G01B 9/02 — интерферометры

Прибор для точных измерений при помощи интерференции световых волн

Загрузка...

Номер патента: 39986

Опубликовано: 30.11.1934

Авторы: Зимин, Циммерман

МПК: G01B 11/06, G01B 9/02

Метки: волн, измерений, интерференции, помощи, прибор, световых, точных

...мери тельный штифт, передвижной в осевомНа чертеже фиг. 1 схематически изображает предлагаемый прибор сприменением микроскопа для отсчета; фиг. 2 предлагаемый прибор с отсчетом простым глазом.Прибор состоит из двух стеклянных пластин 1 и 2, из которых первая неподвижная, а вторая подвижная и имеет опорную поверхность 4. Между пластинами 1 и 2 помещена фольга 3. Обмеряемыи предмет 17 помещается на подставке 16, сдвигая при этом в осевом направлении Мерительный штифт 5, поад Д. иену-ы;.мещенныйв корпусе 2 прибора Штифт доказывает давление на подвижную пластинку 2, перемещая ее. Вследствие этого воздушная прослойка между пластинами изменяется, а следовательно изменяется цвет и количествоДля отсчета количества полос может быть применен...

Интерферометр для определения длин при геодезических работах

Загрузка...

Номер патента: 46366

Опубликовано: 31.03.1936

Автор: Шварц

МПК: G01B 9/02, G01C 3/08

Метки: геодезических, длин, интерферометр, работах

...же образом устанавливается рей. ка 1 с призмами. После этого производят наблюдения в трубу и при помощи спектроскопа отыскивают интерференционные полосы; затем труба передвигается вдоль оси 501 до тех пор, пока полосы не появятся в белом свете, Если тоуба находится точно на оси 50 этот момент наступит для обеих пар пучков одновременно; если она немного в стороне, интерференция наступает в разных положениях труб, которые отмечаются по масштабной линейке М (фиг, 11) и приводятся к среднему отсчету.В месте передвижения вдоль оси 50, можно трубу передвигать в поперечном направлении и отмечатьмоменты интерференции вдоль прямой г г, в местах ее пересечений с рейками 1, и С вдоль которых обе пары пучков находятся в одинаковой фазе,Тогда...

Способ массовой сортировки листочков слюды по интерференционным цветам

Загрузка...

Номер патента: 55055

Опубликовано: 01.01.1939

Автор: Аршинов

МПК: G01B 11/06, G01B 9/02

Метки: интерференционным, листочков, массовой, слюды, сортировки, цветам

...и параллельным линии глаз сортировщицы.Вторая сортировщица устанавливает листочки слюды, вращая их рукой на конвейерной ленте на затемнение, т. е. в положение, когда плоскость оптических осей листочков слюды будет совпадать с плоскостью ходящей через нормаль к листочкуи ось наклоненной трубы.Рассматривание слюдяного листоч-ка через трубу под углом к его нор-мали в плоскости Хр - %п позволяет наблюдать интерференционныецвета, несколько более высокие.Для увеличения разности ходаинтерферирующих лучей лучше, однако, пользоваться наложением на исследуемые листочки слюды пластинок той же слюды или других двупреломляющих минералов с известной разностью хода.При толщине листочка слюды в 0,02 лм и при силе ее двупреломления Ид - Хш = 0,0055...

Способ определения качества коррекции микрообъектива

Загрузка...

Номер патента: 60129

Опубликовано: 01.01.1941

Автор: Коломийцов

МПК: G01B 9/02, G01M 11/02

Метки: качества, коррекции, микрообъектива

...линз, посеребренных или алюминировачных, с целью получения большего количества света.Описываемый интерферометр можно навинтить на тубус обыкновенного микроскопа вместо объектива.Свет от источника 1 собирается конденсором 2 на отверстие диафрагмы 3, находящейся на расстоянии нормальной длины тубуса от объективов 5 и б, Пластина 4 разделяет на два пучка расходящиеся лучи, подающие на нее. Пучки эти затем собираются объективами 5 и б в точках 9 и 10, с которыми совмещаются центры кривизны или поверх:Ости сферических зеркал 7 и 8. Вследствие этого, отразившись ог зеркал, пучки БозвряШяются к пластине 4 те)1 и путями, какими шли От нее, и соединяются ею в один пучок.При хорошей юстнровке прибора и окуляр микроскопа Бид;о о.,но резкое...

