Патенты с меткой «дифракционной»

Номер патента: 120949

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Алексеев, Багдыкьянц

МПК: G01N 23/02, H01J 29/84

Метки: дифракционной, некогерентно-рассеянных, устранения, фона, электронов, электронографии

...скорость и могущих вызвать неправильную работу регистрирующего устройства.Схематическое изображение устройства, выполненного по описываемому способу, приведено на чертеже.Электронный пучок 1 проецирует диффракционную картину образца 2 на экран, Из диффракционной картины с помощью диафрагмыдвыделяют узкий пучок 4 электронов. Прошедщие диафрагму 4 электроны120949 Предмет изобретения 1. Способ устранения фона от некогерентно-рассеянных электронов при диффракционной электронографии посредством диафрагмы, имеющей высокий отрицательный потенциал, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью устранения искажений в распределении интенсивности когерентного рассеяния, пучок рассеянных в результате диффракции электронов перемещают относительно...

Номер патента: 124672

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Королев

МПК: G01J 3/18

Метки: дифракционной, монохроматор, плоской, решеткой, спектрограф

...Отраженном от сфереского зеркала,Предлагаемып монохроматор отличается от известных приборов подобного рода тем, что его плоская дпфракцпонная решетка установлена в сходяшсмся пучке, отраженном от сферического зеркала. Такое выполнение прибсра даст возможность упростить оптическую схему и юстировку прбора,г 1 а фиг. 1 и 2 изображены оптические схемы описываемого прибора в двух вариантах.Прибор содсркит входную щелсвую диафрагму 1 (фиг, 1), вогнутое зеркало 2, в фокальпой плоскости которого находится выходная щелевая диафраМа 3, и п;Осыю дирракциопную решетку 4. Дифракционная рсше 1 ка 4 установлена В сходящез 1.-я п 5 ке сета, посылае 10 м Вогнутым зеркалом 2, что дает Возможность о; ранпчиваться в "хеме только одним Отр 115 кс 1111...

Номер патента: 146531

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Филатов

МПК: G02B 5/18

Метки: дифракционной, модель, решетки

...прозрачные целлулоидные линейки 5 и б. Расстояние между осями меньше ширины линеек, поэтому линейки наложены друг на друга. На линейках нанесены поперечные черные штрихи с интервалами, равными толщине штрихов. Пластины, после установки линеек, скрепляются по углам болтиками 7 с прозрачными шайбами, поставленными между пластинами для обеспечения свободного перемещения линеек.Для объяснения принципа действия дифракционной решетки модель посредством проекционного фонаря проектируется на экран. В вертикальном положении, соответствующем центральному изображению, штрихи на обеих линейках совпадают. При отклонении линеек в сторону от вертикального положения поперечные штрихи смещаются относительно друг друга. В некотором положении линеек...

Номер патента: 272603

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Васильев, Ершов

МПК: G01B 9/02, G02B 5/18

Метки: дифракционной, интерферометр, решеткой, фазовой

...Нлевой максимум раснрострацяется так же. как распростра цялся бы свет при отсутствии дифракцпоццойрешетки. Остальные максимумы отклонены от нулевого на некоторый угол.Поскольку изображения когерецтцы, то притталокетттти имеет место обычная ицтерферен ционная картина, характерная для двух лхчевых иптерферометров. Она позволяет измерять разность хода световых лучей, вносимую нсс,ттед смой ттеодцородностью.Качество тттттертЬеретттттоттттотт картины зави сит от амплитуд ицтерферпрующих волн. Лляболыттетт освещенности амплитуды волн должны быть достаточно велики, а для достаточно высокой контрастности полос амппитуды должны быть близки дрг другу. При этом необхо димо, чтобы решетка дчя оптимальных условий интерференции двл схем пулевого и...

