G01B — Измерение длины, толщины или подобных линейных размеров; измерение углов; измерение площадей; измерение неровностей поверхностей или контуров
Автомат контроля диаметра тел вращения
Номер патента: 1534312
Опубликовано: 07.01.1990
МПК: G01B 21/10
Метки: автомат, вращения, диаметра, тел
...из блокаимпульса отбраковки оптических системНа фиг. 1 представлена блок-схема 10автомата; на фиг. 2 - схема блока импульса отбраковки; на Фиг. 3 - эпюрынапряжений на выходах датчика скорости и блока управления,Автомат состоит из пластинчатого 15конвейера 1, датчика диаметра, состоя.щего из осветителей 2 и Фотоприемников 3, и предназначенного для оптической связи с изделиями, расположенными на конвейере 1 в зоне контроля,последовательно соединенных вычислительного блока 1, блока 5 импульсаотбраковки и механизма 6 отбраковки,предназначенного для удаления изделий с конвейера 1 в зоне отбраковки, 25и датчика 7 скорости, связанного сконвейером 1, выход датчика 7 подключен к первому входу блока 4 и второмувходу блока 5, выходы...
Лазерный измеритель микрофлуктуаций диаметра оптического волокна
Номер патента: 1534313
Опубликовано: 07.01.1990
МПК: G01B 21/10
Метки: волокна, диаметра, измеритель, лазерный, микрофлуктуаций, оптического
...в плоскости диафрагмы 6 соответствует некоторому изменению диаметра волокна Д О. Однако за счет действия обратной связи (поскольку выход фильтра 10 соединен с первым входом сумматора) сканирующее зеркало поворачивается на угол Ь с, поэтому действительное смещение интерференционной картины, соответствующее изменению диаметра ЬЛ, составляет величину ДХ, равную; ЬХ =ЬХ-ДИК ,. (1),В принятых обозначениях можно также записать:Д 0=К(,ЬХ; (2)ЬК=К К К, Ь 0, (3) где К й 1 о - коэффициенты передачи усилителя 12 мощности и сумматора 11 соответственно. Из соотношений (1), (2) и (3) следует, чтоД 11=К ДХ (4)К(ргде К (5)ф С " оптПринимая во внимание линейную зависимость между ЬХ и Д Б - разность хода при изменении на ЬП можно записатьДУ=1 ИЮ, (6) где...
Индуктивный преобразователь линейных перемещений
Номер патента: 1128685
Опубликовано: 15.01.1990
Авторы: Карабанов, Кашин, Парюгин, Рожнов
МПК: G01B 7/00
Метки: индуктивный, линейных, перемещений
...обращенным вниз, основную обмотку 2 в Форме трапеции с малым основанием, обращенным в противоположную сторону, т.е. вверх, выполненные аналогично основным обмоткам1 и 2 дополнительные обмотки 3 и 4,и ферромагнитный якорь 5, который выполнея в виде тела вращения и размещен между обмотками 1-4 на продольной35оси 6 симметрии преобразователя, которая совпадает с направлением контролируемых перемещений и с продольной осью якоря 5.Основная обмотка 1 и дополнительная обмотка 3, образующие пару обмоток с обращенными в одну сторону малыми основаниями трапеций, включенымежду собой последовательно согласнои размещены в наклоненных дРуг к другу плоскостях, образующих угол Ы исходящихся к малым основаниям трапеций, расстояние между которыми равно Ь,...
