Интерференционный спектрометр

О П И С А Н И Е 11630523ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик) Опубликовано 30.10.78. Бюллетень40 ) Дата опубгпиксвания онисаспия 25.09.78 по делам изобретений 3) УДК 535.827,4(71) Заявител 4) ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ СПЕКТРОЧЕ Изобретение относится к интерференционным опекгральньвм приборам и,может быть,исэользовано,в качестве спекърюпирометра лля определения истинных температур пламеноирашвн 1 ных солями щелочного металла, путем измерения опношения интвнсивностей двух выбра 1 нных спектральных лен,ий.Извеспны интереференционные 1 спвктрометры 1, солержацсие проектирующую оптику, светолелителыные элементы, дифракционные решепии и звркало.Однако оии обладают недостаточнюй спабильиостью либо предназначвны для решения узкоспециальных задач.Наиболее близким к изобретению пю теюн 1 ическюй супсности;и достигаемому результату являешься ингерференционный слвктрометр 21, содержацлий 1 по ходу летуч,а дифракциовные решепки и регисприрующую систему,с двумя измерительными вхоламикоторый реализует схему с обратню-круговым ходом лучей. Он обеспечивает известную помехюустойчивость измерений, но ие позволяет проводить одновременную региспрацию нееиольиих длин воли при повышенной скюрос пи сканирования,Целью изобретевля является одновременн,ая репислр,апдия неакольиих длин, волн при повышенной скорости с 1 ианирования. Указанная цель достигается тем, что в известном интерференционном опектрометре, содержащем по ходу луча дифракционныс решетки,и реги:грирующую оиствму с двумя,измерительнымп входами, дополнительно устанозленю два зеркала, а дифракционная решетка сна,бжена средствами колебательнопо перемещения, прои этом входы ламсрительной системы подключены к,выхолу усгройства,и средству пвремещения, а зеркала установлены иа полуюкружнюсти, ценср которой делит пополам расстояние между центрами лифракционных решеток, а радиус р,авен поспов 1 ине этого расстюяния.Схема устройст 1 ва сзсбражвна на чертеже.Устройство солериит,входной 1 и выхол.ой обьективы, авегоделитель 3,;входную 4 и выходную 5 диаф 1 рагмы, дифракциюнпые решетками б и 7 с симметричным прюфилем шсприхов, плоские зе 1 ркала 8 и 9, ось 10 позолота решетии, средс пво,колебательного перемещвния решетки (скавирующий элемент) 11, гзыполнвнное из пьезокерамики исси электромагнита, фогоприемник 12 и регистрирующую спствму 18 с двумя измврительными входами, выполненную. например, в виде осциллоскопа и усилителя.Устройство работает следующим юбразом.35 40 ПараллельнъЙ пучок коллимщрозаЛного объективом 1 авета разделяется на аветоделителе на два, падаюцие ооотзепспвенно па решетки б,и 7 примерио .по,нррмал. Поаколыу 1 решетии имеют аиммецричную нарезку штрхов, то в празые и левые их ,псрядки дифрагирует;римерно разное количество радиациями, причем в правые порядки дифрапирует рабочая длина,волны Л, а в левые - рабочая дляна волны Х 2. Плоские зеркала 8, 9 у 1 становлены таким образом, что угол падевия на них длин воли Х и л равен 45, вследствие чего указанные длины (зели точно следуют предписываемому схемой обратно-ируговому,ходу и,после зторичной:ифрищии и раком биьации на светоделителе интерферируют в напразле;нии выходного объекпив,а 2. Для тогда, чтобы длины волн Х и Х, ие иакладывались друг на друг,а на выподеа регистрирова- лись после-"зательно, одио из зеркал, например 8, поворчив,аепся,вокрут оси .параллслынсй штрихам решетки иа малый угол.Регистрация дзух спектров одновременно осуществляется с помощью осциллоакода, на,горизсипалыные пласпины,которого :юдаетая напряжение, питающее сканирующий элемент 11 а на вертикалыные - сиг:ал с фатоэлектроняото умножителя (ФЭУ). Предварительно оценив пропускание спекпрометр,а для обеих длин волн Х и Х 2, можно определить и,испииное отнобщение интенаивностей указанных линий,Вазможен иной вариант работы прибор,а, котда обе дифракционные решетки неподвижны, зато зеркала снабжены аредствами, обеспечивающими их колебателыное движение вакруг осей, параллелыных шприхйм решеток. Частоты сканирования при 5 10 15 20 25 зо этом могут быть разные, поэтому сипналы с ФЭУ должны быть заретиспрированы двумя параллелыно,зключенньпми,репистрирующими снаемами и выведены на два незаписимых осцилласкопа.Изобретение позволяет достичь сформулирсзапную,выше цель - регистрацию, например, двух спеипрадыных элементов, благодаря устанозленному дополнительно зеркалу, высокая же скорость сканврования обеспечивается средстзами, зызывающими высокоч,астотные колебания оп пических элеи ег птси,Формула изобретения Иятерфер ционный снек прометр, содержащий по ходу луча дифраиционные решетаси и репистрирующую систему с двум измерительными входами, о т ли ч а ющи й:с я тем, что, с целью одновременной региатр,ации нескодыиих длин воли при позышенной окороспи оканираевания, в нем доиолителыно устанозлено два зеркалаа Лифракционная решетка снабжена средствами колебательното перемещенвя, ри этом входы измерителыной системы подключены к выходу ус пройства и 1 средспву перемещения, зеркала уетансзлены иа полуощружноспи, ценпр которой делит пополам расстояние между центрами дифракционных решеток, а радиус равен поло 1 вне этого расстояния. Источиики информации, ринятые во вним,ание лри экспертизе:1. Авпорааское свидетелыспво СССР525857, кл. 6 01 В 9/02, 1974.2, Архипов В. М. и др, Об условии осущесчвления сисама в кн. Фзические проблемы спектроскопии, М АН СССР, 1963 т, 2, с. 66.630523 Составитель А. МедведевРедактор Н. Коляда Техред А. Камышникова Корректор И, Симки ш. Харьк. фи пред, Патент Заказ 740/1146 Изд.681 Тираж 850 Подписное НПО Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5