего билет, выполняет запасный автомат,В случае повреждения ленты и в запасном билепюм автомате сердечник солено)ца 29 прикрывает отверстие для опускагия монеты.Пассажиры, имеющие на руках ранеекупленныо карточки (проездные...