G01B 9/02 — интерферометры

Номер патента: 1224568

Опубликовано: 15.04.1986

Автор: Болонин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционное, мер, штриховых

...опорный поток. От отражателя б световой поток через отражательные элементы 11 и 12 падает .на отражатель 7, а от него, пройдя через пластину 4 - на регистриРующий узел 5.Таким образом, световой поток проходит измеряемое расстояние четыре раза. Измерительный поток, прошедший через пластину 4, смеши-.вается с опорным потоком, отражен" ным этой пластиной 4, и образует на регистрирующем узле 5 интерференционную картину в виде полос. Пере- мещение оптических центров кажцого из отражателей б и 7 вдоль объекта 8 приводит к смещению интерференционных полос, соответствующему величине и направлению перемещения, Перемещение двух отражателей 6 и 7ЗО Интерференционное устройство дляизмерения штриховых мер, содержащеестанину, интерферометр,...

Номер патента: 1224569

Опубликовано: 15.04.1986

Авторы: Бернштейн, Воробьев, Потапов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, перемещения

...два слагаемых в Формуле(1) описывают постоянную составляющую, а третье - интерференционныеполосы.Если найравить ось Е по направлению перемещения, а ось Х такимобразом, чтобы направления распространения боковых пучков лежали в плоскости Х 02, то интенсивность интерФеренционных полос .в соответствиис формулой (1) описывается выражениями/1 (Х,Е) 2 Е,Е,соз(Х+ЕСд- ) +2 и Со 1 Ф (2)1 ,Х,2) 2 ЕЦсоэ 1-Л-(Х-Ей )+21 о- амплитуды и начальные Фазы центрального и боковых световых пучков соответственно.Положим для простоты, что Е,=Е =Е , и , Р,= У и получаем выраженйе для суммарной интенсивности в виде1(Х,2)1 (Х,2)+1 (Х,Е)2 тг, 2 Г ь4 Е соэ( - -Х)соз( Ейр- ). (4).л .Л 2Из формулы (4) следует, что амплитуда интенсивности интерференционной...

Номер патента: 1226041

Опубликовано: 23.04.1986

Авторы: Бубис, Канатов, Кузинков, Хорошкеев

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, поверхностей, цилиндрических

...преоб 11 узуется цилиндрической линзой 7.Коаксиальный цилиндрический мениск8, ось цилиндрических поверхностейЪкоторого совпадает с задней фокальной Яинией цилиндрической линзы 7,разделяет падающий на его волновойфронт на рабочий (прошедший черезнего) и опорный (отраженный от вогнутой поверхности мениска и образующий волновой Фронт сравнения), Рабочий волновой фронт собирается в1фокальную линию О, с которой Совмещается фокальная линия контролируемой цилиндрической поверхности 10,отражается от контролируемой поверхности, идет в обратном направлениии интерферицует с опорным, Интерференционную картину, несущую информацию об ошибках, контролируемой цилиндрической поверхности, наблюдают телескопической трубкой 9. 15 20 25 30 35 40 45 50 55...

Номер патента: 1227948

Опубликовано: 30.04.1986

Авторы: Бондарев, Бржозовский, Игнатьев, Мартынов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, перемещений

...объем интерфераметра, пучки отражаются двугранным отражательным зеркалом 12, после чего часть пучка П с частотой (д -Д, отклоненная полупрозрачным зеркалом 7, смешивается ца па. лупрозрачцом зеркале 8 с частью пучка 1 с частотой га, чта позволяет получить на фотоприемнике 13 сигнал опорной частоты Д, Часть пучка 1 с частотой и полупрозрачным зеркалом 9 направляется на уголкавый отражатель 15, установленный на контролируемом объекте, При прохождении излучением через уголковый отражатель его частота приобретает допплеравсЧкий сдвиг Л = 2 и- где Ч - скоСрость перемещения рабочего органа;- скорость света. На полупрозрачном зеркале 10 пучок с доплеровским сдвигом смешивается с частью пУчка 11 с частотойы -й, что позволяет получить на...