Номер патента: 309230

Опубликовано: 01.01.1971

Автор: Сухоруких

МПК: G01B 9/02

Метки: дифракционной, жесткой, картины

...оси в предм Р - радиус кривизнычволны после прокол- заднее фокусное рческой системы 6;5 - расстояние от предметной плсти до первой главной плостеневого прибора;ф - угол установки нити;)О - при расфокусировке нити пхода лучей. цилиндри бдения ли асстояние ескои нзы г; оптиплос- орой оско ост плосетную епростием, етной ив 0 Изобретцизионныхсо бами,Известньповоротаспособаминиях с погтых долейвание. нуто поти в созпри выугловым ы благоановленый экран т которо- нити. еневого прибора; ось Оу напра зующей цилиндрической волн сти прибора устанавливается иная нить 4, параллельная ст тия в экране 3.расфокусировки нити Л в й, чтобы геометрическая ос ной картины в плоскости изо ла перпендикулярна нити.каз 2676/16 Изд.1122 Тираж 473НИИПИ...

Номер патента: 315104

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Генкин, Горьковский, Макарычев

МПК: G01N 23/207, H05G 1/02

Метки: дифракционной, изображений, монокристаллов, развертки, рентгеновской, топографии

...в предложенном устройстве для развертки изображений при рентгеновской дифракционной топографии монокристаллов, содержащем рентгеновскую трубку, коллиматор, рентгеновский гониометр с держателем кристалла и кассеты с фотопленкой, рентгеновская трубка с укрепленным на ней коллиматором и рентгеновский гониометр с кристаллодержателем и кассетой с фотопленкой установлены на поворотных устройствах, соединенных с приводом синхронного поворота одного относительно другого в процессе топографирования кристалла.11 а фпг. 1 представлена принципиальная схема устройства; на фиг. 2 - схема падения луча и перемещения монокрисгалла в процсссе топографпрования.Устройство содержит рентгеновскую трубку 1 с коллиматором 2, установленные в поворотном...

Номер патента: 358611

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Белозеров, Спорник, Яничкин

МПК: G01B 9/02

Метки: дифракционной, интерферометр, решеткой

...получать переменную величину и направление сдвига волновых фронтов при различной ширине и ориентации интерференционных полос,Схема предложенного интерферометра показанн а н а чертеже.Интерферометр содержит источник света 1, объектив 2 осветительной части, объектив 3 приемной части, дифракционные решетки 4, б и экран б.Световые пучки, сформированные объективами 2 и 3, дифрагируют сначала на решетке 4, Нулевой порядок дифрагированного светового пучка, прошедшего через решетку 4, дифрагирует на решетке б. В результате взаимодеиствия световых пучков, дифрагированных на обеих решетках, в первых порядках дифракции одного знака образуется интерференционная картина. Ширина интерферен ционных полос зависит от шага дифракционных решеток и...

Номер патента: 399936

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Артемов, Иремашвили

МПК: H01J 37/26

Метки: дифракционной, картины, регистрации

...пушки медленных электронов, а коллектор электронов, 20 например цилиндр Фарадея, перемещают вдоль оси, проходящей от середины к краю экрана, до совмещения с анализируемой точкой дифракционного поля.На чертеже приведена схема устройства, 25 позволяющего реализовать предложенный способ.Устройстский флуопротив кот во содержит поворотный сферичересцирующий экран 1 со щелью, орой помещен коллектор 2. Кол лектор, электрически изолированнын от экрана 1, поворачивается вместе с экраном и, кроме того, перемещается вдоль щели. Исследуемый кристалл 3 бомбардируется пучком медленных электронов, формируемых пушкой 4. Стрелками показаны направления вращения экрана и перемещения коллектора 2.Для абсолютного измерения интенсивности анализируемой...

Номер патента: 361598

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Иностранцы, Хайнц, Хорст

МПК: G02B 5/18

Метки: дифракционной, оптической, решетки

...с оригиналом при их совместном повороте относительно падающего 5 света; на фиг, 5 - готовое изделие - фотопластина с треугольным рельефным профилем.Фотопластину 1 (см. фиг. 1) поворачиваютсветочувствительным слоем к оригиналу 2, 20 представляющему собой амплитудную решетку с прозрачными параллельными щелями 3 или интерференционными полосами. Фотопластину устанавлива 5 налом, на который падает п чок света 4, с минимальным чивающим свободное переме стины поперек щелей оригин микронривода, например пье О или магнитострикционного.361598 иг.У фиг 5 оригинала определяется необходимой точностью выполнения рельефного профиля.Для изготовления рельефной решетки перемещают фотопластину по стрелке А поступательно или вращают ее относительно оси,...

