Патенты с меткой «интерференционный»

Номер патента: 20230

Опубликовано: 30.04.1931

Автор: Бонч-Бруевич

МПК: H03H 7/01, H03H 7/32

Метки: интерференционный, фильтр, электрический

...того, чтобы избавиться от прохождения гармоник, следует только выбрать определенным образом критическую частоту фильтра.Практически подобного рода система может быть сделана многократной, так как полученный во вторичной обмотке трансформатора Т импульс вновь может быть пущен в совершенно тождественную систему. Для настройки такой системы, с целью выделить,тот или иной тон, можно изменить число входящихв ее состав звеньев фильтра ЕС, например, путем замыкания накоротко частиэтих звеньев. Предмет патента.1. Электрический интерференционный фильтр, характеризующийся тем, что в нем для выделения или поглощения желаемых частот применена интерференция двух волн тока или напряжения, пришедших от одного источника двумя различными путями и...

Номер патента: 41722

Опубликовано: 28.02.1935

Автор: Брумверг

МПК: F21V 9/06

Метки: интерференционный, светофильтр

...вырезанные па- раллельно ойтической оси. Главные плоскости пластинок составляют угол в 45 с плоскостью колебаний поляризаторов. Каждая последующая пластина вдвое толще предыдущей. Колебания амплитуды А, прошедшие через первый поляризатор, в первой пластинке разложатся на два колебания с амплитудой АУ 2 и получат некоторую разность хода 3, После второго поляризатора имеем два колебания (в одной. М. Брумберга, заявленр, о перв.151006).опубликовано с 8 февраля 1935 ностью хода О, 8, 2ьтате интерферелагающих посленьев в спектрельных полос итудой в центре полос равной А, отстоящи ру ру на расстоянии - . Остальные лучи будут3последовательно погашены в поляризаторах.Таким устройством, состоящим, например, из девяти звеньев, можно выделить...

Номер патента: 51827

Опубликовано: 01.01.1937

Автор: Мороз

МПК: G01B 9/08, G01D 5/36

Метки: интерференционный, компаратор

...изготовлении дифракцион. По форме развертки полосы можно, ных решеток, применено одно или изучать строение самой полосы инесколько тиратронных реле, служа- входящих в нее компонентов. Основ-щих для включения привода алмазным назначением устройства является ного резца.быстрое измерение концевых мер 3, Видоизменение компаратора по например, плиток Иогансона, а также и. 1, отличающееся тем, что, с целью автоматическое деление без недостат-автоматической фиксации длины концевых мер, применены два фотоэлемента, приводящие в действие автоП р е д м е т и 3 о б р е т е н и я. матическую фотокамеру для регистра 1. Интерференционный компаратор,ции положения счетчика импульсов и отличающийся тем, что для автомати-луча осциллографа в начале и в...

Номер патента: 72947

Опубликовано: 01.01.1948

Автор: Линник

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02, G02B 17/06 ...

Метки: заданном, интерференционный, микропрофиля, наблюдения, поверхности, прибор, сечении, способа

...окуляром О. Если окуляр О будет установлен таким образом, что в него будут четко видны изображения щели 5 без цилиндрической линзы С, или, иначе говоря, лучи, исходящие из точек 5 а и лежащие в плоскости, проходящей через ось цилиндрической линзы С, будут давать изображения в предметной плоскости окуляров О, то интерференционная картина, наблюдаемая в окуляр в каждом ее сечении плоскостью, перпендикулярной изображениям щелей 5, и 52, будет характеризоваться расстоянием со72947ответствующей точки Яз от некоторой постоянной плОскОсти. Если поверхность Т не будет плоской, то сдвиг центральной полосы будет пропорционален этому расстоянию. Иначе говоря, интерференционные полосы 1 будут извилистыми, а их форма будет воспроизводи 1 гь...

