Патенты с меткой «аберраций»

Номер патента: 88246

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Орлов

МПК: G01M 11/02

Метки: аберраций, аберрометр, сферических, угловых

...лучей, исходящих из участков на кочцах диаметра зоны исследуемой лцнзь 1, будут восприниматься при наблюдении через окуляры как стереоскопический параллакс, поэтому изображение миры, видимое через окуляры, покажется висящим в воздухе на известном расстоянии от наблюдателя.Оценить это расстояние, а следовательно, и угловые аоеррации, можно одним из методов, применявшихся в стереодальномерах, например методом шкалы в иоле зрения илц подвижной марки. Шкала или деления механизма подвижной марки градуцруются непосредственно в угловых аберрациях,Точность измерения определяется теоретической точностью стереоскопической методики и может быть доведена до 1 О угловых секунд, что превосходит точность, требующуюся при исследовании цростецшей...

Номер патента: 100631

Опубликовано: 01.01.1955

Автор: Линник

МПК: G01M 11/02

Метки: аберраций, оптических, регистрации, систем

...зависеть от этой аоеррации,Если па осциллограф, развертка которого синхронизирована с дви,жением отверстия 5 на зрачке системы, подавать ток от фотоэлемента 2,запись осциллографа будет представлять собой кривую поперечной сферической аберрации системы в зависимости от высоты входа луча в зра.чок силемь.Если применить катодный осциллоскоп и осуществить периодическиповторяющееся движение отверстия по зрачку, например. при помощивращающегося оотюратора, синхронизированное с разверткой осциллоскопа, то нз его экране можно получить постоянно Видимуео кривуОаоерраций.Так как продольная сферическая аберрация 1 связана с поперечной(аберрацией соотношением /=:, где / - фокусное расстояние систеА /мы, а / - Вьсота входа луча над осью, можно...

Номер патента: 103230

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Уханов

МПК: G01N 21/45

Метки: аберраций, теневой

...устройств основаны на применении непрозрачных экранов, например, лезвия ножа, нити, щели решеткц цлн экрана с Фигурным вырезом п т. п.Способы, основанные на прцмененцц непрозрачных цлн цветных решеток, пригодны для измерения только больших аберрации.Способы, в которых попользуется в качестве экрана тонкая нить, также непригодны для измерения малых аоерраций пучков с малым апертурным углом.Предлагаемый тепевой спосоо позволяет измерять аберрациц независимо от цх величины.Измерения производятся прн помощи узкого прямолинейного Фазового экрана, перемещаемого микрометром.Сущность способа заключается в том, что вместо непрозрачной нити, применяемой при обычном теневом способе, вблизи пзображенпя щели теневой установки располагают сетку...

Номер патента: 243878

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Оптики, Тихомирова, Чуриловский

МПК: G02B 23/06

Метки: аберраций, зеркально-линзовойсистемы, компенсатор

...зеркально-линзовой визны их поверхностей окусе), Параксиальный еркала (на чертеже не ское Изобретение предназначено для исправлеия аберраций зеркально-линзовых систем, в астности объективов телескопов. Известны компенсаторы аберрации 3 льно-линзовых систем, устанавливаемые в дящемся пучке лучей, содержащие не бол двух одиночных менисков.Описываемый компенсатор отличается от известных тем, что в нем мениски выполнены отрицательными, концентричными относигельно заднего фокуса зеркально-линзовой системы, и имеют по одной асферической поверхности не более третьего порядка, а также тем, что в него введен дополнительный отрицательный мениск, концентричный относительно заднего фокуса зеркально-линзовой системы, имеющий асферическую...

Номер патента: 274418

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Пур

МПК: G02B 11/08

Метки: аберраций, интерферометр, оптических, систем

...изображение для осевого пучка лучей. Центр кривизны зеркальной поверхности линзы совмещен с вершиной пучка лучей, вы шедших из контролируемой системы и преломленных зеркальной поверхностью.На фиг. 1 представлена схема предлагаемого интерферометра для контроля оптических систем в параллельном пучке лучей; на 25 фиг, 2 - схема интерферометра для контроля систем с конечного расстояния.Лучи света от монохроматического источника 1, пройдя точечную диафрагму 2, установленную в фокусе объектива 3, и сам объектив, 30 идут далее параллельным пучком. Полупрозрачное зеркало 4 разделяет лучи на два пучка, один цз которых направляется в эталонную ветвь цнтерферометра к плоскому зеркалу 5, после отражения от которого лучи повторяют свой путь...

