G01B — Измерение длины, толщины или подобных линейных размеров; измерение углов; измерение площадей; измерение неровностей поверхностей или контуров

Страница 574

Устройство для измерения перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1634994

Опубликовано: 15.03.1991

Авторы: Плешивцев, Терещенков

МПК: G01B 11/00

Метки: перемещений

...3 с чередующимися треугольными и квадратными окнами, двумя ячейками с квадратными окнами изглерительного растра 4, фоконами 5 и 6 и фотоприемниками 7 и 8, и электронного блока, содержащего усилители 9 и 10, сумматор 11, фильтры 12 и 13, измеритель 14 уровня, счетчики 15 и 16 и регистратор 17. Ячейки растров выполнены о виде набора плоских пластин, установленных параллельно опти еской оси.Устройство работает следующим образом.Опорный и измерительный растры 3 и 4 устанавливают так, что их окна перекрывают друг друга (фиг. 3), при этом измерительный растр 4 жестко связан с контролируемым объектом, а опорный растр 3 вместе с источником 1 света и линзой 2 укреплены на неподвижном основании. Измерительный растр 4, перемещаясь вдоль опорного...

Оптический датчик к устройству для измерения линейных перемещений и вибраций

Загрузка...

Номер патента: 1634995

Опубликовано: 15.03.1991

Авторы: Барченко, Герасимов, Сергеев, Таборко

МПК: G01B 11/00

Метки: вибраций, датчик, линейных, оптический, перемещений, устройству

...от оси световода 2, то, пройдя световод 10, луч смещается на 2 Х вниз от оси световода 2. С таким же смещением (2 Х вниз от оси световода 2) луч входит в световод 9, ось которого совпадает с осью световода 2, и выходит иэ световода 9, повернувшись относительно его оптической оси на 180, смещеным на 2 Х вверх от оси. В свеговод 11, смещенный вниз на Х, луч входит смещенным д ЗХ вверх от оси световода; йо выходит из него, повернувшись нд 180 относительно его оси на расстоянии ЗХ ниже оптической оси световода 11, д так как она сдмд смещена на Х вниз от оси световода 2, то, пройдя световод 11, луч смещается на 4 Х вниз от оси световода 2. уч, войдя в световод 6 сглещенным на 4 Х вниз от его оси, проходит его и, разворачиваясь, выходит на...

Способ определения характеристических величин полей напряжений вблизи вершин трещин

Загрузка...

Номер патента: 1634996

Опубликовано: 15.03.1991

Авторы: Жилкин, Тырин, Шеффер

МПК: G01B 11/16

Метки: вблизи, величин, вершин, напряжений, полей, трещин, характеристических

...пластинки.Голщипа клеевого слоя должна быть мипнл,дльпо возможной для того, чтобы обеслечи гь идентичность искривления зсркдлыого слоя и поверхности обьекта в црлцсссс ндгружения, При использовании укдздцных компаундов толщина клеевого с Оч дслж а быть це лченее 50 мкм, если и, рьпис наносится при 15 - 25 С, и не меч.; 30 .)кль соли ко; гцауцд предварительно д; рс ь д 50-60 С, Уменьшение толщины ,сдсго слприводит к снижению качест- Д ОтРДжаь-ОЛГО ЦОКРЫтИЯ ИЗ-ЗД ПОЯВЛЕНИЯ , -.,пы,. усгог и местных отслоений.г."сбусмдл толщина покрытия (30 - 50 мкм) дб. гцсчцвдстсч калибровочными прокладка,)п гпсжду поосрхностью образца и стеклцой пластинкой,Пучок свсгд От лоцохроматичсского исгц,ппкд 1, например лазера, превращается : и;г)дллсльпый с...

Способ аттестации пентагонального отражателя и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1634998

Опубликовано: 15.03.1991

Авторы: Докучаев, Замолодчикова, Казаков, Панина

МПК: G01B 11/26

Метки: аттестации, отражателя, пентагонального

...2 устанавливают 25 трь, чтобы его визирная ось была перпендикулярна визирной оси автоколлиматора 1, Мекду плоским зеркалом 3 и рвтоколлиматором 1 располагают юстировочный стол 4, ось врргцения которого пересекает визир ную ось автоколлимртора 1, Нр юстировочный стол 4 устанавливают пентагональный огракртель 5 так, чтобы в исходном положении обеспечить оптическую связь между плоским зеркалом 3 и рвтоколлиматором 1. 35 Проверяют их взаимное расположение и при наличии рассогласования фиксируют отсчет и нр шкале автоколлиматора 1. Затем разворачивают юстировочный стол 4 на некоторый угол и устанавливают пентагональ ный отражатель 5 в полокении, обеспечивающем оптическую связь автоколлимрторов 1 и 2. При помощи механизма рзимутрльной...

