Способ измерения параметров угловой модуляции оптического излучения

ЯАЙА ОПИС НИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ рц 645020 Союз Советова Социалистических Республик(51) 6 01 В 902 1 осуйарс Совета М ный комитет строе СССР зооретений(45) Дата опубликования аписа 3) УДК 535,8(088,8 юллетеньния 30.01.79 дела и открыти(71) Заявител СПОСОБ ИЗМЕРЕНИ МОДУЛЯЦИИ ОПТИЧ МЕТРОВ УГЛОВОЙО ИЗЛУЧЕНИЯ чения и няемых ение па- кого 1Изобретение относится к оптико-интерференционным способам измерения и может оыть использовано для измерения параметров частотной и фазовой модуляции когерентных источников света в широком диапазоне длин волн,Известны способы измерения параметров модуляции источников света,которые основаны на использовании явления интерференции света, преобразовании угловой модуляции в амплитудную и измерении параметров угловой модуляции по глубине амплитудной модуляции.К основным недостаткам известных способов относится невозможность проведения измерений в диапазоне высоких и сверхвысоких частот ввиду отсутствия соответствующих фотоприемников.1 таиболее близким к предлагаемому по технической сущности и достигаемому результату является способ определения параметров угловой модуляции оптического излучения, основанный на его подаче в интеррерометр, изменении разности хода лучей в интерферометре и измерении параметров излучения на выходе для модулированного и пемодулированного излучений,Недостатком этого способа являются его низкие точность и быстродействие измерсний, которые обусловлены флюктуациями интенсивности оптического излу низкой помехоустойчивостью приме устройств.Целью изобретения является повыш точности и быстродействия измерений ра метров угловой модуляции оптпчсс излучения.Указанная цель достигается тем, что изменение разности хода осуществляют по периодическому закону с амплитудой сканирования больше длины волны излучения, определяют глубины амплитудной модуляции основной частоты сканирования и по их значениям находят параметры угловой модуляции.На чертеже изображено устройство для реализации способа.Устройство содержит светоделительные кубики 1 и 2, поворотную призму 3 с отражающим покрытием 4, держатель 5. призмы 3, установленный на пьезоэлементе 6, генератор периодических сигналов 7, фотоприемник 8, измеритель глубины модуляции 9 и диафрагму 10.Устройство работает следующим образом.Входное излучение подается на кубик 1 и делится на два луча, один из которых проходит кубик 1, отражательную призму 3 и поступает на кубик 2. Другой луч, отражаясь от кубика 1, также поступает на куЗаказ 2628/5 Изд.127 Тираж 865 Подписное НПО Государственного комитета СССР по делаМ изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 бик 2. Оба луча на выходе кубика 2 складываются и интерферируют Между сббой. При подаче напряжения бт генератора 7 на пьезоэлемент 6 осуществляется движение призмы 3 и сканирование разности хода по периодическому закону. При подаче на вход интерферометра немодулирбванного излучения и осуществлении сканирования разности хода с амплитудой, больщей длины волны излучения, излучение на выходе устройства оказывается промодулированным по амплитуде с основной частотой сканирования, Измерителем модуляции 9 измеряют глубину амплитудной модуляции на частоте сканирования т, выходного излучения. Затем на вход интерферометра подают исследуемое оптическое излучение с угловой модуляцией частоты О, девиацией частоты Л и индексом модуляции р. Измеряют глубину ж амплитудной модуляции этого излучения на выходе интерферометра И ПО ИЗМЕРЕННЫМ ЗНаЧЕНИНМ Инемод И Шмод параметры модуляции Л и Р вычислйют из соотношения 4 где 1 е - функция Бесселя нулевого порядка; то - Начальная разность хбда лучей,определясмая Настройкой интерферометра.Изобретение обеспечивает увеличение точности; быстродействие йзМерений по крайней мере на порядок по сравнейню с известными способами. Способ измерения параметров угловоймодуляции оптического излучения, основан 15 ный на его подаче в интерфероМетр, изМенении разйости хоМа лучей в интерферометре и измерении параметров излучения навыходе для модулированного и немодулированного излучений, о т л и ч а ю щ и й с я20 тем, что, с целью повышения точности ибыстродействия измерений, изменение разности хода осуществляют по перйодическбму закону с амплитудой сканирования,большей длины волны излучения, опреде 25 ля 1 от глубинй амПЛитудной модуляции основной частоты сканирования и по их значениям находят параметры угловой модуляции,