G01B 9/02 — интерферометры

Номер патента: 1500965

Опубликовано: 15.08.1989

Авторы: Зейликович, Ляликов

МПК: G01B 9/02, G02B 5/32, G03H 1/04 ...

Метки: интерференционной, картины

...нарушать соответствие между точками волновыхфронтов, восстановленных с опорнойи объектной голограмм, то в предлагаемом способе при любой настройкесоответствие выполняется всегда итем самым аберрации системы регистрации компенсируются полностью.Способ осуществляют при помощиустройства, оптическая схема которогоизображена на Фиг, 2, следующим образом,В голографическом интерферометрес гладкими пучками регистрируют опорную и объектную голограмму с отличающимися частотами (например,- 1 10 мм ), Затем голограммы совмещают и устанавливают в устройство(Фиг. 2), содержащее осветительнуюсистему (линзы 5 и б), точечную диафрагму 8, объективы 9 и 10, узел совмещения голограмм 1 и 2, два сферических отражателя (зеркала) 3 и 4,фокусы которых...

Номер патента: 1504516

Опубликовано: 30.08.1989

Авторы: Араев, Бондаренко, Горшков, Фомин

МПК: G01B 21/02, G01B 9/02

Метки: волнового, излучения, интерферометр, оптического, радиального, сдвига, формы, фронта

...компенсатора;п - показатель преломления материала светоделителя;6, ), Г, п - 0,5 - толщина компенсатора;Рй , т- Ги - 0,5 - толщинао 2светоделителя, Р/Г,б - относительное отверстиеобъектива;Г - Фокусное расстояние объекобтива.Регистратор 2 выполнен в виде светочувствительного устройства, обеспечивающего регистрацию интерференционной картины, например в виде Фотокамеры,Интерферометр работает следующимобразом,Объектив 1 преобразует сходящийся контролируемый волновой фронт вплоский и направляет его на светоделитель 3. Светоделитель 3 разделяетпадающий на него волновой Фронт по,.мплитуе на два волновых Фронта,один из которых распространяется внаправлении сферического зеркала 4,а другой проходит компенсатор 6 ираспространяется в...

Номер патента: 1506269

Опубликовано: 07.09.1989

Авторы: Михайловский, Рачков, Смирнов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, линейного, объекта, положения, углового

...вдоль оптической оси источникамонохроматического излучения и образуют подвижное звено,Одна иэ отражающих поверхностейтретьего отражателя 5 находится водной плоскости со светоделительнойповерхностью светоделителя 2.Интерферометр работает следующимобразом62691 О1520253040 зеркало 7. Отраженный зеркалом 7 световой поток распространяется в обратном направлении, возвращаясь к светоделителю 2.Второй луч, образованный светоделителем 2, проходит к отражателям 4 и 6, В этой паре отражателей 4 и 6обеспечивается распространение светового потока, аналогичное распространению в паре отражателей 3 и 5.В светоделителе 2 происходит наложение интерференционных, лучей. Результирующий световой поток попадаетна светочувствительную площадку фотоприемника 9,...

Номер патента: 1506270

Опубликовано: 07.09.1989

Автор: Захаров

МПК: G01B 9/02

Метки: измерений, интерферометр, многолучевой, поляризационных, спектральных

...ние амплитуд которых зависит от угла с(, подают на анизотропную пластину 4, расположенную между зеркалами 3 и 5, и они, независимо друг от друга, испытывают многолучевую интерференцию в результате отражений от зеркал 3 и 5 с анизотропной пластиной 4 между ними, а затем, пройдя в обратном направлении через дополнительную анизотропную пластину 2 интер) ферируют друг с другом, В результате формируется суммарная отраженная волна, зависимость поляризации от частоты и амплитудно-частотные характеристики которой зависят от угла от коэффициентов отражения К и К зеркал 3 и 5 и от коэффициента пропускания Т анизотропной пластины 4, Поляризатор 1, преобразуя изменение поляризации в изменение интенсивности, позволяет получить...