Номер патента: 88548

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Орлова

МПК: G01B 9/02, G02B 5/22

Метки: интерференционный, инфракрасных, лучей, прибор

...1 изображен пр а;на фиг,2 -то же, общий вид,Прибор состоит из двух флюоритовых пластин 1 и 2,Точно обработанные стороны флюоритовых пластин, обращенныедруг к другу, покрыты полупрозрачными слоями 3 и 4 полупроводника - сернистой сурьмы, обладающими полузеркальными свойствамии мало поглощающими инфракрасные лучи.Пластины разделены плоскопараллельным слоем воздуха, толщинакоторого задается прокладками из алюминиевой фольги, помещенной втрех точках между краями пластин.В металлическую оправу б с тремя поджнмными винтамн б укрепются две флюоритовые пластины 1 и 2.При помощи поджимных винтов б слой воздуха междустанавливается так, чтобы все поле зрения было занятополосой.Плоскопараллельность слоя воздуха проверяется в шмонохроматических...

Номер патента: 100704

Опубликовано: 01.01.1955

Авторы: Каразин, Коломийцов

МПК: B23Q 3/152, G01D 7/06

Метки: бесконтактный, индикатор, интерференционный

...б - плоские зеркала; 17 - клиновой измерительный компенсатор; 18 - объектив и 19 - окуляр зрительной трубы; 20 в объектив и 21 в окул вспомогательной трубки.Параллельный пучок лучей, выходящий из объектива б коллиматора, кубиком 7 разделяется на два пучка, один из которых отражается от диагонали кубика, а второй проходит через него. Первый пучок лучей объективом 11 собирается в точку на поверхности проверяемой детали, отразившись от которой и пройдя через объектив 11 опять становит"я параллельным. Пройдя через кубик 7 1 и кубик 8, он попадает в зрительную трубу. Второй пучок лучей проходит через телескопическую систему, составленную объективами 9 и 10 и зеркалом 13, отражается от зеркал 14 и 15 и, пройдя через компенсатор 17 и...

Номер патента: 101959

Опубликовано: 01.01.1955

Автор: Ахиезер

МПК: H01P 1/22

Метки: делитель, интерференционный, мощности, ослабитель, переменный

...и поглощая)щих ослабител(й является Возможность точного расчета косв 1 н 1(ициента деления и, еле;(о 5;1- тельно, отсутствие цеобходитшсти в трат ировке ит)иора.Схе)а интер3(рР 1 ЩНОнног (1)еменног (елителя мощности - церемонного ослаоптсля приведена на чертеже, г:(е:(Н) - иоглощаОщая нагрузка. тля к(о. иенсации ншыеальностп тройника (А).Яелитслт, состоит из четырех согласо 511 нных днойньх 150 лноводных гройникОВ,ТроттНк (.(,):(елит волну, поданную на, Вхсд, на д 15 5 олны (а) ис юдин(1 НОВ 01 амплитудой. Тройники (В) и (С) являются фазовращателями, независимо ретулирующими фазу каждой из зт 1 пх волн. В тройник( .3) пр(Нехо(цт (ложени( (иух 1)олн, М 10) 95)причем от разности их фаз зависит амилнтуда результирующей волны.Пусть волна,...

Номер патента: 102937

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Орлова

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционный, светофильтр

...которой нанесены тонкие полупрозрачные слои сернистой суры.2. Пнгерфсренцнонньш свето 1)пльт ПО п. 1, отлпчающицся тем, что, с целью предохранения полупрозрачных слоев сернистой сурьмы от механических повреждений, светофильтр закрыт с обеих сторон защитными пластинками из стекла плц фтористого лития. В отличие От применяемых д.ш гр,)ду)- ровьц 1 инфракрасных прцборов питер)1)сренционных светофильтров для о,ласти пектра с длиной волны до 2 ж предлагаемый интер)реренцпоцньп) светофц,ьтр предназначен для градуцровкц п;)пборов и 1 н 11)ракрасной облает) с длинои волны до д мк. и может найтц цецрокое применение при изготовлении пн)рракрасных приборов.По конструкции предлагаемый светофильтрриг. 1) отличается от сущее:ву)о)цих тем, что в...

