G01B 9/02 — интерферометры

Номер патента: 266224

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Контрол, Особое, Пеликс, Электроэрозионного

МПК: G01B 9/02

Метки: линейныхизмерениях, настройки, прибора, эталон

...формы.На чертеже изображен предлагаемый эталон, общий вид,Он содержит нижнюю стеклянную пластинку 1 с доведенной верхней плоскостью, верхнюю стеклянную пластинку 2 с доведенной нижней плоскостью, проставок 3, имеющий плоскопараллельные рабочие поверхности и выполненный в виде тела П-образной формы.Край нижней пластинки выступает за проекцию на нее края верхней пластинки.Поверка эталона производится следующим образом.Помещают тр для абсолютных измерений, при этом получают от выступающего края нижней пластинки и от нижней плоскости верхней пластинки интерференционную картину в виде полос равного 5 наклона, что обеспечивает возможность поверки эталона абсолютным интерференционным методом.При желании поверка может быть произведена...

Номер патента: 267083

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Аэросъемки, Зотов, Картографии, Центральный

МПК: G01B 9/02

Метки: высокоточных, движения, измерительных, кареток, параметров, приборов

...а штрихи ориентируются перплярно направлению движения.При поступательном перемещении о0 решеток относительно другой интенссвета А в зрачке фотоэлемента буденяться по следующему за,кону:Аз - Аз+А, соз 2 лр, - постоянная составляющаяпотока;А, - амплитуда итока;р - относительное смещение штрихов ршеток.Амплитуда колебаний А,оянной величиной и опредим выражением: ширина дифракционнои решеткприведенный шаг решеток;угол разворота штрихов.Редактор Л. Мутовкин Заказ 1928 у 9 Тираж 480ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при СоветеМосква Ж, Раушская наб., д. 4/5 Подписиопетров СССР шография, пр, Сапунова Из этой формулы следует, что амплитуда интенсивности света при постоянных конструктивных параметрах К Ир и К...

Номер патента: 268667

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Горобец

МПК: G01B 11/26, G01B 9/02

Метки: геометрической, детали, оси, перпендикулярности, плоскости, торцовой

...точность измерений.Контроль перпендикулярности торцовой плоскости детали к ее теометрической оси согласно предлагаемому способу производят следующим образом.Деталь устанавливают в приборе для контроля перпендикулярности с опорной плоскостью и втулкой, охватывающей контролируемую деталь. Прижав торец детали к плоскости стеклянной пластины для интерференционных измерений, притертой к основанию корпуса прибора, поворачивают деталь во круг оси и путем изменения ее наклона относительно плоскости основания корпуса добиваются появления на торцовой плоскости детали интерференционных полос, наибольшее количество которых может быть отсчитано.10 Затем, вновь поворачивая деталь вокруг осина 360 и наблюдая по интерференционной картине на торце...

Номер патента: 268732

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Физико

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: газа, плотности, распределения

...этой компоненты.Точки, в которых полосы обеих картин наложатся одна на другую, дадут кривые равной разности хода, проведенные через Х/2.Способ основан на том, что показатели преломления газов по-разному зависят от длины волны. Особенно сильная зависимость для каждого газа наблюдается вблизи линии его поглощения. Для получения фотографии кривых, равной разности хода длины волн излучений, выбираются возможно более близкими к длине волны полосы поглощения исследуемой компоненты газовой смесипричем они могут быть как симметричными, так и несимметричными относительно полосы поглоще ния.Для экспериментального осуществленияфотографирования в свете двух длин волн возможны несколько способов получения этих излучений: применение узкополосных...