Номер патента: 1515037

Опубликовано: 15.10.1989

Авторы: Назмеев, Феоктистов, Хуснутдинов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: вогнутых, интерференционный, параболоидов

...от источника 1 фокусируют конденсором 2 в плоскость диафрагмы 3, установленной в фокусе объектива 5. Параллельный пучок, вьппедший иэ объектива 5, разделяют на два пучка с помощью светоделительной пластины 6. Один из пучков после отражения от эталонной поверхности пластины 6 направляют в объектив 5 и исПовышение точности контроля обеспечивается благодаря тому, что используются опорный и рабочий волновые фронты небольшого диаметра, которые могут быть сформированы с более высокой точностью, чем волновые фронты большего диаметра. Формула и э о б р е т е н и я Составитель В. Вахтедактор А. Огар Техред Л.Олийнык рректор А. Об Заказ 6215/40 ВНИИПИ Государственног 113035Подписное изобретениям и открытия Раушская наб д. 4/5Тираж 683 омитета...

Номер патента: 1516767

Опубликовано: 23.10.1989

Авторы: Голуб, Казанский, Сисакян, Сойфер

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: асферических, оптических, поверхностей

...- координаты, определяемыэ уравнений 9 щ х - 1- Г(х,у Г(х,у3 -1 - к(х,у)Д д- ГСх,у)а 7671 Осадочное место для контролируемой поверхности и блок регистрации, о тл и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности при контроле ; набора внеосевых сегментов оптическойасферической поверхности, оно снабжено кассетой, узлом смены внеосевыхсегментов и блоком согласования,электрически связанным с кассетой ис узлом смены внеосевых сегментов, аширокоапертурный компенсационный оптический элемент выполнен в виде набора малоапертурных плоских Фазовых оптических элементов, установленных в кассете так, что в процессе контроля каждый элемент расположен на одной оптической оси с посадочным местом.2. Устройство по и,1, о т л и ч аю щ е е с я тем,...

Номер патента: 1516768

Опубликовано: 23.10.1989

Авторы: Матяш, Переходько

МПК: G01B 9/02

Метки: вогнутых, интерферометр, криволинейных, оптических, параметров, поверхностей

...полос и блока 13регистрации перемещений.Интерферометр работает следующимобразом,Излучение источника 1 монохроматического излучения поступает в телескопическую систему 2, состоящуюиз линзы 14, объектива 15 и диафрагмы 16, расположенной одновременно вфокусе линзы 14 и в фокусе объектива 15. Эти элементы преобразуют неразведенный пучок излучения в коллимированный, который попадает на светоделитель 6. Светоделитель 6 делитизлучение на два параллельных лучаа и Ь, имеющих примерно равную интенсивностьЛуч Ь идет на центральнуючастьсветоделительной пластины 3,где делится на два луча Ьи Ь .Луч Ь проходит оптический элемент 8,выполненный в виде триппель-призмыс прозрачной полированной Фаской навершине, расположенный в опорном канале между...

Номер патента: 1518663

Опубликовано: 30.10.1989

Авторы: Горлов, Николаева

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, перемещений, поперечных

...который делит световойпоток на два, образуя плечи интерферометра, Один из лучей, отражаясьот зеркала 5, направляется параллельно второму световому потоку на прямоугольную равнобедренную призму 6, Затем отраженные от катетных граней прямоугольной равнобедренной призмы 6оба световых потока попадают на дифракционные решетки 7 и 8, каждаяиз которых установлена под автоколлимационным углом к световым потокам,После отражения от дифракционныхрешеток световые потоки возвращаютсяпо тому же оптическому пути на светоделитель 4, где световые потоки интерферируют и образуют на фотопри 55емнике 9 интерференционную картину,При поперечном перемещеныи объекта сустановленной на нем прямоугольнойравнобедренной призмой 6 световые лучи перемещаются по...

Номер патента: 1518664

Опубликовано: 30.10.1989

Авторы: Кудряшов, Лакота, Тихонов, Шмальгаузен

МПК: G01B 9/02

Метки: диагностический, интерферометр, стабилизированный

...выполнен в виде одночастот 1ного полупроводникового лазера, управляемого по частоте, с блоком питания, фотоприемник выполнен в виде двух фотодиодов, расположенных на одной подложке и разделенных промежутком, величина которого не более 1/8 ширины интерференционной полосы, ыход блока управления через блок пигания подключен к лазеруИзобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля профиля поверхностиоптических деталей,Цель изобретения - повышение точности измерений за счет стабилизацииинтер,:,еренционной картины с помощьюотрицательной обратной связи с большим частотным диапазоном и амплитудой 10коррек ии,На -)ертеже приведена блок-схемасдиагностического...