Номер патента: 322753

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Гутников, Лапо, Сокольский

МПК: G02B 27/30

Метки: аберраций, введения, оптическую, системуп

...9 объектива выполнена сферической (гггперболической) для того, чтобы ооъектцв имел положительную сферическую аберрацию.5 При увелпчении воздушного,проогежуткахгежду линзамгг 2 г 1, рохгатгзм полотгегттгя объектива возрастает от нуля до своего максимального значения. При этом сферическая аберрация умецьшаетсл, а сферороматпзм 10 постоянен и имеет малую величину.Прп п;ремсщеции телескопической системы4 вдоль оси сферическая аберрация увеличивается и принимает только отрицательные значения. При этом хроматизм положения и 15 сферохроматизм не меняются.Свойства предлагаемого устройства позволлют использовать его для независимого введения в исследуемую оптическую систему сферической аберрации и хроматизма и для из менсцпя всеаберраций в...

Номер патента: 355488

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Пур

МПК: G01B 9/02

Метки: аберраций, волновых, интерферометр, оптических, систем, элементов

...то Нось 10. Форма дсфор- анрованноЙ зе 1)алиОЙ иовсрхнос(и ятгсстуется с помощью колец 11 ьютона, которые образуются при введении в систему полупрозрачной пластины 11,тр отличается ользх ется зеркоторая под и пневматичер, близкую кенного испыому повышаетфероме она исп астины, ских ил ает фо та, иска даря эт нципиальная роля оптичеаберрациями 2 Иа фиг, 1 пр схема интсрферо ских систем со с конечного расс Свет от монох пример, лазера) руется на от ройдя черезедставлена п 1 метра для кон значительными О ЯИ 51,рома 1 ического 1 1 конденсорнсп верстие точечноторую, попада сточника (налинзой 2 фоой диафрагмы ет сначала на 3 кусид, п Предложенный инте тем, что в качестве этал кальная поверхность пл воздействием механиче ских нагрузок приним к...

Номер патента: 396543

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Контиевский

МПК: G01B 9/02

Метки: аберраций, двухлучевой, интерферометр, качества, оптических, поверхностей

...и,следовательно,:с ограничивают точности измерения местных ошибок.На чертеже приведе а схема предтагаемогоинтерферо., етра для случая контроля плоскихповерхностей.Иптерферометр содержит осветительное устройство, Вклочаюцсе псточнп( 1 излученп 5,конденсор 2 и диафрагму 3; объектив 4, в фокальной плоскости которого находится диафрагма 3; систему пз свстодслптелей 6, 6 изеркал 7, 8; обордчптдопхуо систему пз трехплоских зеркал 9, 10 и 11, Выполненную пои 1 ротпой относ;тельно оптической оси О - Оинтерфсрометрд, Кдртпнд ш тсрферепцпп двухпучков, отражеп;ых от контролируемой поверхности 12, рассматривается наблюдательным хустрогством (например, глазом), помещенным за диафрагмой 13, расположенной вфокдльной плоскости обьектпва 11. Одна...

Номер патента: 491912

Опубликовано: 15.11.1975

Авторы: Груздева, Лобачев, Павлов, Якухнова

МПК: G02B 27/00

Метки: аберраций, асферических, зеркал, компенсатор

...3,5 - 4,5.На чертеже показан описываемый компенсатор, содержащий двусклеенный компонент,состоящий из двояковыпуклой положительной динзы 1 и плосковогнутой отрицательной з 0 линзы 2, и одиночныи компонент 3, выполпеный в виде плосковыпуклой линзы. Компенсатор установлен между контролируемой асферической поверхностью 4 и центром ее кривизны С, при этом расстояние между двусклеенным и одиночным компонентами выбрано равным 0,25 - 0,4 расстояния от центра кривизны контролируемой поверхности до одиночного компонента,Для обеспечения достаточного увеличения и апертуры, а также получения необходимых условий компенсации сферической аберрации и исправления высших порядков этой аберрации отношение радиусов кривизны поверхностей 5 и 6...

Номер патента: 529362

Опубликовано: 25.09.1976

Авторы: Астахова, Духопел, Федина

МПК: G01B 11/24, G01B 11/30, G01B 9/02 ...

