G01B — Измерение длины, толщины или подобных линейных размеров; измерение углов; измерение площадей; измерение неровностей поверхностей или контуров

Страница 557

Интерференционное устройство для измерения углов наклона объекта

Загрузка...

Номер патента: 1587330

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Арефьев, Варфоломеев, Здоркин, Канашкин, Шерешев

МПК: G01B 11/26

Метки: интерференционное, наклона, объекта, углов

...стей пластины 3 и зеркала 5, получаемой ти устройства, 30 путем предварительной юстировки пластиИсточник и фотоприемник установле- ны 3, соблюдается условие: 1=2; 01 =%: ны подострым углом к плоскопараллельной ОО = О Д = О пластинке 3 и зеркалу 5, которые в началь- При этом поле зрения объектива 7 равном положении параллельны друг другу. номерно освещено и на поверхности фотоВсе элементы устройства жестко закрепле приемника 8 формируется ны в корпусе 9 за исключением плоского интерференционнаяполосабесконечнойшизеркала 5. Корпус предназначен для уста- рины, так что на все светочувствительные новки его на контролируемом объекте, площадки фотоприемника 8 падают световыеНа чертеже также обозначены углы 1, 2 потоки равной интенсивности....

Устройство для измерения шероховатости поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1587331

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Коваль, Левченко, Савченко

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...3. Вогнутое зер кало 9 установлено с возможностью отраже 1 ния астигматической совокупностисветовых пучков на многоэлементный приемник 10 излучения, соединенный с блоком 4011 обработки сигнала;Устройство работает следующим образом.Световой пучок от лазера 1 проходитчерез коллиматор 2 с диафрагмой 3, сужается, коллимируется и направляется на светоделительную клиновидную пластинку 4,Указанный первичный световой пучок многократно отражается от пленок 5 и 6 внутрипластинки 4 и, преломляясь на ее стороне,. 50обращенной к измеряемой поерхности 12,образует вторичную астигматическую сходящуюся систему световых пучков, величина астигматизма и угловое расстояниемежду пучками которой определяется углом 55падения первичного светового пучка на...

Способ исследования микроструктуры образца

Загрузка...

Номер патента: 1587332

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Грудин, Сафронова, Шмакова

МПК: G01B 11/30

Метки: исследования, микроструктуры, образца

...линии более яркой, чем остал ьное изображение.До фокусировки изображения наблюдаемой поверхности используют расфокусировку оптической системы микроскопа, получая белый ручеистый узор 1 неконтакта, лежащий выше плоскости изображения, это и будет изображением микрорельефа в недофокусе,В фокусе наблюдают микроструктуру, расположенную точно в плоскости изображения данного микроскопа, при этом визуализируется четкое изображение реплики 2 от материала закалочного диска и контуры 3 наиболее крупных каверн.После фокусировки выполняется пере- фокусировка, заключающаяся в визуализации предметной плоскости, совпадающей с дном наиболее крупных каверн и каналов топологии 4 дна каверны и лежащей ниже плоскости изображения реплики. В перефокусе, как...

Способ исследования микроструктуры образца

Загрузка...

Номер патента: 1587333

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Василенко, Плотников, Сафронова

МПК: G01B 11/30

Метки: исследования, микроструктуры, образца

...в объект,на котором формируется смешанный амплитудно-фазовый контраст, визуализиро 5 вать который можно традиционнойфокусировкой или расфокусировкой, Такимобразом, любой дефект внешней поверхности аморфной ленты позволяет найти "условный" фокус.10 После определения "условного" фокусаполучают восстановленное изображениепенообразной структуры ленты в точках, находящихся по оптической оси микроскопавыше и ниже "условного" фокуса, а расстоя 15 ние между выбранными точками определяют по соотношению Л= - 0,3 о/лА, где 1 О -размер наименьшей фазовой неоднородности, А - длина волны используемого излучения (численный коэффициент 0,3 следует изучета средней величины погрешности метода), Это соотношение справедливо при наблюдении фазового...

Способ измерения толщины изделий с плоскими поверхностями

Загрузка...