Номер патента: 1518667

Опубликовано: 30.10.1989

Автор: Ильин

МПК: G01B 11/02, G01B 9/02

Метки: объекта, перемещения

...11 в обратномнаправлении, проходит фаэовую пластину 10, призму 9,и освешает меру насоседнем участке.Во ; торой ветви пучок Ь , пройдяпоследовательно призму 12, фазовуюпластину 14, отражатель 15, вновь фазовую пластину 14, призму 13, такжеосвещает меру на тоы же участке,что и пучокПри движении меры 1 нормально своим штрихОм движутся также и отражатели 11 и 15. Причем, если в однойветви оптическая длина хода луча, на.пример Е увеличивается на й 1 тов другой Ь 2 уменьшается на такую жевеличину ВЬ 2, но с обратным знаком,Суммарное приращение разности ходапучков 1 и Ьв точке сложения равнод х=Ы.,-(-ЬЬ ) =26 Ь, =231,Суммарный пучек, отразившись отграни зеркальной призмы 4, падает насветоделительный кубик 5 и далее нафотоприемники 6 и...

Номер патента: 1520333

Опубликовано: 07.11.1989

Автор: Вензель

МПК: G01B 21/00, G01B 9/02

Метки: интерференционной, полосы, сдвига

...интерФеренционную картину в плоскости фотоприемника 3. Картина модулируется при помощи модулятора 2, подключенного к генератору 14. Сигнал с фотоприемника 3 усиливается усилителем 4 и сравнивается при помощи комгаратора 5 с уровнем постоянного напряжен ступающего от источника 15 о о напряжения. В момент перехо д рференционного сигнала через у постоянного напряжения в по1520333 СОставитель М.КузнецовРедактор М.Бланар Техред М.Ходанич Корректор М.Максимишин Заказ 6744/41 Тираж 683 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СС11303, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,ложительную сторону Формирователь 6 Формирует импульс по которому...

Номер патента: 1523905

Опубликовано: 23.11.1989

Авторы: Назмеев, Феоктистов, Хуснутдинов

МПК: G01B 9/02

Метки: асферических, второго, интерферометр, поверхностей, порядка

...которой равен рассе,янию между фокусами контролируемойасферической поверхности 12, олок регистрации, оптически связанный черезсветоделитель 4 с линзой 9, Линза 9установлена так, что аплацатическаяточка-предмет первой поверхности совмещена с фокусом объектива 7,45Контролируемая асферическая поверхность 12 устанавливается так, что один из ее фокусов совмещается с вершиной второй поверхности 11 линзы 9, а другой ее фокус совмещен с центром кривизны поверхности 11. При этом линза 9 и контролируемая асферическая поверхность 12 составляют автоколлимационцую систему, Ножевая диафрагма 8 перекрывает половину пучка лучей, выходящего из объектива 7 и служит 55 для экранировация пучка лучей, отраженного вершиной поверхности 1 в обратном...

Номер патента: 1523906

Опубликовано: 23.11.1989

Авторы: Мамедов, Соколовский

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, сканирующий

...6, а уголсх определен из соотношенияы: эт 1(1)6 где Азаданная разность хода лучей интерферометра; 1толщина пластин; п - показатели преломления мате риала пластин; 9заданное максимальное значение угла поворота пластин.интерферометр работает следующм образом.Световой пучок от источнка падаю ет на светоделнтель 1 и делится на два параллельных пучка. Оба пучка проходят через узел сканнрованя, С состоящий их плоскопараллельных пластин 3 н 4, установленным под углом с(одна к другой на вращающемся основанми 5. Световой пучок, падающий На плоскопараллельную пластину (например, 3) под углом 9ПРН 0 бреТаеТ разность хода Ь(9) (ПО сравнению с 9 в о), определяемую выражениемгде 1толщина пластины; п - показатель преломления материала...

