G01B 9/02 — интерферометры

Номер патента: 370454

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, контактный, линейного, объекта, перемещения

...интерферометра.д 0 Предлагаемый интерферометр может осуществлять одновременно измерение как путемсчета полос, так и абсолютным методом.На фиг, 1 показана принципиальная схемапредлагаемого интерферометра; на фиг, 2 -1 поле зрения интерферометра.Интерферометр содержит источник 1 света сконденсором, монохроматор 2, блок, разделяющий световой пучок на два пуска, в виде светоделительной пластины т, неподвижное зер 20 кало 4, измерительный наконечник 5 с подвижным зеркалом 6, дополнительное неподвижное зеркало 7, окуляр 8, фотоэлектрический преобразователь 9 и счетчик 10.Работает предлагаемый интерферометр сле 25 дующим образом,При измерении измерительный наконечник5 с зеркалом б перемещается, При этом в поле зрения окуляра 8 проходит...

Номер патента: 371419

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Крупицкий, Эмдин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометрическое, неоднородностей, оперативного, прозрачных, средах, фазовых

...в пучке по определенному закону, 1 о Наиболее легко при дальнейшей обработкеинформации реализуется закон шахматной последовательности, по которому изменяется фазовая структура пластины, производящей две градации фазы света, причем уменьшая 15 размер элементов градации фазовой структуры, можно проводить исследования мелкомасштабных фазовых неоднородностей среды.На чертеке схематически изображенопредлагаемое устройство,2 О Свет от источника 1 когерентного светапроходит через коллиматор 2 и расщепляется светоделительной призмой-куоом 3 на два пучка, предметный и опорный. Предметный пучок разворачивается зеркалом 4 в направ ленни исследуемой среды б, и, пройдя черезфазовую пластину б, становится пространственно молулированным по...

Номер патента: 373519

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Вител, Лазарева

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, качества, оптических

...цабцаяэкраном 5,Работает предлагаемый интерферометр сле 30 дующим образом.Параллельный пучок лучей, идущий из оптического квантового генератора, проходит через полупрозрачную пластинку 2 и направляется к объективу 8, который фокусирует лучи в заднем фокусе Р. После объектива 3 рас положен компенсатор 4, у которого первая поверхность является вогнутой сферической, причем центр кривизны С этой поверхности совмещен с задним фокусом Г объектива 3. Лучи, отраженные от первой поверхности ком пенсатора, создают эталонный сферический волновой фронт сравнения. Преломленные компенсатором лучи после выхода из него также создают эталонный волновой фронт, форма которого определяется параметрами контро лируемой детали. Например, для случая,...

Номер патента: 373520

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Григорьев, Ершова, Жуковска

МПК: G01B 11/255, G01B 9/02

Метки: вогнутой, кривизны, несферичности, поверхности, прибор, радиусов, сферической

...в диске 8, закрытые заглушками И.Эталонный шар 1 выполнен в соответствии сноминальным радиусом контролируемой детали 7.ЗС Конструкция прибора позволяет производить смену эталонного шара 1 и измерительных наконечников 5 в соответствии с размерами контролируемой детали 7,На корпусе 9 предусмотрены посадочныеместа для крепления установочного устройст 5ва на оправе объектива 15 интерферометра(интерферометр для контроля плоских поверхностей),Предварительно собранное установочноеустройство располагается на интерферометре,эталонная пластина которого снята.После установки устройства на интерферометр производится регулировка измерительного клина, который создан плоской поверхностью пяты 10 и поверхностью плоскопараллельной стеклянной пластины...