Номер патента: 1231400

Опубликовано: 15.05.1986

Авторы: Духопел, Иванова, Китаева, Лосев, Серегин, Соловьева, Терехина

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, качества, плоских, поверхностей

...падает на держатель 6 объекта,на котором устанавливается контролируемая 1 О деталь. После отражения от контролируемой поверхности рабочий пучок проходит светосоединитель 7, совме щается с образцовым пучком и интерферирует с ним. Затем оба пучка направляются зеркалом 8,в наблюдательную систему, объектив 9 которой формирует интерференционную картину в плоскости регистратора 2. Линза 11 вводится с помощью узла 1 О в поток излучения интерферирующих пучков так, что в,плоскости 12 наблюдается совпадение изображений зрачков рабочего и образцового пучков интерферометра. Совмещение изображений зрачков осуществляется поворотом держателя, 6 относительно. двух взаимно перпендикулярных осей, лежащих в плоскости, параллельной зеркальномуэлементу 5....

Номер патента: 1239515

Опубликовано: 23.06.1986

Авторы: Горшков, Иванов, Кряхнутов, Лозбенев, Пуряев, Фомин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, оптических, плоских, поверхностей, формы

...автономногорегулирования давления в ней. Узел 5крепления системы формирования сферического волнового фронта выполнен в виде пласкопараллельной пластины с отверстием в центре, расположенной под пластиной 7 параллельной ей,Интерферометр работает следующимобразом.Осветительная система 3 формируетпараллельный пучок лучей и направляет его в систему 4 формирования сферического волнового фронта. Система 4 формирует из параллельного пучка лучей сферический волновой фронт,15 25 30 35 40 45 центр которого совпадает с фокусомсферического зеркала 6. Последнеепреобразует поступающий на него сферический вопновой фронт в плоскийволновой фронт, распространяющийсяв направлении нормалей к свободнойповерхности слоя 8 прозрачной вязкойжидкости....

Номер патента: 1241060

Опубликовано: 30.06.1986

Авторы: Гусев, Шумилин

МПК: G01B 9/02

Метки: амплитуды, интерферометрах, лучей, периодической, разности, хода

...осуществляемой дополнительным модулятором 19. Контроль совмещения фазы производится по максимуму амплитуды 060прихода с блока 18 управления импульсазапуска. При этом на экране осциллографа 16 фаза синхронизированного изоб=ражения с интерферометра начинает 5изменяться по пилообразному закону.В момент, когда изображение на осцил-лографе 16 достигает световода 13, нафотоприемник 14 попадает световойсигнал, который вырабатывает на еговыходе импульс запуска счетчиков 12и 15 и тактовый импульс, поступающийв блок 18 управления.Далее изображение сигнала с изменяющейся фазой движется в обратномнаправлении и второй раз пересекаетточку контакта световода 13 с экраном осциллографа 16. Возникающийпри этом импульс на выходе фотоприемника 14...

Номер патента: 1245872

Опубликовано: 23.07.1986

Авторы: Гойко, Константиновская, Флейшер

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, крупногабаритных, оптических, поверхностей, формы

...по радиусу грузами и закреплен на кронштейне 8. Оптическийблок 1, зеркала 2 и 3, узел 4 сменных вспомогательных объективов в оправах, пробное стекло 5 объединеныобщим кронштейном 8, шарнирно закрепленным на рычаге разгрузочного механизма 10 и снабженным механизмом 9 ,10динамической балансировки, Рычаг, всвою очередь, закреплен на верхнейчасти стойки 11, на которой расположена каретка 6 со шпинделем 7 длякрепления контролируемой детали 13.Каретка 6 установлейа на направляющихи может с помощью механизма12 плавно перемещаться вдоль контролируемого диаметра детали 13. Кронштейн 8 находится в постоянном контакте с контролируемой деталью 13посредством трех опор, вмонтированных в оправу пробного стекла 5.Интерферометр работает...