Номер патента: 269527

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Контиевский

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: интерферометр, качества, оптических, плоских, поверхностей

...8 и 9, расположенных в фокальных плоскостях объективов 10 и 11, имеющих одипаковые фокусныс расстояния, свстоделительной пластины 12, зеркал 18 - 15, блока 1 б призм Дове, ромб 11 чсских призм 17 и 18,Световой поток от источника 1 монтического излучения через конденсор щает диафрагму 8. Параллельный п чей, выйдя из объектива 4 и отразив светоделительной пластины 5, падает н но на эталонную поверхность пробног б. Отраженные от поверхности стекла поверхности контролируемой детали интерферируя друг с другом, образую 10 ференционную картину, локализовавоздушном промежутке между поверх стекла б и детали 7. Интерференционная картина, представляю щая полосы равной толщины, наблюдаетсядвумя глазами через диафрагмы 8 и 9, Лучи направляются в...

Номер патента: 272603

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Васильев, Ершов

МПК: G01B 9/02, G02B 5/18

Метки: дифракционной, интерферометр, решеткой, фазовой

...Нлевой максимум раснрострацяется так же. как распростра цялся бы свет при отсутствии дифракцпоццойрешетки. Остальные максимумы отклонены от нулевого на некоторый угол.Поскольку изображения когерецтцы, то притталокетттти имеет место обычная ицтерферен ционная картина, характерная для двух лхчевых иптерферометров. Она позволяет измерять разность хода световых лучей, вносимую нсс,ттед смой ттеодцородностью.Качество тттттертЬеретттттоттттотт картины зави сит от амплитуд ицтерферпрующих волн. Лляболыттетт освещенности амплитуды волн должны быть достаточно велики, а для достаточно высокой контрастности полос амппитуды должны быть близки дрг другу. При этом необхо димо, чтобы решетка дчя оптимальных условий интерференции двл схем пулевого и...

Номер патента: 274373

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Эцин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, малых, прибор

...10 блок 1 б.Дополнительное зеркало 5 выполнено в виде посеребренной пластинки, одна из коротких граней которой срезана под острым углом по отношению к ее посеребренной стороне, Зерка 1 Б ло установлено в ходе световых лучей междуобъективом 4 и диафрагмой 8 коллиматора под таким углом, чтобы оптическая ось коллиматора проходила через срез пластинки. В качестве интерферометра используется клиновой 20 многолучевой интерферометр (8 и 9).При подаче напряжения от блока 12 пьезоэлемент 11 приводится в колебательное состояние с амплитудой, составляющей небольшую долю длины волны света, Подавая 25 на пьезоэлемент 11 напряжение постоянноготока от блока И, можно осуществлять смещение зеркала 9. Сигнал фотопреобразователя 10 принимается блоком...

Номер патента: 277270

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Ветвинский, Харько, Янушкевич

МПК: G01B 11/12, G01B 9/02

Метки: 277270

...способ осуществляют следующим образом. В отверстие изделиявводят аттестованную пробку 2 ц перекашцвают ее в плоскости, перпендикулярной отражающей поверхности 3, до получения оптического контакта в точках А и В (пробка выполнена цз прозрачного материала ц состоит цз двух элементов, склеенных непрозрачными отражающими поверхцостямц, расположенными под углом примерно 45 к ее осц), Затем пробку подсвечивают со стороны торцов и через прозрачные торцы наблюдают ццтерференционные полосы равной толщины.Полосы ориентируют симметрично относительно нанесенных вдоль образующей поверхности пробки продольных рцсок 4 и, считая пятна контакта Л ц В пулевыми полосами,отсчитывают со стороны обоих торцов целое число и дробную часть...

Номер патента: 284306

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Бржезинский, Симахина

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевой, интерферометр, линейных, перемещений

...показана схема описываемого двухлучевого интерферометра.Интерферометр содержит основание 1, источник монохромагического света 2, коллиматор 3, зеркала 4 - 10, полупрозрачную пластину 11 для разделения световогс пучка на две ветви и наблюдательную систему 12.Две пары регулируемых между собой блоков, отражательных призм 13 - 1 б, расположены на основании во взаимно перпендикулярных плоскостях, а плоское зеркало 17 с отверстием установлено в одной пз ветвей интерферометрз.Раоотает интерферометр следующим образом.Свет от источника направляется в коллпматор, выходит из него параллельным пучком, зеркалом 4 направляется на пластину, где делится на два пучка. Один из пу гков падает на зеркало б, установленное на подвижной ре- О гулируемой...