Номер патента: 375531

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Мукомолов

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: газоанализатор, интерференционный

...измеряемого компонента непосредственно в условиях основного измерения.5 На чертеже приведена блок-схема предлагаемого газоанализатора.Он содержит осветительное устройство 1,устройство 2 для подготовки пробы, рабочую кювету 3, первую эталонную кювету 4, вто рую эталонную кювету 5, поворотную пластину б, плоско-параллельную пластину 7, двигатель 8, фотоприемник 9, блок 10 опорного сигнала, усилитель-преобразователь 11, устройство 12 управления, первый счетчик 13, 15 второй счетчик 14, делитель 15, щелевую диафрагму 1 б.Пропуская между кюветами опорный световой луч, получают две интерференционные картины, разделенные между собой этим лу чом. Расстояние между лучом и интерфереп- ционными картинами интерферометров, кювета одного из которых...

Номер патента: 376653

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Галутва, Занцев, Пресн

МПК: G01B 11/14, G01B 9/02

Метки: объекта, перемещения

...на неподвижной станине.Электрические сигналы с фотоприемниковнаправляются в систему преобразования выходного сигнала, включающую в себя следующие основные элементы: логическую ячейку12, определяющую направление счета; реверсивный счетчик И с системой пересчета числаполос в линейные величины, цифровое табло14, блок коррекции 15 и устройство 1 б дляоценки текущего значения общей длины основного измерительного плеча,Работает предлагаемое устройство следующим образом.При перемещении столика с зеркалами 5и 8 в направлении х длина дополнительногоизмерительного плеча и основного измерительного плеча изменяется, что приводит ксмещению интерференционных полос, регистрируемых и пересчитываемых, например, вмикроны счетчиком...

Номер патента: 380946

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Елисеев, Клочкова, Кожевников, Контиевский, Пережогин

МПК: G01B 9/02

Метки: детали, интерферометр, качества, оптической, плоской, поверхности

...ширина границ раздела полосы на участки с взаимно повернутыми изображениями практически равна нулю, плоскость изображения полос проходит через границы раздела, и параллакс между изображениями полосы на различных участках отсутствует, что повышает точность контроля.На фиг, 1 из птпредлагаемого ра15 20 25 30 35 разрез по А - А на фиг. 1; на фиг. 3 - вид поля зрения интерферометра.Интерферометр содержит осветительную систему, включающую источник 1 монохроматического излучения, конденсор 2, диафрагму 3, положительные линзы 4 и 5, объектив б, эталон 7, светоделительную пластину 8, разделительное оптическое устройство, состоящее из светоделительного кубика 9, пента- призмы 10, призмы 11, клина 12, зеркальных покрытий 13 в виде...

Номер патента: 382917

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Свердличенко

МПК: G01B 9/02, G01B 9/08

Метки: компаратор, концевых, линейного

...входит также интерференционный модулятор 7,Свет от эталонной лампы через конденсор, монохроматор и коллиматор осветителя 2 поступает в виде параллельного пучка на светоделительную призму Кестерса 3, Разделенные пучки падают на концевую меру 5 с притертой пластиной 4 и на относительное зеркало, отражаются и, возвратившись в призму 3, интерферируют. В плоскости изображения объектива 8 получается интерференционная картина. При одном положении диафрагмы 9 через щель 10 проходит свет только от центральной части интерференционной картины, образованной пучками, отраженными от конца меры 5 и средней части зеркала 6, а при другом положении диафрагмы 9 проходит свет от краев интерференционной картины, образованной пучками, отраженными краями...

Номер патента: 411294

Опубликовано: 15.01.1974

МПК: G01B 11/06, G01B 9/02

Метки: 411294

...хода в ветвях иптерферометра, что вызовет изменение освещенности в центре интерференционной картины, При изменении расстояния вдоль оси между когерентными источниками, расположенными вблизи заднего фокуса объектива 13, на величину 0,5 г. (Х - длина волны света, используемого в интерферометре), освещенность в центре интерференционной картины изменится на противоположную, т. е. темное пятно будет светлым (или наоборот). Число изменений освеше в центре интерференционной картины, соответствующее толщине непрозрачного слоя, равноЛг= -- ,Х Очевидно, что минимальная толщина непрозрачного слоя, которая еще может быть измерена, равна4 пп:4 Для контроля прозрачных слоев на контрольную пластинку предварительно наносится отражающий слой, при этом...