Шаблон для контроля заднего угла спиральных сверл
Номер патента: 1536183
Опубликовано: 15.01.1990
МПК: G01B 3/56
Метки: заднего, сверл, спиральных, угла, шаблон
...сверла, а диаметр ступени 3 несколько меньше диаметра ступени 2. На цилиндрическойповерхности втулки 1 выполнен поперечный паз 4, расположенный противстыка ступеней 2 и 3 под углом коси, а со стороны, противоположнойпазу 4, выполнена лыска 5 Ребро,образованное гранью 6 паза 4, прилегающей к ступени 3, является измерительным элементом шаблона.Шаблон работает следующим образом.Контролируемое сверло не показано) помещают в отверстие втулки 1 иповорачивают вокруг своей оси доупора одного иэ перьев сверла вребро, Лыска 5 обеспечивает лучшийдоступ к пазу 4 Наблюдают визуальляют в отверстие 2 втулки 1 до упораодним из его перьев в грань 6. Повеличине просвета между гранью 6 иповерхностью режущей части сверла сусудят о правильности...
Устройство для измерения высоты стружколомающего уступа на режущем инструменте
Номер патента: 1536184
Опубликовано: 15.01.1990
Авторы: Похмельных, Прохоров
МПК: G01B 5/02
Метки: высоты, инструменте, режущем, стружколомающего, уступа
...штанги 5 и Ь вкрайнее верхнее положение, при котором арретиры касаются упоров 13,и перемещают узел 2 с инструментом22 по основанию 1, подводя инструмент под штанги 5 и 6. Затемповоротом арретира 12 медленно перемещаютштангу 6 вниз и базируют наконечник8 по вершине стружколомающего уступа на инструменте 22, после чегопрочно закрепляют узел 2 с инструментом 22 на основании 1. Затем поворачивают арретир 11 и медленноопускают штангу 5 до контакта наконечника 7 с вершиной режущей частиинструмента 22, Положение штанги 5относительно штанги 6 Фиксируетсяизмерительной головкой 19, по показанию которой судят о величинеотклонения высоты стружколомающегоуступа от настроечного размера.Выполнение измерительного наконечника на штанге в виде...
Устройство для измерения внутренних диаметров отверстий
Номер патента: 1536185
Опубликовано: 15.01.1990
Авторы: Аксенов, Ануфриев, Бобрышев, Мельников, Чистяков
МПК: G01B 5/12
Метки: внутренних, диаметров, отверстий
...скосом4 С другой стороны корпуса 1 установлен индикатор 5. На корпусе 1 неподвижно закреплена разрезная втулка 6 с пазом 7.Еа торцах паза 7 втулки 6 установлена на двух сферических шарнирах 8 поворотная планка 9 с упорами10 и передающей штангой 11,1 арниры 8 размещены на торцовыхпазах втулки 6 и торцовых поверхностях поворотной планки 9. Регулировку зазора в сферических шарнирах 8осуществляют винтом,Узел фиксации угла поворота измерительного механизма содержит дветяги 12, расположенные диаметрально внутри втулки 6. Одни концы тяг12 закреплены на поворотной планке9, Другие концы тяг 12 закрепленына ползуне 13 винтом 14, Полэун 13 связан с хомутом 5 защелкой 16 уп"равления с тягой 17,Устройство работает следующим об 20 разом.При вводе...
Устройство для измерения углов заточки концевого радиусного инструмента
Номер патента: 1536186
Опубликовано: 15.01.1990
Авторы: Башкирцев, Бурганутдинов, Кочунов, Лебедев
МПК: G01B 5/24
Метки: заточки, инструмента, концевого, радиусного, углов
...1 расположены узел 13 крепления с выталкивателем 14 и стойка 15 для измерения радиального и торцового биения. На угломере 11 установлены рабочие губки16 и шкала 17.Устройство работает следующим образом,При измерении геометрических параметров инструмента 18 последний устанавливают в узел 13 крепления. Угломер 11, заФиксированный в направляющем пазу 9 кронштейна 8, при помощикольцевых пазов 10 и стола 3 устанавливают в рабочее положение. 1 еремещением двухкоординатной платформы2 угломер 11 подводят к измерительному инструменту 18, выбирают зазормежду рабочими губками 16 и кромкойинструмента 18 и снимают показания45тикалы 17,При измерении геометрических параметров на радиусе инструмента 18 угломер 11 поворачивают на угол наклона...
