G01B 9/02 — интерферометры

Номер патента: 1652810

Опубликовано: 30.05.1991

Авторы: Копитайко, Ремизов, Сизов

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевой, интерферометр

...и вогнутое эллиптическое зеркало 9 с дьумя анаберрационными точками, расположенное так, что ближний к его поверхности ; кус Р совпадат с фокусом зеркала 8, а дальний фокус Гэ зеркала 9 лежит на поверхности параболического зеркала 8, Зеркала 6 и 8 расположены на одном уровне, для Мего зеркало 6 выполнено с отверстием в 1 ентре, диаметр которого не менее диаметра зеркала 8, Отверстие в центре эллиптиЧеского зеркала 9, диаметр которого не Менее диаметра зеркала 7, обеспечивает взаимное осевое перемещение отражателей и прохождение лучей к зеркалу 7,Интерферометр работает следующим образом.Пучок лучей от лазера 1 делится по амплитуде светоделительной пласгиной 2 на здорный и измерительный пучки 1 и 11, Пучо: 1, с помощью зеркала 3...

Номер патента: 1670390

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Бубис, Долик, Образцов, Подоба, Серегин, Федина

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометра, кривизны, оптических, поверхностей, помощью, радиусов, сравнения, сферических

...пластинку 5 рассеивается, образуя расходящийся рабочий пучок, который освещает образцовое зеркало 6 и контролируемые зеркала 7 и 8. Отразившись от всех зеркал, рабочий пучок возвращается к рассеивающей пластинке 5, проходит через нее и интерферирует с опорной сферической волной. Интерферометр 1 перемещают к центру кривизны образцового зеркала до появления на его поверхности прямых интерференционных полос, Подвижками контролируемых зеркал 7 и 8 выравнивают длины хода опорного пучка и частей рабочего пучка для каждой поверхности до появления на всех поверхностях в белом свете интерференционных полос максимально возможного контраста с одинаковой частотой и ориентацией. После этой операции контролируемые поверхности пересекают...

Номер патента: 1670391

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Кондратов, Контиевский

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G02B 17/08 ...

Метки: вогнутых, интерференционный, поверхностей, цилиндрических

...проектируют в фокальную плоскость объектива 4. Оптический элемент 5 выполняют в виде пластины толщиной б. определяемой из соотношенияб - Я(19,81054 п - 53 02046 п + 58, - 32,34114 п + 9,05130 п - 1,01889 пб), где В - радиус кривизны цилиндрической поверхности 8;и - показатель преломления материала оптического элемента 5,Оптический элемент 5 устанавливают между фокальной линией 9 контролируемойповерхности 8 и самой поверхностью 8, Эталонную поверхность 6 оптического элемента 5 совмещают с фокальной линией 9 контролируемой поверхности 8.Эталонную поверхность 6 оптического элемента 5 и контролируемую поверхность 8 детали 7 освещают вышедшим из объектива 4 параллельным пучком лучей, перпендикулярных эталонной поверхности 6.Между линзой 2 и...

Номер патента: 1675659

Опубликовано: 07.09.1991

Авторы: Карпова, Смирнов

МПК: G01B 9/02

Метки: двухкоординатная, измерительная, лазерная, линейных, перемещений

...наб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул,Гагарина, 101 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано дляизмерения линейных перемещений в машино- и станкостроении, а также в других отраслях промышленности.Цель изобретения - расширение диапазона измеряемых перемещений за счет увеличения отношения сигнал/шум.На чертеже представлена схема лазерной двухкоординатной измерительной системы для измерения линейныхперемещений.Лазерная двухкоординатная измерительная система содержит последовательноустановленные лазер 1 и светоделитель 2,делящий световой пучок на два, первыйуголковый отражатель 3, предназначенныйдля связи с объектом на чертеже не пока-,зан), второй уголковый отражатель 4,...