Номер патента: 1245878

Опубликовано: 23.07.1986

Автор: Икрянов

МПК: G01B 11/26, G01B 9/02

Метки: интерференционный, угломер

...от осветителя 1,пройдя светоделительную призму 2,разделяется на два. Один из них направляют на опорный отражатель 3 интерферометра Майкельсона, а другой -в зеркальный ромб 7., Зеркальныйромб смещает пучок лучей параллельно падающему и направляет его навходное зеркало первой пары и-угловых зеркал 9 отрицательного блока 8.Отраженный от него пучок, пройдязеркальную трапецию 12, попадает напервое угловое зеркало второй парып-угловых зеркал 10 отражательногоблока, которое возвращает его наугловое зеркало первой пары и-угловых зеркал 9, которое возв 1 ращаетпучок на второе угловое зеркало вто.рой пары угловых зеркал 10. После п-отражений пучка между угловыми заркалами 9 и 10, пройдя при этом каждый раэ зеркальную трапецию, направляют его на...

Номер патента: 1249322

Опубликовано: 07.08.1986

Автор: Тарханов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: выпуклых, интерферометр, оптических, поверхностей, сферических, формы

...11, установлен ные в рабочей ветви, и регистратор 12 интерференционной картины,Столик 10 установлен на опоре 13 с возможностью наклона относительно центра 14, совпадающего с задним фокусом объектива 5 эталонной ветви. Эталонная деталь 8 установлена на столик 10 и расположена на оси пучка между объективом 9 и его фокусом в рабочей ветви, Плоскость зеркала 7 находится на пересечении осей рабочей и эталонной ветвей, Опора 13 помещена на основании 15.Интерферометр работает следующим образом.Перед началом контроля в столик 10 устанавливают детали 8 и 11 со сферическими выпуклыми поверхностями. Затем центры кривизны поверхностей совмещают с центром вращения столика 10 и задними фокусами объективов 9 и 5. Источник 1 монохроматического света и...

Номер патента: 1255855

Опубликовано: 07.09.1986

Авторы: Арефьев, Безруков, Васильева, Жилкин, Зайцев, Ипполитов

МПК: A61B 5/10, G01B 9/02

Метки: контуров, лицевой, области, сечений, челюстно

...датчик 22 угла поворотаНа столе 3 с помощью крепежно-юстировочных механизмов 23-25 закреплен подголовник 26, предназначенный для размещения на нем головы пациента, причем с помощью крепежно1255855 10 50 юстировочных механизмов обеспечивают такое положение головы, чтобы приповороте шарнирно-рычажных параллелограммов вокруг оси стержня 1 внаправляющих 2 и 2 вправо и влевоона= + 90 относительно плоскости симметрии головы лазерный пучокпопадал соответственно на правую илевую козелковые точки головы пациента.Устройство для определения контуров сечений челюстно-лицевой области используют следующим образом.Пациента располагают на столе 3,затем голову пациента укладывают на 15подголовник 26 и при помощи крепежно-юстировочных механизмов...

Номер патента: 1260674

Опубликовано: 30.09.1986

Авторы: Авелан, Михайловский, Рачков, Румянцев

МПК: G01B 11/00, G01B 11/26, G01B 9/02 ...

Метки: интерферометр, линейных, объекта, перемещений, угловых

...йазера, делится на два пучка светоделительной гранью 6 призмы 2. Один из образовавшихся пучков направляется к отражателю 3, причем направление его распространения нормально отражающей большей грани 8 призмы 2 лишь в том случае, когда угол Ы равен углу М з (как углы со взаимно перпендикулярными сторонами) и 1= с= М = Ч (1)Второй пучок преломляется светоделительной гранью 6 и проходит к отражающей меньшей грани 7 призмы, которая направляет его к отражателю 4. Для того, чтобы второй световойпучок встречался с большей гранью8, имеющей зеркальное покрытие, подпрямым углом, необходимо, чтобы выполнялось равенство М, = К, (углы 5 со взаимно перпендикулярными сторонами). Так как угол , равен углу м,то, следовательно, Ф= й = м(2).Ввиду того, что...

