G01B 9/02 — интерферометры

Страница 8

Интерферометр для измерения линейных перемещений

Загрузка...

Номер патента: 497466

Опубликовано: 30.12.1975

Автор: Сергеев

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, линейных, перемещений

...неподвижное зеркало 6. После автоколлимационного отражения от него по прежнему пути направляется на светоделительный блок 3, где и происходит интерференция двух пучков. Интерференционная картина наблюдается с помощью объектива зрительной трубы 7.Интерферометр по указанной схеме обеспечивает плавное изменение цены интерференционной полосы, как в сторону ее уменьшения, так и увеличения, В первом случае подвижное зеркало 5 наклоняется по отношению к оси падающего пучка света на угол )45, например 55, а неподвижное зеркало 6 на угол,обеспечивающий автоколлимациониое отражение падающего на него пучка,Во втором случае подвижное зеркало наклоняется на угол (45, например 35, при соот 5 ветствующем развороте неподвижного.Изменение цены...

Устройство для измерения периодической разности хода в интерферометрах

Загрузка...

Номер патента: 498472

Опубликовано: 05.01.1976

Авторы: Власов, Зыков, Медведев, Прохоров

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометрах, периодической, разности, хода

...2. Измерцтельцое зеркало устацов лецо ца исследуемый объект (лцбо в цзмерсь тельную ветзь ццтерфсрометра помегцеца среда с переменным показателем преломления), Ицтерферецциоццая картисца проектируется ца длфрлгму фотоприемника д, выход которого через и последовательно соединенных цепочек преобразосвацця сигнала и электрический фильтр 4, цастроеццый ца частоту дополнительцэй модмляци, полключен к регистратору О. Прц этом первая цепочка преобразования выполеца в виде усилителя сцпала 6 с коэффициентом усиления 4, который по выходу подключен к следующей цепочке, а по входу - к выходу сумматора 7. Один вход сумматора 7 подключен к выходу фотопр;емпика через квадратсор 8, а другой вход - через ицвертирующий усилитель 9 с коэффициентом...

Способ определения дробных частей порядков интерференции

Загрузка...

Номер патента: 505876

Опубликовано: 05.03.1976

Авторы: Соломаха, Торопов

МПК: G01B 9/02

Метки: дробных, интерференции, порядков, частей

...определения дробных частей, обусловленные несовершенствами сканирования длины интерферометра.Целью изобретения является повышение точности и улучшение воспроизводимости определения дробных частей порядка интерференции в инфракрасной области излучений ОКГ.Для этого излучение ОКГ перед входомв интерферометр модулируют по амплитуде СВЧ-частотой, изменяют частоту модуляции Г до значенийим 1ооответствуюших наведению боковых составляюших спектра амплитудной модуляции+ 7, на ближайшие по частоте интерференционные максимумы, автоподстройкойчастотыстабилизируют положениемаксимумов, измеряют значения щ и1М 2Е извыражеИад. М/ЗР 3; а б/И Тираж ЯЯ 4 Подписное 11 НИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий...

Способ юстировки интерферометра типа маха-цендера

Загрузка...

Номер патента: 505877

Опубликовано: 05.03.1976

Авторы: Данилина, Комиссаров

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометра, маха-цендера, типа, юстировки

...можно установить пластины параллельно друг другу, На этом и основывается предложенный способ юстировки интерферометра.Интерферометр Маха-Цендера содержит юстировочные плоскопараллельные пластины 1 - 4 со светоделительными покрытиями на обеих плоскостях, коллиматор 5, источник белого света 6, источник света 7 с дискретно-мопохроматическим спектром, плоскость расположения 8 двух световых полей с белым и дискретно-монохроматическим спектром, входную диафрагму 9, диафрагмы 10 - 13, выделяющие юстировочные пучки света, место расположения 14 наблюдателя.Юстировка предлагаемым способом производится в следующем порядке, Рабочие зеркала и пластины интерферометра заменяются юстировочными пластинами 1 - 4, На вход интерферометра...

Устройство для измерения фазовых сдвигов излучения ик диапазона

Загрузка...