Трансформаторный преобразователь линейных и угловых перемещений
Номер патента: 1536187
Опубликовано: 15.01.1990
Авторы: Кулиев, Мамедов, Махмудов, Саттаров
Метки: линейных, перемещений, трансформаторный, угловых
...образом,В исходном положении внутреннихмагнитопроводов 2 и 3, когда они установлены симметрично относительнополукольцевых секций первичной обмотки, во вторичных обмотках дляизмерения линейных и угловых перемещений наводятся равные нулю суммарные ЭДС ЬР= 0; ЬЕ = О,При измерении линейных перемещенийХ или Х внутренние магнитопроводы2 и 3 связываются в объектами измерения так, что при их перемещениивдоль продольной оси преобразователяпроисходит изменение расстояний между полукольцевыми секциями первичнойобмотки 4 и секциями 5,6 и 7,8 вторичных обмоток для измерения линейныхперемещений. Так как секции 5,6 и7,8 измерительных обмоток соединены по диФФеренциальной схеме, тона выходе преобразователя Формируются сигналы ЬЕ и К ,...
Емкостный измеритель расстояния до заземленной поверхности
Номер патента: 1536188
Опубликовано: 15.01.1990
Авторы: Борщев, Красиленко, Лежоев, Макаренко, Новик
МПК: G01B 7/00
Метки: емкостный, заземленной, измеритель, поверхности, расстояния
...6 равно напряжениюна выходе коммутатора 5, падение напряжения на емкостном датчике равноЭДС вторичной обмотки трансформатора 13, а токи через образцовый конденсатор 6 и датчик 1 равны междусобой,Напряжение на выходе емкостного измерителя расстояния до заземленной поверхностиСоЦ= Ц о + Цх 1 С агде Ц, и Ц - напряжения на выходах источников 4 и 11 постоянного напряжения соответственно;С - емкость образцовогооконденсатора 6;С - рабочая емкос.ть датчикаТрансформатор 13 может быть выполнен не только с первичной обмоткой, совмещенной с оплеткой экрани" рованного провода вторичной обмотки, но также с отдельно выполненной обФ маткой, Это может понадобиться при необходимости изменения коэффициента трансформации, когда количество витков...
Устройство контроля наработки заданной длины продукта
Номер патента: 1536189
Опубликовано: 15.01.1990
Авторы: Добривечер, Паченцев, Ходак
МПК: G01B 7/04
Метки: длины, заданной, наработки, продукта
...логического куля на выходе блока 9включение привода, уровень логической единицы - выключение), а навход резательного приспособления12 с выхода элемента И 10 поступает уровень логического нуля, запрещающий рез материала (при поступлении на вход резательного приспособления 1 2 уровня логической единицыосуществляется рез), Раскраиваемыйматериал (продукт) 13 начинает двигаться, С выхода импульсного датчика 1 длины продукта импульсы поступают на счетный вход пересчетного блока 2, коэффициент пересчетайкоторого постоянен и равен 10 , гдеи - количество разрядов предварительного счета, и на вход блока 3контроля останова подающего транспортера, который работает таким образом, что при вращении мерного колеса импульсного датчика 1 длиныпродукта на...
Преобразователь толщины в интервал времени
Номер патента: 1536190
Опубликовано: 15.01.1990
Авторы: Брандорф, Гершберг, Ямпольский
МПК: G01B 7/06
Метки: времени, интервал, толщины
...спадать до нулевого значения, ключ 15 замыкается,Импульсное напряжение е;(1) отрица-.тельной полярности интегрируется бло"ком 9 интегрирования на временноминтервале , - Ф достигая стационарного значения. В момент т клоч1 5 размыкается и одновременно вновьвозникает пилообразный ток х(1), Навременном интервале Ь= 1 = облок 9 интегрирования отключается отисточников сигналов и выполняетФункцию аналоговой памяти устройства,На этом же интервале нсе ЭДС достигают своих стационарных значений,пропорциональных скорости нарастаниятока 1.(т,). В момент , замыкаетсяключ 8 и на вход блока 9, интегриро"5 153вания подается постоянная ЭДС е(С)положительной полярности, вследствиечего выходное напряжение П (С) линейно уменьшается. В момент С когда...