Номер патента: 1260676

Опубликовано: 30.09.1986

Авторы: Пуряев, Романов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, оптических, поверхностей, формы

...за объективом 5 и ориентировано так, что его вогнутая поверхность обращена к объективу 5, объектив 5 выполнен в виде плосковогнутой линзы с асферической вогнутой поверхностью и ориентирован так, что вогнутая поверхность обращена к вогнутому зеркалу.8 - контролируемая деталь.ьОбъектив 5 (фиг. 2) может быть выполнен в виде плосковогнутой и менисковой линз 9 и 10, плосковогнутая линза ориентирована так, что ее вогнутая поверхность обращена к выпуклой поверхности менисковой линзы 10, менисковая линза ориентирована так, что ее вогнутая поверхность обращена к вогнутому зеркалу.Интерферометр работает следующим образом.Излучение от источника 1 поступает через телескопическую систему 2 на светоделитель 3, делящий падающий на него поток на два....

Номер патента: 1260677

Опубликовано: 30.09.1986

Автор: Степин

МПК: G01B 11/27, G01B 9/02

Метки: интерференционный, оптической, поверхности, формы

...4, формирующую оптическую систему 5, концентрический мениск 6 с эталоннойсферической поверхностью 7, деталь8 с контролируемой цилиндрическойповерхностью 9, каретку 10, экраны11, регистрирующую систему 12.Осуществляется интерференционныйспособ контроля формы оптическойповерхности с помощью прибора следующим образом.Пучок лучей, прошедший от осветителя 1 через диафрагму 2 и отраженный от светоделителя 3, преобразуется коллимирующим объективом 4 в параллельный. Оптическая система 5 формирует сферическую волну и направляет ее в сторону мениска 6, одна иэповерхностей 7 которого служит эталоном, и сквозь его на деталь 8 сконтролируемой цилиндрической поверхностью 9. Фокус системы 5 совмещен с центром кривизны поверхности 7.Перед началом...

Номер патента: 1262276

Опубликовано: 07.10.1986

Авторы: Гусев, Степаненков

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометра, оптического, перемещения, элемента

...издвух частей 2 и 3, ведомый цилиндр 4, сопряженный с корпусом подвеской, выполненной в виде кольцевых мембран 5 и 6, ведущий цилиндр 7, сопряженный с ведомымцилиндром 4 подвеской, выполненной в видекольцевых мембран 8 и 9. На ведомом цилиндре закреплен оптический элемент 10, Ведущий цилиндр взаимодействует с механизмом принудительного перемещения, выполненным в виде приводного электродвигателя11, редуктора 12, профильного кулачка 3,двуплечего рычага 14, одно из плеч котороговзаимодействует с профильным кулачком, авторое выполнено вилкообразным и взаимодействует с ведущим цилиндром через ролики 2515 и 16. Обе части корпуса, ведущий и ведомый цилиндры размещены соосно. Устройство работает следующим образом.С помощью редуктора 12 и...

Номер патента: 1262277

Опубликовано: 07.10.1986

Автор: Чехович

МПК: G01B 21/00, G01B 9/02

Метки: границ, полосы

...относится к измерительной технике, может быть использовано в системах автоматизированного измерения линейных размеров микроструктур и фотоэлектрических микроскопах, и является усовершенствованием изобретения по авт, св.708145,Цель изобретения - повышение точности определения границ полосы за счет формирования переменных сигналов, серединыкоторых характеризуют положение границыизображения. На фиг. 1 приведена принципиальнаясхема устройства; на фиг. 2 - двухщелевая диафрагма; на фиг. 3 -- временные диаграммы, поясняющие работу устройства.Устройство для определения границ полосы содержит двухщелевую диафрагму 1, щели которой смещены по высоте и сдвинуты в направлении сканирования на ширину щели (фиг, 2), световоды 2 и 3,...

Номер патента: 1265473

Опубликовано: 23.10.1986

Авторы: Кайнер, Пучкова, Щербатых

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: визуальный, высот, диапазоне, заданном, микронеровностей, оценки, плоской, поверхности, шероховатости

...4 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для оценки шероховатости плоской поверхности в задан ном диапазоне высот микронеровнос. тей,Цель изобретения - повышение точности оценки и оценки не только плоских, а также и криволинейных поверхностей, путем повышения объективности оценки, поскольку оценивается наличие или отсутствие интерференционной картины, а также за счет использования жидкости в качестве элемента, предназначенного для получения интерференционной картины.Визуальный способ оценки шероховатости поверхности осуществляется: следующим образом.Предварительно подбирают ряд жидкостей, составляя его последовательно от жидкости, дающей интерференционную картину при наименьших...