Номер патента: 1675660

Опубликовано: 07.09.1991

Авторы: Андреев, Михайлов

МПК: G01B 9/02

Метки: дилатометр

...при контроле образцов в виде усеченного конуса,На чертеже изображен дилатометр.Дилатометр содержит основание 1 с опорным кольцом 2, эталонную стеклянную пластинку 3, размещенную на опорном кольце 2, оптическую систему 4 и блок 5 регистрации, внутренняя поверхность опорного кольца 2 выполнена конусной, а угол между осью конуса и его образующей выбран иэ диапазона 10.60, На чертеже также показан образец 6 и метка щ на нижней поверхности пластинки 3,Дилатометр работает следующим образом.Изготавливают из исследуемого материала образец 6 в виде усеченного конуса с углом между осью конуса и его образующей, выбранным из диапазона 1060 и равным аналогичному углу внутренней конусной поверхности опорного кольца 2. Помещают образец 6 внутрь...

Номер патента: 1675668

Опубликовано: 07.09.1991

Автор: Новиков

МПК: G01B 11/26, G01B 9/02

Метки: объекта, положения, углового

...их оптической разности хода на половину длины волны, за голограммой наблюдается максимальная освещенность, Существенно. что при нахождении объекта 10 в исходном положении за голограммой наблюдается равномерно освещенное пятно даже при разных волновых фронтах. При больших отклонениях от исходного положения интерференционная картина изме няется, что приводит к появлению заголограммой муаровой картины, период которой уменьшается по мере увеличения углового отклонения. Амплитуда переменной составляющей фототока, пропорционального 20 потоку излучения за голограммой, периодически уменьшается до нуля. Первое нулевое значение амплитуды достигается при периоде интерференционной картины порядка размера д освещенной площадки фотопри...

Номер патента: 1677506

Опубликовано: 15.09.1991

Автор: Кайнер

МПК: G01B 9/02

Метки: микроинтерферометр

...установленных по ходу пучка лучей источника 1 света конденсора 2, диафрагмы 3, светоделителя 4, микрообъектива 5, плоского отражателя 6, микрообьектива 7, оптически связанного с диафрагмой 3 через светоделитель 4, микроскоп 8, оптически связанный с микрообъективами 5 и 7 через светоделитель 4, предметный столик (на чертеже не показан), предназначенный для размещения контролируемого объекта 9 и оптически связанный с микрообьективом 7, направляющую 10, неподвижная часть которой жестко скреплена с микрообъективом 7, и отражатель 11, скрепленный с подвижной частью направляющей так, что его поверхность перпендикулярна оптической оси микрообъектива 7. Пучки лучей источника 1 света собираются конденсором 2 на диафрагме 3 и затем разделяются...

Номер патента: 1677507

Опубликовано: 15.09.1991

Автор: Снежков

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, радиального, сдвига

...пучков обладают разной кривизной волнового фронта и некоторой плоскости нормальной оси, где интенсивности рабочего и опорного пучков наиболее близки. Конструкция предложенного интермерометра значительно проще и надежнее, позволяет контролировать мощные пучки, 1 ил. Устройство работает следующим образом.Пучок лазерного излучения, волновой фронт А которого измеряют, направляется в оптическую систему 1, переотражается на поверхностях 2 и 3 в результате чего оптическая система 1 формирует несколько инО терферирующих пучков с различной расходимостью, например В и С.Благодаря отличию кривизны граней 2 и 3 оптическая сила такой оптической системы для каждого из сформированных ею интерферирующих пучков различна (т,е. 111 Ф 1 2) и...

