Патенты с меткой «отражений»

Номер патента: 131800

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Кукуш, Михайлик

МПК: G01R 27/06

Метки: коэффициентов, ксвн10, малых, отражений, свч

...волноводом 2, Регулировкой ответвителя 8 можно изменять связь между основным волноводом 2 и резонатором. При измерении малых коэффициентов отражений, исследуемую неоднородность 9 включают в резонатор бегущей волны взамен волноводной секции б частоты свч колебаний, генерируемых источником 1, и фазовый сдвиг, создаваемый фазовращателем 7, подбирают так, чтобы электрическая длина волноводной петли резонатора равнялась целому числу длин волн, Величину связи основного волновода 2 с резонатором подбирают при помощи ответви Сатоля 8 так, чтобы выполнялось условиер,с, - , где о, - коэффи2 -Сфциент отражения измеряемой неоднородности 9, а С - коэффициент связи волновода 2 с резонатором бегущей волны. Измерив ксвн в основном131800 волноводе, по...

Номер патента: 441926

Опубликовано: 05.09.1974

Авторы: Березняков, Ключков, Михайлов

МПК: A61B 5/16

Метки: временных, исследования, отражений, памяти, последовательностей, прибор, пространственных, символьных

...преобразующий кодовуюкомбинацию, набираемую испытуемым напульте оператора в позиционный код; узел10 согласования; цифроиечатяющее устройство 11, печатающее значение символов иих зцакомест, выдаваемых на цифровое табло 7 отображения, и значения символов и ихзцякомест, набираемых испытуемым ца пульте оператора; схема 12 сравнения, сравнивающая информацию, выдаваемую пспытуелсому на цифровое табло 7, с информацией,поступающей с пульта операторасчетчик13 ошибок; индикатор 14 ошибок,Экспериментатор устанавливает ця устройстве 1 величину темпа предъявления ин-формации и экспозициювеличину вероятности появления в начале серии определенного символа (случайность по времени), вес личину вероятности места отсветки символов (случайность по месту),...

Номер патента: 465685

Опубликовано: 30.03.1975

Авторы: Сайдов, Юдович

МПК: G01N 21/48

Метки: внутреннего, изменения, нарушенного, отражений, отражения, полного, числа, элементах

...исследуемый образец 3, входное и выходное окна 4, съемный вкладыш 5,Кювета 1, внутри которой размещен съемный вкладыш 5, придающий полости .кюветы форму модифицированной прйзмы Дове, за.- полняется жидкостью с высоким показателем преломления, достаточно широким спектральным диапазоном прозрачности и большим удельным весом. Исследуемыи образец 3 в виде порошка, пленки, пластинки, таблетки размещается непосредственно на поверхности жидкости, заполняющей кювету.5 Варьируя в кювете уровень жидкости, наповерхности которой размещен (плавает) исследуемый образец, можно плавно и в широких пределах регулировать число отражений непосредственно в ходе эксперимента.О Длина полости кюветы 1 ограничена прозрачностью жидкости 2, на поверхности которой...

Номер патента: 561451

Опубликовано: 30.03.1984

Авторы: Георгизон, Шлапак

МПК: G01S 7/28

Метки: двухчастотной, мешающих, отражений, подавления, радиолокационной, станции

...минимальной длительности, селектор максимальной длительности и источник строба дальности, причем выходы селекторов минимальной длительности соединены со входами соответствующих усилителей- ограничителей, а селектор максимальной длительности включен мРжду Высо дом второй схемы совпадения и вторым,входом первой схемы совпадения, третий вход которой соединен с источни"ком строба дальности.На чертеже представлена структурная электрическая схема предложенного устройства.Входы усилителей-ограничителей1, 2 соединены со входами сумматора3, подключенного выходом к первомувходу схемы совпадения 4. Входы схемы совпадения 5 соединены с выходами усилителей-ограничителей 1 2.Выходы селекторов минимальной длительности 6, 7 соединены со...

Номер патента: 1399644

Опубликовано: 30.05.1988

Авторы: Воробьев, Даубаев, Недбай, Суденков

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевом, интерферометре, многократных, отражений

...излучения, например геий-неоновый лазер, светоделитель 2, устойство 3 многократных отражений, содер ащее линзу 4, два уголковых отража- .еля 5 и 6 и зеркало 7, связанное сонтролируемым объектом 8, уголковый отажатель 9, фотоприемник 10 и блок 11 реистрации его выходного сигнала.Излучение источника делится светоделиТелем на 2 пучка, один из которых падает на 25Иолковый отражатель 9, а другой - на линзу 4. 11 рошедший линзу луч отражается от зеркала 7 и после вторичного прохождения линзы 4 возвращается уголковымотражателем 5 на зеркало 7. Г 1 осле повторного отражения уголковым отражателем 6 ЗОПучок третий раз отражается от зеркала 7попадает на светоделитель 2, где совмещается с опорным сигналом и образует навходе фотоприемника 10...