Номер патента: 506755

Опубликовано: 15.03.1976

Авторы: Желбокаев, Календин, Кухтевич, Прыгунов, Федосеев

МПК: G01B 9/02

Метки: диапазона, излучения, сдвигов, фазовых

...при помощи которого можно изменять фазовую задержку светового потока в этом канале. В обоих каналах интерферометра симметрично размещены акустооптические однополосные модуляторы 13 и 14 с системами формирования световых потоков, выполненными в виде двух фокусирующих элементов: 15 и 16 в из 10 5 20 25 Зо 35 40 4мерительном канале и 17 и 18канале.Электронная часть включает в себя следующие блэки. Полосовой фильтр прэмежуточной частоты 19, па который поступает электрический сигнал с фотодетектора; гене. раторы питания однополосных модуляторов измерительного 20 и опорного 21 каналов, предназначенные для подачи питающих напряжений ца эти модуляторы, а также радиочастотный сместитель частоты генераторов питания 22; высокоточный цифровой...

Устройство для контроля полированных пластин

Загрузка...

Номер патента: 507771

Опубликовано: 25.03.1976

Авторы: Гвоздевский, Иванов, Савлук, Щевелев

МПК: G01B 11/24, G01B 11/30, G01B 9/02 ...

Метки: пластин, полированных

...расположен над полупроэрачным зеркалом так, что его горизонтальная плоскость служит опорой для контролируемой пластины,В предлагаемом устройстве эталонный25 ический клин закреплен постоянно, акбгерентное излучение направлено через него, коллиматор и полупрозрачное зеркало на поверхность контролируемой пласти,ны, вплотную прилегающей к горизонталь ной поверхности клина, Такое взаимное расположение частей устройства, а также расположение контролируемой пластины по отношению к эталонному клину позволяет устранить операцию по выставлению оптического клина в процессе контроля, и, следовательно, повысить производительность контроля., На чертеже изображено описываемое уст; ройство.Оно содержит источник когерентного из 5 лучения-лазер 1,...

Интерферометр с высокой степеньюкомпенсации фазовых искажений в све-тоделителе

Загрузка...

Номер патента: 508665

Опубликовано: 30.03.1976

Авторы: Букреев, Вагин, Жижин

МПК: G01B 9/02

Метки: высокой, интерферометр, искажений, све-тоделителе, степеньюкомпенсации, фазовых

...в светоделителе, дополнительные требования к юстировке интерферометра, высокие требования к идентичности толщин и качества поверхностей компенсирующей пластины и сравнительно низкая точность интерферометрических измерений.Предлагаемый интерферометр отличается отизвестного тем, что светоделитель и компенсара.20 Он содержит источник 1 света, коллимирующую систему 2, светоделитель 3, два отражателя 4 и 5, установленные в плечах интерферометра на пути лучей, прошедших светоделитель и отраженных от него, компенсатор 6, 25 расположенный на пути лучей, идущих от одного из отражателей, например 5, два плоских зеркала 7 и 8, объектив 9, фотоприемник 10 и блок 11 обработки сигнала с фотоприемника.Светоделитель 3 и компенсатор 6 выполне ны...

Устройство для измерения дробнойчасти сдвига двух системинтерференционных полос

Загрузка...

Номер патента: 509767

Опубликовано: 05.04.1976

Авторы: Власов, Медведев

МПК: G01B 9/02

Метки: двух, дробнойчасти, полос, сдвига, системинтерференционных

...несколько целых 30 полос, и: фильтры,настроенные на частоту первой гармоники фототока, через которые выходы фотоприемников подключены к фазометру.При перемешенни зеркала ннтерферомет ра по линейному пилообразному закону в пределах одной или нескольких целых полос в измерительных каналах устройства образуется не гармонический сигнал, а непрерывная последовательность синусоцдальных ф импульсов, периоды которых соответственно равны времени прямого н обратного ходов зеркала, Разность фаз первых гармоник этих сигналов оказывается прямо пропорциональной относительному сдвигу ицтерференционных полос Конструктивное решение устройства позволяет реализовать диапазон перемешеция зеркала в пределах одной или нескольких длин волн. Малая величина...

Интерференционный способ измерения кинематической погрешности механизмов в работе

Загрузка...

