G01B 9/02 — интерферометры

Страница 17

Узел регулировки

Загрузка...

Номер патента: 1330456

Опубликовано: 15.08.1987

Авторы: Брда, Васильев, Герасимов

МПК: G01B 9/02

Метки: регулировки, узел

...плоскости, параллельной оси корпуса 1. Первый механизм 2 по-. ворота оправы 3 выполнен в виде шариков 9 (не менее четырех), взаимо-. действующих между собой, и вкладыша 10 с внутренней конической поверхностью 11, расположенного в оправе 3 перпендикулярно оси корпуса 1 и контактирующего своей конической поверх- ЗБ костью 11 с одним из шариков 12. Ответной частью первого механизма 2 по 2ворота оправы 3 является вкладыш 13,с внутренней цилиндрической поверх-ностью 14, установленный соосно вкла-. дышу 10 и контактирующий своей внутренней цилиндрической поверхностью14 с остальными шариками 9 . Дополнительный механизм 5 поворота оправы 3представляет собой вкладьпп 15 с. внутренней цилиндрической поверхностью16, установленный на корпусе 1 на...

Способ контроля кривизны поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1330457

Опубликовано: 15.08.1987

Авторы: Безверхова, Богачев, Воеводин

МПК: G01B 9/02

Метки: кривизны, поверхностей

...от рассчитываемого начального значения оценивают угол наклона поверхности относительно эталонной поверхности.За эталон при осуществлении предлагаемого способа можно принять любую идеальную поверхность, например плоскость, Пусть форма контролируемой поверхности совпадает с идеальной плоскостью, Тогда каждая пара взаимно когерентных пучков образует при пересе чении с поверхностью сетку интерференционных полос с шагом, равным ЪДВФ. (1) 5 В созср; фз .п -2где= 1,2 - номер пары пучков;Ф - длина волны излучениялазера;ц; - углы между нормалью кидеальной плоскости ибиссектрисами углов 0,Интерференционные полосы разныхсистем будут параллельны друг другу 15при условии, что углы 9 и Щ; принадлежат одной плоскости, как показанона чертеже.Так как...

Устройство для перемещения зеркала интерферометра

Загрузка...

Номер патента: 1337651

Опубликовано: 15.09.1987

Авторы: Гусев, Иванов, Матвеев, Степаненков

МПК: G01B 9/02

Метки: зеркала, интерферометра, перемещения

...воображаемого цилиндра, расположенного Внутри сильфонной муфты (фиг.1) либо в виде семейства радиально располокецных стержней 13 (фиг.2 и 3), Радиально расположенные стержни выполцены изогнутыми в плоскости ихразмещения.Устройство работает следующим образом,Для обеспечения сканирующего движения приводному электродвигателю 6 задают периодическое движение заданной частоты и амплитуды. От электродвигателя движение передается через зубчатую пару 7-8 в сильфонную муфту 10 на промежуточное кольцо 11. Далее на подвижное звено 3 движение передается через упругий делитель перемещений, образованный стержнями 12 (13) и 5, Крутильные перемещения подвижного звена 3 будут во столько паз меньше крутильных перемеще 7651 2ций промежуточного кольца...

Оптический микроволноводный интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 1337652

Опубликовано: 15.09.1987

Авторы: Остроуменко, Шмалько

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, микроволноводный, оптический

...параметрами связи, ИнтерФерометр работает следующимобразом. Оптическое излучение поступает во входной волновод 2, половина его мощности ответвляется направленным ответвителем 6 в плечо 4, оставшаяся ччсть мощности ответвляется направленным ответвителем 7 в плечо 5. Затем через ответвители 8 и 9 излучение поступает в выходной волновод 3, где происуодит его интерФеренция. Если разность Фаз волн обоих плеч интерФерометра равна нулю (модулирующий сигнал отсутствует), на выходе интенсивность излучения максимальна. Если же разность фаэ равна Й радиан (модулирующий сигнал максимален) в интенсивнос оптического излучения минимальна. Изменение величины модулирующего электрическогосигнала приводит к модуляции интенсивности оптического...

Способ измерения профиля выпуклых оптических поверхностей вращения

Загрузка...