Номер патента: 1587335

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Вовк, Протопопов

МПК: G01B 17/02

Метки: плоскими, поверхностями, толщины

...в совмещенном режиме, в иммерсионной жидкости 2 над поверхностью 4 ввода .иэделия 1 осуществляют наклон пьезопластины 3 в плоскости с неизменным сечением изделия 1 до достижения макси мального значения амплитуды эхо-сигнала, отраженного поверхностью 4 ввода, и фиксируют угловое положение пьезопластины .3 в этой плоскости, Затем осуществляют наклон пьезопластины 3 в плоскости непа.- 40 раллельности поверхностей 4 и 5 изделия, т.е. в плоскости фиг. 1, Наклон осуществляют путем перемещения центра пьезопластины 3 по дуге (представлена на фиг, 1 штриховой линией) с неизменным расстоя нием между центром пьезопластины 3 и точкой ввода УЗ колебаний в иэделие. В ходе наклона пьеэопластины 3 излучают импульсы УЗ колебаний, принимают отраженные...

Фотоэлектрический датчик линейных перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1587336

Опубликовано: 23.08.1990

Автор: Астраух

МПК: G01B 21/00

Метки: датчик, линейных, перемещений, фотоэлектрический

...4, выход является выходом датчика,Датчик работает следующим образом, Поток излучения, создаваемый источником 2 излучения (излучателем), отражается от перемещающейся поверхности и посту- пает на входы первого 3 и второго 4 фотоприемников. Сигнал, пропорциональный величине перемещения, с выхода второго фотоприемника 4 усиливается третьим усилителем 11 и с его выхода поступает на выход датчика. Для исключения влияния на результаты измерения коэффициентов отражения поверхности (К 1) и пропускания среды (К 2), в которой распространяется излучение, излучатель 2 и первый фотоприемник 3 через усилители 7 и 8, суммирующий интегратор 9, управляемый делитель 6 напряжения и источники 5 и 10 опорного напряжения замкнуты в систему автоматического...

Способ исследования слоистых материалов и других объектов с помощью акустической микроскопии

Загрузка...

Номер патента: 1587337

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Бондаренко, Еськов, Колосов, Маев, Мациев, Троицкий

МПК: G01B 21/00

Метки: акустической, других, исследования, микроскопии, объектов, помощью, слоистых

...(РАМ).Устройство для осуществления способасодержит первый и второй пьезоэлементы 1и 2, первый и второйсапфировые стержни 3и 4, установленные соосно на некоторомрасстоянии друг от друга, на удаленных торцах которых закреплены, соответственно,первый и второй пьезоэлементы 1 и 2, аближние друг к другу торцы выполнены ввиде вогнутых сферических поверхностей,образующих, соответственно, синфокальные излучающую и приемную линзы 5 и б,пространство между которыми заполненоиммерсионной средой 7, электронный блок8, первый выход и вход которого соединены,соответственно, с входом первого пьезоэлемента 1 и с выходом второго пьезоэлемента2, полутоновый дисплей 9, вход которого соединен с вторым выходом электронногоблока 8, и набор фильтров...

Устройство для измерения геометрических параметров движущихся лесоматериалов

Загрузка...

Номер патента: 1587338

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Васекин, Дорошенко, Рыбочкин, Титович, Харитонов

МПК: G01B 21/00

Метки: геометрических, движущихся, лесоматериалов, параметров

...14 зося сигнал записи схемой 44 предустановки. ны контроля иэ единичного состояния в нулеКод с выходного регистра 38 поступает на 15 вое на выходе элемента ИЛИ-НЕ 40.вход цифроаналогового преобразователя возникает перепад иэ нулевого состояния в39 (фиг. 2), а с его выхода преобразованный единичный, тем самым происходит записьсигнал - на управляющий. вход компаратора числа в выходной регистр 38. С выхода10. Предустановка осуществляется для тех выходного регистра 38 цифровой код постуцелей, чтобы, пока не будет определен уро пает на вход цифроаналогового преобразовавень. порогового напряжения, компаратор теля 39, а с его выхода преобразованный10 был заблокирован, Предустановка ис- код - на второй вход компаратора 10, Измепользуется...

Автоматизированный гониометр

Загрузка...