Номер патента: 124674

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Будинский, Евласов, Фоменко, Штаркер

МПК: G02B 5/28, G02C 7/14

Метки: интерференционный, теплофильтр

...промежутком 3, верхности двух стеклянных пластин 4 и 5, рых покрыты просветленным слоем б и 7Во втором варианте (фиг. 2) интерфе несены с двух сторон одной стеклянной слои каждой системы состоят из термиче крытий 9 и 10. льтры, содержащие черед показателями преломлени я от известных устройств им поверхностям двух спромежутком, Такое вып тральную полосу отраже м,ол- ния гаемого теплофильтра в двух ференцион нанесеннь оев вещест интер фер наносятся наружные ых систе е в вакуу в с высоки нционные на внутр поверхно м 1 и 2 ме путем м и низ системы енине по сти кото ренционные системы 1 и 2 на ластины 8, причем наружные ки и механически стойких пэ П т изобретения. Интерференционный теплофильтр, содер веще"тв с высоким и низким...

Номер патента: 141659

Опубликовано: 01.01.1961

Авторы: Будинский, Голостенов, Евласов, Фоменко, Штаркер

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционный, отражатель

...которые нанесены вакууме на стеклянную плПервые слои 2 состояг мых диэлектрических пл слои 3 и 4 создаются из В п ния с чения фицие сти с основдля расшире жения ц полу- большим коэфвидимой облаприлегающих к ют оптическую 3 редлагаемом отражател пектральцой полосы отр отражающей системы с нтом отражения лучей пектра от трех до семи е отражателя слоев име Известные интерф опускающие тепл редующиеся слои им показателями ередующиеся слои оэффициент отраж ти спектра и огр полосу отражения. один из вариантов я, состоящего цз разной оптическойсобой отдельные путем испарения в астицу 1,из легко испаряеенок, а наружные титана, церия или141659 Предмет изобретения Редактор Р. А. Киоелева Техред Л. Бриккер Корректоры: С. Н. Соколоваи М. П,...

Номер патента: 144304

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Левин

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: изменений, интерференционный, кристаллов, показателя, преломления, прибор, стекол, термических

...стороны объектива 5, также в его фокальной плоскости, устанавливается ирис-диафрагма 7. Источник монохроматического света 8, имеющий несколько линий точно известных длин волн (например, кадмиевая, ртутная или гейслерова лампа) изображается конденсором 9 на ирис-диафрагму 7 в плоскость последней. Полупрозрачная пластинка 10 направляет пучок света на объектив 5. Благодаря этому на столик прибора будет падать параллельный пучок лучей. Объектив 11, установленный вблизи ирис-диафрагмы 12, дает в своей фокальной плоскости, совпадающей с коллектором 13, изображения трех систем интерференционных полос, т. е. от термометра и образцов на преломление и расширение. Это интерференционное поле с помощью двух ромбических призм 14 и 15, а также зеркал...

Номер патента: 145756

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Швец

МПК: G01B 11/06, G01B 9/02

Метки: интерференционный, пленок, прозрачных, толщины, тонких

...оптическом приборе, основанные на использовании поляризованного света путем сравнения измеряемой пленки с эталоном по цвету сложны и не обеспечивают высокой точности измерения.В предлагаемом способе эти недостатки устранены тем, что для измерения используют отраженный свет от передней и задней (внутренней) поверхности пленки.На фиг. 1 изображено сечение исследуемой пленки; на фиг. 2 - схематическое изображение систем интерференционных полос, ооразованных белым светом.В наблюдаемой интерференционной картине, образованной белым светом, падающим нормально к поверхности пленки и отраженным от наружной 1 и внутренней 2 ее поверхностей, измеряют расстояние между двумя парами ахроматических полос и между соседними полосами. С этой целью...