Номер патента: 284416

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Жариков, Панов, Цейслер

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: газоанализатор, интерферометрический

...25 и контактной группой 2 б сигнально-отключающего устройства 27. Реверсивный двигатель, механически связанный с подвижной пластинкой, представляет собой компенсирующее устройство. При заполнении полостей А, В, С газо- воздушной камеры чистым атмосферным,воздухом интерференционные картины находятся в исходном нулевом положении (фиг. 2, положение 1). Световые потоки интерференционных картин, равные по величине, через щелевые диафрагмы 18 и 1 б попадают на фотоприемники 18, 19, которые включены в соседние плечи моста переменного тока. Введение н схему двух фотоприемников позволило автоматически выполнить условия коррекции температурной погрешности, При равенстве световых потоков, падающих на фотоприемники, световые сопротивления их...

Номер патента: 321674

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Аксельрод, Груздева, Зсеоо, Лобачев, Сокольский

МПК: G01B 9/02

Метки: вогнутых, вращения, интерферометр, качества, отражающих, поверхностей

...рядка, Это достиг установлен межд тролирусмой пове стоянии от нее.На чертеже пок ваемого интерферо Интерферометр выполнен по схеме Майкельсона. Его рабочая ветвь образована объективом 1, компенсатором 2 сферической аберрации и контролируемой деталью 3, при чем компенсатор установлен между параксиальным центром кривизны О и контролируемой поверхностью П-го порядка детали на расстоянии от нее, равномДев10 г, Р - радиус кривизны в вершине контро.лируемой поверхности 3;е - эксцентриситет поверхности 3;15 р - постоянный параметр компенсатора2, зависящий от увеличения, с которым он изображает центр кривизны О в точку О, совмещенную с фокусом объектива 1,20 Параллельный пучок света падает наобъектив, собирается в его фокусе О и,пройдя...

Номер патента: 292322

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Джон, Иностранна, Иностранцы, Крейер, Сою

МПК: G01B 9/02, G02B 27/00, G06F 5/00 ...

Метки: интерферометров, лазерных, счетное

...счетчик 1, имеющий счетную способность в 291 целую единицу.Шина прямого счета 13 соединена в схеме фиг, 1 со всеми двоичными каскадами 8, 9 и 10, с декадами 11 и 12, счетчиком 1 и со входом схемы НЕ - И 4, шина обратного счета 14 - со входом схемы НЕ - И 5,Рассмотренная схема соединений обеспечивает пропуск одного импульса на каждые 291 отсчет, причем пропуски импульсов при реверсировании схемы согласуются с действительными требованиями.В описанном устройстве производится отсчет интерференционных полос с выражением декадной могцности в дюймах.Иногда возникает необходимость и в метрических приборах, в которых необходимо вводить дополнительный множитель 2,54.Это может быть достигнуто за счет такого преобразования входного сигнала...

Номер патента: 296950

Опубликовано: 01.01.1971

Автор: Зеликсон

МПК: G01B 9/02

Метки: всесоюзная, пaпйtшtl

...картины на экране 8. й прибор, содер матор, объектив й, например, в из фотохромног тем, что, с целью а показателя пр растности тенев жащии источник свеи шлирный нож, вы. виде затемняющегося о материала, отличаизмерения дисперсии еломления и повышеой картины, источник Тенево та, колл иолненнь фильтра юиийся градиент ни я кон 1 Устройство относится к оптическим приборам для исследования неоднородностей прозрачных сред, может быть использовано дляизмерения дисперсии показателя преломления, 5Известны теневые приборы, содержащиеисточник света, коллиматор, объектив и шлирный нож в виде, например, затемняющегосяфильтра из фотохромного материала,Предлагаемый прибор чувствителен к дисперсии градиента показателя преломления,так как работает...