Номер патента: 1587339

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Зайцев, Хачитурян

МПК: G01B 21/22

Метки: автоматизированный, гониометр

...излучающей щели 6 последовательно проходит через трианализирующие щели 7. На выходе автоколлиматора 5 последрвательно формиру 25 ются. три импульса, поступающие наусилитель 8 с управляемым коэффициентомпередачи.За время формирования трех импульсов осуществляется цикл измерения.30 Первые два импульса являются вспомогательными, третий импульс - измеритель 1ным,Третий импульс, сформированный навыходе усилителя с управляемым коэффи 35 циентом передачи, поступает на первыйвход стробируемого компаратора 9, на второй вход которого поступает сигнал, формируемый на выходе пикового детектора 15.Амплитуда сигнала на выходе пикового. де 40 тектора 15 связана с амплитудой второго ..импульса, формируемого на выходе усилителя 8 с...

Фотоэлектрический дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1587340

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Швыркова, Шифрин

МПК: G01B 21/30

Метки: дефектоскоп, фотоэлектрический

...2, проецируемого оптико-механическим развертывающим устройством 4 на этот фото- диод, конечны, а световое отражение от дефектной площадки всегда меньше, чем от соответствующей по площади бездефектной поверхности, т.е, оптического фона,При наличии крупных дефектов на поверхности 2 контроля, когда приемная площадь фотодиода 5 и площадь проекции дефекта на фотодиод соизмеримы (фиг.2 а),интегральное значение света, попадающего на фотодиод 5, при сканировании дефектного участка значительно меньше, чем при контроле бездефектного участка, равного по площади дефекту, а фронт измерения сигнала от дефекта значительно круче, чем В данном случае при любом значении постоянной времени дифференцирования в блоке 11 импульс от дефекта на выходе...

Способ измерения профиля внутреннего диаметра внешнего трубчатого проводника коаксиального кабеля

Загрузка...

Номер патента: 1587577

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Тян, Хренков, Чостковский

МПК: G01B 9/00

Метки: внешнего, внутреннего, диаметра, кабеля, коаксиального, проводника, профиля, трубчатого

...9, информационный вход которого подключен к выходу АЦП 8, блоки 10 и 11 памяти, входы которых подключены к выходам ключа 9, и последовательно соединенные блок 12 разности, накапливающий сумматор 13 и регистратор 14,Устройство работает следующим образом.В исследуемый образец вводится внутренний проводник 3, на который устанавливается эталонный отрезок 2, а затем к концам исследуемого образца присоединяют. ся эталонные образцы 1 коаксиального кабел я.Полученная линия зондируется рефлектометром 4 и на его первом выходе получают рефлектограмму волнового сопротивления, которая поступает на информационный вход АЦП 8.Одновременно линейно-нарастающее напряжение с выхода реклектометра 4 поступает на компаратор 5, который при срабатывании на...

Прибор для измерения диаметров

Загрузка...

Номер патента: 1387586

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Коробко, Поляков

МПК: G01B 5/12

Метки: диаметров, прибор

...9, установленного с возможностью периодического взаимодействия с сухарями 8. На плите 1 размещен центрирующий штифт 10. Сухари 8 . 25прдпружинены в направлении друг к другУ пружиной 11ПРибоР Работает следующим образом,В исходном положении устанавливают эксцентрик 9 в такое положение, 30что сухари 8 прижимаются к основному .3 и дополнительному 5 ползунам контактирующими поверхностями. Послеэтого основной 3 и дополнительный 5ползуны перемещают одновременно кцентрирующему штифту 10, На центриру 35ющий штифт 10 устанавливают эталонное кольцо, которое под действиеммассы центрируется. После этого полэуны 3 и 5 перемещают до момента кон 40тактирования измерительного штифта 4 с поверхностью отверстия эталонного кольца. В этом положении поворотом...

Фольговый датчик для измерения параметров развития поверхностных трещин

Загрузка...

Номер патента: 1403740

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Алексеев, Бебишев, Сыров, Храковский

МПК: G01B 7/16

Метки: датчик, параметров, поверхностных, развития, трещин, фольговый

...О,Рркова Тираж 503 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР . по делам изобретений и открытийЗаказ 3092 Пр 1 ы лвол твенно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул. Проектная, Ь Изобретение относится к измерительной технике и может быть -использовано для определения характеристик трещиностойкости материалов,Целью изобретения является повыше 5 ние точности путем исключения разрыва чувствительных элементов в пласти" ческой зоне у вершины трещины.На чертеже изображен фольговый датчик для измерения параметров раз" вития поверхностных трещин. Датчик содержит диэлектрическую подложку 1 с нанесенным на нее чувствительнья элементом иэ резистивной фольги в виде параллельных проводни" ков 2, соединенных перемычками 3 с постоянным...