Номер патента: 1337654

Опубликовано: 15.09.1987

Авторы: Пуряев, Романов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: вращения, выпуклых, оптических, поверхностей, профиля

...на оси вращения призмы, а сама призма находилась над вершиной контролируемой детали 8, После этого пучок света лазера 1 коллимируют телескопической системой 2, делят его светоделительной пластинкой 3 на два пучка, которые с помощью зеркал 4 и 5 направляют под прямым углом на контролируемую деталь 8.После отражения обоих пучков от взаимно перпендикулярных участков контролируемой поверхности их соединяют на светоделительной призме б. 20 25 ЗО 35 40 45 50 55 Интерференционную картину взаимодействия обоих пучков наблюдают на матовом экране 7, параметры этой картины (расстояние между центрами полос) измеряют с помощью измерительного микроскопа.Интерференционная картина, наблюдаемая на экране, представляет собой результат взаимодействия двух...

Интерферометр для контроля формы сферических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1343242

Опубликовано: 07.10.1987

Авторы: Волков, Комраков, Савельев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G01B 9/08 ...

Метки: интерферометр, поверхностей, сферических, формы

...в точку Р задний фокус эонной пластины, который совмещен с передним фокусом Р, первого объектива 7. На второй объектив 8 падает плоская волна 0-го порядка от зонной пластины 6 (рабочая волна) и плоская волна, выходящая из первого объектива 7, используемая как опорная волна сравнения. Объектив 8 фокусирует обе волны в1свой задний фокус Г 1, который совмещен с центром С, кривизны контролируемой сферической поверхности 10 детали 11, и поэтому на контролируемую поверхность 10 обеспечивается падение световых лучей вдоль нормалей.55 менять одну контролируемую деталь надругую. Небольшие смещения вдольустановленной детали не вносят заметных искажений в интерференционнуюкартину. Это позволяет применять инАпертура объектива 8...

Интерференционное устройство для контроля децентрировки линзы

Загрузка...

Номер патента: 1345054

Опубликовано: 15.10.1987

Авторы: Елисеев, Контиевский

МПК: G01B 9/02

Метки: децентрировки, интерференционное, линзы

...90, Призменный блок 8, 9 установлен одной из свободных граней кубпризмы 8 параллельно маске 7, причем ребра прямь.х углов призм 9 пересекают соответственно оптическую ось объектива б и ее зеркальное изображение, образуемое светоделительной граньюкуб-призмы под углами 90". Окуляр 10расположен на пути пучка, выходящегоиз куб-призмы 8 со стороны его второй свободной грани, таким образом,1что передняя фокальная плоскость окуляра посредством призменного блокаоптически сопрягается с плоскостьюмаски 7.Устройство работает следующим образом.При включении лазера 1 световойпучок через светоделительное зеркало2 направляется на поверхности центрируемой линзы 4. Отраженные от поверхностей линзы 4 два когерентныхволновых фронта разной кривизны...

Интерферометр для измерения углов поворота объекта вокруг оси

Загрузка...

Номер патента: 1355863

Опубликовано: 30.11.1987

Автор: Аноховский

МПК: G01B 9/02

Метки: вокруг, интерферометр, объекта, оси, поворота, углов

...зеркалам 6 и 7 и образующие с ребрами двухграннь я углов, составляемых зеркалами 6 и 7 с зеркалом 5, острые углы 7 , и блок 10 регистрации. Светоделительная поверхность пластины 2 лежит в плоскости, являющейся биссектрисой двухгранного угла, образованного зеркалами 6 и 7. Лазер 1 ориентирован таким 40 образом, что пучки 3 и 4 направлены внутрь двухгранных углов, образуемых зеркалами 6 и 5 7 и 5 соответственоно, под углами 1 = 90 - и(п - нечетное число) к их ребрам и параллельно.зеркалам 6 и 7.Интерферометр работает следующим образом.Пучок лазера 1 разделяется пластиной 2 на два пучка 3 и 4. Многократно отразившись от зеркал 5, 6, 8 и 5, 7, 9 соответственно, зти пучки возвращаются на светоделительную ппастину 2, совмещаются ею и...