Способ определения качества формы поверхности фронтальных линз микрообъективов

Загрузка...

Номер патента: 60130

Опубликовано: 01.01.1941

Автор: Коломийцов

МПК: G01B 9/02, G03B 43/00

Метки: качества, линз, микрообъективов, поверхности, формы, фронтальных

...возможность наклонов относительно падающего пучка, благодаря чему испытанию может быть подвергнут любой участок испытуемой линзы 8.Описываемый интерферометр возможно оформить так, что его можно бу.дет навинтить на тубус обыкновенного микроскопа.Свет источника 1 собирается лин зой 2 на отверстии диафрагмы 3,находящейся на расстоянии нормальной длины тубуса от объективов 5 и 6.Плас гинка 4 разделяет на два1 ка расход, циеся лучи, падающие на:ь, Пучки эти затем собираются обге,тином 5 и 6 в точках 9 и 10, С этм точками совмещаются центры кривизны поверхностей 7 и 8. Вследствие этого после отра;кекия от последних поверхностей пучки возврашактся к пластинке 4 теми путями, какими шли от нее, и этой п.тастинкой соединяются в один пучок 11.При...

Компенсатор разности хода для интерференционных приборов

Загрузка...

Номер патента: 61498

Опубликовано: 01.01.1942

Автор: Рыскин

МПК: G01B 9/02, G01J 3/26

Метки: интерференционных, компенсатор, приборов, разности, хода

...в интерферометре белого света клинья должны быть установлены преломляющими углами в разные стороны, чтобы их совокупность была эквивалентна плоскопараллельной пластинке.Первая форма выполнения компенсатора показана на фиг, 2. Оба клина установлены таким образом, чтобы по ходу света приходились друг против друга области обоих клиньев с разными показателями преломления. При этом оптические длины лучей 1 и 2, из которых один проходит через клинья слева от плоскости склейки, а другой - справа, равны соответственно 3= = 11 П 1+ 1 П И 3,= г 1 П 2+ 12 П 1 (П 1 И и, - показатели преломления стекол). Очевидно, что 3=3, приСдвигая один клин относительно другого, как это показанона фиг. 3, можно осуществить равенство 1,=1, и добиться того,...

Газовый интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 61541

Опубликовано: 01.01.1942

Авторы: Бреннер, Лебедев, Покровский

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: газовый, интерферометр

...как это показано на фиг. 3. Пучок света от щели 3 проходит через середину зеркала б (указан пунктиром кружок в промежутке между средними отражающими полосками на фиг, 3). После этого свет расходящимся пучком проходит через кювету 7, отражаясь от зеркала 8, снова проходит через кювету 7 и падает на вогнутую поверхность зеркала б. Здесь свет отражается от металлических полосок и идет обратно четырьмя отдельными сходящимися пучками, которые проходят через кювету, отражаются от зеркала 8, снова проходят через кювету, через среднюю прозрачную часть зеркала б, компенсатор б и полупрозрачное зеркало 4 и сходятся в линию перед цилиндрическим окуляром 9, который служит для наблюден;. я интерференционной картины. Бипризма 10 применена для...

Способ измерения эллиптичности шариков

Загрузка...