Номер патента: 1523907

Опубликовано: 23.11.1989

Авторы: Пизюта, Сырова, Шульженко

МПК: G01B 9/02

Метки: сферометр

...Й ния, Блок 13 обработки информации поинформации с датчика 12 перемещенийкаретки 8 вычисляет расстояния междуотраженными пучками в двух различныхсечениях, расположенных на заданномрасстоянии друг от друга, и по измеренным значениям вычисляет угол отражения пучков. По углу отражения и расстоянию от оптической оси до подающего пучка вычисляется радиус сферы,1 ил. один от другого по оптической осиколлиматора и, таким образом, в процессе перемещений каретки 8 пересекают световые пучки в двух разных сечениях. Каретка 8 при помощи электродвигателя 9 непрерывно перемещаетсяперпендикулярно оптической оси системы в заданных пределах. Датчик 12величины перемещений каретки 8 выдает информацию о положении кареткив блок 13 обработки информации,...

Номер патента: 1525444

Опубликовано: 30.11.1989

Автор: Подымака

МПК: G01B 11/02, G01B 9/02

Метки: интерферометр, линейных, объекта, перемещений

...последовательноот поверхностей 9 и 8; а эатем -5, 6, 2, 3, 6, 5, 3, 2, снова достигает отражателя 10. Теперь ходсигнальною луча в отражателе 10противоположен предыдущему и направлен от поверхности 11 к 12, а впространстве отражатадей 1 и 4 междуповерхностями 2, 3, 5, 6, 3 2, 5, 6Далее сигнальный луч, отражаясь от поверхностей 8.и 9 отражателя 7 и проходя через расщепитель 14, образует два интерференционных поля с опорными лучами 18 и 19. Таким образом, в интерферометре сигнальный луч образует двадцать дискретных измерительных проходов, которые пространственно распределены в четырех параллельных плоскостях. Расстояние Й между измерительными плоскостями равно проекции иа плоскость, перпендикулярную поверхностям 1 1 и 12, расстояние...

Номер патента: 1525445

Опубликовано: 30.11.1989

Автор: Старков

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, перемещений

...по амплитуде полупрозрачным слоем на отраженный пучок ",б" и проходящий "в" внутрь призмы. Проходящий пучок "в" отражается на гранях полного внутреннего отражения и возвращается обратно на полупрозрачную поверхность. Отраженные пучки а и б направляются вдоль оси Х и падают на гипотенузную грань отражателя 4. Пучок "б" преломляется, отражается на гранях отразателя 4 и возвращается параллельно самому себе вновь на светоделитель 3, где встречается с пучком "в", Оба пучка "б" и "в" делятся вторично по амплитуде, интерферируют и создают две системы интерференционных полос в плоскостях регистрирующих блоков 6 и 7.Пучок "а" падает на гипотенуэную грань отражателя 4 в месте полупрозрачного слоя, где делится нм по амплитуде нв два равных...

Номер патента: 1525446

Опубликовано: 30.11.1989

Авторы: Савкин, Федченко

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, линейных, объекта, перемещений

...оптически связанас зеркалом 5, а вторая - с зеркалом7, две световозвращающие системы16 и 17, установленные в каждой ветви интерферометра, два дополнительнык уголковых отражателя 18 и 19,оптически связывающие световозвращающие системы 14, 15 и 16, 17 соответственно. Каждая иэ световозвращенных систем состоит из уголковогоотражателя соответственно 20-23,укрепленного на каретке 13, двух 25уголковых отражателей, соответственно 24, 25, 26, 27 и 28, 29, 30, 31и двух зеркал 32 и 33 (фиг.З), оптически связанных с уголковым отражателем соответственно 20, 21, 22, 23и установленных таким образом, чторебра уголковых отражателей соответственно 24 и 28 (Фиг,1), 25 и 29,26 и 30, 27 и 31 перпендикулярныребру уголкового отражателя соответственно 20,...