Метки: аберраций, интеферометр, исследования, качества, крупногабаритных, неоднород, ностей, оптических, поверхностей, прозрачных, элементов

...в в-.оо,л 1 г, апионпой схеме сов. 1 стн с исслецус п зеркалом 7 н устанавливается, в .;а: и:сстот контролируемого объекта,;,.цоо; цг",та.-.кривизны сферического зеркала, либо в фо -кусе исследуемого объектива,Работает интерферометр слецуюшим образом.25Параллельный световой пучок монохроматического света направляется на объектив 1, фокус которого совмещен с отражающей поверхностью зеркала 5. После выхода из объектива пучок света светопелителем 2 део ЭО лится на два пучка - рабочии и опорныи. Рабочий пучок, пройдя светопелитель 2, с помощью зеркала 3 и светоделителя 4 направляется на исследуемое сферическое зеркало 7. Опорный пучок после отражения от светоделителя 2 попадает на линзу 6, а,затемЗВ зеркалом 5 направляется на зеркало...

Номер патента: 569845

Опубликовано: 25.08.1977

Авторы: Королев, Меньшикова

МПК: G01B 9/02

Метки: аберраций, волновых, дифракционной, изображения, интерферометр, качества, оптических, систем, точке

...установлена линза 15 и вин товой окулярный микрометр 16.30Предлагаемый интерферометр работает следующим образом.На вогнутой алюминированной поверхнос ти зеркала 5 выполнено дифракционное от верстие, которое освещено через линзу 2 сфокусированным плоскополяризованным пуч ком света из оптического квантового генератора 1 непрерывного действия. Сферическая световая волна, возникающая на дифракционном отверстии, распространяется в боль с) шом телесном угле и попадает в объектив 3 коллиматора и в объектив. 11 системы не блюдения. После объектива 3 волна прохо дит через 1 иафрагму 4 и плоскопараллельную пластинку 7, вырезанную из кристаллического кварца и имеющую разность хода (2 + 1), Размер диафрагмы 4 равен диа.Лметру зрачка...

Номер патента: 788434

Опубликовано: 15.12.1980

Авторы: Агуреева, Диковская

МПК: H04N 3/26

Метки: аберраций, видов, коррекции, основных, отклонения

...симметричный относительно нуля с выхода блока 2 сдвига. Сигнал у (х + у) с выхода умножителя 8 поступает на вход тракта вертикального отклонения и позволяет устранить подушкообразные искажения и масштабные ошибки Для получения стигматического изображения пятна, близкого по размеру и форме к неотклоненному пятну, необходимо устранить еще два вида аберраций: аберрацию астигматизма отклонения 2-го порядка и астигматизма отклонения 3-го порядка. Для устранения этих аберраций используется поле двух квадрупольных линз 28, 29, Канд,ая квадрупольная линза 28, 29 подключается к сумматору 9, на входы которого подаются все сфрмированные функции предыскажений аберраций астигматизма 2-го и 3-го порядка, причем сигналы коррекции, пропорциональные...

Номер патента: 928292

Опубликовано: 15.05.1982

Авторы: Пуряев, Шандин

МПК: G02B 27/00

Метки: аберраций, качества, компенсатор, оптических, систем

...2свойства 8 го по Отношению к параксиальному изображению источника света не меняются, но он вносит раз"личны 8 величин.1 аберраций, что также испОльзуется для расшир 8 ния 8 ГОФункциональных возмойнОстей,На чертежа изображена оптицескаясх 8 ма компенсаторэ наприм 8 рприконтрол 8 двояковыпуклой линзы савтоколлимацией От плоскоЙ пов 8 рхзности с показом хода параксиальныхлуц 8 Й От точечноГО источника св 8 таНа чертеже приняты Обозначенияположительная линза компенсатора, выполненнаяр напРимеРрв ВИД 8 мениска",2 - отрицательная линза; 3 - контрОлируемая двОяковыпуклая линзаР, и Г- передний и задней ФокусыпеРВОЙ линзыр ГР и ГР пеР 8 Дний изаднии Фокусц второи линзы; А - тоцецный истОчник света; А - мнимоепараксиальн 08 изображение точ 8...