Номер патента: 1268947

Опубликовано: 07.11.1986

Авторы: Воронцов, Иванов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, ротационного, сдвига

...для контроля волновых аберраций оптических систем,Целью изобретения является повышение точности, надежности измерений и упрощение конструкции интерферометраНа чертеже представлена конструкция интерферометра,Интерферометр представляет собойуголковый отражатель, выполненныйв виде триппельпризмы 1, а светоде.литель выполнен в виде полупрозрачной диэлектрическои пленки 2, нанесенной на основание триппельпризмы1, основание которой ориентированоперпендикулярно пучку 3 на выходеконтролируемой системы.Интерферометр работает следующимобразом,Исследуемая волна, попадая наоснование триппельпризмы 1, частично отражается диэлектрической пленкой 2 а частично проходит уголковый отражатель, испытывая поворот на180. В результате получаются дваповернутых...

Номер патента: 1275205

Опубликовано: 07.12.1986

Авторы: Бараш, Пресняков, Резников

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, линейных, объекта, перемещений

...изобретения - повышение чувствительности путем устранения паразитных вибраций, приводящих к разъюстировке.На чертеже представлена схема интерферометр а.Интерферометр содержит источник 1 излучения, светоделитель 2, два трехгранных уголковых отражателя 3 и 4, один из которых 4 установлен с возможностью перемещения в направлении, перпендикулярном излучению от источника 1, оба уголковых отражателя 3 и 4 смонтированы в другом потоке от светоделителя 2 диаметрально противоположно один другому, на отражателе 4 выполнено сечение с отражающим покрытием, параллельным основаник, фото- приемник 5, установленный в одном из потоков от светоделителя 2, который выполнен в виде куб-призмы на одну грань которой со стороны, противоположной источнику 1...

Номер патента: 1288498

Опубликовано: 07.02.1987

Авторы: Михайловский, Рачков, Смирнов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр

...оптическим осям плечей интерферометра, и фотоэлектрический приемник 9.Интерферометр работает следующим образом.Световой поток от источника 1 направляется на светоделитель 2, который разделяет его на два пучка и направляет в два плеча интерферометра (на пары отражателей 3,5 и 4,6). Отраженный от пластины 2 пучок попадает на пару отражателей 5 и 3, от которых попеременно отражается до тех пор, пока не приблизится к вершине отражателя 6 настолько, что попадет на ту же грань отражателя 5, от которой последний раз отразился в сторону отражателя 3. При этом происходит изменение направления распространения пучка на противоположное и пучок проходит в обратном направлении тот же путь между отражателями 3 и 5, приб" лижаясь к .краям...

Номер патента: 1290061

Опубликовано: 15.02.1987

Авторы: Горлов, Ефимова

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, объекта, поворота, углов

...г. Ужгород, ул. Проектная, 4Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для измерения угловых перемещений.Цель изобретения - повышение точности измерения путем получения четырех импульсов отсчета за один период интерференционной картины.На чертеже представлена схема предлагаемого интерферометра.Интерферометр содержит последовательно расположенные лазер 1 и светоделитель 2, два уголковых отражателя 3 и 4, предназначенные для скрепления с объектом (не обозначен), фоторегистрирующий блок в виде двух светоделителей 5 и 6, четырех диафрагм 7, 8, 9 и 10 и четырех фотоприемников 11, 12, 13 и 14. Устройство работает следующим образом.Излучение от лазера 1, пройдя через свето- делитель 2, делится на два...