Номер патента: 1534298

Опубликовано: 07.01.1990

Авторы: Александров, Ильин

МПК: G01B 9/02

Метки: объекта, перемещения

...и интерферируют на светосоединителе. Интерференционная картина проецируется линзой на фотоэлемент. При перемещении дифракционной решетки интерференционные полосы сканируются по фотоэлементу. Число просканированных полос пропорционал со перемещению. 1 ил. траженного от светодели., дифракционная решета под углом 45 к направперемещенийх и у так, что верхности образует с наространения излучения ас и ешетку 3 от лазераи9, углы 11 а = 45 - 1 срс 1, ространения гп-го порядка о на решетке 3 излучения. отает следующим образом. Излучение лазера 1 проходит коллиматор 2, а попадает на светоделитель 8, который делит излучение на пучки а и аг. Пучок ас, пройдя светоделитель 8, поступает на дифракционную решетку 3 под углом а 1. Туда же поступает...

Номер патента: 1534299

Опубликовано: 07.01.1990

Авторы: Агурок, Герловин, Лысенко, Скворцов, Трегуб

МПК: G01B 9/02

Метки: вогнутой, линзовой, поверхности, сферической

...О, отражается от плоского зеркала 6 и падает на поверхность 9 в точке Р, симметричной точке Е относитель- Зб но оптической оси, и сноза разделяется.Луч У отражается от поверхности 9, попадает в точку О на плоском зеркале 6, отражается от плоского зеркала 6 и проходит в интерферометр, пересекая 4 О контролируемую поверхность 9 в точке 6.Луц У проходит в интерферометр, пересекая контролируемую поверхность 9 в точке Г. Таким образом, лучи Х и 1 выходят из точки О , а лучи Х выходят пзточки О, отстоящей от тоцки О на расстоянии 2"й, где К . - радиус кривизны контролируемой поверхности 9. Прс йди через линзу 8 и обьектив 4 В обратном направлении, луци попадают в отверстие наклонного зеркала 3 и не попадают на регистратор 5 интерферограмм....

Номер патента: 1536193

Опубликовано: 15.01.1990

Автор: Недбай

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевом, интерферометре, многократных, отражений

...блок в интерФерометре для динамических измерений состоит из высокочастотных Фотоприемника 14 и осциллограФа 15.ИнтерФерометр работает следующим образом..Пуч 1, из интерФерометрл с помощью плоских зеркал 9 и 10 подается в устройство для многократных отржеций, а именно нл линзу 4 плрлллель-,но ее оптической оси. Отклоненный линзойлуч попадает нл плоское зеркало 5, установленное с возможностью поворота в Фокусе линзы 4. Зеркало 5устанавливается под небольшим угломк Фокалььой плоскости линзы 4 так,чтобы отраженный от зеркала 5 лучвозвратился на линзу 4 несимметричнопадающему нл зеркало 5 лучу по отношению к оптической оси линзы 4. Тем самым луч многократно проходит путь от зеркллл 5 к подвижному зеркалу связанному с контролируемым объектом...

Номер патента: 1536194

Опубликовано: 15.01.1990

Авторы: Гусейнов, Попков

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр

...на исследуемом объекте 9. Первый (или один из следующих) дифракционный максимум 12 отраженного от ре 5 щетки 8 пучка 11 проходит через полупрозрачное зеркало 5 и попадает на экран 6, где в результате интерференции световых пучков 10 и 12 образуется интерференционная картина, на блюдаемая через микроскоп 7. С помощью зеркал 4 и 5 оптическая схема юстируется таким образом, чтобь 1 угол между пучками 10 и 12 был близок нулю.Направление распространения дифрак 15 ционных максимумов излучения, отра- женного от решетки 8, или углы дифракции с (где И = 1,2,3) определяются из условия:зпц= 1 М,где М - номер дифракционного максимума;- длина волны излучения лазера; 25Ь - период дифракционной решетки,При интерференции двух коллимированных световых...