Номер патента: 974116

Опубликовано: 15.11.1982

Авторы: Близнюк, Штандель

МПК: G01B 11/24

Метки: аберраций, величины, вогнутых, зональных, параболоидных, поверхностей

...микроскоп 7 иливидеоконтрольный блок 8 и проекционный объектив 9. Подвижный конец ВОЭзакреплен на поворотной оправе б таким образом, что плоскость его прием ного торца совмещена с осью вращенияповоротной оправы б. Пентаприэма 3связана через механизм 10, например,кулачковый, с поворотной оправой б,Угол 9 поворота поворотной оправы б сВОЭ и координата у перемещения пентапризмы 3 связаны между собой соотношениемЧ1 Р - = ргде Г - паРаметр образующей параболы контролируемого изделияотражателя(Р=2 Х, где- фокусное расстояние в мм.).В устройство входит также приспособление 11 для установки и юстировки контролируемого изделия 12. 55Устройство рабоает следующим образом.Контролируемое изделие 12 устанавливают на приспособление 11 для установки...

Номер патента: 1048532

Опубликовано: 15.10.1983

Авторы: Гаврилов, Петров

МПК: H01J 29/56

Метки: аберраций, коррекцией, электроннооптическое

...плоскость симметриипрямоугольного отверстия с ширинойв первом по ходу пучка из которых совпадает с направлением х. Продольная плоскость симметрии отверстия во втором электроде совпадает,соответственно, с направлением 3На расстоянии 0,56 от первого электрода ближе к источнику электронови после второго электрода линзы установлены дополнительные электродыкорректоры 2 с треугольным и прямоугольным отверстиями. Соответствующие электроды линзы и дополнительныеэлектроды-корректоры соединены междусобой электрически и имеют потенциалыЧ иЧдРабота устройства заключается вследующем.Электроны из источника попадаютпод действие поля скрещенной линзыс дополнительным электродом-корректором. Скрещенная линза 1 фокусируетпучок электронов в направлении...

Номер патента: 1048533

Опубликовано: 15.10.1983

Автор: Петров

МПК: H01J 29/56

Метки: аберраций, коррекции

...равно й+1, где =2, 3,4 ,. при этом Отношение длины выс-, 65 тупов и вырезов к диаметру электродов не менее 0,1,а отношение углово" го размера вырезов к угловому размеру выступов на каждом из электродов составляет 1/8 - 8.На чертеже показана схема реализации предлагаемого технического решения.На общей оптической оси электронно-оптической системы 1, Обладающей аберрацией, например 2-го и 3-го порядков, последовательно расположены устройство 2 коррекции аберраций 2-Го порядка и устройство 3 коррекцииаберраций 3-го порядка, цилиндрические электроды которых повернуты вокРУг Оситакф что одна из плОС- костей симметрии, проходящая через вырез первых по ходу пучка цилиндрических электродов устройства 2, совпадает с направлением коррекции...

Номер патента: 1112333

Опубликовано: 07.09.1984

Авторы: Русинов, Шустер

МПК: G02B 27/36

Метки: аберраций

...два из которых двухлинзовые, причем первый афокальный компонент установлен с возможностью перемещения вдоль оптической оси, а второй состоит из положительной 55 линзы и отрицательного мениска, обращенного вогнутостью к предмету, силовой компонент состоит из двух одина 33ковых плосковыпуклых линз с увеличехнием Ч=1 , установленных с возможностью поворота вокру; осей, проходящихчерез вершины их сферических поверхностей перпендикулярно оптическойоси, первый афокальный компонент выполнен в виде плосковыпуклой одиночной линзы и отрицательного мениска,обращенного вогнутостью к иэображению, второй афокальный компонентустановлен между линзами силовогокомпонента с возможностью поворотавокруг оси, проходящей через вершинупервой поверхности...

Номер патента: 1144075

Опубликовано: 07.03.1985

Авторы: Зейликович, Платонов, Спорник

МПК: G02B 5/32

Метки: аберраций, голограммы, компенсации, подложки

...плоскость держателя голограммы.10 борачивающий элемент, может быть выполнен здесь, например, в виде плоского зеркала 2 .Существенным недостатком такогоустройства является низкая дифрак 35ционная эффективность голограммывследствие взаимной интерференции наголограмме трех .волн - падающей сигнальной, сигнальной, отразившейсяот оборачивающего оптического элемента, и опорной волны. Таким образом,на голограмме регулируются три голографические решетки и ее дифракцион"ная эффективность в 3 -9 раз меньше,2,чем дифракционнаа эффективность голограммы, на которой зарегистрированаодна решетка.Цель изобретения - увеличение дифракционной эффективности голограммыПоставленная цель достигается тем,что в устройстве для компенсацииаберраций подложки...