Номер патента: 63059

Опубликовано: 01.01.1944

Автор: Коломийцев

МПК: G01B 11/255, G01B 9/02

Метки: шариков, эллиптичности

...пу.чков лежат в плоскости, перпендикулярной чертежу. После отражения ог сферических поверхностей все пучки идут обратно по прежнему направлеош 1 о и собираюся объективом О в фокальнгой плоскости окуляра О. Установку собирают так, чтобы пучок % интерферировал с пучком М, пучок Х. - с пучком Х 2 и т. д.Четыре интерференционные картины наблюдают на поверхности объектива О непосредственно глазом (убрав окуляр О и поместив глаз на его место) или с помощью телескопической лупы.Юстировкой интерферометра добиваются того, чтобы гири испытании заведомо идеального шарика(качество этого шарика легко проверить, поворачивая его вокруг вертикальной оси) разность хода для всех четырех пучков была равна нулю, что проверяется по появлению нулевой белой...

Микроскоп для определения качества поверхности

Загрузка...

Номер патента: 66974

Опубликовано: 01.01.1946

Автор: Линник

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: качества, микроскоп, поверхности

...поверхностью.Отличие предлагаемого микроскопа от ранее известных состоит в том, что для возможности изучения тонкой структуры поверхности объектив микроскопа снабжен интерференционной насадкой, выполненной по схеме интерферометра Майкельсона.Устройство насадки изображено на фиг, 1. Насадка содержит два зеркала: зеркало М состоящее из двух склеенных плоскопараллельных пластинок, одна из которых имеет полупрозрачный слой на склейке., и зеркало М, с наружным отражающим слоем.Пучек лучей, вышедший из источника света 5, частью отражается от разделительного зеркала М,. попадает на объект А, отражается от него обратно и попадает в микроскоп через объектив О. Часть пучка, прошедшая через зеркало М, .отражается затемМа и, снова отразившила М,...

Интерферометр для контроля качества поверхности, например слюды

Загрузка...

Номер патента: 70371

Опубликовано: 01.01.1948

Авторы: Мецик, Парфианович

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: интерферометр, качества, например, поверхности, слюды

...горенияотл ич аюральная часполнена враструба вустье возду Г 1 а чертеже изой продольныйтй газовой гор вертикаль- предлагаеобразуетсяв канал 4асьваемогонал. Дополозд шиапоступаи воздухвхода в Газо-в из газа, горелки газом " Предметом изобретегазовая горелка дляи тому подобного с эидополнительного возгорения газо-воздушноОтличительная особки в том, что централкрышки выполнена вобразного раструба, вположено устье воздутрубки иия 5 вл 5 етс 5 плит, таганов сектированием духа в зону й смесью.енность горельная часть ее виде конусокотором расхоподводя щей бражен разрезсмесь ющего а, при этот ка бдительный воздушно устье 3 конусообр ной частиБлагода коэфициен релки уве тоздух эжектируется газо.смесью через трубку 1, которой расположено в зном...

Интерференционный способ наблюдения микропрофиля поверхности в заданном ее сечении и прибор для осуществления способа

Загрузка...

Номер патента: 72947

Опубликовано: 01.01.1948

Автор: Линник

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02, G02B 17/06 ...

Метки: заданном, интерференционный, микропрофиля, наблюдения, поверхности, прибор, сечении, способа

...окуляром О. Если окуляр О будет установлен таким образом, что в него будут четко видны изображения щели 5 без цилиндрической линзы С, или, иначе говоря, лучи, исходящие из точек 5 а и лежащие в плоскости, проходящей через ось цилиндрической линзы С, будут давать изображения в предметной плоскости окуляров О, то интерференционная картина, наблюдаемая в окуляр в каждом ее сечении плоскостью, перпендикулярной изображениям щелей 5, и 52, будет характеризоваться расстоянием со72947ответствующей точки Яз от некоторой постоянной плОскОсти. Если поверхность Т не будет плоской, то сдвиг центральной полосы будет пропорционален этому расстоянию. Иначе говоря, интерференционные полосы 1 будут извилистыми, а их форма будет воспроизводи 1 гь...