Номер патента: 518618

Опубликовано: 25.06.1976

Авторы: Гафанович, Прусихин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, кинематической, механизмов, погрешности, работе

...одинаковых фазах движения относительно интерферо метра.На чертеже изображена оптическая схе ма реализации .предложенного способа.Схема содержит отражатели 1, выполненные в виде счетверенных угопковых отра жатепей, концевые звенья 2 контропируего механизма 3, двухпучевой интерфероУствнввлиьаот двв. отражатели 1, например счетверенные уголковые отражатели, 1 ю одному нв квждом из концевых звеньев 2 ведомом и ведушнм) контролируемогомеквнизмв 3. Закрепляют двухлучевой ин терферометр 4 нв неподвижном основании (нв схеме ие поквэвно).После этого устанввливвют отражатели нв концевых звеньях механизма на одинвковых расстояниях от осей вращения, ограничивая тем самым длины оптических плеч интерферометрв. Затем закрепляют отражатели в одинаковых...

Интерферометр для контроля формы плоских полированных поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 518622

Опубликовано: 25.06.1976

Авторы: Зубаков, Манукян

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, плоских, поверхностей, полированных, формы

...пластину 8, нижняя поверхность которой является образцовой. Интерферендионные пучки (от образцовой поверхности плас тины 8 и контролируемой поверхности детали 15) возврашаются назад на.параболлоид 7 и, вследствие небольшого смешения входной диафрагмы 5 с оптической оси нарабол/ ланда (смещаются прибди;.нтельно на 30 не- сколько в старо. у) попадая нд центральнуючасть сф:рического зеркала 9, обраэукт на его поверхности изображение 5 диафрагмы 5, которое снова наблюдательной системой 10 переносится в следующую плоскость, давая изображение 5, Вблизи этой плоскости наиходится глю наблюдателя.Сферическая отражающая поверхность зеркала О выполняет роль оптического элемены (коллектива), пригибающего. все отражаю:.:;не:я от него наклонные лучи...

Устройство для измерения погрешности профиля эвольвентной поверхности детали

Загрузка...

Номер патента: 518623

Опубликовано: 25.06.1976

Авторы: Гафанович, Гацкалова, Прусихин

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: детали, поверхности, погрешности, профиля, эвольвентной

...9 жесткозакреплена на сбшей оси с диском 1 преоб- фйразователя перемещений.Свет от источника 7 попадает на светоделитель 4, после чего половина луча, отразившись от эталонного зеркала 5 и отсветоделителя 4, попадает в объектив 6. ВВторая половина луча отклоняется светоделителем 4 в сторону полупрозрачногозеркала 3 и контролируемой детали 9, аотразившись от них и пройдя светоделитель,попадает также в объектив 6. При этом Япервая и вторая половина луча интерферируют, а результат интерференции в видеполос наблюдается визуально.Чтобы отличить одну систему интерференционных полос от другой, их ориентируют по-разному, Необходимую ориентировку полос можно получить юстировочныммикроперемешением полупрозрачного зеркала 3,В начале работы...

Устройство для диагностики оптических активных сред

Загрузка...

Номер патента: 521455

Опубликовано: 15.07.1976

Автор: Меньших

МПК: G01B 9/02

Метки: активных, диагностики, оптических, сред

...усилитель 5 непрерывного деиствия, настроенный на частоту несущих клебаний пробного импульса света,Коэффициент усиления в оптическомусилителе 5 может быть взят большим обФратной величины коэффициента передачи квантового рециркулятора в отсутствие усилителя.дЭго приведет к стабилизации уровня циркулиР уюшего в рециркуляторе цуга, Для того,чтобы цуг волн воздействовал на оптическийквантовый усилитель всякий раз как отдельный импульс, необходимо выбрать время за- рдержки в оптической линии задержки 8 много большим длительности пробного импульсаС 1 И, При этом в рециркуляторе будут очсутствовать явления наложения световых потоков, в паузах между импульсами циркуляции состояние оптического квантового усилителя будет восстанавливаться...