Устройство для контроля глубины нарезания резьбы

Загрузка...

Номер патента: 1589030

Опубликовано: 30.08.1990

Автор: Карпов

МПК: G01B 3/28

Метки: глубины, нарезания, резьбы

...резьбы, Свободный конец корпуса 1 выполнен в виде непроходной резьбовой пробки 11,Для контроля резьбы одного типоразмера с разной глубиной нарезки устройство может быть снабжено бегунком с нониусом.Устройство вводят в контролируемое отверстие изделия 12, Зубчатые колеса 8 и 9 при этом контактируют с резьбовым профилем и вращаются вокруг осей 6 и 7, Если устройство остановилось в начале резьбового отверстия, то это значит, что средний диаметр измеряемой резьбы меньше допустимого. Если же устройство полностью вошло в контролируемое отверстие до упора, то в этом случае зубчатое колесо 9 упирается в конус сбега резьбы, а колесо 8 упирается в резьбовый профиль по среднему диаметру резьбы.После этого по шкале на корпусе 1 определяют глубину...

Стенд для координатных измерений

Загрузка...

Номер патента: 1589031

Опубликовано: 30.08.1990

Автор: Раманаускас

МПК: G01B 5/008

Метки: измерений, координатных, стенд

...образом.Перед началом измерения объекта 2 определяю 1 пространственное положение калибраторов 4 относительно друг друга с помощью универсальных измерительных средств или с помощью КИМ 3. В послед. нем случае расстояние между двумя соседними калибраторами 4 не должно превышать диапазона измерения КИМ 3. Данные о положении калибраторов засылаются в память управляющего вычислительного комплекса (не показан).1589031 Формула изобретения Фиг,1 КИМ 3 перемещают по основанию 1 в положение, удобное для измерения части объекта 2, и фиксируют ее в этом положении. Затем измеряют координаты точек поверхностей б и 7 дополнительного калибратора 5 и координаты точек поверхности ближайшего к КИМ калибратора 4 и определяют пространственное положение КИМ...

Способ измерения износа дискообразных деталей

Загрузка...

Номер патента: 1589032

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Бушой, Лернер, Шайдулин

МПК: G01B 5/06

Метки: дискообразных, износа

...измерительных наконечников расположены в плоскости, перпендикулярной оси опорных наконечников 2 и 3 и нормально к контролируемой поверхности детали 11, а угол между осями каждого из крайних измерительныхнаконечников (9 и 10) и центральным (8) равен половине угла между смежными базовыми углублениями 12, размещенными на торцовых поверхностях детали 11. Способ реализуется следующим образом, На торцовых поверхностях контролируемой детали 11 при помощи кондуктора выполняют базовые углубления 12. Устанавливают устройство для измерения износа на деталь 11 так, чтобы опорные наконечники 2 и 3 разместились в базовых углублениях 2, расположенных на одной оси навстречу друг другу, и вводят их в кинематическое замыкание через деталь 11....

Датчик линейных перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1589033

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Коновалов, Радкевич, Хейфиц

МПК: G01B 5/00, G01B 5/213

Метки: датчик, линейных, перемещений

...Корректор О. ЦиплеЗаказ 2529 Тираж 494 ГодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5Производственно. издательский комбинат Патент, г. Ужгород, ул. Гагарина, 1 О 1 зИзобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в строительной технике для измерения горизонтальных сдвигов элементов конструкций гидротехнических сооружений.Целью изобретения является повышение точности измерения. На чертеже изображена схема датчика линейных перемещений.Датчик линейных перемещений содержит герметичный корпус , в корпусе 1 с помощью упругого шарнира 2 закреплен измерительный рычаг 3 со штангой 4 и стружный преобразователь 5 линейных перемеще. ний,...

Устройство для измерения углового расположения шатунных шеек коленчатого вала

Загрузка...