Прибор для исследования анероидных коробок

Загрузка...

Номер патента: 78174

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Беркович

МПК: G01B 11/16, G01B 9/02, G01D 13/02 ...

Метки: анероидных, исследования, коробок, прибор

...интерференционного микроскопа с круговой шкалой в поде зрения окуляра,На фиг. 1 схематического чертежа изображен прибор з рабочем состоянии; на фиг, 2 показан вид интерференционных;полос в поле зрения окуляра прибора при угловом смещении шпиля.На шпиле анероидной,коробки 1 укрепляется зебркало 2, наяд кжорым устанавливается микроинтерференыионньи микроскоп 3. Трубка 4 служит для подвода воздуха к анероидной коробке.Сначала микроскоп 8 устанавливают при помощи микрометренных винтов так, чтабы интерферезционные полось 1 были симметричны относительно штрихов сетки окуляра.Это положение фиксируется по барабану микровынта на тубусе микроскопа. Затем подводится избыточное давление, от которого зеркало 2 не только поднимается, но, и...

Устройство для рассматривания прозрачных объектов под микроскопом в интерференционном поле

Загрузка...

Номер патента: 78570

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Поляков

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45, G02B 21/14 ...

Метки: интерференционном, микроскопом, объектов, поле, прозрачных, рассматривания

...5 и окуляр б, В микроскопе, в месте образования изображения щели 8 объективом 5, устанавливают плоскопараллельную пластинку 7, покрытую полупрозрачным слоем, алюминия с пропускной способностью 0,3 - 035. На алюминированной поверхности пластинки 7 сделана щель (или щели) шириной 0,01 - 0,02 мм.Плоскопараллельную пластинку 7 устанавливают так, чтобы изображение щели 8 было совмещено со щелью в пластинке 7. Тогда пучок лучей света, пройдя через щель в пластинке 7, подвергнется лишь дифракционным изменениям и создаст одну из двух иятерферирую щих волн. Другой интерферирующей волной являютсялучи, прошедшие через рассматриваемый объект и полупрозрачный слой пластинки 7 и подвергшиеся изменению уже в зависимости от оптических свойств...

Интерферометр для измерения точных асферических пластин шмидта

Загрузка...

Номер патента: 78572

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Курицкий

МПК: G01B 9/02, G01M 11/02

Метки: асферических, интерферометр, пластин, точных, шмидта

...центром в фокусе зеркала 4. Отразившись от зеркала 5, лучи идут обратно и, пройдя вторично через пластинку 1, отражаются .от наклонной плоскопараллельной пластинки б и направляются в зрительную трубу 7.Часть лучей из коллиматора 2 плоскопараллельная пластинка б направляет непосредственно на эталонное плоское зеркало 8, от которого, отразившись, лучи также попадают в зрительную трубу 7, где интерферируют с лучами, дважды прошедшими через испытуемую пластинку 1. По интерференционной картине в зрительной трубе судят о качестве и параметрах испытуемой пластинки 1.Для уменьшения габаритов устройства испытание пластинки 1 можно вести по участкам, используя передвижные промежуточные оптические элементы между коллиматором 2 и...

Микроинтерферометр

Загрузка...

Номер патента: 80251

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Захарьевский

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: микроинтерферометр

...применения оолеесильных микрообъективов, его интерферометрическая часть выполнена из двух плоских пластинок, разделенных слоем воздуха и расположенных параллельно или под малымуглом одна к другой.На фиг. 1 схематично изображенмикроинтерферометр с осветителемв разрезе; на фиг. 2 - ход лучей винтерферометре; на фиг. 3, 4 и 5 -различные варианты осуществления18 к интерференции света при помощи плоско-параллельных пластинок.Осветитель 1 (фиг. 1) отбрасывает луч света через микрообъектив 2 и интерферометр 3 на испытуемую поверхность 4, В зависимости от характера этой поверхности в картинной плоскости 5 будут наблюдаться ннтерференционные поло, сы в белом свете.Интерферометр 3 состоит из полупрозрачного слоя 6 и небольшого зеркального...