Термоэлектрическое устройство для измерения толщины электропроводящих покрытий на электропроводящей основе
Номер патента: 1536191
Опубликовано: 15.01.1990
Авторы: Кондрашова, Кордит, Матвеев
МПК: G01B 7/06
Метки: основе, покрытий, термоэлектрическое, толщины, электропроводящей, электропроводящих
...Патент , г.Ужгород ул. Га арина,101 Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для измерения толщины покрытий термоэлектрическими методами.Цель изобретения - повышение точ 5 ности за счет исключения влияния отклонений в химическом составе покрытия.На чертеже представлена схема термоэлектрического устройства для измерения толщины электропроводящих покрытий на электропроводящей основе.Устройство содержит устанавливаемье на изделие 1 нагреваемый наконеч ник 2 с нагревателем (не показан) и .холодный наконечник 3, пьезоэлектрический датчик 4, компаратор 5 напряжеюй, дифференциальный усилитель 6, пнковый вольтметр 7, логическую схемуИЛИ 8, блок 9 запуска.Устройство работает следующим образом.Акустический сигнал,...
Способ измерения площади поверхности электропроводного объекта
Номер патента: 1536192
Опубликовано: 15.01.1990
МПК: G01B 7/32
Метки: объекта, площади, поверхности, электропроводного
...ванны измерительное напряжение имеет знакопеременный характер, роли като- э 0 да и анода ванны попеременно выполняют эталонный и измеряемый объекты, а во внешней цепи протекает переменньш измерительный ток.В одном йз полупериодов измеритель 25 нОго напряжения роль катода ванны выполняет эталонный объект, а роль анода - измеряемый объект. В течение этого полупериода находящиеся вблизи катода ионы трехвалетного железа 30 получают электроны и восстанавливают-, ся до двухвалентной формы, в результате чего концентрация ионов трехвалентного железа вблизи поверхности катода изменяется по сравнению с исходной концентрацией ионов этой формы в глубйне раствора электролита, Непосредственно у поверхности катода (эталонного объекта) она снжается...
Устройство для многократных отражений в двухлучевом интерферометре
Номер патента: 1536193
Опубликовано: 15.01.1990
Автор: Недбай
МПК: G01B 9/02
Метки: двухлучевом, интерферометре, многократных, отражений
...блок в интерФерометре для динамических измерений состоит из высокочастотных Фотоприемника 14 и осциллограФа 15.ИнтерФерометр работает следующим образом..Пуч 1, из интерФерометрл с помощью плоских зеркал 9 и 10 подается в устройство для многократных отржеций, а именно нл линзу 4 плрлллель-,но ее оптической оси. Отклоненный линзойлуч попадает нл плоское зеркало 5, установленное с возможностью поворота в Фокусе линзы 4. Зеркало 5устанавливается под небольшим угломк Фокалььой плоскости линзы 4 так,чтобы отраженный от зеркала 5 лучвозвратился на линзу 4 несимметричнопадающему нл зеркало 5 лучу по отношению к оптической оси линзы 4. Тем самым луч многократно проходит путь от зеркллл 5 к подвижному зеркалу связанному с контролируемым объектом...
Интерферометр
Номер патента: 1536194
Опубликовано: 15.01.1990
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр
...на исследуемом объекте 9. Первый (или один из следующих) дифракционный максимум 12 отраженного от ре 5 щетки 8 пучка 11 проходит через полупрозрачное зеркало 5 и попадает на экран 6, где в результате интерференции световых пучков 10 и 12 образуется интерференционная картина, на блюдаемая через микроскоп 7. С помощью зеркал 4 и 5 оптическая схема юстируется таким образом, чтобь 1 угол между пучками 10 и 12 был близок нулю.Направление распространения дифрак 15 ционных максимумов излучения, отра- женного от решетки 8, или углы дифракции с (где И = 1,2,3) определяются из условия:зпц= 1 М,где М - номер дифракционного максимума;- длина волны излучения лазера; 25Ь - период дифракционной решетки,При интерференции двух коллимированных световых...