Интерферометр для контроля цилиндрических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1359663

Опубликовано: 15.12.1987

Авторы: Бубис, Кузнецов, Хорошкеев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, поверхностей, цилиндрических

...цилиндрическую линзу 10, регистратор 11 интерференционной картины. 25Интерферометр работает следующим образом.Пучок лучей от монохроматического источника 1 света проходит через поляроид 2, регулирующий интенсивность пучка света. С помощью цилиндрической телескопической системы 3 сечение пучка света преобразуется в продолговатое, Далее нучок лучей преломляется зеркалом 4 и с помощью цилиндри 2ческой линзы 5 собирается в плоскости щелевой диафрагмы 6. Цилиндрический объектив 7 формирует параллельный пучок, который светоделителем 8 преломляется к второму цилиндрическому объективу 9, формирующему предметную светящуюся линию. За вторым цилиндрическим объективом 9 располочжена концентрическая цилиндрическая линза 10 выпуклой...

Способ определения среднего радиуса кривизны поверхности крупногабаритного плоского зеркала

Загрузка...

Номер патента: 1359664

Опубликовано: 15.12.1987

Авторы: Поздняков, Тхор

МПК: G01B 9/02

Метки: зеркала, кривизны, крупногабаритного, плоского, поверхности, радиуса, среднего

...зеркала 2. Регистрируют рического зеркалаф иа фиг, 2 - схема З 0 на фотопленку интерференционную карполучения интерферограммы при паде- тину, измеряют астигматизм волнового нии по нормали к контролируемому фронта и определяют радиускривизны плоскому зеркалу параллельного пучка контролируемого плоского зеркала получей. формулергсоз 1 81 пг 1В, цсоз 1 соз 1+1з г2% дИ -ЬНг 81 пг( соя 1+сОБсОБ ( соя 1+81 п цгде К 40 50- радиус кривизны контролируемого плоского зеркала; - световой диаметр контролируемого плоского зеркала - длина волны светового излучения- размах астигматической ошибки в деформации волного фронта в схеме при наклонном падении на контролируемую поверхность расходящегося светового пучка, выходящего изцентра кривизны...

Интерферометр для контроля формы оптических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1359669

Опубликовано: 15.12.1987

Авторы: Бубис, Канатов, Кузинков

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, оптических, поверхностей, формы

...контроля формы коническихоптических поверхностей.Цель изобретения " возможностькентроля формы конических поверхностей.На чертеже изображена принципиальная схема интерферометра для контроляформы оптических поверхностей.Интерферометр содержит последовательно установленные монохроматический источник 1 излучения, напримерлазер, интерференционный блок 2, конус 3 с образцовой поверхностью, плоское автоколлимационное зеркало 4 инаблюдательную систему 5,Интерферометр работает следующимобразом,Излучение монохроматического источника 1 выходит из интерференционного блока 2, который формирует цилиндрические волновые фронты - рабочий и сравнения. Рабочий фронт падаетна конус 3 с образцовой. поверхностью,ось которой совмещена с осью...

Устройство для измерения поля отклонений от плоскостности поверхности твердого тела

Загрузка...

Номер патента: 1364865

Опубликовано: 07.01.1988

Авторы: Аугулис, Пранявичюс, Рагаускас, Ясюленис

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, H01J 37/30 ...

Метки: отклонений, плоскостности, поверхности, поля, твердого, тела

...ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д, 4/5Производственно- полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул, Проектная, 4 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения поля отклоненийот плоскостности поверхности твердого5тела и микрогеометрии поверхности,Цель изобретения - возможность измерения поля отклонений от плоскостности в процессе ионно-лучевой обработки эа счет совместного использования приэменного интерферометра ивакуумной камеры,На чертеже изображена оптическаясхема устройства, 15Устройство содержит за выходнымокном лазера 1 последовательно расположенные коллиматор 2, светоделитель3 и держатель 4 образцов, Далее походу...

Интерферометр для контроля формы вогнутых оптических асферических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1368623

Опубликовано: 23.01.1988

Авторы: Пуряев, Романов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферических, вогнутых, интерферометр, оптических, поверхностей, формы

...процесса установки объектива в заданное положение при на гблюдении сплошной юстировочной интерференционной картины и уменьшениявлияния децентрировок элементов рабочей ветви на результаты контроля.На чертеже показана принципиальная схема интерферометра и ход лучейв нем.Интерферометр содержит источник 1монохроматического излучения, телескопическую систему для создания параллельного пучка лучей, состоящуюиз линз 2 и 3, светоделитель 4 дляразделения излучения на две ветви,плоское зеркало 5, установленное водной ветви, объектив 6, установленный в другой рабочей ветви, и регистратор 7 интерференционной картины,Объектив 6 рабочей ветви выполненв виде плосковогнутой и двояковыпуклой линз, установленных так, что35плоская поверхность...