Номер патента: 1244614

Опубликовано: 15.07.1986

Авторы: Кулакова, Пуряев

МПК: G01M 11/00, G02B 27/00

Метки: аберраций, качества, компенсатор, оптических, систем

...обозначения 2 Оо-, расстояние по оптической осимежду первой и второй афокальнымилинзами, 4 - точечный источник светаД - мнимое параксиальное изоб-,(ражение точечного источника построенное компенсатором, Я 4 - расстояниеот первой поверхности компенсаторадо М 5 я - расстояние от последнейн/поверхности компенсатора до .А , цсуммарная толщина компенсатора. ЗОАфокальные мениски 1 и 2 обращены друг к другу вогнутыми поверхностями и установлены на особом расстоянии 4 в друг от друга которое вычисляется по формуле35 толщина по оптйческ:ой оси 4 Опервой линзы,толщина по оптической осивторой линзы,показатель преломления материала первой линзы; 45показатель преломления материала второй линзы,линейное увеличение второйлинзы, равное...

Номер патента: 1286118

Опубликовано: 23.01.1987

Автор: Мигель

МПК: G02C 7/00, G02C 7/16

Метки: аберраций, коррекции, оптическая, оптических, сетка

...в то время как вершины 5 и б стержней 2 и 3 направлены к внешней поверхности сетки, т.е. к поверхнос ти, на которую падает свет. Поэтому отверстия 4 (фиг. 1), через которые свет проходит через сетку 1, имеют форму квадратных усеченных пирамид причем большие основания лежат навнешней поверхности, а меньшие - навнутренней поверхности сетки,Применение оптической сетки внутри колец офтальмологической оправы8 (фиг,3 и 4) позволяет создать очкс возможностью коррекции дефектовизображения,Оптическая сетка может использоваться в комбинации с фотографической менисковой линзой 9 (фиг,5), подобной тем, которые обычно используются в фотографических аппаратах.Для увеличения яркости изображения на внешнюю поверхность оптической сетки наносят...

Номер патента: 1394461

Опубликовано: 07.05.1988

Авторы: Иванченко, Игнатиенко, Яппаров

МПК: H04N 5/14

Метки: аберраций, коррекции, отклонения, сигналов, формирования

...- Р 1, подушкообразные искажения справа - Р, сверху - Р , слева - Р и снизу - Р трапецеидальные искажения - Рз, Р, Р, и Р, искривление центральных горизонталей Ри Р , а центральных вертикалей - Р и Рп, нелинейные масштабные искажения по горизонтали - Р, а по вертикали - Р,По каждому из видов искажений выбирается один или несколько базисных полиномов так, чтобы удовлетворялось условие независимости коррекции в различных зонах и по каждому виду искажений. По величине наблюдаемых в 25 локальных точках искажений для каждой базисной функции Р устанавливаются коэффициенты С , нормирующие значения функций в пределах зон их действия, производится суммироВание значений полиномов по видам искажений для текущего положения луча в границах поля...

Номер патента: 1428970

Опубликовано: 07.10.1988

Авторы: Андреев, Егунов, Никулин, Окишев

МПК: G01M 11/00

Метки: аберраций, микроскопов, окуляров, продольных

...оптической осью объектива 2. Расстояние . между центромпризмы-куба 6 и отражающей поверх -ностью зеркала 7 равно расстояниюмежду входным и выходным зрачкамиустанавливаемого между ними на контроле окуляра 1. Последний устанавливается так, что центр его входногозрачка совпадает с центром призмкуба 6, а выходной зрачок совпадаетс отражающей поверхностью зеркала 7.Основание 5 имеет возможность поворота вокруг оси РР , проходящей черезцентр призмы-куба 6 и взаимно перпендикулярной оптической оси объектива2 и оси дополнительного канала, в котором расположено анализирующее устройство 8,Устройство работает следующим образом.Объектив 2 формирует сходящийсяпучок световых лучей от марки 4, освещенной осветителем 3, образуяизображение марки 4 в...