Интерферометр бокового сдвига
Номер патента: 1536195
Опубликовано: 15.01.1990
Авторы: Бакеркин, Коварский, Контиевский
МПК: G01B 9/02
Метки: бокового, интерферометр, сдвига
...светоделителъную боковую грань, а другая часть попадаетв призму 2, и после отражения от кры ши призмы 2 - на светоделительнуюгрань 1, В результате взаимодействияволновых Фронтов возникает интеферен.ционная картина.55Призма 2 установлена с возможностью смещений по трем направлениямдва из которых являются рабочими длясоздания необходимой величины сдвигаД волновых Фронтов, а одно - остировочным. Смещение призмы 2 возможно в плоскости главного сечения призмы, проходящей через ребро крыши, в направлении, перпендикулярном ребру крыши (рабочее), в направлении, параллельном ребру крьши(юстировочное) . а также в направлении, перпендикулярном плоскости главного сечения призмы (рабочее). Сдвиг 6 волновых фронтов получается в результате смещения...
Пьезооптический измеритель деформации объекта
Номер патента: 1536196
Опубликовано: 15.01.1990
Авторы: Берзин, Гитерман, Караулов, Слезингер
МПК: G01B 11/16
Метки: деформации, измеритель, объекта, пьезооптический
...измерителя деформаций. Вследствие. этого на выходе поляризационно-оптического преобразователя воз, 40 никает сигнал, подаваемый на вход усилителя, выход которого связан со средствами 10 и 11 нагрева. При этом напряжение на средствах 1 О и 11 нагрева изменяется, что ведет к изменению температуры в спомогательных стержней 6 и 7 и, соответственно, их длины. Причем изменение длины стержня 6 приводит к изменению общей длины компенсатора температурных деформаций с тем же знаком, а изменение длины стержня 7 - с противоположным знаком.Таким образом, при включении электрической цепи предлагаемого устрой ства рабочая точка поляризационнооптической схемы автоматически уста; навливается на середине восходящего (или ниспадающего) участка в...
Устройство для контроля профиля зубьев детали
Номер патента: 1536197
Опубликовано: 15.01.1990
Авторы: Енукидзе, Уплисашвили
МПК: G01B 11/24, G01B 5/20
Метки: детали, зубьев, профиля
...в положениедля контроля выбранного участка профиля, включающий синусную линейку 1 с набором плоскопараллельных мер 2 и цилиндрическими штифтами 3, контурный шаблон 4, выполненный в виде клина с прорезью со снятой со стороны основания клина фаской, причем профиль прорези соответствует профилю двух впадин с правой и левой стороны зуба в конт 35 ролируемом сечении и расположен на наклонной поверхности клина, элемент базирования шаблона 4 относительно детали, предназначенный для установки на внешнем конусе колеса, выполненный в виде кольца 5 с заданным внутренним диаметром для данного типоразмера колеса, осветитель (не показан) и блок 6 оптического контроля, выполненный в виде измерительного микроскопа с ортогональными шкалами. Контурный...
Устройство для контроля центрирования оптических деталей
Номер патента: 1536198
Опубликовано: 15.01.1990
Автор: Парняков
МПК: G01B 11/27
Метки: оптических, центрирования
...12,При децентрировании оптической детали 20 ее центр кривизны не совпадает с осью вращения шпинделя 21 станка, при этом центральные лучи двух отраженных световых пучков отклоняются от оптических осей объективов 17 и 19. На основе зависимости расстояния между двумя отклонениями центра световых пучков в плоскости фотоприемника 12 или сетки 9 рассчитывают величину децентрировки.Аналогичным образом определяется децентрировка второй поверхности детали 20.Устройство можетбыть использовано также при контроле центрирования оптических поверхностей при склейке линзовых компонентов. В этом случае при фокусировании наклонных оптических систем на одну из склеиваемых поверхностей, принимаемую за базовую, в плоскости анализа формируется система...