Номер патента: 1589034

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Мелешкин, Юров

МПК: G01B 5/24

Метки: вала, коленчатого, расположения, углового, шатунных, шеек

...рабочие поверхности а которой расположены под прямыми углами относительно друг друга и предназначены для контактирования со стержнем 10 в плоскости а, Делитель 1 закреплен на оправке 18 при помощи винтов и штифта. В отверстии оправки 18 находится стержень 19, который перемещается гайкой 20. Для подъема и подвода к отсчетному узлу устройство может быть снабжено, например, узлом, состоящим из двух призматических опор 21, которые соединены через коромысло 22 с пневмоцилиндром 23.15Измерение с помощью устройства для измерения углового расположения шатунных шеек коленчатого вала производят следующим образом.На хвостовик коленчатого вала 12 устанавливают оправку 18 с делителем 1, а при помощи гайки 20 вводят стержень 19 в шпоночный паз Ы....

Устройство для контроля межосевого расстояния двух взаимно перпендикулярных отверстий

Загрузка...

Номер патента: 1589035

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Глущенко, Москаленко

МПК: G01B 5/24

Метки: взаимно, двух, межосевого, отверстий, перпендикулярных, расстояния

...4 и 5 по оси симметрии однимконцом установлена с зазором контрольная оправка 6, проходящая через второе отверстие контролируемой детали ивзаимодействующая другим концом с инцикатором 7, установленным в стойке8 на основании ) так, что его измерительная ось перпенцикулярна контроль- З 0ной оправке 6 и параллельна базовойповерхности 2, Основание 1 снабженовторой стойкой 9 с воэможностью крепления. в ней индикатора 7 симметричносвоему первому положению относительно оси симметрии. Контрольная оправка выполнена целиковой с диаметромменьшим минимально допустимого диаметра соответствующего контролируемого отверстия, 40Устройство работает .следующим об"разом.,Контролируемую деталь устанавливают на установочную оправку 3 одним отверстием,...

Устройство для определения оси симметрии поверхности детали

Загрузка...

Номер патента: 1589036

Опубликовано: 30.08.1990

Автор: Рудский

МПК: G01B 5/25

Метки: детали, оси, поверхности, симметрии

...на подшипниках 7. закрепленных на перной ивторой дополнительных осях 10 Стержни 11 .соединяющие дополнительные рычаги 9 расположены ц продольных прорезях 12.дополнительных рычагов 9,Для того, чтобы поворотные рычаги6 постоянно находились н вертикальных плоскостях, перпендикулярных плоскости продольного наклона, массы стержней 11 .уравновешиваются массами приливов 13. Небольшие отклонения стержня 3 от вертикального положения устра Оияются двумя парами юстировочных нинтов 14,Устройство работает спецующим образомм, 45 Для определения оси симметрии устройство устанавливают на поверхности детали, При продольном наклоне детали оси 2 и 10 также наклоняются. Стержень43 и рычаги 9 под воздействием силы тяжести, вращаясь соотцетстненно вокруг...

Устройство для измерения перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1589037

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Бурлуцкий, Хойзингер

МПК: G01B 5/28

Метки: перемещений

...на которойзакреплены базовые опоры 3, На них.установлены дополнительные опоры 4при помощи шарнирон 5. Базовые опорыЭ имеют возможность перемещения вдольлинейки 1 и фиксации с помощью узлов6, Соецинение базовых опор 3 с цополнительныгя опорами 4: осуществлено припомощи шарнира 5, ось которого расположена нац ребром 7 опорной поверхности 8 дополнительной опоры 4, которая выполнена в виде магнита, На линейке 1 установлена с возможностьюперемещения вдоль нее каретка 9, опирающаяся. на колеса 10.,Отрыву каретки9 от линейки 1 препятсвуют колеса 11,Вместе с кареткой 9 перемещается из"мерительный стержень 12, на конце которого установлен ролик 13, Измерительный стержень 1.2 подпружинен пружиной 14 и нзаимодейстнует с отсчетвим узлом 15,...

Способ измерения длины цельного ядра струи жидкости

Загрузка...

Номер патента: 1589038

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Калиничев, Рудяк

МПК: G01B 7/02

Метки: длины, жидкости, струи, цельного, ядра

...механизма проводимости жидкости в этой зоне. 1 ил. Измерение длины цельного участкаструи проводят следующим образом,В испытательную камеру 1, давление в которойрегулируют соплом 2через окно 3 подают струю газа, через форсунку 2 поцают етруюжицкости, электроизолированный от испытательной камерыэлектроконтактный зонд 4 поцводят к источнику струи, замыкают контакт 7, ток отисточника 5 проходит через струю жицкости и вызывает пацение напряженияна нагрузочном резисторе 6, пульсацияэлектро сопротивления струи жидкостивизуализируется одним иэ лучей двухлучевого о сцилло гр афа 8,еНа второй луч цвухлучевого осциллографа 8 подают опорную частоту с генератора 9 опорной частоты, Электроконтактный зонд 4.перемещают вцоль струижидкости в...