Номер патента: 297860

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Валеев, Долгов, Жуков, Ков

МПК: G01B 9/02

Метки: пленочных, подложке

...не обеспечивают качественной интерференцион ной картины, что приводит к значительным погрешностям в определении радиуса кривизны подложки.Предложенный способ дает возможность проводить с высокой точностью измерения на пряжений в неотражающих и неравномерных по толщине пленках по качественно новой интерференционной картине.Сущность способа состоит в том, что интерференционная картина образуется между по верхностью подложки н поверхностью девятислойного диэлектрического зеркала, а пленка расположена на поверхности, противоположной измеряемой, и не является отражающей плоскостью. 3 Предложенный способ поясняется чертежом.Луч 1 высокой монохроматичности (1, =о= 5461 А), проходя зеркало 2, на поверхность которого нанесены тонкие...

Номер патента: 299736

Опубликовано: 01.01.1971

Автор: Комиссарук

МПК: G01B 9/02

Метки: дифракционный, интерферометр

...систем.Известные дифракционные интерферометры дают либо полосы только параллельные штрихам решетки, либо полосы невысокого качества. Предлагаемый дифрационный интерферометр позволяет получить полосы произвольной ориентации и хорошего контраста.На чертеже показан предлагаемый дифрак ционный интерферометр, В фокальных плоскостях двух встречных коллиматорных объективов 1 и 2 располокены параллельные дифракционные решетки 3 и 4. Между объективами расположен объект исследования б, изоб ражение которого переносится объективами 2 и б в плоскость фотопленки 7. Изображение источника света фокусируется на решетку 3.Астигматический элемент 8, помещенный вблизи решетки 3, представляет собой одиноч ную цилиндрическую линзу или комбинацию...

Номер патента: 301520

Опубликовано: 01.01.1971

Автор: Кандель

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, компаратор

...б, каретку 7 с устройством для наблюдения, например фотоэлектрическим микроскопом 8, неподвижный интерференционный отражатель 9, интерференционный отражатель 10, укрепленный на Зо каретке, плоскопараллельную прозрачнуюЛ= 21 з 1 п 1 1 При указанной выше толщине пластины Л = Л, т, е. при наклонах каретки происходит непрерывная автоматическая компенсация компараторной погрешности за счет изменения оптической плотности в одном из плеч интерферометра. пластину 11, вспомогательное зеркало 12, объектив 1 З и электронный счетчик 14 интерференционных полос.Предлагаемый компаратор работает следующим образом.Осветительное устройство 1 дает параллельный пучок лучей, разделяющийся на блоке б. Часть лучей, проходящая блок, направляется зеркалом 12...

Номер патента: 304427

Опубликовано: 01.01.1971

Автор: Гафанович

МПК: G01B 9/02

Метки: аттестации, криволинейных, поверки, поверхностей, прибор, эвольвентных

...измерения полярного угла и для интерферомстра измерения радиуса-вектора, благодаря чему можно наблюдать интерферсцццоццыс картины в белом свете прц разцостях хода 0,2 , 4 1, , 2 л 1 (где и=О, 1,2),Таким образом, образуется цнтерферецпцонцая шкала с интервалом делений в 21, реалцз емая ахроматическими полосами перецалохкенця; далее, попадая ца светоделцтельный элемент 6 ц светодслцтельцьш кубик 7, каждый луч разделяется ца две составляющих. 11 з светодслцтельцого элемента 6 в виде призмы Кестсрса оцц втходят двумя парал304427 фиг лсльвымц лучами, каждый цз которых, пройдя компснсатор 4 и попадая ца уголковые отражатели 3, возвращается в св" тоделительный элемент 5 и затем в зрительпую трубу, где и паблодагтся иптерферепционная...