Номер патента: 446395

Опубликовано: 15.10.1974

Авторы: Брайнин, Емельянов, Козлов, Малышев, Семенов

МПК: B23Q 17/02

Метки: дифракционной, заготовки, подачи, привод, решетки

...1 ведущей каретки 2 и с ходовым винтом 16 делительной каретки 7,Ведущая каретка 2 ц делцтельная каретка7 связаны плоскими пружинами 21, Контроль за положением заготовки 22 осуществляется 30 пцтерферецционным растровым датчиком, состоящим из отражательной днфракционной решетки-шкалы 23, укрепленной неподвижно на станине 24 машины, и прозрачной дифракционной решетки-индекса 25, установленной на делительной каретке, Интерференционный датчик управляет работой электромагнитной муфты 26, установленной между храповым колесом 18 и червячной парой 20.Привод работает следующим образом.Вращение от электродвигателя 12 передается валу 11 с сидящими на нем кривошипами 3 и 8, и с помощью последних преобразуется в возвратно-поступательное движение...

Номер патента: 469942

Опубликовано: 05.05.1975

Автор: Лобачев

МПК: G02B 5/18

Метки: дифракционной, коэффициента, отражения, решетки

...выходной щели 5 и приемной площадки фотоприемника вокруг оси, совпадающей с центром дифракциоцной решетки 3, можно производить измерения при любых углах дифракции. За счет вращения дифракциоцной ре 1 петки 3 вокруг той же оси обеспечивается возможность осуществить измерения показателя отражения при любых углах падения излучения ца решетку 3.1 аким образом, предлагаемое устройство позволяет производить измерения при любых условиях работы дифракционной решетки. При установке вогнутых дифракционцых решеток входной объектив 2 занимает такое положение, при котором изображение входной щели 1, образованное объективом 2, совпадает с точкой, лежащей на круге Роуланда исследуемой вогнутой решетки. Для удовлетворения этих условий должно быть...

Номер патента: 485607

Опубликовано: 25.09.1975

Авторы: Иоханнес, Хайнц, Хорст

МПК: G02B 5/18

Метки: дифракционной, оптической, решетки

...решетка с треугольнымпрофилем.Устройство (фиг, 1 ) содержит лазеный источник света 1, линзу 2, диафрагму 3, шизу 4, а также два зеркала: полупрэзрачное 5 и отражаюнее Ь, Пучки7 и 8 света отражаются на фотопластину9 с фотослоем, ца который экспонируютсяинторферениоцсые полось 1,1: я изгэтозлешщ Опттческой дифракциэш 7 ой решетки с рельефным профилем, 485607например, треугольной формы (фиг, 3)экспонируют фотопластину 9 последовательно серией интерференционных полоспространственные частоты которых соответственно гармоникам высших порядков(фиг, 2 б, в и г) основной системы полосфиГ. 2 а находятся между собой в отношении целых чисел. Частота полос зависитот угла между пучками света 7 и 8, ко торый устанавливают поворотом...

Номер патента: 515195

Опубликовано: 25.05.1976

Автор: Ландау

МПК: H01P 3/20

Метки: дифракционной, образования, решетки

...является обеспечение возможности перемещения рещетки в продоль. ной плоскости.Для этого пересечениенепрерывно, а в качествезуют вещество с нелийейнфектом .например полимет 0 ф ула из тения лучей образуютдиэлектрика испольым оптическим эфилмегакрилат ,Спосо ки пу.ем ,магнитнь лича образования дифрабеспечения пересечлучей в слое диэлщийся тем,чя возможности пер кционной решеэения электро трика, о тобеспечен продольно образуют грика исп оптически мешения ее вение лучей плоскости, пересенепрерывно, а в качльзуют вещество см эффектом, напримтестве диэлеквлинейным нное для содержит ую с ним лиза-,р полям иче мегакрила На чертеже приведена с процесс образования дифра 1 о предложенному способу,Устройство, предназнач аии предложенного способа вый...