Двухлучевой интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 523272

Опубликовано: 30.07.1976

Авторы: Ловков, Овечкин, Сигов

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевой, интерферометр

...и, таким ооразом, изу.чать неоднородности, отличающиеся величина.ми плотностеи.цель 1 о изобретения является одновременноеполучение ы интерферометре двух интерференционных картин с различными исходныминастройками.Указанная цель достигается тем, что в приемной части интерферометра установлены две ЗО дополнительные четырехпластинчатые систе 523272мы зеркал и светоделителей с диафрагмами, формирующими две независимо регулируемые пары когерентных световых пучков, создающих две интерференционные картины, причем зеркала основной системы установлены так, что эталонный и рабочий пучки разведены и разделены диафрагмами, Введение дополнительных приставок не требует изменения конструкции известного интерферометра типа Маха-Цендера.Принципиальная...

Интерферометр для контроля качества выпуклых гиперболических зеркал телескопа кассегрена

Загрузка...

Номер патента: 523274

Опубликовано: 30.07.1976

Автор: Пуряев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: выпуклых, гиперболических, зеркал, интерферометр, кассегрена, качества, телескопа

...фокусы контролируемой гиперболической поверхности, С - центр кривизны вогнутой полупрозрачной поверхности линзы 2,Лучи, выходящие из лазерного источника света 5, фокусируются линзой 4 в точку Р, являющуюся передним фокусом выпуклой поверхности линзы 2, поэтому внутри линзы лучи света идут параллельно оптической оси. Так как радиусы сферических поверхностей линзы одинаковы и точка Р совмещена с точкой Р то после выхода из линзы лучи света отражаются от гиперболической поверхности, падают нормально на вогнутую поверхность линзы 2 и после отражения от нее повторяют свой путь в обратном направлении. Лучи, выходящие из рабочей и эталонной ветвей, интерферируют между собой,Заключение о качестве контролируемой поверхности делают по виду...

Интерфереметрическая система сканирования

Загрузка...

Номер патента: 524074

Опубликовано: 05.08.1976

Авторы: Архипов, Шаров

МПК: G01B 9/02

Метки: интерфереметрическая, сканирования

...интерферометра 2, 1 О так как момент начала счета определяется импульсом, формируемым усилителем-формирователем 5 из переднего фронта главного максимума сигнала контрольного канала немонохроматического (белого) излучения, й а на вход счетчика 12 подаются импульсы от счетчика импульсов 8 той же частоты, что и на фазочастотный компаратор 6. Окон. чанием прямого хода зеркала командует счетчик устройства управления 11, что поз- Ю воляет в определенных пределах легко управлять длиной рабочего хода. Сигнал с параллельного выхода реверсивного счетчика 12 используется в устройстве управления для выработки сигнала окончания обратного хода зеркала интерферометра и начала прямого (рабочего) хода. Предложенная система сканирования позволяет с...

Поляризационный интерферометр для измерения угловых перемещений

Загрузка...

Номер патента: 524075

Опубликовано: 05.08.1976

Авторы: Антонов, Кирилюк, Мороз, Мясникова, Прохоров, Сазонов, Ягодкин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, перемещений, поляризационный, угловых

...близким по технической сущности к предложенному изобретению является поляризационный интерферометр для измерения угловых перемещений, содержащий источник света, установленные последовательно по ходу его луча разделитель светового луча из кварца, поляризатор ирегистрирующий блок21Недостатком известного интерферометра является сложность его конструкции и малый диапазон измерений. Цель изобретения - расширение диапазона измерений.Это достигается тем, что разделитель предлагаемого интерферометра выполнен в виде набора цилиндрических дисков с прозрачной боковой поверхностью, оси вращения которых совмещены и перпендикулярны направлению луча источника света и своим оптическим осям, которые развернуты одна относительно другой на угол...

Интеферометр для исследования качества поверхностей и аберраций крупногабаритных оптических элементов и прозрачных неоднород ностей

Загрузка...

Номер патента: 529362

Опубликовано: 25.09.1976

Авторы: Астахова, Духопел, Федина

МПК: G01B 11/24, G01B 11/30, G01B 9/02, G01N 21/45 ...