Номер патента: 413367

Опубликовано: 30.01.1974

МПК: G01B 9/02, G01B 9/08

Метки: 413367

...зеркало 4, расщепитель 6, два фотоэлектрическихпреобразователя 7 с щелями и связанный сними цифровой электронный индикатор 8, источник 9 ахроматического света, расщепитель10 10 и отражающую пластину 11 с проверяемоймерой 12, установленную на столе 13, с которым жестко связано зеркало 3, Кроме того,компаратор включает зеркало 14 с электро.механическим приводом 15, фотоэлектриче 15 ский преобразователь 16, усилитель 17, детектор 18, коммутатор 19, синхронньш детектор20, входом соединенный с коммутатором, а выходом - с нуль-индикатором 21 и стрелочнымуказателем 22,20 Компаратор функционирует следующим образом.Каретка 5 устанавливается соответственнонулевой разности хода лучей ахроматического канала, Для этого привод 15...

Номер патента: 415482

Опубликовано: 15.02.1974

МПК: G01B 9/02

Метки: 415482

...поверхностью линзы преобразует сферический или плоский волновой фронт во фронт, совпадаюИнтерфсрометр содержит монохром атп 1 сский источник света 1, например оптический квантовый генератор, фокусирующсе устро 1- ство - микрообъсктнв 2, разделительныи куоик 3 с полупрозрачной гипотенузной гранью, эталонное сферическое зеркало 4, козпснсятор 5, пммерспопную жидкость 6, плоское зеркало 7, м 1 пов,к 1 пластину 8 и лупу 9. Кроме того, в устройство входит линза 10 с контролируемой поверхностью 11 н планшайба 12 станка. Осьет 1 пе,1 ьная ветвь интерферометря образована эдемепямии 2, эталонная - э,.емепто. 4, рабочая - элемептамн 5 и 11 и 5 и 7 и 1;аб, юдательнятэлсаетази 8 и 9. В процессе кп 1 троля рабочая ветвь интерферометра...

Номер патента: 416555

Опубликовано: 25.02.1974

МПК: G01B 9/02

Метки: 416555

...поскольку нс учить:вается оптическое действие линзы, вносящее искажения в результаты измерепий,:То прлеводит к спижее 1 иЕО точности. Кроме того, известный способ малопроизводителен, так как измерения занимают много ВРЕ 5 ЕН И,хроматических пучков света, отраженных от обеих поверхностей линзы.На фиг, 1 изображена схема контроля взаимного расположепия поверхностей цилипдри ческой линзы по предлагаемому способу; нафиг. 2 - один пз возможньЕх видов интерференционных картин, возникающих при контроле.Схема содержит источник монохроматиче ского света 1 (например, лазер, ртутная лампа и т. д.), телескопическую систему 2, полупрозрачную пластину 3, наблюдательную систему 4 (11 апример, глаз, микроскоп и т. д.) контролируемую линзу 5.5 Контроль...

Номер патента: 418711

Опубликовано: 05.03.1974

МПК: G01B 9/02

Метки: 418711

...схема двухлучевого интерферометра для измерений малых перемещений в двух взаимно перпендикулярных направлениях представлена на чертеже,Интерферометр состоит из источника света 1,осветительной системы, содержащей линзы 2,3 и диафрагму 4, светоделителя 5, зеркала 6плеча сравнения, зеркал 7, 8, 9 измерительно 5 го плеча, подвижных устройств 10, 11, 12 дляперемещения объекта измерений и зеркала 7в двух взаимно перпендикулярных направлениях, устройства 13 для регистрации интерференционной картины,0 При одновременном перемещении подвижного зеркалаи объекта измерений в двухнаправлениях сдвиг интерференционной картины пропорционален отношению где Л - перемещение объекта в направлении, перпендикулярном плоскости зеркал 7 ц 9;20 т...