Интерферометр для контроля формы плоской поверхности оптической детали

Загрузка...

Номер патента: 1368626

Опубликовано: 23.01.1988

Авторы: Волков, Горшков, Корнеев, Леонтьев, Фомин

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: детали, интерферометр, оптической, плоской, поверхности, формы

...полос)Виброопоры 16 предназначены для З 5 виброизоляции емкости 8 с вязкойжидкостью 9. Р качестве вязкой жид1368626 кости 9 используется техническоемасло типа турбинного, вазелинового,веретенного и т,п., свободная поверхность которого является эталоннойплоской поверхностью 17.Ориентация базировочного приспособления 7 в двух фиксированных положениях обеспечивается направляющими 18,Интерферометр работает следующимобразом. Осветитель 2 формирует точечный источник А монохроматического излучения в фокусе Г гиперболической поверхности 4 оптического элемента 3.Гиперболическая поверхность 4 преобразует сферический волновой Фронт от точечного источника А в плоский волновой фронт, распространяющийся в 20 направлении нормалей к...

Интереферометр для контроля формы вогнутых эллиптических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1370453

Опубликовано: 30.01.1988

Авторы: Гусев, Комраков

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: вогнутых, интереферометр, поверхностей, формы, эллиптических

...отражается и частично проходит через выходную грань. Отраженный пучок используется в качестве эталонного пучка сравнения. Вышедший иэ кубика 6 световой пучок отражается от контролируемой поверхности 12, выпуклой зеркальной поверхности концентрической линзы 10 и повторно от контролируемой поверхности 12. Этот световой пучок несет в себе информацию об ошибках Формы контролируемой поверхности 12 и образует с эталонным пучком сравнения интерференционную картину в виде концентрических колец. Так как световые лучи дважды отражают. ся от контролируемой поверхности 12 в точках, симметричных относительно ее вершины, то одно интерференционное кольцо соответствует симметричной ошибке, равной/4. При визуальной оценке кольцевои интерференционнои...

Способ выставления нулевой разности хода в плечах интерферометра

Загрузка...

Номер патента: 1375949

Опубликовано: 23.02.1988

Авторы: Головин, Нестеров, Панков

МПК: G01B 9/02

Метки: выставления, интерферометра, нулевой, плечах, разности, хода

...для выставления нулевой разности хода в плечах интерферометров при их юстировке.Цель изобретения - повышение точсти выставления нулевой разности да в плечах интерферометра, достигаемое благодаря направлению на вход 1 р интерферометра моды высокого порядка излучения лазера и регистрации на выходе интерферометра амплитуды ин- . терференционного сигнала, что позволяет повысить чувствительность спосо ба к неравенству оптических длин нала, Зависимость амплитуды от разности хода имеет вид 1 А(г -г )=Р( ----- ) хв- разность хода в плечах интерферометра;Р , Р - полиномы Лежандра степени ш, и;В, - конфокальный параметрпучка.Анализ уравнения (2) показывает, что амплитуда переменной составляющей интерференционного сигнала имеет максимум...

Устройство для измерения фазовых сдвигов лазерного излучения

Загрузка...

Номер патента: 1383089

Опубликовано: 23.03.1988

Авторы: Горбатюк, Календин, Супьян

МПК: G01B 9/02

Метки: излучения, лазерного, сдвигов, фазовых

...14 и 15, Питание (возбуждение) однополосных акустооптических моду 1383089ляторов осуществляется напряжениемфиксированной частоты, в пределах5-80 МГц. Частота возбуждения определяется конструктивными размерамикварцевой пластины выбранного видамодулятора. Питающие напряжения генераторов 23 и 24 расстроены на частоте друг относительно друга на величину 1 = - : - = 10-100 кГц, опре 2 д деляющую значение промежуточной частоты.При прохождении через однополосные акустооптические модуляторы 14 и. 15 излучение лазера получит смещение по частоте на величину1с/А,=и отклонится на угол Брегга где с - скорость распространениясвета в вакууме,- длина волны излучения лазера в акустооптическомматериале,ЛЛ,2 в длины волн ультразвука,возникающего в...