Номер патента: 1293485

Опубликовано: 28.02.1987

Авторы: Бережинский, Лисица, Лысенко, Нечепоренко, Сергеев, Усенко

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: пластин, плоскостности, полированных, полупроводниковых

...отражением друг друга относительно нормали к эталонной поверхности клина 5, В качестве источника 1 монохроматического могерентного излучения используется лазер. Коплиматор состоит из двух объективов: первый микрообъектив 2 экране 6 визуально наблюдают интер.Ференционную картину сразу от всейконтролируемой поверхности пластины 7, по которой и производится котроль плоскостности пластины 7, 1 ил. фокусирует излучение лазера в точку, которая лежит в фокусе второго коллимирующего объектива 3, Оба обьектива 2 и 3 подобраны так, что их относительные отверстия предельно, близки. Коллимирующий объектив 3 и микрообьектив 2 установлены с возможностью перемещения относительно друг друга вдоль оси светового пучка. Это позволяет точно совместить...

Номер патента: 1293486

Опубликовано: 28.02.1987

Авторы: Бубис, Канатов, Любарский, Соболева, Хорошкеев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G01M 11/00 ...

Метки: качества, оптических, систем, телескопических

...1 света и интерференционный блок 2 - интерферометр типа Физо. Выходящий из интерференционного блока 2 параллельный пучок лучей расширяется контролируемой системой и часть этого пучка падает на контрольное зеркало 3, диаметр которого может быть существенно меньше диаметра зеркала 7 контролируемой системы.Отраженный от зеркала 3 пучок лучей возвращается контролируемой системой и интерферирует с пучком, отраженным от эталоннои поверхности пластиныинтерферометра типа Физо, Соответс 1вующей настройкой схемы добиваютсяпоявления в поле зрения интерферен 5 ционной картины. В данном случае,в поле зрения интерферометра будетвидна интерференционная картина волнового фронта, проходящего черезверхнюю краевую часть контролируемойсистемы. Затем...

Номер патента: 1295211

Опубликовано: 07.03.1987

Авторы: Алипов, Контиевский, Феоктистов, Чунин

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферических, интерферометр, поверхностей, формы

...выходного объектива 6 и светоделителя 7 изображение диафрагмы3 формируется в фокусе Рб объектива6, совмещенного с осью 00 поворотасканирующей головки. Лучи проходятпробное сферическое стекло 23 непреломляясь, так как центр кривизныэталонной поверхности пробного стекла 23 совмещен с изображением диафрагмы 3 осветительной системы и, отразившись от эталонной поверхностипробного стекла 23 и контролируемойповерхности детали 22, интерферируют,образуя интерференционную картину,локализованную в воздушном промежутке между эталонной поверхностью пробного стекла 23 и деталью 22, Интерферирующие лучи, пройдя светоделитель 7 и отразившись от плоского 35 зеркала 8, попадают во входной объектив 9 измерительной системы, фокускоторого совмешен с...

Номер патента: 1298530

Опубликовано: 23.03.1987

Авторы: Дич, Скворцов, Сойту

МПК: G01B 9/02

Метки: объекта, поворота, угла

...лучей. Преобразователь 25 выполнен так, что максимальная энергиядифрагированных лучей концентрируется поровну в лучах, например, +1-гопорядка дифракции,Пучок света, прошедший преобразователь 25, распадается на два свето 25 вых луча +1-го порядка дифракции, которые направляются в призму-триэдр17, взаимодействуют с ее гранями инаправляются соответственно в строго обратных направлениях, но смещен,ных относительно первоначальных,Далее лучи +1-го порядка падаютна преобразователь 25 в точки, симметрично расположенные относительнооптической оси светодиода 2, дифрагируют на ней также, как лучи +1-гопорядка дифракции, а затем лучи одного и того же (при двойном дифрагировании) порядка дифракции падают на1298530 С сумматоров электрические...

Номер патента: 1308829

Опубликовано: 07.05.1987

Авторы: Афанасьев, Зоткин, Кузнецова, Мецик, Щербаченко

МПК: G01B 9/02, G01N 21/41

Метки: кристаллической, пластины, толщины

...лучи, отразившиеся полупрозрачными покрытиями, различное число раз взаимодействуют, 25 на выходе из пластины, образуя интерференционную картину, которую можно наблюдать на экране, установленном за пластиной. При непараллель-. ности оси оптической индикатрисы пластины и.плоскости поляризации лазерного пучка наблюдаются две системы концентрических эллипсов. Вращая пластину вокруг оси пучка, устанавливают ось индикатрисы пластины параллельно плоскости поляризации, 35 что соответствует моменту исчезновения одной иэ систем эллиптических полос на экране. В этом положении измеряют углы К, , с и Ф. , образуемые с осью освещающего пучка тремя 40 интерференционными максимумами, попарно отличающимися друг от друга на одинаковую величину...