Номер патента: 306339

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Скотников, Сухоруких

МПК: G01B 9/02

Метки: лучей, отклонения, света, углов

...исследованиях с помощью теневого прибора,Методом ножа и щели поле углов отклонения в исследуемой области определяется пу.тем обработки выполненных совместно снимков исследуемой и эталонной неоднородно.стей. В качестве эталонных неоднородностей,создающих эталонное распределение освещенности, используются наборы стеклянныхлинз или клиньев.Предложенный способэталонную освещенностьжеция теневого приборащения ножа Фуко изобъектива.Измерение углов отклонения луческой неоднородности производищим образом.Нож в приемной части теневого прибораустанавливают вне фокальной плоскости.Благодаря этому в поле зрения прибора создается эффективная линза (переходная ооласть освещенности) с фокусным расстояниемм э, определяемым по формулам длялинзовой и...

Номер патента: 309230

Опубликовано: 01.01.1971

Автор: Сухоруких

МПК: G01B 9/02

Метки: дифракционной, жесткой, картины

...оси в предм Р - радиус кривизнычволны после прокол- заднее фокусное рческой системы 6;5 - расстояние от предметной плсти до первой главной плостеневого прибора;ф - угол установки нити;)О - при расфокусировке нити пхода лучей. цилиндри бдения ли асстояние ескои нзы г; оптиплос- орой оско ост плосетную епростием, етной ив 0 Изобретцизионныхсо бами,Известньповоротаспособаминиях с погтых долейвание. нуто поти в созпри выугловым ы благоановленый экран т которо- нити. еневого прибора; ось Оу напра зующей цилиндрической волн сти прибора устанавливается иная нить 4, параллельная ст тия в экране 3.расфокусировки нити Л в й, чтобы геометрическая ос ной картины в плоскости изо ла перпендикулярна нити.каз 2676/16 Изд.1122 Тираж 473НИИПИ...

Номер патента: 314068

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Дрожжин, Химунин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометра, настройки, ультразвукового

...напряжения от перемещения рефлектора) с ее зер кальным изображением при возвратно-поступательном движении рефлектора, осуществляемом автоматически со скоростью порядка 0,5 лтлт/сек, при работе на частотах мегагерцевого диапазона.10 Изобретение поясняется чертежом, на котором представлена схема измерений.Реверсивный двигатель 1 типа РДчерезмикрометрический винт сообщает рефлектору поступательное движение. К валу двигателя 15 жестко крепится контактный диск 2, на кото.ром установлены контакты 3. При вращении диска ключ 4 переключается контактами 3, при этом разрывая или замыкая цепь питания обмотки поляризованного реле 5. Реле 5 2 о контактами б переключает обмотки реверсивното двигателя 1, а контактами 7 включает одну из...

Номер патента: 315102

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Коробкин, Тницкий, Якушев

МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...

Метки: диагностики, интерферометр, плазмы

...10, и,попадает на фотоумножители 24 и 25. Частота лазера 2 устанавливается в выбранные точки кривых пропускания резонаторов интерферометра. При изменении расстояния между зеркалами 5, б (или 9, 10) изменяется величина сигнала, снимаемого с фотоумножителя 24 (или 25). Это изменение усиливается усилителем 30 (или 31) и подается на пьезоэлектрик 32 (или 33), компенсирующий изменение длины резонатора лазера 1 (или резонатора 3),Однако при этом изменение интенсивности излучения лазера 2 воспринимается системой стабилизации как изменение пропускания резонаторов лазера 1 и интерферометра 3, т, е. как изменение их длин, и ложно компенсируется, Так как кривые пропускания резонатора лазера 1 и резонатора 3 различны, нарушается постоянство их...

Номер патента: 315909

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Панкин, Тонких, Яценко

МПК: G01B 9/02

Метки: иотеиа

...из любого материала с достато шо отполированной рабочей поверхностью. Пробное стекло помещают перед объ. ективом интерферометра и в окуляр наблюдают интерференционную картину.Визирную линшо окуляра наводят на одну из полос интерференционной картины, например самую темную, и при этом берут отсчет по делениям, нанесенным на головку винта перемещающего объектив.Затем убирают пробное стекло, на предметный столик помещают полупроводниковую пласпшу, наводят объектив на контролируемую поверхность до получения четкой интерференционной картины, одновременно с этим визирную линшо окуляра совмещают с той жеКорректоры: Н. Ф, Коваленкои Т А Бабакина Заказ 333619 Изд.1408 Тираж 473 ПодписноеЦНИИПИ Коъи 1 тета по делам изобретений и открытий при...