Номер патента: 1490463

Опубликовано: 30.06.1989

Авторы: Воробьев, Даубаев, Недбай, Суденков

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевом, интерферометре, многократных, отражений

...их по окружности аналогично расположению уголкового стражателя 5 так, чтобы они не перекрывали сходящиеся в. Фокусе лучи и обеспечивали последовательное прохождениеоптического луча (каждый раз посяеотражения от контролируемого объекта) дополнительно устанавливаемыхуголковых отражателей.Увеличение чувствительности возможно и заменой последнего по ходу луча уголкового отражателя плоским зеркалом, В этом случае луч проходит обратный путь и допопнительно испытывает такое же копичевтво отражений, как при первоначальном проходе. Ввод и вывод оптического луча иэ устройства может производиться двумя различными уголковыми отражателями. Вместо уголковых отражателей для нвода и вывода из устройства оптических лучей могут быть использованы и...

Номер патента: 1536193

Опубликовано: 15.01.1990

Автор: Недбай

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевом, интерферометре, многократных, отражений

...блок в интерФерометре для динамических измерений состоит из высокочастотных Фотоприемника 14 и осциллограФа 15.ИнтерФерометр работает следующим образом..Пуч 1, из интерФерометрл с помощью плоских зеркал 9 и 10 подается в устройство для многократных отржеций, а именно нл линзу 4 плрлллель-,но ее оптической оси. Отклоненный линзойлуч попадает нл плоское зеркало 5, установленное с возможностью поворота в Фокусе линзы 4. Зеркало 5устанавливается под небольшим угломк Фокалььой плоскости линзы 4 так,чтобы отраженный от зеркала 5 лучвозвратился на линзу 4 несимметричнопадающему нл зеркало 5 лучу по отношению к оптической оси линзы 4. Тем самым луч многократно проходит путь от зеркллл 5 к подвижному зеркалу связанному с контролируемым объектом...

Номер патента: 1538038

Опубликовано: 23.01.1990

Автор: Недбай

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевом, интерферометре, многократных, отражений

...количества оптических элементов.На чертеже изображена принципиальная схема устройства для многократных отражений в двухлучевом интерферометре.Устройство содержит зеркало 1, связанное с контролируемым объектом 2 и установленное в фокальной плоскости положительной линзы 3, вогнутое зеркало 4, установленное в апертуре линзы 3 с возможностью смещения параллельно ее фокальной плоскости, отражатель в виде плоского зеркала установленного между вогнутым зерка-( лом 4 и линзой 3 в фокусе вогнутого зеркала 4 с возможностью поворотаДля ввода и вывода лучей из устройства многократных отражений используют плоские зеркала б и 7. В качестве зеркала 1, связанного с контролируемым объектом 2, при контроле быстропротека:ощих механических процессов...

Номер патента: 1578456

Опубликовано: 15.07.1990

Автор: Недбай

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевом, интерферометре, многократных, отражений

...8, и образует интерФеренционную картину, которая регистрируется, блоком 9.Изобретение позволяет повысить виброустойчивость интерферометра за счет того, что лучи, отражаемые зеркалом 6, собираются оптическим элементом 4 на зеркале,.благодаря чему уменьшается вероятность ухода интерферируюцих лучей за пределы чувствительной плоцадки фотоприемника. Одновременно повышается пространственное разрешение устройства, поскольку отражение всех лучей происходит от небольшого участка поверхности зеркала б.Поворотом отражателя и его поворотом .совместно с собирающим элементом 4 относительно центров зеркал 5 и 6 появляется возможность изменять количество отражений от зеркала б,и, тем самым, изменять чувствительность интерферометра. Формула...

Номер патента: 1627827

Опубликовано: 15.02.1991

Автор: Недбай

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевом, интерферометре, многократных, отражений

...для многократных отражений н двухлученом интерЛероетре.Устройства содержит плоское зеркало 1, устдцавлеццае цд контролируемом объекте 2, Локусируюи эземецт 3 в виде собирающей линзы, уголковьй отражатель 4 и плоское зеркало 5, устацовлециое ца пути лучей между линзой 3 и зеркалом 1 с нозмомиостью поворота и цдправляощее сходящиеся ца зеркале 1 лучи. л гц зд:дцо)пдельца ге ати -ного юцд зеркало 1, 1 (лу 1 ) ия ц.:пиау 3,ся уголкаш мт лцзу 3, отца от ггсцо д ат з р(лнч 1 ) а 2етр, в кот рсм мае угтрагва1627827 Составитель И.МининРедактор И.Середа Техред М.Дидык орректор М.Шаро раж 376 аказ 3 НИИПИ одписцо ткрытиям при ГКНТ ССС д, 4/5 етениямушская н гударствеццого комитета по изо 113035, Иогква, Ж, Р изводгтвгнно-издательг.кий комбинат...

Номер патента: 1839790

Опубликовано: 27.07.2005

Авторы: Зачепицкий, Клецкина, Пахомов

МПК: G01S 7/36

Метки: диполей, местных, отражений, пассивных, подвижных, предметов, радиолокационной, селекции, фоне, целей

Устройство для радиолокационной селекции подвижных целей на фоне местных предметов и отражений от пассивных диполей, включающее схему компенсации ветра и схему череспериодного вычитания на промежуточной частоте, отличающееся тем, что, с целью обеспечения одновременного подавления отражений от местных предметов, перед схемами компенсации ветра и компенсации отражений от пассивных диполей, включена схема череспериодной компенсации отражений от местных предметов, также выполненная на промежуточной частоте.