Устройство для измерения длины движущегося текстильного материала

Загрузка...

Номер патента: 1589039

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Дремаков, Стразд, Цыганков

МПК: G01B 7/04

Метки: движущегося, длины, текстильного

...на выходе элемента ИЛИ 24 погашены, а снетодиоц блока 13 инцика- является 0", который нозвращает тригии "Стоп" светится, гер 25 в исходное состояние, и про"чьсыПри нажатии кнопки блока 11 руч- цесс повторяется, При этом импульсы . ного пуска опрокидывается триггер 8 Ю появляются только на - дд-выхо е ВЕ-тригв рабочее состояние и через исполни- гера 25, а на Ц-выходе В Р РдБ-т игге а 26телыый блок 14 включает электропри- постоянно находится . пу"1" Им льсы повод мотор ) 15 мерильного механиз- ступают на счетныи -д Р"1" нхо еверма на череже не показан), который ки- синного счетчика 5 импульсов,нематически связан с роликами 3 и 4 5 При поступлении числа импульсон,устройствазаданного .с помощью бло ка 14 .на ныВ качестве...

Устройство для измерения длины и определения положения проката

Загрузка...

Номер патента: 1589040

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Гладков, Зверховский, Селецкий, Тищенко, Шуляк

МПК: G01B 7/04

Метки: длины, положения, проката

...код базового расстояния, Кроме того, по это-, му сигналу срабатывает одновибратор 20 и устанавливает второй триггер 18 в единичное состояние, при котором разрешается запись соСтояний реверсивного счетчика 11 управления коммутатором в блок 7 считывания, Дальнейшее продвижение проката вызывает срабатывание пирометра 13, который Формирует сигнал, пропорциональный температуре изделия(Т - темгература тела.При дальнейшем продвижении изцелия оно попацает в зону зрения первого фотоцатчика, на выходе которого сигнал соответствует зависимости1.1=1 "1 ф . (2) где Е - энергия, излучаемая абсолютночерным телом;й - зона зрения Фотодатчика,При этом дня температуры проката Т для выбранного сечения, находящегося на заданном расстоянии от начала зоны...

Устройство для контроля толщины изделий из немагнитного материала

Загрузка...

Номер патента: 1589041

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Жогот, Сувид

МПК: G01B 7/06

Метки: немагнитного, толщины

...укрепленного на поцвижной оси вместе с указателем 11 отсчетного блока,Подвижныймагнит 10 намагничен в цнаметрапьной плоскости, Устройство содержит шкалу 12 отсчетного блока имедный цилиндрический стакан 13 магнитоиндукционного успокоителя подвижной части, Ось подвижной части вращается в подпятниках (не показаны ), Прибор помещен в корпус из магнитомягкого материала (не показан).Устройство работает слецующим образом, 20При отсутствии стальной арматурымагнитный мост находится в равновесии, при этом В,В В В где В ВВ В,1 - магнитные сопротивления воэдушных зазоров 33, 3, 325В этом случае сопротивление рабочемумагнитному потоку Р будет наибольшими указатель 11 будет находиться накрайней отметке шкалы 12, обозначенной знаком оя,30Для измерения...

Способ измерения кинематической погрешности механизма с дробным передаточным отношением

Загрузка...

Номер патента: 1589042

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Медунецкий, Ноздрин

МПК: G01B 7/30

Метки: дробным, кинематической, механизма, отношением, передаточным, погрешности

...представлена Функциональная схема устройства дпя измерея кинематической погрешности.Устройство для реализации предлагаемого способа измерения кинематической погрешности механизма с дробным передаточным отношением Содержитисслецуежй (поверяемый ) механизм 1(фнг. 1), датчики 2 и 3 угла поворота, установленные соответсвенно навходе и ныхоце указанного механизма,счетчики 4 и 5 импульсов, фазометр б.Управляемые счетчики 4 и 5 импульсон можно выполнить на базе микросхем типа 155 ИЕ 6 (с двоичным кодом)или типа 155 ИЕ 8 (с десятичным кодом),МЕРЕНИЯ КИНЕМАТИЧЕСКОЙ ХА 1 ИЗМА С ДРОВНЯМ НОШЕНИЕМе относится к машинонно к методам и средст бчатых механизмов.я - упрощение способа ности контроля, Эточто из последовательпоступающих с датчина...