Номер патента: 418717

Опубликовано: 05.03.1974

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: 418717

...диафрагму 4, расположсццую в передней фокальцой плоскости линзы 5. Зеркало 8 и проекционный объектив 9 вмсстс с линзой 5 проектир, ют апсрдцаф 13 агм 4 в плоскость выходного зрачка мцкрообъсктцвов 10 ц 11. Объектив 9 проектирует полсгую диафрагму 7 в бесконечность.Рабочая интерферационная ветвь состоит из испытуемой поверхности 12, микрообъектива 10 оптической детали 13 переменной толщины и светоделительной пластины 14.Ветвь сравнения состоит из поверхности 15 сравнения, микрообъектива 11, плоскопараллельной пластины 16, компенсационных клиньев 17 и светоделительной пластины 14.Наблюдательная ветвь со спектроскопом состоит из объектива 18, призмы 19, зеркала 20, щели 21, окуляра с вынесенным зрачком 22, дифракцио иной решетки 23,...

Номер патента: 419719

Опубликовано: 15.03.1974

Автор: Изобретен

МПК: G01B 9/02

Метки: излерения, интерференционный, линейных, образцовых, оптических, размеров

...способ осуществляют следующим образом.Один пучок света отражается от пластины 5 и падает по нормали на прозрачну 1 о аттестованную пластину 4. Одна часть этого пуч. ке 1 Отэаэкястс 51 От Верхне 1 пОВс 1 э .ности пластины, другая часть проходит пластину и отражается от зеркала э, зятем обе част 1 пучка идут в обратном направлении, проходят пла1 Риг. Г Составитель Лобзова Тскрсд Л. Васильева Корректор Л. Чуркина Редактор В. Новоселова Зака 3067 11 зд, Ув 1115 Тираж 760 Г 1 одписнос Ц 1 П 1 ИП 11 Государственного ком 1 птета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, К, Раугиская наб., д. 4/5Обл. тин. Кострок 5 ско 1 о уиравлснип издательств, полигра(ьпн и книжной опои.ц сти 11 у д, сООиряитс 51 00 ьс 1 стивоз б...

Номер патента: 427229

Опубликовано: 05.05.1974

Авторы: Зиновьев, Новиков, Сников, Филипский

МПК: G01B 9/02

Метки: объекту, отдельных, принадлежности, элементов

...быть использовано при исследовании частей твердых тел с целью восстановления объекта по составлявшим его частям и решения вопроса о припал- б лежности их к единому целому.Существенным недостатком известных способов является то, что при отсутствии внешних характеристик рисунков общей линии разрыва (разлома) не всегда удается однознач но установить принадлежность отдельных элементов к единому целому и поэтому проводить комплексные исследова,ния.Целью изобретения является ооеспечение однозначности решения экспертизы и быстро ты ее проведения лаже при отсутствии внешних индивидуальных узоров или некоторых элементов, составлявших общую линию разрыва (разлома).Для этого оптически прозрачные плоские предметы, представляющие собой части...

Номер патента: 434257

Опубликовано: 30.06.1974

Авторы: Щербов, Электроники

МПК: G01B 9/02

Метки: диагностики, интерферометр, плазмы

...направлению распространения сигнала и составляет угол 45 с плоскостью поляризации.На чертеже приведена блок-схема предлагаемого интерферометра.Сигнал от СВЧ генератора 1 через развязывающее устройство 2 делителем 3 делится на две части (опорный и измерительный сигналы),5 передающую анткой 7.Вектор электрического поля измерительного сигнала перпендикулярен к проволочной решетке, поэтому он проходит сквозь нее без 10 ослабления.Пройдя через плазму 8, сигнал отражаетсяот двухгранного отражателя 9, разворачивает плоскость поляризации на 90 и попадает на решетку 7. Благодаря повороту плоскости 15 поляризации вектор электрического поля отраженного сигнала оказывается параллельным проволочкам решетки, а следовательно, он вновь...