Дилатометр

Загрузка...

Номер патента: 81661

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Трофименко

МПК: G01B 9/02, G01N 25/16

Метки: дилатометр

...световом потоке, рявпсд 6,10 7-, и длине световой Волны ), =4000 А в данной конструкции могут быть применены срьмяноцезиевые сротсэлементы или электронные умножцтели с сурьмяцоцезцевым катодом.В случае применения фотоэлементов с чувствительностью 50 мя Х выкодцой гок при указанном потоке будет равен 3,О- А, а в с учае унокителеЙ с чуВствпте,ьность 10 В 1 А Х Вы."Оной тск Омдет равен б 10. А, Тогда Вси.итсльцой с.еме вяжет Оть ставлец тиратрон.Испыт,емый Обрзец 6 сседцен кварцевыи стержн 51:1 с зер(ялом 7.Образец цякодится в кварцевой труоке ца цаправляюц;цк кольцяк.К образцу прцсоедице ы две термопары. Вся эта система помещается в цилиндрическую сцлцтрс 1 вуО печь, цагревающуо оорязец до 1= 1000.В случае измерения магцитострикцци печь...

Интерференционный прибор для инфракрасных лучей

Загрузка...

Номер патента: 88548

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Орлова

МПК: G01B 9/02, G02B 5/22

Метки: интерференционный, инфракрасных, лучей, прибор

...1 изображен пр а;на фиг,2 -то же, общий вид,Прибор состоит из двух флюоритовых пластин 1 и 2,Точно обработанные стороны флюоритовых пластин, обращенныедруг к другу, покрыты полупрозрачными слоями 3 и 4 полупроводника - сернистой сурьмы, обладающими полузеркальными свойствамии мало поглощающими инфракрасные лучи.Пластины разделены плоскопараллельным слоем воздуха, толщинакоторого задается прокладками из алюминиевой фольги, помещенной втрех точках между краями пластин.В металлическую оправу б с тремя поджнмными винтамн б укрепются две флюоритовые пластины 1 и 2.При помощи поджимных винтов б слой воздуха междустанавливается так, чтобы все поле зрения было занятополосой.Плоскопараллельность слоя воздуха проверяется в шмонохроматических...

Устройство для автоматического счета движущихся интерференционных полос

Загрузка...

Номер патента: 91873

Опубликовано: 01.01.1951

Авторы: Герасимов, Смолянский

МПК: G01B 9/02, G01D 5/38, G02B 5/18 ...

Метки: движущихся, интерференционных, полос, счета

...чтобы одна полоса в точности покрывала диафрагму 4 и была параллельна ее краяь.Непосредственно за диафрагмой установлены два зеркала 7 п 8 под углом 45" и оси линзы 3, делящие плоскость диафрагмы иа три равные части как цзобра)коцо на фиг. 2. Свет от крайних участков диаф 10 рагмы, отражаясь от зеркал, (н)надает на фото;)лемеить 9 и 10. 1 асть света от среднего участка диафрагмы проходит ъежду зеркалами и попадает иа (ротоэ(еме)т 11. При перемещении зеркала 5 1 роис,(одит пе редвижение изображения полос в плоскости диафрагмы 4 в направлении, перпендикулярном делящим краям зеркал. Такое движение должно вызвать соответственный поворот ротора синхронного электродвигателя 12. Передвижение интерференционной картины на одну полосу...

Способ компенсации влияния изменений давления и температуры анализируемой среды на точность показаний газовых интерферометров и устройство для осуществления этого способа

Загрузка...