Номер патента: 1677508

Опубликовано: 15.09.1991

Автор: Махмутов

МПК: G01B 9/02

Метки: голографический, интерферометр

...5 определяется из формулы тонкой линзы т - г 1 г 2/Ци)(и-г 1, где т- фокусное расстояние объектива 5; и - показатель преломления материала объектива; г 1, г 2 - радиусы сферических поверхностей объектива, в которой Г- г 2 (в обратном ходе лучей). При этом получают г 1 = г 2-г 2/и. Так как фокус окуляра 6 совмещен с Фокусом часи освещающего светового потока, дважды прошедшего через объектив 5 и отраженного от объекта 9, то окуляр и объектив образуют телескопическую систему объектного пучка, Формирующую изображение объекта в плоскости регистрирующей среды 7.Узел 8 крепления объектива 5 к исследуемому объекту 9 выполнен а виде трех или более опор из магнитных эластомеров на основе каучуков. Конструкция опор обеспечивает плотное...

Номер патента: 1693369

Опубликовано: 23.11.1991

Автор: Новиков

МПК: G01B 9/02

Метки: нулевого, объекта, положения

...на выходе фотоприемного блока ырабааес сигнал, свидетельствующий о нахождении объекта в нулевом положении. Составитель О.МамонтовТехрад М.Моргентал Корректор О, 1 певцова Редактор О,Головач Заказ 4067 Тираж Подписное БНИИПИ Государственного комитета по изобретенилм и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушскал наб 45 Г 1 роизводственно-издательский комбинат "Патент", г, Ухгород, улаарина, 101зобретение относится к оптико-электронным измерениям, предназначено дляопределения фиксированного углового положения обьекга и может быть использовано в составе точных оптико-электронных 5углоизмерительных систем,Целью изобретенил является повышение точности определенил нулевого положения объекта,На чертеже показана структурнал схема...

Номер патента: 1693370

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Бирман, Гроссман, Седельников

МПК: G01B 9/02

Метки: перемещений, угловых

...интерференционного узла, а радиус сектора пластины 14 равен расстоянию от центра круга до блока отражателей интерференционного узла. Устройство работает следующим образом.Пучки лучей источника 1 когерентного излучения делятся светоделителем 2 на два пучка лучей, один из которых, отразившись от светоделителя 2, попадает на фотоприемник 11, а второй; пройдя через светоделитель 2, попадает в оптический коммутатор 3, который направляет его в один из световодов 4, Далее пучки лучей попадают в один из планарных интерферометров 5.Рассмотрим работу одного из них. Пучки лучей после выходного торца световода 4 делятся светоделителем 6 на два пучка лучей, один из которых попадает на фото- приемник 9, отразившись от блока 7 отражателей и пройдя...

Номер патента: 1696851

Опубликовано: 07.12.1991

Авторы: Базыкин, Базыкина, Капезин, Телешевский, Яковлев

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, отклонений, прямолинейности

...и проходящей через вершину триппель-призмы 5, выходная боковая грань триппельприэмы 5 выполнена полупрозрачной. 1.=лок 4 отражателей скрепляют с кареткой (не показана).Интерферометр работает следующим образом,Пучки лучей источника 1 монохроматического излучения проходят через акустооптический модулятор 2, где дифрагируют на бегущей ультразвуковой волне. В результате дифракции поле акустооптического модулятора 2 пучки лучей, распространяк)щиеся под разными углами по отношению к оптической оси интерферометра, В дальнейшем будем рассматривать только два пучка лучей, соответствующие дифракционным порядкам Е(0) и Е(-1), соответствующие нулевому и первому порядку дифракции, Частотные спектры пучков лучей Е(О) и Е(-1) отличаются друг от...

Номер патента: 1696931

Опубликовано: 07.12.1991

Автор: Гусев

МПК: G01B 9/02, G01M 11/00

Метки: интерференционного, качества, оптических, систем, телескопических

...от известного способа голограмму регистрируют в плоскости изображений диффузного рассеивателя и освещают ее волнами с измененными углами падения, причем изменения углов падения опорной и объектной волн противоположны по направлению, перед регистрацией интерферограммы проводят пространственную фильтрацию прошедших волн в плоскости голограммы.Предлагаемый способ обеспечивает создание условий получения интерферограммы бокового сдвига в полосах бесконечной ширины с использованием когерентного диффузно рассеянного света, в результате чувствительность увеличивается по сравнению с дифференциальной интерферометрией в полосах конечной ширины,На чертеже изображена схема устройства, реализующего предлагаемый способ.Устройство включает блок 1...