Эллипсометрический способ контроля качества полирования образца
Номер патента: 1536199
Опубликовано: 15.01.1990
МПК: G01B 11/30
Метки: качества, образца, полирования, эллипсометрический
...при одинаковой ориентации образца и эталона относительно внешнегомагнитного поля.При наложении внешнего магнитного поля на образец цз феррита изменяется состояние поляризации страженного от поверхности образ 1 а из ферритапервоначальн.и 1 нсй 1.-поляризованного света вследствие влияния намагниченности. Это извест ия. эффект Керра, падающий под углом лииейио в исляризованньп свет ирис бретиет после отражения ст поверхисстц Феррцта эллиити1536199 ле, и в поверхностном слое частицы Составитель Л. Лобзова Техред М,Ходанич Корректор 11.Мпксимишинец Редактор Н, Горват Заказ 100 Тираж 482 1 тодписносВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при 13.ПТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 1 11Производственно-издательский...
Устройство для контроля внутренних поверхностей
Номер патента: 1536200
Опубликовано: 15.01.1990
Авторы: Абульханов, Богатов, Семенов
МПК: G01B 11/30
Метки: внутренних, поверхностей
...области применения и упрощение Конструкции. 15Иа чертеже показана схема устройства для контроля внутренних поверхостей.Устройство содержит корпус., выполенный В виде втулки 1 с диаметрально 20 закрепленными на нем кронштейнами 2 и 3 с отверстиями, установленную в корусе 1 с возможностью осевого и враательного движений ц.шилд" в =.ы рубу 4 с сланцем 5, коаксиально закрепленный в трубе 4 световод 6 и механизм управления световодом 6, выпал.генный в виде закрепленного на трубе 4 кронштейна 7 с опорным наконечником 8, пружины 9 и тросика 10. 30Устройство работает следующим образом.При использовании в стоматологии вставляют средний и указательный паль" цы руки в отверстия кронштейнов 2 и 35 3, а бопьшой палец руки размещают на опбрном...
Рентгеновский измеритель толщины проката
Номер патента: 1536201
Опубликовано: 15.01.1990
Авторы: Гусев, Егоров, Маслов, Соколов
МПК: G01B 15/02
Метки: измеритель, проката, рентгеновский, толщины
...в каждый полупериод сетевого напряжения импульсырентгеновского излучения, которыепроходят соответственно через клин 9задания и клин 7 компенсации и поступают на сцинтилляционные кристаллы3 и 5, где преобразуются в световыеимпульсы, которые, пройця ФЭУ 4 и 6,преобразуются в электрические сигналы. Сигналы с выхода ФЭУ 4 через нормально замкнутый контакт (НЗК) коммутирующего устройства 10 поступают навход блока 11 выделения сигналов рассогласования и сравниваются между30собой, а сигналы с выхода ФЭУ 6 навход блока 11 не поступают, так какцепь разомкнута через нормально открытый контакт (НОК) коммутирующего устройства 1 О. Разностный сигналс выхода блока 11 поступает на электропривод 8, который перемещает клинкомпенсации до тех пор,...