Номер патента: 1315796

Опубликовано: 07.06.1987

Авторы: Муха, Флейтман, Шилин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, объекта, поворота, углов

...и зеркало 5, и другом - другое зеркало 6, размещенное таким образом, что его отражательная плоскость 20перпендикулярна излучению, отраженному от светоделителя 3, отсчетныйблок 7, установленный симметричнодругому зеркалу 6 относительно светоделителя 3, Система 4 выполнена в25виде единого блока, скрепленного сналом 1 в одной точке таким образом,что излучение, прошедшее светоделитель 3, падает на отражающую граньодного из зеркал системы 4, В зеркале 5 выполнено отверстие в центре,и оно размещено в плоскости, перпендикулярной излучению, прошедшему систему 4 зеркал,Интерферометр работает следующим 35образом,Световой луч от лазера 2 направляется на светоделитель 3, который формирует два световых луча - проходящий и отраженный....

Номер патента: 1322084

Опубликовано: 07.07.1987

Автор: Сахаров

МПК: G01B 9/02

Метки: волоконно-оптический, интерферометр, кольцевой

...ответвителей 5 - 7 расщепляется на две волны и .вводится в кольцевой световод 8 в противополож 84 гных направлениях. Палее в кольцевом световоде 8 начинается циркуляция двух световых цугов, длительностьюнавстречу друг другу. Фазовый модулятор 10 при вводе излучения в контур не воздействует на свет. Палее начинается многократная циркуляция обеих введенных в кольцевой световод волн в прЬтивоположных направлениях. В это время происходит накопление саньякояского сигнала и его обработка для регистрацииАктивный элемент 9, являющийся усилителем для световых циркулирующих импульсов, восполняет потери и позволяет осуществлять циркуляцию в течение длительного времени, С каждым новым проходом обеих волн по кольцу в противоположных...

Номер патента: 1328666

Опубликовано: 07.08.1987

Авторы: Зейгман, Леонов, Перунов

МПК: G01B 11/02, G01B 9/02

Метки: интерферометр, линейных, объектов, размеров

...Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерениялинейных размеров объектов, в частностидиаметров до нескольких десятков метров.Цель изобретения - повышение точности измерения линейных размеров объектови расширение диапазона измерения за счетнезависимого перемещения отражателейнепосредственно по линии измерения, чтоне нарушает принцип Аббе,10На чертеже изображена оптическаясхема интерферометра для измерения линейных размеров объектов,Интерферометр содержит осветитель 1,дающий параллельный световой поток, разделяющийся на светоделительной пластине 152. Проходящая светоделительную пластину2 часть светового потока зеркалом 3 направлена на отражатель 4, затем посредством зеркала 3,...

Номер патента: 1330455

Опубликовано: 15.08.1987

Авторы: Коломейцева, Лопанчук, Медовиков, Нигаматьянов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, расстояния

...от отражателя 5).Второй пучок излучения, образован- ный при делении амплитуды на левом полупрозрачном краю зеркала 3, падает на отражатель 7, отражается от него, падает на отражатель 7 и после отражения от правого полупрозрачного края зеркала.Э попадает в систему 6 регистрации интерФеренционной картины. Таким образом, в систему 6 регистрации интерференционной картины попадают три пучка: первый - опорный, прошедший между зеркалами 3 и 4, второй - дистанционный, прошедший да отражателя 5 и отраженный в систему 6 регистрации интерференционной картины, и, наконец, третий - дистанционный, прошедший от зеркала 3 до отражателя 7 и после отражения от зеркала 3 направленный в систему 6 регистрации интерференционной картины.Для измерения...