Номер патента: 1506414

Опубликовано: 07.09.1989

Автор: Пименов

МПК: G02B 17/00, G02B 5/04

Метки: аберраций, внеосевых, компенсатор

...РО до осевого луча 00 , а также световым диаметром Й и расстоянием Б от первой поверхности призмы до плоскости изображения, причем углы о и Ч определяют ся из системы уравнений кома и астигматиэм, вносимые компенсатором,и показатель преломленияматериала призмы,Й - световой диаметр пучка;Я - расстояние от первой поверхности призмы до плоскости иэображения,д и- углы, рад.При расчете компенсатора углыпризм о иопределяются из системы уравнений итерационным методом.На первом шаге предполагается, чтоЧ+и Ы/2=0.Призмы 1и 2 (фиг.2) установлены на малом расстоянии ККодна от 4 4другой, не превышающем световой диаметр пучка д на призме 1 . Углы наклона Ч 2 к оси светового пучка 00 и углы при вершине о уменьшены в 2 раза по сравнению с углами...

Номер патента: 1766359

Опубликовано: 07.10.1992

Авторы: Алексеев, Корнюшина, Розенблюм, Тарутта

МПК: A61B 3/00

Метки: аберраций, выявления, глаза, оптической, системы

...коррекции,Поставленная цель достигается тем, что в способе выявления аберраций оптической системы глаза, включающем исследование острот л зрения с оптимальной коррекций в условиях медикаментозного мидриаза, отличительной особенностью является то, что определяют остроту зрения с диафрагмой разных диаметров и при ее снизрения левый глаз 1,0 0,85 0,85 0,7 0,6острота правыйглаз 1,0 1,0 1,0 1,0 1,0 зрения левыйглаз 1,0 1,0 1,0 0,8 0,8 1,5 3,0 4,0 6,0 без диафрагмы Как видно из данных исследования аберрация на правом глазу отсутствовала, на левом имелась на краю зрачка(снижение 45 50 Составитель И.АлексеевТехред М.Моргентал Корректор О,густи Редактор С,Кулакова Заказ 3492 Тираж ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и...

Номер патента: 1772608

Опубликовано: 30.10.1992

Автор: Гусев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021

Метки: аберраций, волновых, голографического, линз, объективов

...контролируемого объекта. 1 ил,бокового сдвига, по которой судят о волно- О вых аберрациях контролируемого обьекта.Недостаток способа заключается в низкой точности контроля, что обусловлено ошибками, возникающими при интерпретации регистрируемой интерферограммы с целью определения фазовых искажений в а фиксированной точке контролируемого объекта, так как интерференционная картина не сопряжена со зрачком контролируемого объекта.Ближайшим по технической сущности к заявляемому способу является способ контроля волновых аберраций линз и объективов, по которому освещают диффузный1772608 В, Гусевргентал оставит хред М орректор О. Кравцова аказ 3837 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ...

Номер патента: 1793273

Опубликовано: 07.02.1993

Автор: Снежков

МПК: G01J 9/02

Метки: аберраций, волнового, излучения, фронта

...точек обоих интерферирующих фронтов в пределах ИФК, На фиг. 1 этой "0 точкой является точка 0 начала ортогональных и соответственных систем координат ХУ и Х У принадлежащих соответственноменьшему 1 и большему 2 интерферирующим фронтам. (Соответственными точками 45 интерферирующих фронтов в сдвиговой интерферометрии принято называть точки, соответствующие одной и той же точке измеряемого Вф. Например. точка А, волнового фронта 2 является соответственной 50 точке А 0 волнового фронта 1),Полученная таким образом сдвиговаяИФК позволяет при ее расшифровке найти значение фазы в любой точке Вф, т.е. полностью определить форму Вф, э значит, аберрации. Для расшифровки такой ИФК могут быть использованы различные алгоритмы, которые могут быть...

Номер патента: 2001443

Опубликовано: 15.10.1993

Авторы: Глувштейн, Петров, Чернов

МПК: G09B 23/06

Метки: аберраций, глаза, клетках, крысы, моделирования, роговицы, хромосомных

...аберрации первичными, либо они следствие нарушенияработы ферментативных систем, возникающих при повышении температуры среды,Целью изобретения является получениеоднотипных аберраций путем уменьшениявремени экспозиции на экспериментальныхживотных. Эта цель достигается путем дистэнтного тотального воздействия на опытное животное низкочастотным 5 10 15 20 25 30 35 40 45 электромагнитным полем низкой интенсивности (Н Э М П Н И), Воздействие п роизводится в течение 30 мин однократно, напряженность действующего Н ЭМПНИ 0,7 - 1 А/м, Крысы обрабатываются в течение 30 мин с Но 1 А/м. Через 12 ч у них производится забор роговицы и путем окраски и световой микроскопии определяется уровень и характер хромосомных аберраций.Для контроля...