Интерферометр для измерения линейных перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1384936

Опубликовано: 30.03.1988

Авторы: Бараш, Пресняков, Резников

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, линейных, перемещений

...к измерительной технике, в частности к измерениям перемещений при вибрации,Цель изобретения - повышение чувствительности интерферометра.На чертеже изображена схема предлагаемого интерферометра.Интерферометр содержит источник 1 излучения, светоделитель 2 для разделения излучения на два потока, в одном из потоков последовательно установлены два трехгранных уголковых отражателя 3 и 4, ориентированных основаниями навстречу друг к другу, вершина 5 отражателя 4 усечена плоскостью, параллельной основанию, в потоке излучения, проходящего через светоделитель 2, также два трехгранных уголковых отражателя 6 и 7, вершина 8 третьего отражателя 7 усечена плоскостью, параллельной основанию, и во втором потоке от светоделителя 2 - фотоприемник 9....

Устройство для определения направления смещения подвижного отражателя лазерного интерферометра

Загрузка...

Номер патента: 1392351

Опубликовано: 30.04.1988

Авторы: Дородов, Ермак, Зецер, Шиляев

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометра, лазерного, направления, отражателя, подвижного, смещения

...3 и на входы В установки11 10триггеров 4 и 6, а импульсы с овхода формирователя 2 поступают насчетный вход С триггера 4 и на. входыБ установки "0" триггеров 3 и 5 .Такая последовательность включенияприв одит к тому , что каждый последующий по времени импульс в первойцепи является сигналом для установкитриггеров 4 и 6 в " 0 " , а импульс ,проходящий по второй цепи , являетсясигналом для установки триггеров 3 и15 в 0 , Такая последов ательно с тьсрабатывания возможна лишь при движении синусоидальных сигналов в од"ну сторону , что соответствует движению интерйеренционных полос черезднайрагмы йот опри емник ов в одну ст орону . При этом на выходах триггеров5 и 6 остается высокий логическийпотенциал , а на выходе логическогоэлемента И 7 -...

Интерферометр для измерения линейных величин и показателя преломления

Загрузка...

Номер патента: 1397718

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Бурец, Валова, Янов

МПК: G01B 11/02, G01B 9/02

Метки: величин, интерферометр, линейных, показателя, преломления

...которой требуется определить(фиг,1), либо на объекте 8, изменениедлины которого требуется определить(фиг,З), либо закреплено неподвижно45при измерении показателя преломленияпрозрачного тела 9 или измерения изменения показателя преломления прозрачного тела 9 (фиг.2) таким обра зом, что предметный луч после прохождения через светоделитель 4 попадаетна регистрирующий узел 6.Интерферометр работает следующимобразом.Луч света от источника 1 света сдлиной волны Ъ, и луч света от дополнительного источника 2 света сдлиной волны % падают на полупрозрачное зеркало 3, после которого их оптические оси оказываются совмещенными в пространстве, и дальше они распространяются в виде единого луча, содержащего оптическое излучение двух неравных между собой...

Способ контроля кривизны асферической поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1397723

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Королев, Сенаторов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферической, кривизны, поверхности

...на фиг. 3 -наблюдаемая интерференционная картина.Схема контроля содержит высокоточное плоскопараллельное эталонноепробное стекло 1, проверяемую цилиндрическую деталь 2, оптически койтактирующую со стеклом 1 по линиям 3и 4 и так дальше в процессе обкатывания по стеклу 1, и регистрирующийпРибор 5,Способ осуществляют следующим образом,Приводят контролируемую деталь 2в оптический контакт с пробным стеклом 1 и наблюдают интерференционнуюкартину между ними, по которой судят 30о кривизне контролируемой поверхности.Затем обкатывают контролируемую цилиндрическую поверхность детали 2 попроЬному стеклу 1, сохраняя оптический контакт вдоль образующей цилинд 35рической поверхности, При оЬкатке науголлиния контакта перемещаетсяиз положения 3 в...

Компенсатор для контроля формы поверхности астрономических зеркал телескопов

Загрузка...

Номер патента: 1397724

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Горшков, Дроздов, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G02B 17/08 ...