Номер патента: 171591

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Зубаков, Чунин

МПК: G01B 11/26, G01B 9/02

Метки: интерференционный, конических

...отражающая коническая поверхность, позволяющая получить круговую интерферен ционную картину, по которой производят контроль угла конической поверхности и прямолинейности образующей.На чертеже изображена схема прибора для осуществления способа. 30 Свет от источника 1 монохроматического излучения проходит через коллиматор 2, попадает на светоделительную пластину 8, разделяющую падающий пучок света на два, один из которых направляется к плоскому эталонному зеркалу 4, а второй к контролируемой конической поверхности 5, расположенной в рабочей ветви интерферометра,Лучи света отражаются от контролируемой конической поверхности, попадают на вспомогательную поверхность, образованную вращением плоского эталонного зеркала 6 вокруг...

Номер патента: 172085

Опубликовано: 01.01.1965

Автор: Шапочкин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, прозрачнб1х, слоев, толщины

...с поворотным механизмом.На фиг, 1 изображена принципиальная схема установки для контроля толщины прозрачного слоя на вогнутой поверхности относительно большой кривизны; на фиг. 2 - то же, 10 для выпуклой поверхности оптической детали.Оптическая деталь 1 с контролируемымслоем 2 освещается монохром атическим источником 3 света из действительного оптического фокуса поверхности.15 Интерферирующие пучки лучей, отраженные от поверхностей слоя и детали, будут составлять с оптической осью малые углы, и интерференционную картину можно наблюдать на любой зоне детали у через микроскоп 4, 20 ось которого параллельна оптической оси де.тали. Зная из предварительного расчета теоретическое положение интерференционных полос по зонам поверхности и...

Номер патента: 185093

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Андрианова, Дрейден, Лиоте, Попов

МПК: G01B 9/02, G02F 1/29

Метки: интерференционный, модулятор

...элементов различных напряже О ний, что ведет к изменению показателя преломления.Электрооптические элементы размещены в плечах интерферометра, например типа Майкельсона, а вместо плоских зеркал установле ны возвратно-отражательные призмы, Модулятор позволяет расширить полосу частот модуляции и повысить стабильность модуляции путем управляемого изменения разности хода интерферирующих лучей, гоПринципиальная схема предлагаемого интерференционного модулятора изображена на чертеже.Параллельный пучок света падает на интерференционный кубик 1, после прохожде ния которого световой поток раздваивается и поступает в плечи интерферометра. В каждом из плечей интерферометра размещены электрооптические элементы 2 и 3 и возвратно- отражательные...

Номер патента: 186163

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Балаханов, Стриганов

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционный, фильтр

...штрихи, причем штрпластины перпендикулярны штрихТакое выполнение позволило повьрешающую способность фильтра илосу пропускания.Для увеличения пропускания ндлине волны между двумя пластинбыть установлена третья аналогичнна, штрихи на которой параллельнодной из пластин.Пропускаемая фильтром узкаядлин волн может регистрироватьсявующим приемником, Имея набор ттров для разных длин волн, можнспектр в достаточно большом динеобходимыми подробностями.На чертеже изображен фильтр с дстинами.В качестве подложки служат плвые пластины 1 и 2, в которых прпараллельные отверстия прямоуголмы с определенным периодом, Нповерхностей каждой пластиныслой серебра порядка 25 мак, Пла полагаются параллельно друг другу, металлические штрихи пластин скрещены...

Номер патента: 187320

Опубликовано: 01.01.1966

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02, G02B 23/02 ...

Метки: интерференционный, микропрофи, омет

...падает на обьектив 6, а другой ,после прохождения через компенсационную пластину 7) - на об.ьектив 8. Обьск)п)3 6 вмссте с призмой 9 вводится внутрь контролируемой детали 10 и проектирует на сс поверхность изоора)кение щели ). Оъсктив ( дастизображение щели вблизи р(бр прзмы 1,работнощей как двугранно( зеркало. Призманеобходима для того, чтобы тражшпый пучоклучей после обратиго пр(хо)кдп 351:Срс:3объектив В шел под небольшим угло) к своспе)1)она)ал).нол)л НГ)п)ав,)ени)0, чт поз)30 Л 5 ет полечить 1)нте(1)ср(чп;31 ннс 1 ,3 с тр(.буеми) ширины,Г 1 учки лучей, отраженные от граней призмы 1 и от контролируемой поверхности 10,вновь соединяются пластиной 5 и попадают взрительную трубу, состоящую из бъ ктпва12 ОН 1 Л 511)а 13 и Б 11 клоча 10...