Метки: аберраций, интеферометр, исследования, качества, крупногабаритных, неоднород, ностей, оптических, поверхностей, прозрачных, элементов

...в в-.оо,л 1 г, апионпой схеме сов. 1 стн с исслецус п зеркалом 7 н устанавливается, в .;а: и:сстот контролируемого объекта,;,.цоо; цг",та.-.кривизны сферического зеркала, либо в фо -кусе исследуемого объектива,Работает интерферометр слецуюшим образом.25Параллельный световой пучок монохроматического света направляется на объектив 1, фокус которого совмещен с отражающей поверхностью зеркала 5. После выхода из объектива пучок света светопелителем 2 део ЭО лится на два пучка - рабочии и опорныи. Рабочий пучок, пройдя светопелитель 2, с помощью зеркала 3 и светоделителя 4 направляется на исследуемое сферическое зеркало 7. Опорный пучок после отражения от светоделителя 2 попадает на линзу 6, а,затемЗВ зеркалом 5 направляется на зеркало...

Интерференционное устройство для контроля оптических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 530169

Опубликовано: 30.09.1976

Авторы: Комраков, Шапочкин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционное, оптических, поверхностей

...щелями, уевтановлен между регистратором и эталоннойдеталью с возможностью перемещения в иправлении, перпендикулярном к направленик 1щелей, и снабжен приводом для его периодического перемещения,На фиг. 1 изображена схема устройств;на фиг. 2 - диффузно-рассеивающий экран,Контролируемая поверхность 1 и эталонная деталь 2 установлены с малым зазоромодна отн осительно другой. Диффузно-рассеивающая сторона экрана 3 обращена к эталонной детали и к источнику 4 квазимонохроматического света, например ртутной лнл 1,пе. Экран Й снабжен приводом (на чертеж,не показан) для осуществления ето порно/дического перемещения. Диффузио-рассеивающий экран 3 выполнен плоским и имеет ряд щелей 5. Плоскость экрана 3, обращенная к эталонной детали 2, покрывается...

Бесконтактный датчик геометрических размеров стекловолокна

Загрузка...

Номер патента: 532000

Опубликовано: 15.10.1976

Авторы: Бухтиарова, Дьяченко, Жаботинский, Коршунова, Шушпанов

МПК: G01B 9/02

Метки: бесконтактный, геометрических, датчик, размеров, стекловолокна

...отличий устройства, заключающихся в выборе угла наклона плоскости симметрии цилиндрическогоэлемента оптической системы по отношению коси измеряемого волокна.Различия этих вариантов не существенныи сводятся к тому, является ли цилиндрический элемент линзой или зеркалом,Нс существенно также количество примененных цилиндрических элементов и их взаимное расположение.Существенным является лишь взаимное положение плоскости симметрии к оси измеряемого волокна и величина угловой апертуры системы в указанной плоскости,Наблюдаемая интерференционная картинаодинакова в обоих примерах систем полос, отличающихся пространственным периодом, Какпоказывает расчет, указанные системы интерференционных полос содержат информациюо подлежащих измерению...

Интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 532755

Опубликовано: 25.10.1976

Авторы: Белевцева, Кириллова, Королев, Пушкин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр

...новой с ти обра ескои и кли еоднородносповышение метра,роиз нтерферометсистема пелненная из Для этого в рабочеи ветви ра перед образцом установлена ременной оптической силы, вып двух линз - положительной и о снабженная средствами для про ремещения одной линзы относи и поперечных перемещений всей рипательнои,дольного пе тельно другой щих системы,относится к оптическому ю и может быть использоваения оптических неоднородких кристаллов, наприме Известен интерферо содержащий источник м излучения, входную ди светоделитель, два пло пенсатор разности ход и фотокамеру 11. Так широко используются д однородностей прозрачИзвестен также инт кельсона, содержащий ные элементы для кон однородности синтетич В рабочую ветвь интер исследуемый образец и...

Сканирующий интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 535453

Опубликовано: 15.11.1976

Автор: Архипов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, сканирующий

...интерферометр работает следующим образом.Оптическое излучение, попавшее в интерферометр, испытывает многократное отражение между неподвижным зеркалом 1 и подвижным зеркалом 2, возвратно-поступательное перемещение которого приводит к изменению разности хода составляющих излучения. Будучи установленным на подвижном фланце 3 упругого гофрированного цилиндра 4 зеркало 2 перемещается под воздействием привода 6 (например, линейного электромагнитного привода). Поступательное движение подвижного фланца 3 возникает при преобразовании его вращательного движения за счет скручивания упругого гофрированного цилиндра 4 относительно его конца, имеющего неподвижный фланец 5. Возвратное перемещение подвижного фланца 3 с зеркалом 2...