Номер патента: 569845

Опубликовано: 25.08.1977

Авторы: Королев, Меньшикова

МПК: G01B 9/02

Метки: аберраций, волновых, дифракционной, изображения, интерферометр, качества, оптических, систем, точке

...установлена линза 15 и вин товой окулярный микрометр 16.30Предлагаемый интерферометр работает следующим образом.На вогнутой алюминированной поверхнос ти зеркала 5 выполнено дифракционное от верстие, которое освещено через линзу 2 сфокусированным плоскополяризованным пуч ком света из оптического квантового генератора 1 непрерывного действия. Сферическая световая волна, возникающая на дифракционном отверстии, распространяется в боль с) шом телесном угле и попадает в объектив 3 коллиматора и в объектив. 11 системы не блюдения. После объектива 3 волна прохо дит через 1 иафрагму 4 и плоскопараллельную пластинку 7, вырезанную из кристаллического кварца и имеющую разность хода (2 + 1), Размер диафрагмы 4 равен диа.Лметру зрачка...

Номер патента: 720349

Опубликовано: 05.03.1980

Авторы: Безирганян, Дрмеян, Эйрамджян

МПК: G01N 23/20

Метки: дифракционной, микрорентгенографии

...рентгеновского пучка через установленный в отражающее положение тонкий монокристалл и фотографической регистрации дифрагированногоизлучения г 1. Однако разрешающая способность такогоспособа недостаточна.Цель изобретения заключается в том, чтобы повысить раэрешание получаемой дифракцнонной картины.Эта цель достигается тем, что по предложенному способу дифракцнонной микрорентгенографии, заключающемся в том, что на исследуемый монокристалл, установленный в отражающее положение, направляют коллимированный пучок монохроматического рентгеновского излучения н регистрируют дифрагированный пучок, последний дополнительно пропускают через установленный в отражающее положение совершенный монокрнсталл, толщина которого выбрана иэ условия нормального...

Номер патента: 734510

Опубликовано: 15.05.1980

Авторы: Викефельд, Кузьмин, Сандхольм, Форсштрем

МПК: G01J 3/06

Метки: дифракционной, поворота, решетки

...участок радиусом В, эксцентричный оси 3 рычага, устано ленной в подшипниках. Рычаг приводится в движение гибкой лентой 4, жестко связанной с рычагом 2, и натянутой пружиной 5, Гибкая лента закреплена на колесе б, установленном на валу шагового электродвигателя 7. При надлежащем выборе радиуса в, расстояния между центром цилиндрического участка рычага 2 и осью 3, расстояния между осью электродвигателя 7 и осью 3 рычага 2, радиуса колеса б и длины ленты 4 поворот электродвигателя 7 обеспечивает приближенно синусоидальную зависимоств поворота дифракционной решетки 1734510 Формула изобретения Составитель В, ТраутТехред Н. Бабурка Корректор А. Гриценко Редактор Т, Орловская Тираж 713 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета СССР...

Номер патента: 737981

Опубликовано: 30.05.1980

Авторы: Наумчик, Саржевский

МПК: G09B 23/22

Метки: демонстрации, дифракционной, изображения, микроскопе, прибор, природы, учебный

...ЗО" нии, перпендикулярном направляющимскамьи, При этом корпус щели может . поворачиваться вокруг оси полого крон. штейна.Откидная линза и окуляр укреплены на общей площадке 51 с кронштейном 52 и осью 53 поворота откидной линзы,Учебный прибор работает следующим образом.Посредством винтов 1 б и 18 фиксируют объектив 28 и окуляр 31 с откидной линзой 30 в"положении, при"котором их главные оптические оси совпадают. Винтом 17 Фиксируют щель. в по"-ложении, в котором ось полого кронштейна 29 совмещается с оптической осью мйкроскопа, а винтом 15 фиксиру ют объект в положении, в котором ось микросКопа пересекает объект.Свет от лазера посылают вдольоптической оси в направлении объекта, указанном стрелкой на фиг,.1, С противоположной стороны...

