Комиссарук
Оптическая система теневого прибора для исследования неоднородностей в прозрачных средах
Номер патента: 1695185
Опубликовано: 30.11.1991
Авторы: Камалов, Комиссарук, Смирнов, Тогулев
МПК: G01N 21/45
Метки: исследования, неоднородностей, оптическая, прибора, прозрачных, средах, теневого
...и астигматизма, но Вследствие нарушения симметрии опт 1 ческой системы имеет слабую кому. Однако качество изобракенп сс.ается более Высоким по сравнению с известныкьНа ОСНОВЕ даННОй ОПтИЧЕСКОй СИСТЕМС. разрабать Ваю гся интерференционно-теневье приборы ИАБ, ИАБ, ИАБИАБ - 468 и "Поток". Оокусные расстояния Объективов соответственно равны 1840, ,000, 3200, 1000 и 1000 мм при относительном отверстии 1,2. Для получения эмпирическбй зависимости были проведены специальные исследования изменения качества йзобракения Опической системы в зависимости отормы положительной линзы и, линь: обьектива, Выбор соотношений не более : и ДруГих, укаэанных В форму" ле изобре.ения, сделан на основе сравнения мноГих Ваоиантов, В которых В каждом...
Теневой прибор для исследования прозрачных неоднородностей
Номер патента: 1599828
Опубликовано: 15.10.1990
Авторы: Грибова, Камалов, Комиссарук, Попов, Ревтович, Смирнов, Тогулев, Чекменева
МПК: G02B 27/30
Метки: исследования, неоднородностей, прибор, прозрачных, теневой
...принципиальная оптическая схема теневого прибора.Прибор содержит источник 1 света, 15конденсор 2, реперную сетку З,оптическую насадку 4, состоящую иэ двуходинаковых скленных положительныхлинз, входную щель 5,плоские поворотные зеркала 6 и 6(2), два одинаковых 20объектива 7,8 и 8(2), 7(2),установленных навстречу друг другу, первыйиз которых 7,8 является коллиматорным объективом, а второй 8(2), 7(2)объективом приемной части, между которыми находится исследуемая среда 9,В фокальной плоскости объектива 8(2),7(2) расположена непрозрачная визуализирующая диафрагма (нож-Фуко) 1 О,за которой установлен проекционный, 30двухкомпонентный объектив 11,12, вплоскости изображения которого размещена пленка фотокамеры 13,Теневой прибор работает...
Устройство для получения цветныхтеневых картин
Номер патента: 819642
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Зейликович, Комиссарук
МПК: G01N 21/45
Метки: картин, цветныхтеневых
...6, объектив приемной части 7, визуализирующую щель 8, регистрирующую или наблюдательную систему 9.Устройство работает следующим образом.Система двойного изображения (призма 4) образует в фокальной плоскости объектива 5 два мнимых изображения осветительной щели 3, Вследствие дифракции на голограмме 6 в фокальной плоскости объектива 7 образу 1 ется два спектральных изображения щели 3, смещенных по отношению друг к другу на отрезокф, где - величина углового двоения призмы,- расстояние между щелью 3 и средней плоскостью призмы, при этом предполагается, что фокусные расстояния 1 объективов 5 и 7 одинаковы. Условие, при котором синий участок спектра +первого порядка дифракции совмещается с красным - первого порядка, можно записать в виде:1...
Поляризационный интерферометр
Номер патента: 773427
Опубликовано: 23.10.1980
Автор: Комиссарук
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, поляризационный
...комитета ССС по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж"35, Раушская наб дказ илиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная,дополнительные двоякопреломляющиепризмы 7, 8, пластинка в полволны 9,поляроид 10.Интерерометр работает следующим обобраэом,Лазерный источник 1 освещает интерферометр монохроматическим поляриэован 5ным .светом, азимут поляризации котор-"го составляет угол 45 с ребрами клинь"ев призмы 5. Пластинка б в четвертьволны ориентирована так, что ее главные направления составляют углы ф 45 ООк ребрам клиньев, т,е. параллельныосям эллипсов. Назначение дополнительных призм 7 и 8 состоит в том, чтобыпостроить вспомогательную системуо.носительно частых полос, контраст 5которых существенно зависит от азимута поляризации...
Поляризационный интерферометр
Номер патента: 635395
Опубликовано: 30.11.1978
Автор: Комиссарук
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, поляризационный
...значительные углы наклона и45 тем самым расширяются возможности настройки интерферометра. Действие кристаллических пластпнск не зависит от величи 1 нысдвига, которая спределяется Основны 1 исветоделителями. Изготовление таких плас 50 тинок,гораздо проще, нежели изготовление1 пслярископа Савара илц призм . Волластона. 1 хогда пластинки 2 и 8 нормальны к гес. метрической оси пучка и призмы,3 и 7 занимают оптически сопряженные положения, в поле интерференции наолюдается нечно широкая полоса. Наклон пластинц 2 в результате поворота се на некоторь.: у-.ол вокруг оси, перпендикулярной ребрам х 11- ньев пр;зм З,и 7, вызывает двоснце пзсорэженля источника света в направлении ре. бер клиньев. Оптическая система 4 - 5 стра. ит два...
Поляризационный интерферометр
Номер патента: 391387
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Комиссарук, Яничкин
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, поляризационный
...1. После призмы 2 Волластона расходящийся пучок света преобразуется коллиматорным объективом З,в параллельный, проходит сквозь об ьект исследования и камерным объективом 4 направляется па элемент 5, поворачивающий плоскость поляризации и вторую призму б Волластона.,Пройдя поляроид 7, свет направляется на приемник излучения, например фотопластинку,Принцип работы устройства заключается в следующем. Первая призма 2 Волластона придаетастигматизм обеим волновым повсрхностям обыкновенного и необыкновенного .тучей. Эле мент 5 поворачивает плоскость поляризациилучей на 90 и, благодаря этому, вторая призма б Волластона компенспрует астигматизм, внесенный в световой поток призмой 2, Если призмы 2 и б установлены перпендикулярно 20 оптической...
Дифракционный интерферометр
Номер патента: 299736
Опубликовано: 01.01.1971
Автор: Комиссарук
МПК: G01B 9/02
Метки: дифракционный, интерферометр
...систем.Известные дифракционные интерферометры дают либо полосы только параллельные штрихам решетки, либо полосы невысокого качества. Предлагаемый дифрационный интерферометр позволяет получить полосы произвольной ориентации и хорошего контраста.На чертеже показан предлагаемый дифрак ционный интерферометр, В фокальных плоскостях двух встречных коллиматорных объективов 1 и 2 располокены параллельные дифракционные решетки 3 и 4. Между объективами расположен объект исследования б, изоб ражение которого переносится объективами 2 и б в плоскость фотопленки 7. Изображение источника света фокусируется на решетку 3.Астигматический элемент 8, помещенный вблизи решетки 3, представляет собой одиноч ную цилиндрическую линзу или комбинацию...