Номер патента: 101955

Опубликовано: 01.01.1955

Автор: Ананьев

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: анализируемой, влияния, газовых, давления, изменений, интерферометров, компенсации, показаний, способа, среды, температуры, точность, этого

...от ширины полосы и Фокусного расстояния объеддтддва зрительной трубки.11 зменяя ширину полосы цнтерФерен о 161 З 55цио иной картины, прп постоянном фокусном расстоянии объектива, возможно подучить различные углы поворота призмы.На фиг, 1 изображена оптическая схема интерс 1 ерометра; на фиг. 2 - вид одной из форм выполнения устройства ддя осуществления предлагаемого способа в трех проекциях и разрез по (АВ).В оптической схеме газового интерферометра, например, типа Рпкен, можно либо поворачивать верхнюю призму (1), либо плоскопаралл ель ную пластину (2), либо передвигать среднюю линзу (3) телескопической системы (4) в продольном (осевом) направлении. Ддя сообщения указанных смещений отдельным основным узлам оптической системы могут...

Интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 102251

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Тарасов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр

...интерферометров, работающим в параллельным пучкак иовьпиение точности достигается введением в оптическую систему интерфероштрй олной и(пд двум в зависимости от типа интер(1)ерометра) полупрозрачным отражадощнк повермностей перпендддку.ярддьдм падающему пучку лучей. Однй гакам иоверкность применяется в тек иитсрферомстрам, в которым один из расщспленнык пучков возвраиается к источнику света идТор(1)ерометрд,д Майкел соиа, Твайманй и лр.); при этом она устаИйВЛПВа(гп и ПГРГД ИГРВЛ Р(1(ЩГП,11 ОиПМ ш рк(иом.,ве т(кик и(ьвгркиогги ддри)сияотея и тг); интер(1)(роздгтр(дк, В которьдк ип олин из рйсщгплгипык пучков и( Во Вр(1 Пйетс к пс 10 1 нпку сВгтй инт(р(1 п р(о(тры,(1)й)ен(1, Рождегтвгнгког( и р.,): иритом одна из инк...

Резьбовой интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 102252

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Уверский

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, резьбовой

...нд Вгн пог(ркпосгн. и нр нецотпиой рдзщгтн ко:д лу е пнтгр(,( - ру)т В шоскостн сетки (10). г)впал- оней г )Окд:1:но плоскостьО окуляра)гпкроскопа.гВето(1(В)ьтр (3) г,(унНт .,1 йьсроо идко;кгни питер(1(греннонняк пол )с. Шири(д по;ос 1 сгуляруегся наклоне) зсрк(л (6), потер,е с;(то 1 Пе;ьго ,крспленц нд шпнляк.1 з)гргнн нд 1 ь(ьВО) интереромстЗ;(КЛОЧДОТС В СЛС;УОЩС).О,"(,акт уста:(дпиваот В снтр(кном нриспосоол(нн) гдк. чтосы его ось оьшд нернсшцкулярнО)нтнчсскз Осп интер 1(ер)гтрд, Нрн з)то) Ос гн(гны Ло,(,и; совпдЛать с п 1 ОЛО,пнь) штрнко) сетки. НдкоЛт интер(1(ср(нцн,(ннуго кдртнн ("1)ны( д.ро);1 т:1 чсгкн ннт(р(1(срсн- П(:Пье полосы ос;)То сг гд пол(Втт В 1) нкд.В)му штр;му с,п:н.Чи(гд чков(1 п,вер;(ц( г(11 (дзьб 1 онрсь(г(:...

Штатив к микроинтерферометрам и подобным им приборам

Загрузка...

Номер патента: 102667

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Левин

МПК: G01B 9/02, G01J 3/02

Метки: микроинтерферометрам, подобным, приборам, штатив

...1)срометр) (1) в непосредственной близости от оптической оси об ьектггва имеет пяту Г 2), которая может быть выполнена в виде сФеры, цилиндра, тора и т. д.Опорная поверкность пяты ирполизптельно совпадает г гглв готьго наилу пней паводки микроскопа или микроинтсрферометра. Благодаря этому в ряде случаев ири контакте пяты с испытуемой поверкностью автоматически обеспечивается наводка п в поле зрения появляются интереренционные полосы. Держатель (3) прибо 1)а (или сам прибор) выполняется в в)где достаточно длинной штанги, связанной с основанием штатива пружинным шарниром ),4). Црп перемещении держателя (3), например, с помощьго крсмальсры, или при перемещении столика (5) возникает контакт опорной пяты (2) с поверкностьго...