Номер патента: 1298529

Опубликовано: 15.12.1991

Авторы: Духопел, Логачева, Мартынова, Прохорова, Серегин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, отклонений, переменной, плоскостности, поверхности, чувствительности

...полосы црп соответст вующих углах падения пучка лучей, а также устройство синхронного поворота осветительной и регистрирующей3 1298 систем це показано), кицематцческц связанное с ОРОротцыми Основаниями Зи 5,.Конструктивно особенностью интерферометра является наг нчие двух центров вращения: С для основания 3 осветительной системы и С для ос 2 новация 5 регистрирующей системы, расцоложенцьх симметрично относительно плоскости симметрии призмы 4. 10Центр;С, находится на пересечении перпендикуляра, опущенного иэ середины образцовой грани на входную грань, с продолжением луча осветительной системы, падающего после 15 преломления н призме на середину основания под углом полного внутреннего отражения.Ицтерферометр работает...

Номер патента: 1705697

Опубликовано: 15.01.1992

Авторы: Гаращук, Ивахник, Понамарев

МПК: G01B 9/02

Метки: временной, когерентности, функции

...полупрозрачных зеркал 7, расположенных по ходу объектного пучка между отражающим зеркалом 3 и регистрирующей нелинейной средой 4 и выполненных с воэможностью регулирования расстояния между зеркалами, блок 8 регистрации, третье отражающее зеркало 9, установленное за регистрирующей нелинейной средой 4 по ходу объектного пучка и ориентированное так, что нормаль к плоскости зеркала противоположно направлена распространению объектного пучка.П р и м е р. Излучение рубинового лазера с длиной волны А = 694,3 мкм, работающего в режиме модуляции добротности, направляется на светоделитель 1, делится на два пучка - объектный и опорный, затем эти пучки, отразившись от отражающих зеркал 3 и 2 соответственно, проходят каждый свою пару полупрозрачных...

Номер патента: 1712777

Опубликовано: 15.02.1992

Авторы: Кондратов, Контиевский

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: вогнутых, поверхностей, формы, эллиптических

...в том, что контролируемуюповерхность освещают из ее фокуса гомоцентрическим пучком лучей, устанавливаютвспомогательный оптический элемент перпендикулярно оси излучения, регистрируют 10отраженный волновой фронт, по которомусудят о форме контролируемой поверхности,Освещение контролируемой поверхности производят из ее ближнего фокуса, в 15качестве вспомогательного оптическогоэлемента используют плоское зеркало сцентральным отверстием и устанавливаютего посередине между койтролируемой поверхностью и дальним ее фокусом, 20На чертеже изображена схема.реализующая способ контроля вогнутой эллиптической поверхности с помощью неравноплечего интерферометра.Схема контроля включает лазер 1, расширитель лазерного излучения 2, светоделитель 3,...

Номер патента: 1712778

Опубликовано: 15.02.1992

Автор: Феоктистов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферических, второго, интерферометр, поверхностей, порядка

...для контроля вогнутых эллипсоидов.Интерферометр содержит источник 1 монохроматического излучения, светоделитель 2 для разделения излучения на две ветви - рабочую иэталонную, последовательно установленные по ходу прошедшего светоделитель 2 излучения фокусирующий объектив 3, диафрагму 4, плоское зеркало 5, объектив 6 для формирования плоского эталонного волнового фронта, светоделитель 7 для совмещения эталонного и контролируемого волновых фронтов, блок регистрации интерференционной картины, состоящий из объектива 8, диафрагмы 9 и фотоприемного устройства 10, и размещенные по ходу отраженного светоделителем 2 излучения плоское зеркало 11, второй фокусирующий объектив 12, диафрагму 13, установленную в заднем фокусе объектива 12,...