Номер патента: 1536195

Опубликовано: 15.01.1990

Авторы: Бакеркин, Коварский, Контиевский

МПК: G01B 9/02

Метки: бокового, интерферометр, сдвига

...светоделителъную боковую грань, а другая часть попадаетв призму 2, и после отражения от кры ши призмы 2 - на светоделительнуюгрань 1, В результате взаимодействияволновых Фронтов возникает интеферен.ционная картина.55Призма 2 установлена с возможностью смещений по трем направлениямдва из которых являются рабочими длясоздания необходимой величины сдвигаД волновых Фронтов, а одно - остировочным. Смещение призмы 2 возможно в плоскости главного сечения призмы, проходящей через ребро крыши, в направлении, перпендикулярном ребру крыши (рабочее), в направлении, параллельном ребру крьши(юстировочное) . а также в направлении, перпендикулярном плоскости главного сечения призмы (рабочее). Сдвиг 6 волновых фронтов получается в результате смещения...

Номер патента: 1538038

Опубликовано: 23.01.1990

Автор: Недбай

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевом, интерферометре, многократных, отражений

...количества оптических элементов.На чертеже изображена принципиальная схема устройства для многократных отражений в двухлучевом интерферометре.Устройство содержит зеркало 1, связанное с контролируемым объектом 2 и установленное в фокальной плоскости положительной линзы 3, вогнутое зеркало 4, установленное в апертуре линзы 3 с возможностью смещения параллельно ее фокальной плоскости, отражатель в виде плоского зеркала установленного между вогнутым зерка-( лом 4 и линзой 3 в фокусе вогнутого зеркала 4 с возможностью поворотаДля ввода и вывода лучей из устройства многократных отражений используют плоские зеркала б и 7. В качестве зеркала 1, связанного с контролируемым объектом 2, при контроле быстропротека:ощих механических процессов...

Номер патента: 1539517

Опубликовано: 30.01.1990

Автор: Михайлов

МПК: G01B 9/02, G03C 5/00

Метки: записи, интерферограмм

...посредством полупрозрачного зеркала 3 и зеркала 4, а затем плоским зеркалом 5 направляется в оптическую систему 6 расхождения светового пучка и плоским зеркалом 7 - в оптическую систему 8 фокусировки пучка. При этом точка, из которой расходится один пу,чок, и точка, в которую сходится другой пучок, расположены симметрично ,относительно поверхности светочувст,вительного материала, закрепленного на платформе Л держателя 9. В интерференционной картине, записанной на поверхности светочувствительного материала, период интерференционных полос изменяется в;диапазоне от Й,=Л/2 з.1 п И- ц ) до С 1 й=20Л/2 з 1 п (а( + ц),где М - длина световой волны когерентного источника, Йд - период интерференционных полос; о - угол наклона осевого луча; ц -...

Номер патента: 1543276

Опубликовано: 15.02.1990

Авторы: Лазарева, Пуряев, Турчков

МПК: G01B 9/02, G01M 11/00

Метки: асферических, компенсатор, поверхностей, формы

...поверхность 15 3. Буквой А обозначена вершина гомоцентрического пучка лучей; 8 - расстояние от точки А до первой поверхости компенсатора; С 0 - центр кривизны при вершине асферической по-20 ерхности; С - точка пересечения Крайней нормали с оптической осью;6 - апертурный угол крайнего луча Входящего пучка.Коипенсатор работает следующим 25 ОбразомГомоцентрический пучок лучей, идущих из точечного монохроматического источника излучения, расположенного в точке А, преобразуется линзами 1 и 2 компенсатора в негомопентрический, лучи которого являются нормалями к контролируемой асферической поверхности 3. Отразившись от контролируемой поверхности, лучи вновь проходят через компенсатор, формируя гомоцентрический пучок лучей с центром в точке...

Номер патента: 1548663

Опубликовано: 07.03.1990

Авторы: Никитин, Удалов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: вращения, интерферометр, оптических, поверхностей

...вокруг центра кривизны образцовой сферическойповерхности. Отклонение профиляконтролируемой детали определяется как разность измеренного по Фотографии порядка интерференции на любом репере с расчетным для этого репера (табличным) значением. 3 ил. рых нанесены реперы в виде частей(дуг) концентричных колец,Интерферометр работает следующимобразом.Контролируемую деталь 8 устанавливают на поворотном столе 1 и центрируют так, что ее ось симметрии совпадает с осью вращения стола 1, ацентр кривизны средней зоны совпадает с центром кривизны образцовойсферической поверхности, Параллель,ный пучок света от лазера 3 проходит объектив 4 и формирует в егоФокусе точечный источник света, Осветительный. объектив 6 с помощью светоделителя 5 проектирует...