Номер патента: 817552

Опубликовано: 30.03.1981

Авторы: Безирганян, Дрмеян

МПК: G01N 23/20

Метки: дифракционной, микрорентгено-графии, монокристаллов

...схема увеличения интерференционных картин с движущейся щелью; на фиг. 2 - схема получения рентгеновских топограмм,Первичный рентгеновский пучок 1 падает под углом Вульфа-Брегга на интерференционную систему из тонких монокристаллов 2, Дифрагированный пучок 3 падает на совершенный .монокристалл 4, толщина которого выбрана из условия нормального прохождения рентгеновского излучения и который установлен в. отражающее положение. На пути пучка 3 установлена щель 5. Прошедший через совершенный монокристалл 4 пучок регистрируется на фотопленке 6. При этом производят синхронное перемещение щели 5 и817552 талла пучка; тличаюнирование исуществляют установленной совершенным дифрагировантличаюнирование исуществляют пу" осительно мацки,и...

Номер патента: 842428

Опубликовано: 30.06.1981

Авторы: Кельман, Родникова

МПК: G01J 3/18

Метки: дифракционной, монохроматор, решеткой

...плоскости лежат оси объективов кол,1 йаторной и фокусирующей частей приРФЬра. Сплошными линиями показан ход йучей, лежащих в средней плоскости, штриховой линией - проекции на эту плоскость луча, идущего под наклоном к ней.Устройство работает следующим образом.Расходящийся пучок света, идущий из входной щели монохроматора 1, преобразуется коллиматорным объективом 2 в параллельный пучок и поступает в телескопическую систему цилиндрических зеркал 3 и 4. Затем пучок падает на дифракционную решетку 5 и после дифракции собирается фоку сирующим объективом 6 на выходную щель монохроматора 7.Телескопическая система цилиндрических зеркал дает искривление спектральных линий монохроматора, исполь зуемое для компенсации искривления линий,...

Номер патента: 863305

Опубликовано: 15.09.1981

Авторы: Куинджи, Стрежнев

МПК: B23Q 17/02

Метки: дифракционной, заготовки, ориентирования, позиции, рабочей, решетки, тороидальной

...дифракционной решетки, по которой производится деление решетки, ОО - нормаль к поверхности заготовок СЬС и Сшося;- ширина участка заготовки С ОСн решетки, подлежащего делению; А и В - отступления асферической по-. 15 верхности с одной плоскостью симметрии от сферической в меридиональной плоскости на краях заготовки решеткиф д. - угол, на который заготовку асферической поверхности дополни тельно поворачивают вокруг оси,проходящей через ее геометрический центр параллельно движению рабочего органа.Ориентирование на рабочей позиции заготовки асфернческой дифракционной решетки с одной плоскостью симметрии по предложенному способу производят в следующей последовательности,Заготовку асферической дирракци" онной решетки в положении дОС...

Номер патента: 705986

Опубликовано: 30.03.1982

Авторы: Волков, Лысогоров, Мизеров, Портной, Смирницкий

МПК: G02B 5/18

Метки: дифракционной, монокристалла, поверхности, решетки

...шагом и различными углами блеска. Решение этой проблемы позволяет существенно расширить спектральный интервал таких приборов, что ведет к расширению круга задач, решаемых,ими. Кроме того, при создании целого ряда интегрально-оптических и оптоэлектронных приборов возможность получать решетки с различными углами блеска позволяет направленно изменять их основные характеристики.Предлагаемый технологический процесс изготовления решетки заключается в следующем.Изготавливают монокристалл (подложка будущей решетки) с исходной кристаллографической плоскостью, наиболее устойчивой к какому-либо химическому травителю (аналогично устойчивой к фотохимическому травителю или устойчивой при ионно-плазменном распылении).705986 Рабочую поверхность...

Номер патента: 949348

Опубликовано: 07.08.1982

Авторы: Куинджи, Саамова, Совина, Стрежнев

МПК: G01J 3/40

Метки: дефекта, дифракционной, изображения, интенсивности, образуемого, относительной, решеткой, спектрального

...путем наклона апертурной диафрагмы, установленной перед решеткой, относи", тельно направления ее штрихов до разделения дефекта спектрального изображения от изображения вторичных дифракционных максимумовизмеряют интенсивность дефекта, выделяют вто ричный дифракционный максимум, рав" ный по интенсивности дефекту спектрального изображения, определяют положение этого максимума относи"8 фтельно спектральной линии, а относительную интенсивность 1 ь дефекта спектрального изображения вычисляют по формуле где х - расстояние между положениемвыделенного вторичного дифракционного максимума и спектральной линии;А - ширина заштрихованной поности решетки;1 - длина штрихов заштрихованной поверхности;3 - угол дифракции света от решетки;- фокус...