Номер патента: 323645

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Голубовский, Хорошкеев

МПК: G01B 9/02

Метки: 323645

...которыйпроходит пластину 4 и направляется на неподЗ 0 вижный отражатель 6, отражается от него и5 10 15 направляется вновь на пластину 4 где разделяется на два пучка, которые направляются на фотоприемники 14, 15. Пучок лучей, отракснный от гластины 4 проходит через систему зеркал, представляющую воздушную призму и состоящую из зеркального блока 8 и зеркала 9, отражается от подвжного отражателя 12 и снова проходит систему зеркал 8 и 9.При перемещении отражателя 12 вдоль оптической оси (в направлении оси У) происхо,дит смещс;шс пнтерференционных полос, которые рсгпстрируотся фотоприемниками 14 и Ы Наличие двух фотоприемников, получающих засветку от участков интерференционной картины, сдвинутых по фазе на 114 периода, позволяет...

Номер патента: 326443

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Хейфец, Шумилин

МПК: G01B 11/26, G01B 9/02

Метки: пентно-тсхшескаябиблиотека

...9 - 12, укрепленные на ннтерферометре, неподвижные двугранные зеркала 13 и 14, связанные с неподвижной частью блока, опорные зеркала 15 и 16, укрепленные на интерферометре, и приемное устройство 17.Зеркала 5, 6 и 13, 14 образуют отражательный блок.Работает предлагаемая система следующим образом.Параллельный пучок света от источника света 1 делится светоделительной пластиной 2 на две ветви, которые с помощью зеркал 3 и 4 направляются на подвижньге двугранные зеркала 5 и 6. Затем с помощью зеркал 9 - 12 оба пучка направляются на накрест лежащие по отношению к зеркалам 5 и 6 неподвижные двугранные зеркала 13 и 14, Затем, отразившись от опорных зеркал 15 и 16,326443 П р ед мет изобретения Составитель Л. Лобзов Техред 3. Тараненко дактор Г....

Номер патента: 330380

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Московский, Попов

МПК: G01B 9/02

Метки: диагностики, интерферометр, лазерный, плазмы

...стабилизаццц оптической длинь пассивного резонатора вклочает монохроматор 7, приемник 8 излучения, предварительный усилитель 9, основцой усилитель 10 и пьезоэлемент 5. Предварительный усилитель является усилителем постояч;ого тока, Оц юеет небольшой коэффициент усиления ц находтся рядом с приемником 8. Основноц усилитель также является усилителем постоянного тока. Его коэффициент усиления выбирается достаточно большим, Измерительный канал образован моцохроматором 7, приемником 11 излучения ц катодцым повтор - телем 12.Для регистрации ццкчов модуляции используется импульсный осциллограф 13. В пассивном резонаторе находится камера 14, в ко. торой образуется плазма лри действии разрядного устройства 15, от которого одновременно запускаются...

Номер патента: 332319

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Пур

МПК: G01B 9/02

Метки: вогнутых, выпуклых, гиперболических, интерферометр, качества, эллиптических

...поверхности; Ы - толщина плоскопараллельной пластинки; и - показатель преломления плоскопараллельной пластинки,Лучи, выходящие из оптического квантового генератора, фокусируются микрообъективом и образуют точечный источник света, расположенный от пластинки на расстоянииа= (2) где Рг и Р - геометрические фокусы (анаберрационные точки) контролируемых поверхностей.Лучи, идущие из точечного источника света, достигают пластинки и разделяются на два пучка: один из пучков построен лучами, отраженными от полупрозрачной поверхности пластинки, и образует эталонный сферический волновой фронт; другой пучок проходит через пластинку, достигает контролируемой поверхности, отражается от пее и вновь проходит через пластинку, но в обратном направлении,...