Номер патента: 189084

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Гуськов, Рубанов

МПК: G02B 5/28, G03B 11/00

Метки: интерференционный, оптический, фильтр

...структурная схемафильтра.Фильтр содержит интерферометр 1 ФабриПеро (ИФП) с переменной длиной оптиче ского пути, объектив 2, диафрагму д, светопроводы 4 из оптических волокон, фотоприемники 5, электронный амплитудный разделит ль 6, преобразующие элементы 7 цепи обратной связи, исполнительное устройство 8 О цепи обратной связи.Работа интерферометра фильтра происходит следующим образом. Сигнал, подлежащий фильтрации, направляют на ИФП. Измерением длины оптического пути вручную или 5 автоматическим поиском через исполнительное устройство добиваются в интерференционной картине наибольшей интенсивности центрального максимума. Первое интерференционное кольцо должно при этом находиться О на границе раздела световодов.11 ри изменении...

Номер патента: 196359

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Кулантис, Мацюл

МПК: G01B 11/30, G03B 15/00

Метки: интерференционный

...непосредственно в процессе тонкой обработки детали прц использовании охлаждающей жидкости.На чертеже изображена схема измерительного комплекса, поясняющая предлагаемый способ.В процессе тонкой обработки без снятия детали со станка применяется измерительный комплекс, который включает шлифовальцый круг 1 ца круглошлифовальном станке, сопло 2 воздушной заслонки, исследуемую деталь 3, закрепленную в центрах 4, диск - световую заслонку 5, лампочку 6 накаливания, кронштейн 7 крепления, фотоэлемент 8, провода 9 - 12, исто и;цк питания импульсной лампыстроботроца 13, устройство 14 синхронизации, кинокамеру 15 с электрическим приводом, ицтерферометр 16 для исследования подвпжцых поверхностей деталей в процессе обработки ц 10 поводковое...

Номер патента: 200224

Опубликовано: 01.01.1967

МПК: G01B 9/02, G02B 21/00, G02B 27/28 ...

Метки: интерференционный, микроскоп, поляризационный

...спектральных линий призмы 2 покрывает изображение в фокусе объектива.Двулучепреломляющая призма 2 размещена внутри тубуса микроскопа с возможностью 30 перемещения в направлениях, параллельном и5 10 15 25 30 35 перпендикулярном оптической оси объектива б. Параллельный сдвиг призмы 2 вызывает покрытие ее плоскости расположения интерферометрических полос фокусным изображением сменных объективов различных увеличений. Сдвиг в перпендикулярном направлении А приводит к изменению фаз дуализированных световых волн и служит для измерения разницы оптического пути от исследуемого объекта.Когда углы при вершине а, и а призм 1 и 2 имеют одинаковый поворот, достигается максимальная дуальность исследуемого объекта, равная сумме...

Номер патента: 203927

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Янушкевич

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, использовании, наклона, основанный, полос, прибор, равного

...объектив 5. Свет от источника света через входную щель, полупрозрачное зеркало 6, объектив 2 и цилиндрический объектив в виде сходящегося к оси О пучка направляется сквозь прозрачную стенку изделия на цилиндрическую поверхность измеряемого отверстия,Цилиндрический объектив и изделие располагают один относительно другого таким образом, чтобы фокальная плоскость объектива совпала с осью измеряемого отверстия. При этом плоскость и ось входной щели должны быть параллельны оси измеряемого отверстия.Отразившись от участков А и Б цилиндрической поверхности отверстия и снова пройдя объективы 5 и 2, свет с помощью полупрозрачного зеркала направляется в окуляры стему, которая позволяет наблюдать жение щели и на ее фоне интерференц...