Номер патента: 1127744

Опубликовано: 07.12.1984

Авторы: Куинджи, Стрежнев

МПК: B23Q 17/02

Метки: дифракционной, заготовки, ориентирования, позиции, рабочей, решетки, тороидальной

...образую" щие плоский прямоугольник, расположенный симметрично относительно цент. ральной эоны (отверстия) Е с радиусом кривизны г, не подлежащей к нанесению штрихов.С - центр плоского прямоугольника, совпадающий в плане с центром О отверстия, Р С - нормаль к плоскости прямоугольника в его центре С.Ориентированиена рабочей пози" ции заготовки вогнутой сферической дифракционной решетки производят в следующей последовательности.Заготовку 1 устанавливают на рабочей позиции - столике делительной каретки делительной машины (не показан). На заготовке выбирают три точки А,В,С, образующие плоский прямоугольный треугольник, и четвертую О, дополняющую треугольниК до прямоугольника так, что все четыре точкй А,В,С,Э прямоугольника совпадают с...

Номер патента: 1144074

Опубликовано: 07.03.1985

Авторы: Гримблатов, Калиниченко, Салистра

МПК: G02B 5/18

Метки: динамической, дифракционной, объемной, решетки

...а облучение осуществляют одним пучком при температуре жидкого азота.Способ осуществляется следующим образом.Излучение, падающее на входную грань подложки из компенсированного полупроводника, дифрагирует на плоской амплитудной решетке, в результате чего в объеме подложки образуется периодическое распределение интенсивности 1(х). При этом в области геометрической тени плоской амплитудной решетки величина 1(х) меньше; чем под ее щелями. Чтобы не допустить размытия дифракционных порядков в объеме полупроводника из-за многократных отражений от граней, их просветляют на рабочую длину волны. Просветление входной грани, кроме того, увеличивает контрастность плоской амплитудной решетки как отражающего, так и поглощающего типа. Таким образом,...

Номер патента: 466798

Опубликовано: 23.03.1985

Авторы: Аблеков, Фролов

МПК: G03C 9/08

Метки: восстановления, дифракционной, картине, объекта

...картина. На Фотопластинке 9 фиксируют дифракционную карти-;ну, которая формируется волной,рассеянной объектом и прошедшей через дифракционную решетку. Формирование однолучевой голограммы такжеможет осуществляться путем последовательной записи волн: искаженной инеискаженной объектом (метод двухэкспозиций),Восстановление однолучевой голограммы достигается посредством просвечивания ее когерентным лазернымизлучением и фильтрации соответствующего дифракционного порядка.Способ реализован по схеме,изображенной на Фиг, З,а. Здесь 13 -466798 4объект, 9 - фотопластинка. Объект 13освещается параллельным пучком когерентного света.Восстановление однолучевой голограммы 5, сформированной на Фотопластинке 9, проводилось по схемефиг 3,6. Здесь 1 -...

Номер патента: 1267334

Опубликовано: 30.10.1986

Авторы: Власенко, Назаренков, Стерлигов

МПК: G02B 5/18

Метки: голографической, дифракционной, процесса, решетки

...интенсивность 50 в том первом порядке дифракции одного из пучков, который совмещен со вторым порядком дифракции второго пучка. Данный способ позволяет использовать для контроля решетки тот , 55 же лазерный источник, который используется для ее изготовления, однако по указанным причинам, интервал пространственных частот ограничен ив этом случае.Цель изобретения - расширение области пространственных частот решетки до предельно возможных для даннойдлины волны записи .Поставленная цель достигается тем,что в способе контроля процесса изготовления голографической дифракционной решетки, включающем измерение интенсивности в первом порядкедифракции одного из пары пучков, которые интерферируют и дифрагируют наповерхности изготавливаемой...