Устройство для получения ахроматических полос в интерферометрах

Загрузка...

Номер патента: 102717

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Рабинович

МПК: G01B 9/02, G01J 3/14

Метки: ахроматических, интерферометрах, полос

...показано в ниле пластин , (Б), (В) и (1). Две одинаковые ахроматические стеклянные пдастиныи (Б), устанавливаемые в одной и: ветвей пнтсрФсро)сетра в месте, )Ле нссхцлсстя плоскость локализации интерференц)сонных полос (или близ него), состоят каждая пз двух кдссньев, склеенных межлу собой или насаженных на оптический контакт. Елинья изготовлены пз стекол с разны)с)с дисперсиями, но имесот равные илп почти равные углы и показате,сп ссрело)сления. Поэтому лля лучей некоторой срелнейс длины волны обе пластины Лействусот как плоскопарадлельные (илп как сснтерс)еренциоссные клинья), При их вращении около оптпческ )й оси на равные углы достигается ахроматизацпя интерференцссонных полос, Две другие стеклянные пластины (В) п (Г) -...

Способ повышения точности измерения механических сил и перемещений

Загрузка...

Номер патента: 106173

Опубликовано: 01.01.1957

Автор: Котович

МПК: G01B 9/02, G01L 1/24

Метки: механических, перемещений, повышения, сил, точности

...данной амплитуде колебаний диафрагмы,В различных областях науки и техники известно применение микрофазометрического метода для измерения чрезвычайно малых механических перемещений.Основным недостатком этого метода, вследствие его чрезвычайной чувствительности, является непостоянство показаний индикатора малых перемещений во времени.Поскольку показания индикатора изменяются в течение короткого промежутка времени от максимального значения до любой малой величины, вплоть до нуля, результат измерения имеет малую достовер ОСТЬ. Описываемое изооретение устраняет этот недостаток следующим образом.Изменения в показаниях индикатора вызываются непостоянством среднего значения разности хода светового луча, т, е, изменением взаимного...

Апохроматический компенсатор для интерферометров

Загрузка...

Номер патента: 108695

Опубликовано: 01.01.1957

Автор: Забелин

МПК: G01B 9/02

Метки: апохроматический, интерферометров, компенсатор

...особенность изобретенногоприбора позволяет производить измерения больших разностей ходапорядка 10000 длин волн.Устройство описываемого компенсатора схематически изображено начертеже.Цифрами 1 и 2 обозначены разделительнь 1 е пластины, 3 и 4 - отражающие зеркала, 5 и б - пластины компенсатора.Разность хода, возникающая приизменении плотности среды, например, в аэродинамической трубе, в процессе исследования, компенсируется поступательным перемещением одного из зеркал в положение 4. Возникающее при этом смещение световых лучей компенсируется наклоном двух стеклянных плоско-параллельных пластин 5 и 6, установленных в различных ветвях интерферометра и поворачивающихся одновременно в одну сторону по отношению к соответственным...

Способ измерения размеров деталей с помощью интерференционных фотоэлектрических датчиков

Загрузка...