Преобразователь перемещения в последовательность импульсов

Загрузка...

Номер патента: 1589043

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Забишная, Перельмутер, Рубинштейн, Суходольский

МПК: G01B 7/30

Метки: импульсов, перемещения, последовательность

...7 установлено состояние, соответствующеенаправлению вращения на предыдущемнии вращения "Вперед" или "1 н 0при направлении вращения "Базац". Поскольку на первых входах элементовИЛИ 8 и 9 (выход 17) установлен нэтот момент "О", то состояние выходов20 и 21 элементов ИЛИ 8 и 9 соответствует состоянию выходов 18 и 1.9 синхронного Р-триггера 7, Таким образом,схема синхронного сцнигоиого регистра 2 подготовлена к сдвигу в том женаправлении, что и на предыдущем такте,По первому спацу импульса на шине14 синхронизации происходит сдвиг последовательности, записанной но внутреннем буфере сдвигоного регистра 2 в15890том же направлении, что и в предыцущем такте, При этом состояние выхоцовсдвигового регистра меняется, Еслипри этом выходной...

Устройство для контроля угла закручивания сверла

Загрузка...

Номер патента: 1589044

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Адашкевич, Минченя, Рыбаков, Серенков

МПК: G01B 7/30

Метки: закручивания, сверла, угла

...с выходом первого усилителя-Формирователя 3 триггер 7 (например, 0-триггер ) вход синхронизации которого. соединен с первымвходом элемента И 6, а информационныйвход - с нторым входом элемента 1 6 ис выходом элемента 5 задержки, счетчики 8 и 9, счетные входы которых подключены соответственна к выходам первого усилителя-формирователя 3 и элемента И 6, Входы разрешения счетчиьон 408 и 9 служат для подключения к выключателю рабочей подачи сверла, К .цыхо,дам счетчиков 8 и 9 подключены индика.торы 10 и 11,На Фиг. 2 и 3 показаны сверильная 45головка 12, объект контроля - сверло13 и датчики. 1 и 2 с кольцевыьи магнитопроводами 14 и 15, обмотками 1619. На внутренней поверхности кольцевых магнитоправодов 14 и 15 вып 1 лнены остроконечные выступы...

Устройство для контроля плоскостности прозрачных деталей

Загрузка...

Номер патента: 1589045

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Калбазов, Калбазова

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: плоскостности, прозрачных

...источника 1 излучения направляют зеркалом 2 на объектив 3. Пройдя оптический клин 7, излучение попадает на объектив 4 колпиматора, затем на клиновидную пластину 5 и контролируемую деталь 9. Излучение, отражаемое от контролируемой детали 9 и эталонной 25 30 35 40 45 50 оптический клин, отклоняется от он тической оси и совершает круговое движение на экране 6. В результате чего параэитные интерфереиционные картины и участки с неравномерностью освещения, связанные с дифракцией когерентного излучения, на неизбежных загрязнениях оптических элементов, получают круговое перемещение .в плоскости экрана и при вращении клина с частотой более 24 Гц раэепгваются и становятся невидимыми, а исследуемая интерференционная картина остается при этом...

Устройство для измерения линейных перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1589046

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Асланян, Иванов

МПК: G01B 11/00, G02B 11/14

Метки: линейных, перемещений

...точность изме" рений, 1 илт,1 и 2, жестко соединен с ними в общей конструкции.Устройство работает следующим образом, ЮКонтролируемый объект 8 поступа,тельно перемещается вдоль оптичес"кой оси объектива 7 в пределах диапазонаПоложение объектива 8 определяется относительно последнейповерхности объектива 7 координатойхеПри включенных источниках 3 и 4объект освещается пучками света отконцов А и И передающих световодов я2 , Эти пучки фокусируются вут, А и В и создают на поверхностиобъекта два световык пятна, освещенность Е и Ер в которых в зависимости от положения объекта 8 убывает обратно пропорционально квадрату расстояния между поверхностьюобъекта 8 и точкой фокусировки соответствующего пучка,Отраженный от объекта 8 свет по ЗОя Рприемным...