Ультразвуковой толщиномер
Номер патента: 1536203
Опубликовано: 15.01.1990
Авторы: Агапов, Балданов, Будаев
МПК: G01B 17/02
Метки: толщиномер, ультразвуковой
...Тя измеряется квантованием счетными импульсами генератора 5, следующими с частотой Го, и 25 результат каждого измерения 2 йипи и о с о н режиме сложения записывается в счетчик 6.Задний фронт импульса формирователя 4 запускает одновибратор 8 с управляемой длительностью выходного импульса. Одновибратор 8 на своем выходе формирует прямоугольный им 35 пулЬс с длительностью2Ласгде а = 1 м- - размерный коэффи 40циент,Длительность с также измеряется квантованием счетными импульсами генератора 5, и результат каждого измерения в режиме сложения записыва ется в счетчик 7: л2и г.о а, . Такой периодический процесс запуска генератора 2 зондирующих им пульсов, измерения длительностейТи, суммирования результатовизмерений н соответствующих...
Устройство для определения положения и ориентации объекта
Номер патента: 1536204
Опубликовано: 15.01.1990
Авторы: Даниелян, Манукян, Мартиросян
МПК: G01B 21/00
Метки: объекта, ориентации, положения
...из светового импульса (фиг.4 а) лазерного луча, попадающего на ФП ячейку 16 в процессе сканирования фоновой засветки и импульсной помехи (фиг.4 б),.преобразуется фотоприемным диодом 25 в электрическии сигнал (фиг,4 в) и поступает на вход соответствующего селективного предусилителя 17 В селективных предусилителях 7 17;,,171 осуществляются селекция и формирование импульсов с логическим уровнем, соответствующих световым импульсам на входах ФП ячеек 1 б (фиг,4 г), Сигналы с выходов И селектинных предусилителей 17 1.7,.,.,17поступают в формирователь 19 импульса, где формируется одиночный импульс независимо от того, на какй вход поступил импульс. Сигналы с,селективных предусилителей 171 17, 171 поступают также на входы формирователя 18 кода...
Датчик перемещения с фазовым выходом
Номер патента: 1536205
Опубликовано: 15.01.1990
Авторы: Карпов, Киреева, Конаков, Любомиров
МПК: G01B 21/00
Метки: выходом, датчик, перемещения, фазовым
...входы которого подключены. к выходам сумматоров 9, 1 О,блок 12 вычитания, входы которогоподключены к опорному и измерительному фотоприемникам 2, 3, выход блока12 вычитания соединен с вторыми вхо, дами сумматоров 9, 1 О.Измеряется перемещение объекта,имеющего образующую поверхность 13,Датчик работает следующим образом. 35Генератор 4 формирует переменное напряжение, подаваемое на источник 1 света;Первая часть модулированного по амплитуде потока излучения, формируе 40 мого источником 1 света, падает на опорный фотоприемник 2, а вторая часть потока, отразившись от отражающей поверхности 13, падает на изме 45 рительный Фотоприемник 3,Сигналы, снимаемые с фотоприемников 2 и 3, формируются в противофазе.Сигналы, снимаемые-с измерительного...
Устройство для измерения внутренних размеров
Номер патента: 1536283
Опубликовано: 15.01.1990
Автор: Икрянов
МПК: G01B 21/20, G01N 22/00
Метки: внутренних, размеров
...19 станавпивают на опорно-поворотном столе 18, Резонатор 3 вводят в контролируемоеотверстие обьекта 19, в ко;ором он самоустанавпивается при помощи регулирующих грузов Я, карданового подвеса 9 и шарнирно плавающей опоры 10Положение резонатора 3 относительногоризонтальной и вертикальной осиконтролируют при помощи датчиков 11и 15. На полииндикаторе и полирегистраторе измерительного блока 2 устанавливают нуль. На элемент 4 возбуждения с блока 1 возбуждения поступа-ют акустические колебания, которыеноспринимаются элементом 5 съема иизменяют показания приборов блока 2,проградуированных в единицах длиныизмеряемого объекта, По мере вертикального перемещения резонатора 3внутри объекта 19 контроля по изменению резонансной мощности производят...