Метки: астрономических, зеркал, компенсатор, поверхности, телескопов, формы

...1 и положительный 2мениск и двояковыпуклую линзу 3,На чертеже обозначены: С, -центркривизны при вершине контролируемойповерхности зеркала 4; Р, - заднийпараксиальный Аокус компенсатора,совмещенный с точкой С,; а и Ь - воздушные промежутки,ф разделяющие соответственно мениски 1,2 и мениск 2,линзу 3, Б - задний Аокальный отрезок компенсатора, г - вершинный радиус кривизны контролируемой поверхности зеркала 4.Компенсатор работает следующимобразом. 30Пучок параллельных лучей поступает на аАокальный мениск 1, после этого параксиальные лучи идут строгопараллельно оптической оси, а крайние образуют сходящийся пучок лучей.Положительный мениск 2 преобразуетпоступающий на него пучок лучей всходящийся. Двояковыпуклая линза 3преобразует падающий...

Устройство для многократных отражений в двухлучевом интерферометре

Загрузка...

Номер патента: 1399644

Опубликовано: 30.05.1988

Авторы: Воробьев, Даубаев, Недбай, Суденков

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевом, интерферометре, многократных, отражений

...излучения, например геий-неоновый лазер, светоделитель 2, устойство 3 многократных отражений, содер ащее линзу 4, два уголковых отража- .еля 5 и 6 и зеркало 7, связанное сонтролируемым объектом 8, уголковый отажатель 9, фотоприемник 10 и блок 11 реистрации его выходного сигнала.Излучение источника делится светоделиТелем на 2 пучка, один из которых падает на 25Иолковый отражатель 9, а другой - на линзу 4. 11 рошедший линзу луч отражается от зеркала 7 и после вторичного прохождения линзы 4 возвращается уголковымотражателем 5 на зеркало 7. Г 1 осле повторного отражения уголковым отражателем 6 ЗОПучок третий раз отражается от зеркала 7попадает на светоделитель 2, где совмещается с опорным сигналом и образует навходе фотоприемника 10...

Двухкоординатное измерительное устройство

Загрузка...

Номер патента: 1401268

Опубликовано: 07.06.1988

Авторы: Смирнов, Чудов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: двухкоординатное, измерительное

...также два блока 12вычисления контролируемых координат иблок 13 вычисления поправок, входы которо го электрически связаны с выходами фотоприемников 11, а выходы - с входами блоков 12. Вторые входы блоков 12 электрически связаны с выходами фотоприемников 14,служащими для регистрации интерференционных картин в интерферометрах 8,Устройство работает следующим образом.При перемещении узла 3 измерительныйнаконечник измерительной головки,4 скользит по контролируемой поверхности объекта 5, благодаря чему перемещается узел 2.Величины продольных перемещений узлов 2и 3 измеряются с помощью соответствующихинтерферометров Майкельсона 8. Сигнал,несущий информацию о величинах перемещения узлов, поступает на вход соответствующего блока 12...

Способ контроля кривизны плоской поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1402802

Опубликовано: 15.06.1988

Автор: Ребров

МПК: G01B 9/02

Метки: кривизны, плоской, поверхности

...сравнения.Предложенный способ реализуется с помощью устройства (см. фиг. 1), содержащего точечный источник 1 когерентных пучков лучей, последовательно установленные по ходу лучей точечного источника 1 светоделитель 2, коллиматорный объектив 3, в передней фокальной плоскости которого установлен точечный источник 1, объект 4 сравнения, а также диафрагму 5, оптически сопряженную со светоделительной плоскостью светоделителя 2 в передней фокальной плоскости объектива 3.Контролируемый объект 6 устанавливают между объективом 3 и объектом 4 сравнения так, чтобы их рабочие поверхности были параллельны, а нормали к ним совпадали с оптической осью устройства,При определении дефокусировок используют (см. фиг, 2) интерферометр 7, коллиматорный...

Неравноплечий лазерный интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 1404810

Опубликовано: 23.06.1988

Авторы: Гербрандт, Жолудев, Лукин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, лазерный, неравноплечий

...объектив 6 и испытав амплитудное деление на светоделителе 7, пучки формируют четкую интерференционную картину в плоскостях диафрагмы 8 и держателяфотоматериала. Диаметр регулируемой диафрагмы 8 выбирается не более ширины интерференционной полосы. Снимаемый с фотоприемника 9 электрический сигнал подается на усилитель 10 постоянного тока, откуда он поступает в блок 11 определенияконтраста интерференционных полос. Далеесигнал, пропорциональный значению конт 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 раста полос, попадает в формирователь 12 управляющего импульса, который, в случае превышения вычисленного значения контраста над заранее заданным, выдает управляющий импульс на привод спуска фотозатвора 14. Происходит экспонирование...