Поляризационный интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 544861

Опубликовано: 30.01.1977

Автор: Медведев

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, поляризационный

...пластины 6 и 7, поворотное зеркало 8, суммирующую пластину 9, собирательные линзы 10 и 11, и два фотоприемника 12 и 13.5 Измерение силы двулучепреломления осуществляют следующим образом.Контролируемый объект 14, перемещающийся в зоне измерения, облучается сигнальным пучком монохроматического света, иду- О щего от одночастотного лазера 1 через светоделительную пластину 2. Сигнальный пучок, отразившись от нижней поверхности контролируемого объекта 14 и испытав двулучепреломление, выделяется диафрагмой 3 и посту пает на двулучепреломляющую пластину 6.Пластина 6 увеличивает расхождение между сигнальными обыкновенным Е, и необыкновенным Е, лучами. Обыкновенный и необыкновенный сигнальные лучи, отразившись от О поворотного зеркала 8,...

Интерференционный способ контроля формы вогнутых асферических оптических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 544864

Опубликовано: 30.01.1977

Авторы: Горшков, Пуряев, Скибицкий, Харитонов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферических, вогнутых, интерференционный, оптических, поверхностей, формы

...е. значительная область поверхности останется непроконтролированной.Целью изобретения является обеспечениевозможности контроля поверхностен с больЗз шими отклонениями от сферы.544864 Составитель Л. Лобзова Корректор Н, Аук Техред Е, Петрова Редактор Т. Пилипенко Заказ 309 Изд.148 Тираж 729 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., и. 4/5Типография, пр. Сапепова, 2 Это достигается тем, что эталонное сферическое зеркало перемещают вдоль его оптической оси, последовательно совмещая кольцевые зоны отображения источника света на контролируемой поверхности с его отображением на сферическом зеркале, и судят о правильности формы контролируемой поверхности...

Интерференционный способ контроля плоскопараллельности концевых мер длины

Загрузка...

Номер патента: 545854

Опубликовано: 05.02.1977

Авторы: Гиржман, Густырь

МПК: G01B 9/02

Метки: длины, интерференционный, концевых, мер, плоскопараллельности

...меры 8, а с помощью блока зеркал 9 и 10 правую поверхность меры. После отражения все пучки света поступают в объектив 4 и полупроз 1 рачной пластиной б направляются в наблюдательную систему 11, состоящую из откидывающейся отрицательной линзы и зрительной трубы небольшого увеличения. Интерференцпонные зеркала б и7 со светоделительными покрытиями, нанесенными по всей площади пластин, смещены относит;льно оптической оси интерферометра. Это позволяет осветить обе измерительные поверхности меры и получить три интерференционные картины; две - в зазорах междуповерхностями мер и отражающими поверхностями интерференпионных зеркал,и одну - в промежутке между интерференционными зеркалами,Контро.ь плоокогара;лельносги производится следующим...

Двухлучевой сканирующий интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 545855

Опубликовано: 05.02.1977

Авторы: Егорова, Иевлев

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевой, интерферометр, сканирующий

...сканирующем цнтерферометре, имеющем ооъектцв, два концевых отражателя, два плоских зер,кала п светодслцтель, расположенный между цлоскцмп зеркаламц, центры светоделцтеля и плоских зеркал лежат по разные стороны относительно оцтц 1 ескцх осей соответствующих отражателей и смещены ца величину, не меньшую, чем половина диаметра объектива,На чертеже показана схема предложе 1 о. го двухлучевого сканцру 1 ощего ццтерф ометра.Интерферометр содержит два плоских зер5 10 15 20 30 25 кала 1 и 2, светоделитель 3, объектив 4, отражатели типа кошачий глаз, образованные зеркалами 5, 6 и 7, 8, причем зеркала 6 и 8 размещены в фокусах вогнутых зеркал 5 и 7. Оба отражателя смещены к одному краю светоделителя па одну и ту же величину, равную диаметру...

Интерферометр для инфракрасной области спекра

Загрузка...