Номер патента: 1714346

Опубликовано: 23.02.1992

Авторы: Конысбеков, Марков

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерференционное, линейных, перемещений

...17,последовательно установленные и образующие второй измерительный канал, последовательно установленные и оптически связанные четвертый отражатель 18 и четвертый светоделитель 19, а также пятый отражатель 20 и пятый светоделитель 21 и уголковый отражатель 10.. Интерференционное устройство работает следующим образом. торых оба пучка направляются в опорный и измерительные каналы, интерферуют друг с. другом и попадают на фоточувствительныеплощадки фотоприемников 6, 11 и 17,5 10 15 20 В . результате интерференции разностных световых волн на фоточувствительных площадках фотоприемников возникают интерференционные полосы бесконечной ширины, которые пульсируют с частотой, равной. частоте модуляции, и вследствие этого на выходах...

Номер патента: 1716314

Опубликовано: 28.02.1992

Автор: Латышев

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевой, интерферометр, квазиоптический, латышева

...узла компенсатора интерферометра, показанном на фиг. 3 (на фиг. 1 обведен штриховой линией), направленный ответвитель приспособлен для работы в.миллиметровом и субмиллиметровом диапазонах и выполнен на поляризационных принципах, На фиг. 3 представлены направленный ответвитель б, отражатель 5 и часть опорного плеча интерферометра. Направленный ответвитель б состоит иэ одномерной сетки 8 (проволоки металлические) и поляроида 9(например, аналогичного сетке 8). Относительная ориентация проволок сетки 8 и поляроида 9 показана на фиг. 3, угол между ними может составлять, например, 45 О. Этот узел работает следующим образом.Излучение из плеча интерферометра (сверху) падает на проволочную сетку 8 и отражается от нее в сторону отражателя...

Номер патента: 1728643

Опубликовано: 23.04.1992

Автор: Дымшиц

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр

...на всю поверхность,Между пластиной и отражающими элементами дифракционной решетки может быть нанесено поглощающее покрытие, а на пропускающие элементы решетки - просветляющее покрытие. Это позволяет устранить блики, возникающие при многократном отражении излучения внутри пластины, и связанное с ними появление дополнительных дифракционнь 1 х максимумов, Тем самым повышается контрастность интерференционной картины.На фиг,1 изображен интерферометр; на фиг.2 - наложение волновых фронтов в двух дифракционных максимумах.Интерферометр содержит неплоскопараллельную прозрачную пластину 1, нанесенную на одну ее поверхность отражательно-пропускающую дифракционную решетку 2, отражатель 3 в виде сплошного слоя, покрывающего противоположную...

Номер патента: 1733920

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Ероховец, Ларченко, Леонов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, сканирующий

...последовательно оптически связанные лазер 1,первый компонент 2 коллиматора, дифракционную решетку 3, второй компонент 4коллиматора, объектив 5, дефлектор 6, вогнутую дифракционную решетку 7 и фотоприемник 8, причем центр вогнутойдифракционной решетки 7 совпадает с центром колебаний дефлектора 6, а дифракционная решетка 3 и вогнутая дифракционнаярешетка 7 расположены в оптически сопряженных плоскостях, которыми являются передняя фокальная плоскость второго 20компонента 4 коллиматора и задняя фокальная плоскость объектива 5,Выход фотоприемника 8 является выходом интерферометра,Устройство работает следующим образом.Первый компонент 2 коллиматора фокусирует излучение лазера 1 на расстоянии д 1 до дифракционной решетки 3которая разделяет его...