Номер патента: 435447

Опубликовано: 05.07.1974

Авторы: Бобович, Глазман, Майоров

МПК: G01B 9/02

Метки: вибросмещений, малых, стробоинтерференционный

...лампы на 180, не меняя при этом фазы напряжения на вибраторе, получим подсвет зеркала интерферометра в нижнем положении, т, е, отрицательную полуволну. 3 носится к области измериможет быть использовано радуировке вибропреобразоНа экране интерфе том картинка переместится в к положение Таким образом, за але от нуля первое положение к ле переключения, также от нул в результате разности измерений ную амплитуду колебаний стол - размах колебаний.Цель изобретени лияния теплового дрейфа и и измерения.Для этого на экране интерферометра одновременно наблюдается две картины интерференции, одна из которых соответствует одному крайнему положению объекта при вибрации, а другая - смещенному на 180 положению объекта. Для получения двух...

Номер патента: 438865

Опубликовано: 05.08.1974

Автор: Арлов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, сдвига

...объ ектив 5 вместе с объективом 4 образуетуменьшенное изображение 7 объекта, расположенное вблизи задней фокальной плоскости объектива 5.Сдвиговое устройство расщепляет падаю 5 щую на него световую волну на две, расходящиеся под углом 0 одна к другой. В качестве устройства сдвига может быть использовано любое из известных приспособлений для углового расщепления световых лучей. Объектив 8 формирует на экране 9 раздвоенное изображение объекта. В области переналожения изображений наблюдаются интерферепционные полосы, характеризующие разность фаз между точками волновых фронтов, разделенными расстоянием сдвига АПеремещение устройства сдвига в 1 тической оси приводит к изменению Н согласно формулеКорректор Л. Котова Редактор В, Смирягииа...

Номер патента: 441443

Опубликовано: 30.08.1974

Авторы: Власов, Вульман, Пресняков, Слоцкий

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, сдвига

...этого система деления отраженного от объекта пучка выполняется в виде набора диафрагм, размеры которых определяются величиной измеряемой деформации и величиной сдвига. оправе 3, мпкрометрпческпй винт 4 для перемещения половины 2 бплинзы относительно ее неподвижной половины 5, закрепленной в неподвижной оправе 6. Действующие диаметры обеих половин билцнзы регулируются оправами 7 и 8.В процсссе измерения излучением когерентного источника освещают исследуемый объект. Вблизи плоскости квадратичного детектора получают два сдвинутых одно относптельно другого изображения объекта. Величину сдвига устанавливают по понпусной шкале винта 4 либо визуально по сдвигу изображений. Прп этом действующие диаметры обеих половин билинзы...

Номер патента: 444050

Опубликовано: 25.09.1974

Авторы: Власов, Пресняков

МПК: G01B 9/02

Метки: диффузно-отражающих, объектов, различных, состояний, сравнения

...дое из которых используют как ойо-рное для другого при исследованииметодом двойной экспозиции и какопорное и восстанавливающее при 5 исследовании в реальном времени,а зафиксированные регулярные интерференционные полосы, составляющиемикроструктуру сдвийутых изображений объекта, используют для разде 1 о ления различных порядков дифракции при восстановлении изображений с квадратичного детектора.Преимущества способа приисследовании фазовых и зеркально 15 отражающих объектов заключаютсяв том, что при освещении указанныхобъектов через диффузный рассеиватель сдвинутые изображения можнополучать делением волнового фрон 2 о та,что сокращает число необходимых операций и упрощает соответствующие устройства,а также даетвозможность...