Номер патента: 549680

Опубликовано: 05.03.1977

Авторы: Годованный, Гребенник, Науменко

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, инфракрасной, области, спекра

...чертеже изображена оптическая схемаинтерферометра для инфракрасной областиспектра.Интерферометр содержит светоделптель1, подвижный 2 и неподвижный 3 двухгранные отражатели, Отражатели 2 и 3 выполнены из двух плоских зеркал, установленныхпод углом 90. Светоделитель 1 изготовлен иззеркальной пластины (пленкп) с вырезамиили пленки, на которую нанесены зеркальныеполосы, Светоделптель 1 установлен в жесткой оправе, которая имеет возможность перемещения в плоскости зеркальных полос,Светоделитель 1 установлен так, что границаего центральной зеркальной полосы и щелисовмещена с линией пересечения плоскостейсимметрии отражателей 2 и 3.Излучение на входе интерферометра в виде пучка параллельных лучей разделяетсязеркальными полосами...

Фазовый модулятор световго потока

Загрузка...

Номер патента: 550526

Опубликовано: 15.03.1977

Авторы: Козлов, Лопатин, Раховский, Сычев, Шухтин

МПК: G01B 9/02

Метки: модулятор, потока, световго, фазовый

...принципиальная О схема фазового модулятора светового потока.Модулятор 1 содержит источник света 2,амплитудный модулятор 3 (например ячейку Покельса) и зеркало 4, поверхность которого выполнена в виде полупроводникового слоя 5, 5 причем длина волны источника света меньшепороговой длины волны перехода носителей зарядов в зону проводимости.Зеркало 4 является модулирующим зеркалом спектрометра 6, состоящего из источникаисследуемого излучения, полупрозрачного ркала 8, коллимирующего зеркала 9, дифракционной решетки 10 с симметричным профилем штриха, единого сканирующего зеркала 11, фотоприемника 12, подключенного через 5 синхронный детектор 13 к регистрирующемуустройству 14, и генератора 15 с двумя выходами, один из которых...

Вычислительное устройство для измерителей перемещений

Загрузка...

Номер патента: 551649

Опубликовано: 25.03.1977

Авторы: Бондарев, Загорулько, Потылицын

МПК: G01B 9/02, G01D 5/36, G06G 7/48 ...

Метки: вычислительное, измерителей, перемещений

...1 чения первого импульса и элесента "Исключаюшее ИЛИ" 10. Выходы элементов И 5 и6 подключены к управляющим входам тригнера- знака 9 выходы которого соединены совходами блока 7 исключения первотчз имп, ьса и элемента "Исключающее ИЛИ" 10, Вы -ход блока 7 исключения первого импульсасоединен со счетным входом реверсивногосчетчика 11 множителя. Выходы всех триггеров этого счетчика подключены к комбинационному сумматору 12 а выход сумматора - к счетному входу реверсивного счетчика 13 регистрации. Входы направлениясчета реверсивных счетчиков 1 1 и 1 3 соединены .с выходом элегльнт;:. "ИсключающееИЛИ" 1 О, Выходы всех триггеров- реверсивного счетчика 13 регистрации подключенык блоку 14 выделения "0" выход которогосвязан с блоком 7 исключения...

Вычислительное устройство для измерителей перемещений

Загрузка...

Номер патента: 553620

Опубликовано: 05.04.1977

Авторы: Бондарев, Загорулько, Потылицын

МПК: G01B 9/02, G01D 5/36, G06G 7/48 ...

Метки: вычислительное, измерителей, перемещений

...представлена блок-схема устройства.Входы 1 и 2 устройства через входные усилители 3, и 3 (индексы указывают номер канала) и триггеры Шмитта 4 и 4 соединены с удвоителями частоты 5 и 5. Выход каждого удвоителя частоты 5 и 5 соединен с соответствующим входом распределителя импульсов б и с одним из входов соответствующего ключа 7 или 7. Каждый выход, распределителя импульсов б подключен к другому входу соответствующего ключа. Выход ключа 7 соединен со счетчиком 8, а выход ключа 7 - со счетчиком 8. Выходы счетчиков через соответствующие регистры 9, и 9 связаны с арифметическим блоком 10, выход которого через регистр индикации 11 соединен с блоком индикации 12. Блок управления 13, на входе которого установлен блок постоянной памяти 14,...