Номер патента: 854123

Опубликовано: 30.05.1992

Авторы: Агапова, Егорова

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, спектрометр

...устройства,Укаэанная цель достигается тем,что в интерференционном спектрометре,содержащем источник излучения, проек-:тирующую оптику, систему отклоняющихзеркал, дифракционную решетку и фотоприемн зеркалльныхкционо одноажатевыполн уголка ная ре го из На чертеже представлена схема предлагаемого устройства.Спектрометр содержит источник 1 излучения, формирующий обьектив 2, плоское зеркало 3 с отверстием в центре, первый уголковый отражатель, образованный зеркалами 4, 5, причем на поверхность зеркала 4 нанесена дифракционная решетка, второй уголковый отажатель, образованный зеркалами 6,7,нализирующий обьектив 8,фотопник 9,ра осуществляетРабота спектроме ся следующим образо Пучки лучей от и ходя объек ифрФточника 1, проверстие в...

Номер патента: 845548

Опубликовано: 30.05.1992

Автор: Егорова

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, спектрометр

...теференционном спектроме мрасположенные по ходу(54)(57) ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ СПЕКТРОМЕТР, содержащий расположенные по хо"ду луча входную диафрагму, коллимирующий объектив, светоделитель, состоящий из двух призм, фокусирующий объектив и фотоприемник, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышениясветосилы, светоделитель выполнен издвух различных подобных призм, рабочие грани которых алюминированы, аугол между алюминированными и прозрачными гранями больше прямого. афрагму, коллимирующий объектив, светоделитель, состоящий из двух призм, фокусирующий объектив и фотоприемник, светоделитель выполнен из двух различных подобных призм, рабочие грани которых алюминированы, а угол между алюминированными и прозрачными гра нями больше...

Номер патента: 1739188

Опубликовано: 07.06.1992

Авторы: Нестеров, Ольмезова

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, компаратор, линейных, перемещений

...пучка, отраженного от отражателя 8,Интерференционный компаратор работает следующим образом,Монохроматический свет источника 1 после прохождения коллиматора 2 парал1739188 50 55 лельным пучком падает на светоделитель3. Часть света направляется светоделите-.лем 3 в измерительный канал интерферометра, В измерительном канале пучок света 5зеркалом 4 направляется на дополнительное зеркало 5, отразившись от которого попадает на зеркало 6, и затем, отразившисьот него, попадает на отражатель 7, укрепленный на каретке 11, Отразившись от стражателя 7, пучок света последовательнопроходитв обратном направлении - зеркала 6, 5, 4, светоделитель 3-и поступает черезобъектив 9 в счетчик 10 интерференционных полос. 15Другая часть пучка света от...

Номер патента: 1749700

Опубликовано: 23.07.1992

Авторы: Гусейнов, Попков

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр

...а второй - один из ненулевых максимумов,Нормаль к поверхности зеркала б совпадаетс биссектрисой угла между интерферирующими пучками.Интерферометр работает следующимобразом,Луч лазера 1 (фиг.1), пройдя через коллиматор 2 и светоделитель 3, попадает наотражательную решетку 4, закрепленную наисследуемом объекте 5. Нулевой максимумдифракционного излучения, отразившисьот решетки 4, в обратном направлении, попадает на светоделитель 3 и делится на двапучка, один из которых 9 попадает затем наолупрозрачное зеркало 6. Отразившись отзеркала б, пучок 9 освещает матовь 1 й экран 7.Первый (или любой ненулевой) дифракционный максимум 10 отраженного отрешетки пучка излучения проходит черезполупрозрачное зеркало 6 и попадает наматовый экран 7, где в...

Номер патента: 1753258

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Бодров, Комраков, Чудакова

МПК: G01B 9/02

Метки: асферических, вогнутых, интерферометр, поверхностей

...изобретение предпочтительнее применять для контроля поверхностей, технологический процесс изготовления которых не приводит к появлению несимметричных ошибок, Это условие выполняется, например, при изготовлении асферических поверхностей методом вакуумной асферизации, где возможно лишь появление зональных осесимметричных ошибок.5 10 На чертеже изображена оптическая схема интерферометра.Интерферометр содержит источник 1 монохроматического излучения, микрообьектив 2, светоделитель 3, объектив 4, плоскопараллельную пластину 5 с эталонной светоделительной поверхностью 6, оптический компенсатор 7, на центральный участок поверхности которого, противолежащей плоскопараллельной пластине 5, нанесено зеркальное отражающее, покрытие 8 диаметром 01...