Номер патента: 1272160

Опубликовано: 23.11.1986

Авторы: Дегтева, Сулабе, Тихомиров

МПК: G01N 1/28, G01N 1/36

Метки: дифракционной, исследования, микроскопе, образца, приготовления, решетки, электронном

...заключается в следующем. 1 ОНа поверхность дифракциоиной решеткичерез заслонку в вакууме напыляют углерод толщиной 1 О - 20 нм. Заслонка необхо.дима для получения более прочного слоя.Для уменьшения времени изготовления реп.лики желательно дополнительно напылить15углерод без использования заслонки такойтолщины (30 - 40 нм), чтобы прн перегибе реплика не рвалась, После напыленияуглеродную реплику отделяют от поверхности решетки с. помощью желатина. По 2 овысохшей поверхности желатина делают разметку образца, одна из сторон которогопараллельна линии перегиба, перпендикулярной направлению штрихов решетки. Далеевырезают образец, отмывают его от желатина в дистиллированной воде и вылавливают на ребро сетки-подложки, подводя ееснизу под...

Номер патента: 1290065

Опубликовано: 15.02.1987

Авторы: Гингис, Ключников, Маренков, Новиков, Сухочев

МПК: G01B 21/00

Метки: дифракционной, решетки, ширины, штриха

...на друга блоком 4 деления.Ширина штриха дифракционной решетки 5 вычисляется по соотношениюЬ= - агс созу -7 ГГ% 7 цгде б - ширина штриха дифракционной решетки;Т - период дифракционной решетки;(/2 - амплитуда электрического сигнала,снимаемого с фотопреобразователя 2;Ь 3 - амплитуда электрического сигнала,снимаемого с фотопреобразователя 3,При измерении относительной неидентичности коэффициентов передачи фотопреобразователей 2 и 3 с помощью блока 4 деления находится величина ро, равная/2Ро -УЗгде У 2 и УЗ - амплитуды электрических сигналов, снимаемых с фотопреобразователей 2 иЗ.Затем фотопреобразователи 2 и 3 переставляются местами, т. е. фотопреобразователь 2 фиксирует интенсивность дифракционного максимума первого порядка, а...

Номер патента: 1345156

Опубликовано: 15.10.1987

Авторы: Кулешов, Шубников

МПК: G02B 27/48

Метки: дифракционной, эффективности

...освещающего пятна на образце может быть 55 осуществлено различными приемами, Если размер неоднородности известен заранее, то можно, например, сразу поместить образец на такое расстояние от фокальной плоскости устроиства, которое обеспечивает требуемыйразмер освещающего пучка на образце(равный или превышающий в заданноеколичество раз размер неоднородности) и которое может быть предварительно рассчитано по известным соотношениям или измерено экспериментально. Если же размер неоднородностей заранее неизвестен, то можносначала, перемещая образец, установить соответствие размеров освещающего пучка и неоднородностей, наблюдая картину дифракции пучка на образце. В случае, если освещающеепятна меньше или равно размеру неоднородности,...

Номер патента: 1497605

Опубликовано: 30.07.1989

Авторы: Куинджи, Саамова, Стрежнев

МПК: G02B 5/18

Метки: волны, дифракционной, длины, концентрации, максимуме, решетки, энергии

...от клина 2, Затем поворачивают решетку 3 вокруг оси, 10 параллельной ее штрихам, до совмещения пучка 6, отраженного от решетки в К-м порядке спектра, с пучком 5. Перемещением клина 2 в направлении изменения его плотности уравнивают 15 интенсивности пучкой 5 и 6 и по градуировочной кривой фотометрического клина 2 определяют его плотность РГкф соответствующую положению уравнивания интенсивности пучков 5 и 6, Затем 20 поворачивают решетку 3 вокруг оси9 параллельной ее штрихам до совмещения пучка 7, отраженного от решетки 3 в К+1-м порядке спектра, с пучком 5. Перемещением клина 2 уравнивают интенсивности пучков 5 и 7 и по градуирЬвочному графику фотометрического клина определяют его плотность г к+сДлину волны Л, в максимуме...