Номер патента: 335530

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Бабаджанов, Богданова, Гофман, Майоров, Цейтлин

МПК: G01B 9/02

Метки: двойным, изображением, интерференции, интерферометр, полос, света

...нулевое деление по черной ахроматической полосе (либо шкала смещается до совмещения с черной ахроматической полосой).Затем по смещению черной ахроматической полосы по аттестованной шкале зеркало 1 5 10 15 20 25 перемещается на заданную величину, соответствующую п нониальных совмещений, Затем включается вместо источника белого света 7, источник монохроматического света 1, плавно перемещается зеркало 3, точно совмещаются интерференционные полосы, наблюдаемые в призме двойного изображения б, Направление движения полос для совмещения выбирается в зависимости от определенного при аттестации знака разности Ь.Первое совмещение полос соответствует (с погрешностью в пределах тысячных долей микрометра) перемещению подвижного зеркала...

Номер патента: 339770

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Коломийцов, Новикова

МПК: G01B 9/02

Метки: линейных, микроинтерферометр, перемещений, поверхности

...зрачка микрообъектива 5 и расположенный так, что ребро его перпендикулярно оси мпкрообъектива 5 и параллельно оси микрообьектива б, и компенсационную ,плоскопараллельную пластину 10, перекрывающую половину зрачка микрообъектива б. Работает микроинтерферометр следующим образом.Выходящий из объектива коллиматора параллельный,пучок лучей разделяется кубиком на два пучка, которые микрообъективами 5 и б собираются на,поверхности эталонного зеркала и поверхности контролируемой детали 11, образуя изображение светящегося верстия 3. Отраженные пучки света идут ратно по прежним направлениям, соединяю разделительным кубиком и попадают в 3 тельную трубу, в фокусе которой наблюдают интерференционную картину.Для получения интерференции вте...

Номер патента: 339771

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Телешевский

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, фазовый, фотоэлектрический

...волновое число,/,Х - длина волны света,х, 2 в направлен распространениясигеальной и опорной волн соответственно.Сцгцальцая волна от точки выходя (пластина2) из оптической схемы интерферометра доточки обратного входа в схему (зеркало 18)проходит путь, равный 2 Е+1., изменяющийсяпри перемещении отражающей призмы 5,где Е - постоянный путь волны в призме. Следовательно сигнальцая волна 12 сца входеоптической схемы интерферометра выряжается в виде:1 с (2 Рс( - 2(сЕ - 2 И )1 - са в фокальной плоскости линзы 104,.с (2 с Ео 1- -сЕ 1 - Ес 1 ф5 10 20 5где б - фазовые набеги сигнальной волны ч,промежутке от зеркала 13 до фокальной плоскости линзы 10 (/плоскости щели 11) и в призме 5, имеющие постоянную величину.Опорная волна 3 претерпевает...

Номер патента: 339772

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Дтег, Клочкова, Контиевский, Холопова

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, качества, оптических, плоских, поверхностей

...интерференционную картину, чем в известныхинтерферометрах,На чертеже показана схема предлагаемогоинтерферометра.Интерферометр включает осветительную си 15 стему 1 и наблюдательную систему 2, В осветительную систему входят источник 3 излучения, конденсор 4, диафрагма 5, объектив б,светоделитель 7 и зеркало 8, Наблюдательнаясистема включает зеркало 9 светоделитель 10,20 объектив 11 и диафрагму 12.Оптическая ось осветительной системы иоптическая, наблюдательность системы составляет различные углы с контролируемой плоскостью 13.25 Предлагаемый интерферометр работает следующим об р а вом.На контролируемую поверхность падаютдва пучка лучей, Углы падения этих пучковравны т 1 и 4. Интерференционная картина30 изучается наблюдателем, находящимся...