Устройство корректировки конечного звена манипулятора
Номер патента: 1537532
Опубликовано: 23.01.1990
Авторы: Дубовский, Епифанов, Зинченко, Шардыко
МПК: B25J 19/02, G01B 5/25
Метки: звена, конечного, корректировки, манипулятора
...корректировки, общий вид; на фиг. 2 - принципиальная схема устройства.Устройство корректировки содержит корпус 1 и соосно расположенные фланцы 2 11 3, связанные попарно двумя группами упругих стержней 4 и 5. На одном конце каждого стержня закреплено контактное звено 6 в виде шарика, причем последние установлены с зазором в наклонных отверсти 1 х 7, выполненных в каждом из фланцев 2 и 3. Устройство укрепляют на корпус 1 к руке м 11 нипулятора 8, а фланец 3 соединяют со схатом (не показан), несущим штифт 9.Устройство работает следую 1 цим образом.Фланцы 2 и 3, связанные между собой и с корпусом 1 соответственно группами упругих стержней 4 и 5, образуют упругую систему, Ответом этой системы на приложенное к штифту 9 боковое усилие...
Устройство для поверки штангенрейсмасов
Номер патента: 1538013
Опубликовано: 23.01.1990
Авторы: Дегтярев, Лысенко, Щукин
МПК: G01B 3/18
Метки: поверки, штангенрейсмасов
...лунок 11 равно количеству губок4 на одном витке винтовой линии.40Расстояние от базовой поверхности 2до измерительных губок 4 аттестованыпри нулевом положении микрометрического винта.Устройство работает следующим образом,Поверяемый штангенрейсмас устанавливают на поверочной плите рядомс устройством для поверки. Измерительную ножку штангенрейсмаса фиксируют на заданном делении его шкалыи располагают над соответствующейгубкой 4 на цилиндре 3, зафиксирован-,ным относительно корпуса 1 подпружиненным шариком 10. Затем вращением 55микрометрического винта 9 перемещают щают микрометрический винт 9 до касания губок и по шкале винта 9 судят о погрешности измерения штангенрейс" маса. При последующих измерениях поворачивают цилиндр 3 в...
Устройство для контроля расположения витков внутренней резьбы относительно окна в стенке гайки
Номер патента: 1538014
Опубликовано: 23.01.1990
МПК: G01B 3/48
Метки: витков, внутренней, гайки, окна, относительно, расположения, резьбы, стенке
...прибора заключается в слдующем, 1 Я 8014Контролируемую гайку 10 одевают на установочный стержень, 2 при этом цилиндрическая часть окна гайки касается среднего участка 11 и бокового5 участка 12 цилиндрической поверхности штыря 3. При контроле гайки с другим направлением резьбы цилиндрическая часть окна гайкой касается среднегоучастка 11 и бокового участка 13 цилиндрической поверхности штыря 3. После установки гайки перемещают каретку 5 и по максимальным показаниям индикатора определяют положение каретки, в , котором измерительный наконечник . ка , сается рабочего участка профиля резь-бы. В этом положении каретку 5 стопорят и производят измерение. Отклонение от симметричности окна , относительно резьбы определяется как , разность...
Способ измерения диаметра одножильных световодов
Номер патента: 1538015
Опубликовано: 23.01.1990
Автор: Ильин
МПК: G01B 21/10
Метки: диаметра, одножильных, световодов
...излучения расщепляют наряд дифракционных максимумов и непрерывно изменяют фазу дифрагированныхволн. Освецают полученными волнамисветовод и по цастоте или периоду движуцихся муаровых полос измеряют диаметр световода. 1 ил,ей 7 обозначен контролируемый одножильный световод,Способ осуществляют следующим образом.1 уч от лазера 1 преобразуют в параллельный нерасходящийся пучок посредством коллиматора 2 и направляют на вращающийся радиальный растр 3. Монопучок дифрагирует на растре с образованием ряда дифракционных максимумов, изменение фазы световой волны в . которых пропорционально скорости .вращения Я растра 3. Далее дифрагированные пучки освещают контролируемый световод 7 и. взаимодействуют с ним с образованием муаровых полос, которые...