Номер патента: 108906

Опубликовано: 01.01.1957

Автор: Уверский

МПК: G01B 9/02

Метки: датчиков, интерференционных, помощью, размеров, фотоэлектрических

...прибора црн диафрагме, изобрджсццой нл ( иг. 2.Прсаллоксшый способ может осуществляться датчиком выполисцц),тх и,) слс;1 т)ощсй схеме. Электрическая лампа 1 через коцдсцсор 2 и свстоф),ьтр 3 сц всщдс пов(рхцость ЛЛ 1 ластины 4, каоторля рлз;1 сляет поток светл цд;1 ва пучкл. (.)диц пучок. пройдя щслсвуто дидфрдпу 5 и кол)ецглто) 6, плдлст ид зеркало 7, которое жест)(о свя и но с измер:тельным цдкоцсчшком 8 при помощи стержня и цмсс с ним может персмсдидться вдо.п, оси от упора 9. Другой пучок сгста надает на зеркало 10, которос укреплено нд шпилях 11 и может ца них поворачиваться.Пучки света, отраженные зеркалами, при цебольшой разности хода ицтерферируют в плоскости ЛЛ и частичцо проходят вдоль ширм)я 12 с зеркалом 1 Л, которые...

Поляризационный интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 110269

Опубликовано: 01.01.1957

Автор: Захарьевский

МПК: G01B 9/02, G02B 27/26

Метки: интерферометр, поляризационный

...1(.ь,100. Цена )5 кГ)ес с "а. Та культурЧуз.(Ясияй .ССР.,(а к. 21.2 О А.;а 11 ь. те с широкиее кучками свтамее(як)тся две яр из лы ВО т 1 а:. Он:,. 1 Пол яризационный и:.тора,срометр дя зу ения фазово;0 рсл- сфа волновой нове)хе(0 ти, 0 ." л ича ющийся тем. что,целью уп)0 цееИЯ конструкции, Он снабжен установленно в фокусе полив резованно 1 ветовой волнь; и измой Воляастона, при по(от НоПЕОЕЧНО 0 ПС)ЕМЕПЕЕЕ(и 5 КГ)тс 1)оп и.(мс)яс 1 я лаз(осгь раз ье)к Еу раздвоеееы,и призмой волнами.). Поляризационный интерферомстр 1 О 1. 1, От иа ео щи 11 ся се. то, Г цсльн) использования иеггс рфсромстра при работе широки.и пучками вета. он снаб)ксп,101 Олин 1 е, п)н 01 и)измои Болл астона, "ГтаОБЕсенои в н 1 блюЛательной ветви цнтерфсромстра и...

Интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 112959

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Забелин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр

...среды, в которой находятся пересекающиеся ветви, что позволяет отнести ветвь сравнения от ветви, в которой производится исследование, на очень большие расстояния, недоступные для известных интерферометров.Прибор приобретает большое значение в тех случаях, когда наблюдатель должен быть удален от объекта исследования на значительные расстояния.Интерферометр может быть использован и для объемных исследований некоторых процессов в аэродинамических трубах.Принципиальная схема прибора может быть также пр 1:менена при проектировании больших интерферометров для геодезических целей, зеркала которых должны быть установлены непосредственно на земле.;и,"в 112959 Помещая плоскости пересечени 5 пучков лучей В различные части исследуемого...

Интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 114105

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Бахшиев, Киселев

МПК: G01B 9/02, G01J 3/26

Метки: интерферометр

...узла, а третье зеркало, служащее для поворота одного из световых пучков на угол 90, выполнено неподвижным.Принципиальная схема прибора показана на чертеже. ет изобрет рфероме ч ающи повышен снижен икельсону, м, что, с вствительний к точтли елью ости яеготреб аявлено 15 марта 1957 г, за5 при СОБРЕТЕНИ ВИДЕТЕЛЬСТВУ Интер ферометр содержит полупрозрачную пластинку 1, компенсационную пластинкч 2, два плоских зеркала 3 и 4, жестко связанные с кареткой Б, перемещаемой по направляющим вместе с установленными на ней зеркалами и неподвижное зеркало 6, служащее для поворота одного из световых пучков на 90.При любых перемещениях каретки 5 взаимное расположение установленных на. ней зеркал 3 и 4 остается неизменным, т. е. плоскопараллельность (или...