Номер патента: 448347

Опубликовано: 30.10.1974

Авторы: Дикань, Лазарева, Либер, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: большого, выпуклых, диаметра, интерферометр, линз, поверхностей, поверхности, сферических, формы

...или фотографирования интерференционной каю ртины и экран 8 или фотопленку для осковское ордена Ленина и ордена Трудового Краснонамени высшее техническое училище им. Н.Э.Бауманарасногорскиф механический Завод448347 31.егистрации интерференционной картины.Линзу 9 с контролируемой поверхностью К устанавливают между компенсатором и эталонным сферическим зеркалом.lНа фиг.2 показано: У -изображение точки Р , .построенное толькоИкомпенсатором 5; У -изображение точки Р ,построенное компенсатоом и первой поверхностью линзы 9;и С-центры кривизны соответственно контролируемой поверхности линзы 9 и эталонного сферического зеркала б .Точки У,Си С должны быть с овмещены.Интерферометр работает следующим образом.Лучи, выходящие из объектива...

Номер патента: 454417

Опубликовано: 25.12.1974

Авторы: Отменников, Реутора

МПК: G01B 9/02

Метки: визуализации, неоднородностей

...важных случаях - при изучении неоднородностей больших размеров.Цель изобретения - улучшение светотехнических характеристик и обеспечение равномерного освещения основного растра в известном устройстве.В предлагаемом устройстве основной растр выполнен в виде ряда светящихся элементов, например люминесцентных ламп, В результате одновременно решается и проблема изготовления основного растра и его равномерное освещение, что обеспечивает возможность успешного использования прибора для изучения неоднородностеи больших размеров.На чертеже изображена принципиальнаясхема устройства.5 Основной растр 1, состоящий из ряда светящихся элементов, с помощью объектива 2 проецируется на визуализирующую диафрагму 3, представляющую собой негатив изображения...

Номер патента: 454418

Опубликовано: 25.12.1974

Автор: Контиевский

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометра, наблюдательная

...линзами 2 и 3 введена куопризма 1 с зеркальными гранями и две прямоугольные призмы о и Ь, установленные на оощее основание 1 на чертеже не показано), подвижное вдоль оптическоп оси наолюдательнои системы. 1.1 аолюдение ведется за диафрагмоп (, расположеннои в заднеп фокальноп плоскости линзы,5. 11 лоскос 1 ьлокализации интерференционных полос равной толщины сопряжена с реором 9 куб-призмы, лсжащи в переднеп фокальноп плоскосгп линз 3. Кривая 1 О иллюстрпрусг распределение освещенности в интерференционной полосе. Ребро 9 кубпризмы служит границей раздела поля зрения. С одной стороны границы раздела наблюдается часть интерференционной полосы, расположенная левее точки 11 на кривой освещенности, а с другой стороны наблюдаетсячасть...

Номер патента: 458705

Опубликовано: 30.01.1975

Авторы: Александров, Зубарев, Подобрянский, Семибратов

МПК: G01B 9/02

Метки: асферических, второго, поверхностей, полированных, порядка

...пентапризмы 2, проектируется на две расположенные симметрично оптической оси площадки кольцевой зоны радиуса У вспомогательной поверхности 3, отражаясь от которой, направляется на контролируемую поверхность 4 и, вторично отразившись от двух симметричных площадок кольцевой зоны У, направляется на две выходные пентапризмы 5, из которых далее в отсчетную зрительную трубу 6.Отступление профиля обрабатываемой по верхности от идеального, рассматриваемоекак симметричный поворот двух зеркал в контролируемых зонах У, вызывает отклонение отраженного луча от своего нормального направления на некоторый угол а, величина и О направление котброго зависят от величины ихарактера ошибки. Проходя через две входные пентапризмы 2, лучи коллиматора 1...

Номер патента: 396541

Опубликовано: 15.03.1975

Авторы: Зеликсон, Трохан

МПК: G01B 9/02

Метки: прибор, теневой

...визуализирующую диафрагму, рную в фокальной плоскости объект5 чающийся тем, что, с цельючувствительности прибора, диафранена из фотокрасного материала. оптический источника , объектив асположенива, отлиповышения гма выполИзобретение относится к средствам качественного изучения оптических неоднородностей прозрачных течений и может быть использовано при исследованиях в условиях высокого уровня внешних помех.Однако согласно схемам известных теневых приборов установка чувствительности прибора производится механическим перемещением визуализирующей диафрагмы вручную или с помощью следящей системы. В предлагаемом теневом приборе автонастройка чувствительности прибора производится без механического перемещения визуализирующей диафрагмы,...