Номер патента: 1760425

Опубликовано: 07.09.1992

Автор: Гусев

МПК: G01B 9/02, G01M 11/00

Метки: интерференционного, качества, оптических, систем, телескопических

...от матового экрана 2 до главной плоскости 5 обьектива контролируемой оптической системы равно его фокусному расстоянию, На фотопластинке 5 с помощью опорной плоской волны, сформированной в блоке 4, проводится запись голограммы диффузно 10 .рассеянного света, прошедшего через контролируемую оптическую систему. Затем после указанной записи голограммы ее освещают исходными обьектной и опорной волнами и с помощью механизмов 6,7 пере мещения сдвигают перпендикулярно оптической оси в одном направлении матовый экран 2 и голограмму 5 на величины, связана 11ные соотношением - =Ь т 2 20 где а и Ь - величины смещений матового экрана 2 и голограммы 5 соответственно;11 и т 2 - соответственно фокусные расстояния объектива и окуляра...

Номер патента: 1762115

Опубликовано: 15.09.1992

Автор: Попов

МПК: G01B 9/02

Метки: измеритель, перемещений

...- расстояние между отражающими поверхностями в точке х по направлению 25 распространения светового пучка,Для интерферометра с плоскими отражателями и лицейной разверткой иэображения (например, с помощью линейного опто-электронного преобразователя) где а - угол между плоскостью основанияотражателя 1 и прямой, лежащей на пересе чении отражающей поверхности 2 и плоскости, содержащей прямую развертки иэображения и прямую, параллельную световым лучам,1 - расстояние между отражающими плоскостями в начале координат.Для интерферометра с плоскими отражателями (фиг.1 а) Л(х) = 10(1+с о з(4 л тд а х/Л +4 д 1 О/Л), (3) Если подвижный отражатель совершает плоско-параллельное движение, то угол а сохраняется постоянным и задача определения...

Номер патента: 1762116

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Ефимов, Образцов, Подоба

МПК: G01B 9/02

Метки: дифракционный, интерферометр

...обьектив, светоделитель, де, ржатель обьекта и фотоприемную систему, размещены за светоделителем первый объектив, плоскопараллельная пластина с отражателем, ориентированная перпендикулярно оптической оси и выполненная с выступом, на котором установлен отражатель, второй обьектив, причем светоделитель выполнен в виде рассеивающей пластины,Дополнительное повышение точности достигается ээ счет того, что интерферометр снабжен поляризатором, размещенным перед фотоприемной системой, источник излучения выполнен в виде источника плоскополяризованного излучения, а рассеивающая пластина выполнена из экс 5 10 15 20 25 30 35 40 45 понированного слоя фотоэмульсии, нанесенного на подложку в виде ахроматической четвертьволновой фазовой...

Номер патента: 1762117

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Леун, Телешевский

МПК: G01B 9/02

Метки: взаимодействия, объектом, оптического

...подстройки частоты (УФАПЧ). Выходной частотный сигнал этой схемы поступает на кварцевый излучатель акустооптического модулятора 3 и на опорный вход УФД 9.С помощью УУ 13 можно осуществлять перестройку УФД 9 путем введения дополнительного фазового рассогласования между измерительным и опорным частотными сигналами для введения необходимой коррекции при изменении условий окружающеи среды,Данная измерительная схема использует эффект частотного перескока и, при достижении фазового значения 2 дна выходе УФД 9 формируется перескок напряжения,который поступает на вход ИФ 12, Блок ИФ 12 генерирует импульс малой длительности, который поступает на УУ 13 и фактически является информационным сигналом, индицирующим образование "контакта" между...