Номер патента: 206636

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Кравцов, Чирков

МПК: G02F 1/03, G02F 1/21

Метки: интерференционный, модуляторсвета, электрооптический

...специальное интерференционное покрытие, являющееся полупрозрачным отражающим покрытием.Луч 4 света, входящий в модулятор, попа 25 дает на светоделительный слой. Один луч,отразившись от слоя, остается в срезе 1, дру.гой проходит слой 3 и распространяется всрезе 2. Оба луча испытывают полное внутреннее отражение, после чего вновь возвра 50 щаются к светоделительному слою, где и смешиваются, давая интерференционную картину.Заказ 4694/16 Тираж 530 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Центр, пр, Серова, д. 4 Типография, пр. Сапунова, 2 Оптическая длина пути светового луча в веществе представляет собой два плеча интерферометра.Электрическое поле изменяет коэффициенг преломления...

Номер патента: 207018

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Островский

МПК: G01M 11/00, G03C 5/02

Метки: интерференционный, резольвометр

...и плоская световые волны, поляризованныс взаимно перпендикулярно. При их интерференции образуе нусоидальный растр с непрерывным сп пространственных частот. Контраст определяется соотношением освещен 5 создаваемых каждой из интерферирволн, и может изменяться от 0 до 1 пр роте объектива вокруг оптической оси вометра.Фокусное расстояние двухпреломляющего 10 объектива для лучей света, поляризованных вразных сечениях, различно.Схема предложенного устройства изображена на чертеже.Световой поток отра 1 рас ширяется телескопиче й 2,3 ипадает на двоякопр объектив, состоящий из поло и отрицательной 5 линз.Оптические силы линз должны быть 20 ковыми по абсолютной величине для нновенных лучей (например, для кальцита п,=1,49) и тогда для...

Номер патента: 212751

Опубликовано: 01.01.1968

МПК: G01M 11/00, G03C 5/02

Метки: интерференционный, резольвометр

...преломляющими углами таким образом, что отклоненные ими лучи интерферируют с луча ми, не отклоненными призмой, на одной высоте под разными угламн. Световой пучок от лазера 1 телескопической системой 2 расширяется до требуемого диаметра. Интерферирующие световые пучки падают непосредственно на испытуемую систему 3, например, фотоматериал.На пути светового пучка установлены , отклоняющие призмы 4, 5, 6 и 7, количество которых может быть различным. Каждая из призм отклоняет лишь часть лазерного пучка. Призмы имеют различные преломляющие углы, возрастающие в порядке их нумерации, и смещены одна относительно другой вдоль пучка света так, что отклоненные ими пучки света встречаются с,пучком, не отклоненным призмами, на одной высоте, но...

Номер патента: 217069

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Введенский, Сизьмин

МПК: G06G 7/19

Метки: интерференционный, коррелометр

...пружине 8, которая обеспечивает омический контакт с незаземленным проводом 3, и катодом - к конденсатору 10, к которому подсоединена 5 контактная пружина 9, обеспечивающая омический контакт с заземленным проводом 2.Катод обращенного диода соединен с усредняющим устройством 11.Сигналы через входные устройства 4 и б 0 подаются на линию 1 с обеих сторон. В ре.зультате в каждой точке линии 1 получается сумма входных сигналов, причем задержка между нимц зависит от расстояния рассматриваемой точки от концов линии (в середине линии задержка между сигналами равна 5 нулю). При перемещении вдоль линии 1 держателя 7 на обращенный диод б через контактные пружины 8 и 9 и конденсатор 10 подается сумма сигналов, задержка между которыми изменяется...

Номер патента: 233977

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Ловков, Скоков

МПК: G01M 9/00

Метки: аэродинамических, воздействии, возникающих, интерференционный, модели, нагрузок, напряжений, ней, обтекания, параметров, ударноволновых, установках

...основанный на визуализации газового потока и получения картины напряжений в нагруженной модели, изготовленной из прозрачного оптически активного материала,Однако известные способы не позволяют оп. ределить одновременно параметры обтекания модели и величины главных напряжений в ней.Целью предлагаемого способа является одновременное определение отдельных параметров обтекания моделей сверхзвуковым потоком газа и нахождение (раздельно) величин главных напряжений. Это достигается тем, что интерферирующий световой поток разделяют на два потока, затем одновременно регистрируют одним из известных способов картины обтекания, деформации модели и изменения ее фотоупругих свойств и по полученным картинам определяют аэродинамические параметры и...