Номер патента: 469882

Опубликовано: 05.05.1975

Авторы: Белозеров, Черных

МПК: G01B 9/02

Метки: гелографический, интерферометр

...3 коллимированный пучок делится,на два пучка, которые после отражения от зеркал 4 и 5 направляются на регистрирующую среду 8.Сигнальный плоский пучок 1, на выходе из оптического элемента 6 образует совокупность элементарных плоских волн, распространяющихся под различными углами в нескольких направлениях. Исследуемый объект просвечивается совокупностью таких световых волн. В плоскости регистрирующей среды элементарные плоские волны интеприруют с опорной световой волной. При этом на фотопластинке одновременно регистрируется совокупность голопрамм, каждая из которых соответствует определенному, направлению просвечивания объекта.На стадии восстановления волновых фронтов (см. фиг. 2) голограмму просвечивают только опорным пучком 1,....

Номер патента: 470699

Опубликовано: 15.05.1975

Авторы: Власов, Пресняков, Семенов

МПК: G01B 9/02

Метки: объектов, размеров, формы

...и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д 451 ереповецкая городская типография гдс. У, (х,у)1) и Ук(х,у)1КОМП.СКСП 1 С ЯМП,ИТУДЫ В П:10 СКОСТИ ИЗООРЯ- женил для эталонного и контролируемого изделий соответственно, - (х,у) включает в сеОоя случайную начальную фазу, характеризующую диффузно отражающую поверхность изделий, а и (ог средние и пространственныс частоты, на которых происходит совмещение изображений, Требуемое совмещение и фокусировку с образованием несущей пространственой частоты можно осуществить различны 11 п способямп, например, при помощи двуапертурной белизны. Следующую операцию - изменение оптического пути в части голо 15 графической схемы также можно осуществить несколькими методами, например, исследуемый объект поместить...

Номер патента: 481765

Опубликовано: 25.08.1975

Авторы: Волков, Матвеев, Харитонов

МПК: G01B 9/02

Метки: зеркальный, интерферометр, сдвига

...зеркала 7 (входное)и 11, зеркала 5 и 6 установлены в верошинах ромба под 10-15 к направлениюпадающего на них светового пучка,Полупрозрачные зеркала 8-10 ориентироваы параллельно входному зеркалу 7,Интерферометр работает следующимобразом, Световой пучок от источникасвета 1, пройдя входную щель 2, с помощьюполупрозрачного зеркала 3 направляетсяна сферическое зеркало 4, отражается отнего, проходит через зеркало 3 и попадаетна входное полупрозрачное зеркало 7.После зеркала 7 световые пучки распросъраняются по четырем оптическим ветвям.Первая основная ветвь интерферометра7-8-5-12-12-34 (Х). Вторая основая.а 368Тираж 782 Подписи аказ ИИП осударственного комитета Совета Мпо делам изобретений и открытий Москва, 113035, Раушская...

Номер патента: 482619

Опубликовано: 30.08.1975

Авторы: Отменников, Реутова

МПК: G01B 9/02

Метки: исследования, неоднородностей, оптических

...установленным за пределами глубины резкости основного растра на расстоянии, обеспечивающем проектирование изображения источника света осветителя во входной зрачок устройства, и имеющим полный угол рассеяния, равный входной апертуре объекти- ва отехничех свойств ный угол туре объвключает жателя 2, отражаю- а, местныалее, и уг- Отражаны резкопланом) ектирова- осветите- Расстояи отражаП редм ет изобретения Составитель И. Климова Техред Т. Миронова Корректор Л, Денискина Редактор О. Юркова Заказ 19/6 Изд. М 1978 Тираж 782 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж.35, Раушская наб д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 где 1 - расстояние между объективом 5 иосновным...