Номер патента: 1551984

Опубликовано: 23.03.1990

Авторы: Мищенко, Ринкевичюс

МПК: G01B 9/02

Метки: ахроматической, интерферометре, полосы, сдвига

...сигналом уровня Б срабатывает компаратор 11, сигнал с выхода которого подается на вход формирователя 12; формирующего импульс продолжительностью с = ЗТ где Т " период переменного Фотоэлектрического сигнала (фиг. 4), Сформированный импульс поступает на984 51551первый вход элемента И 13, на второйвход которого поступает последовательность тактирующих импульсов с генератора 17. При этом часть импульсов, отвечающих временному интервалус длительностью л 3 Т , проходятна выход элемента И 11 и далее натактирующий вход аналого-цифровогопреобразователя 10, При поступлениина тактирующий вход аналого-цифрового преобразователя 10 тактирующихимпульсов последний осуществляет рядизмерений значений переменного фотоэлектрического сигнала,...

Номер патента: 1559250

Опубликовано: 23.04.1990

Авторы: Генкин, Жилкин, Королев, Машин, Юзефович

МПК: G01B 9/02, G01H 9/00

Метки: колебаний, малых, механических

...маятника 4, регистратор5, светоделитель 6 и плоские зеркала7 и 8, расположенные нормально к направлению пучков излучения, отраженных от светоотражателей 2 и 3 соответственно. Устройство крепится наобъект 9,;Устройство работает следующим образом,Пучок света от лазерного источника 1 разделяется светоделителем бинтерферометра на два пучка, которыенаправляются на зеркальные светоотражатели 2 и 3. Зеркальный светоотражатель 2, жестко, связанный с исследуемым объектом (основанием) 9, совершает горизонтальные колебания,подлежащие измерению, Зеркальныйсветоотражатель 3 закреплен в центрекачания горизонтального маятника,который является неподвижным основанием, ипотому светоотражатель 3свободен от влияния исследуемых горизонтальных колебаний и...

Номер патента: 1562686

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Батомункуев, Куминов, Майоров, Сандер, Чуличкин, Шойдин, Ямщиков

МПК: G01B 11/00, G01B 9/02

Метки: линейных, перемещений

...от плоских зерсоответственно Х положии Х 2 отрицательного порядкал лучи тельного ков Х =дУ(Еай,-еай,) созЧ,Х =ЛУ(К-КЧ) созе, 2 2, о 2 ф(3) где дУ - расстояние от первоначального положения линейки до точки схождения дифрагировавших лучей.В симметричной схеме 0=Ц 2, Ч 2=Ч, и из (2) и (3) следует, что аУ=ДУ, т.е. точка схождения вновь находится на линейке. Из симметрии схемы следует равенство оптических лучей этих дифрагировавших лучей, следовательно, зеркала расположены касательно к новому эллипсу, имеющему фокусы в ноПри повторной дифракции этих волн на линейке и выборе в качестве интерферирующих двух волн, положительного и отрицательного порядков тех же, что и при первой дифракции, разность д будет удвоена, следовательно,...

Номер патента: 1567868

Опубликовано: 30.05.1990

Авторы: Борисевич, Ларченко, Леонов, Табакаев

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, сканирующий, угловой

...зеркала 3 и зеркала 4. 1 ддощий на формирователь 2 пучков поток излучения лазера разделяется полупрозрачным зеркалом 3, стоящим на входе на двд потока прямой и отраженный. Отраженныи от полупрозрачного зеркала 8 поток излучения направляется на обьектив 5, и прямой на зеркало 4, расположенное под углом к оптической оси лазера 1. Отраженнь(й ог зеркала 4 поток излучения направляется также нд об.ьектив 5. Расстояние междУ сями двух приходя(цих на объектив пот- ков излучения выбирается из условия где г, длина волны излучения .)зерд;Г, пространственная часто гд дифракционной решетки;фокусное рдссгояние объектива;Л( и Л -номера взаимодействуя)шихпорядков дифракции.Вышедшие из формирователя 2 пхцков потоки излучения попадают в...