Номер патента: 243216

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Островский

МПК: G01M 11/02, G02B 27/10, G03B 43/00 ...

Метки: интерференционный, резольвометр

...меняется и пространственная частота,из- вырж- ым зволяет также упрос надежность и точн ающей способности,твенных частот непрть ть ак ыКроме того, оно по юстировку, повысить определения разреш как спектр пространс вен. Интерференционнь на выходе испытуемо терференционные по частотой до, =2/=300 лин/мм. Предложенное устройство служит длямерения разрешающей способности оптиских систем, строящих изображение, илидельных частей этих систем-объективов, экнов, фотографических слоев.Известен интерференционный резольвомесодержащий источник когерентного светелескопическую систему, расширяющую стовой пучок, и систему, отклоняющую свевые пучки, выполненную в виде нескольотклоняющих призм,Предложенное устройство отличается отвестного тем,...

Номер патента: 254820

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Гриднев, Корнилов, Королев

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционный, светофильтр

...чертеже изображено предлагаемое уст ройство.Светофильтр (материал - оргстекло) имеет корпус 1. На подложке 2 из оргстекла толщиной 12,цк с двух сторон нанесены семислой ные диэлектрические покрытия (коэффициент отражения семислойных зеркал Я = 95lо, коэффициент пропускания т = 4,2%, коэффициент поглощения света подложкой 1%). Для закрепления подложки служит оправка 3 из оргстекла. Поверхность контакта поджимного кольца 4, выполненного из каленой стали, с подложкой отполирована. В устройстве установлен поджимной цилиндр 5 с ручкой.Перестройка пленочного интерференционного светофильтра осуществляется следутощнм 5 образом.При вращении цилиндра 5 поджимное кольцо 4 перемещается в направлении подложки 2, давя на подложку светофильтра и...

Номер патента: 266265

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Валидов, Гисин

МПК: G01J 1/22, G01J 3/02

Метки: интерференционный, фильтр

...из пары: германий - фтористый стронций.Это позволяет повысить устойчивость фильтров к климатическим и механическим факторам, а также расширить область их прозрач ности до 25 мкм.Изготовление фильтров осуществляется на вакуумной установке, обеспечивающей контроль за толщинами слоев и нагрев подложек в процессе испарения. Германий (монокри сталл) испаряется из графитовых тиглей, а фтористый стронций - из вольфрамовых лодочек. Давление в процессе испарения не должно превышать 5 10 "мм рт. ст. Подложки перед испарением нагреваются до темпе ратуры 270 - 300 С, В процессе нанесения слоев их температура должна поддерживаться в интервале 270 - 320 С. Необходимо обеспечить равномерный нагрев подложек и образца, по которому ведется контроль...

Номер патента: 274373

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Эцин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, малых, прибор

...10 блок 1 б.Дополнительное зеркало 5 выполнено в виде посеребренной пластинки, одна из коротких граней которой срезана под острым углом по отношению к ее посеребренной стороне, Зерка 1 Б ло установлено в ходе световых лучей междуобъективом 4 и диафрагмой 8 коллиматора под таким углом, чтобы оптическая ось коллиматора проходила через срез пластинки. В качестве интерферометра используется клиновой 20 многолучевой интерферометр (8 и 9).При подаче напряжения от блока 12 пьезоэлемент 11 приводится в колебательное состояние с амплитудой, составляющей небольшую долю длины волны света, Подавая 25 на пьезоэлемент 11 напряжение постоянноготока от блока И, можно осуществлять смещение зеркала 9. Сигнал фотопреобразователя 10 принимается блоком...