Стабилизированный интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 1404811

Опубликовано: 23.06.1988

Авторы: Воронцов, Думаревский, Колобков, Малов, Наумов, Шмальгаузен

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, стабилизированный

...5. По ходу предметного пучка последовательно расположены коллимирующая линза 6 и исследуемый объект 7. По ходу опорного пучка расположено сферическое зеркало 8. По ходу совмещенных после интерференции на кубике 4 пучков размещена диафрагма 9 и фотоэлектронный умножитель 10. Выход фотоэлектронного умножителя 10 соединен с входом резонансного усилителя 11, выход которого соединен с входом фазового детектора 12. Генератор 13 через фазовращатель 14 связан с вторым входом детектора 12, Фазовый детектор 12 через интегратор 15 соединен с блоком 16 управления жидкокристаллической ячейкой 5, Выход генератора 13 связан с вторым входом блока 16, выход которого соединен с ячейкой 5.Интерферометр работает следующим образом.Световой пучок лазера 1...

Способ измерения отрезков расстояний

Загрузка...

Номер патента: 1404812

Опубликовано: 23.06.1988

Авторы: Войтович, Комяк, Машко

МПК: G01B 9/02

Метки: отрезков, расстояний

...1 расщепляется делительным зеркалом 2 на измерительный и опорный пучки. В измерительном пучке осуществляют фазовую модуляцию излучения, пропуская его через модулятор 3, который управляется источником 4 переменного сигнала с возможностью перестройки частоты. Частоту модуляции измеряют с по мощью измерителя 5. Измерительный пучок отражается от зеркала 6, снова проходит через модулятор 3 и интерферирует с опорным пучком, отраженным от зеркала 7. Результирующий интерферирующий пучок регистрируется фотоприемником 8.При модуляции фазы пучка с частотойпо гармоническому закону интенсивность 1(1) выходного сигнала равна Изменяя частоту модуляции, подбирают такое ее значение ф, при котором за время двойного прохождения излучением измеряемого...

Фазометр оптического диапазона

Загрузка...

Номер патента: 1411572

Опубликовано: 23.07.1988

Авторы: Григорьев, Желкобаев, Календин, Кухтевич, Супьян, Троцишин, Фролов

МПК: G01B 9/02

Метки: диапазона, оптического, фазометр

...3 от генераторов 10 и 11 возбуждения подают высокочастотные сигналы с различными частотами. В результате дифракцин излучения лазера 1 на выходе акусто- ф 5 оптических модуляторов 2 и 3 появляются дифрагированные лучи плюс первых порядков и недифрагированное излучение нулевого порядка дифракции,Дифрагированные лучи с помощью уголковых отражателей 4 и 5, зеркала б и оптического смесителя 7 совмещаются и поступают на вход фотоприемника 8. В результате на выходе фотоприемника 8 появляется сигнал с частотой, равной разности частот колебаний генераторов 10 и 11 возбуждения. Зтот сигнал поступает на вход системы 9 регистрации фазового сдвига, на второй вход которой поступает опорный сигнал от электрического смесителя 12, выделяющего сигнал...

Способ измерения радиуса кривизны сферических поверхностей объектов

Загрузка...

Номер патента: 1411576

Опубликовано: 23.07.1988

Авторы: Авдеев, Куренкова, Скрипаль, Тупикин, Усанов

МПК: G01B 11/255, G01B 9/02

Метки: кривизны, объектов, поверхностей, радиуса, сферических

...равная расстоянию между плоскостямиВВи ВВ (Фиг 1),с - скорость света;И - время когерентности;Л - средняя длина волны немонохроматического излучения винтервале длин волн от Л доЛ+д Л,Немонохроматическое излучение можно представить как совокупность когерентных монохроматических компос нент, занимающих некоторый диапазон длин волн от Я до Л+ йЯ, Каждая моно- хроматическая компонента образует свою интерференционную картину. Полная интенсивность в любой точке равна сумме интенсивностей, создаваемых каждой монохроматической составляющей. При использовании немонохроматического источника белого света (диапазон длин волн 0,4 - О, 7 мкм), ш с Л /йЛ 2, интерференционная картина имеет слеетра тину с еренционную кар иус, о т л и ччто, с целью...