Устройство для контроля загрязненности оптической поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1634999

Опубликовано: 15.03.1991

Авторы: Бусурин, Шведов

МПК: G01B 11/30

Метки: загрязненности, оптической, поверхности

...6 выполняется по любой известной или доступной рабочему проектированию схеме сопоставления двух сигналов (анализатор отношения, разности, совпадения и т,д,).Приемники 2 и 3 излучения установлены в одной плоскости, симметрично относительно оптической оси излучателя и с воэможностью изменения расстояний между ними, Пластина 7 расположена вплотную к приемникам 2 и 3 излучения,Описанное устройство работает следующим образом.Излучение от излучателя 1 попадает в контролируемую оптическую деталь 5 и после переотражений в нем воспринимается приемниками 2 и 3 излучения, При загрязнении или при дефекте поверхности детали 5 в зоне контроля уменьшается часть излучения, достигающая приемников 2 и 3 излучения. На приемнике 2 излучения это...

Способ определения функции распределения углов наклона микронеровностей шероховатой поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1635000

Опубликовано: 15.03.1991

Авторы: Ермоленко, Ушенко

МПК: G01B 11/30

Метки: микронеровностей, наклона, поверхности, распределения, углов, функции, шероховатой

...4 состообьективов и диафрагмы междужит для расширения пучка и форволны с плоским волновым фростинка 2 ориентируется таким обее ось наибольшей скорости сост45 с плоскостью поляризациипучка, что позволяет получить циркулярную поляризацию освещающего пучка. Поляризатор 6 вращается с помощью шагового двигателя (не показан), что обеспечивает вращение плоскости колебаний световой волны относительно плоскости падения, Объект 12 осуществляет поляризационнофазовую модуляцию лазерного пучка, Объектив 5 проецирует изображение исследуемой шероховатой поверхности объекта 12 сквозь поляризатор 3 в плоскость полевой диафрагмы 7, за которой расположены магнитооптический модулятор 8 и фотоэлектрический блок 9 регистрации, Размер полевой диафрагмы 7...

Способ измерения толщины металлического покрытия на диэлектрической подложке и чувствительный элемент для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1635001

Опубликовано: 15.03.1991

Авторы: Амельянец, Гуничев, Пчельников, Федичкин

МПК: G01B 15/02

Метки: диэлектрической, металлического, подложке, покрытия, толщины, чувствительный, элемент

...магнитного поля сопровождается изменением фазовой скорости поверхностной волны, что приводит к изменению времени О. Кроме того, время О изменяется в зависимости от температуры Т подложки покрытия, находя 1635001щегося в тепловом контакте с пластиной 1,Действительно, изменение тмпературыприводит к изменению геометрических размеров пластины 1 и диэлектрической проницаемости ее материала, с которым 5взаимодействует электрическое поле поверхностной волны. Таким образом, времяОэависит от величин Л, М, Я, Т, На рабочемучастке многомерной градуировочной характеристики эта зависимость по экспериментальным данным имеет вид;0(Л) = О, (Л 1) 1 + а(Л 1) (Л - Ло) 1+3(Л 1)Хх(М - Мо) 1 + у (Л 1) (Я - 5 о) 1 + д (Т - То),(2)где Оо, Ло,йо, Яо, То -...

Устройство для контроля периодических перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1635002

Опубликовано: 15.03.1991

Авторы: Борисова, Ершов, Каниовский, Николаев, Смирнов, Чупак

МПК: G01B 21/00

Метки: перемещений, периодических

...кол 1 паратора О 1 и О 2 устанавливаются в зависимости от требуемого диапазона изменения управляющего напряжения при контроле. В результате срабатывания компаратора б на его выходе формируются прямоугольные импульсы, передний фронт которых формируется при значениях Оьх=О 1, а задний - при Оьх=О 2. Последовательность прямоугольных импульсов с компаратора б поступает на первый управляющий вход счетчика 7 и на счетный вход счетчика 8. Счетчик 8 просчитывает заданное число полупериодов, необходимое для тренировки контролируемого пьеэокерамического преобразователя 14, после чего выдает разрешение на второй управляющий вход счетчика 7. В результате появления разрешающих сигналов на обоих управляющих входах счетчика 7 происходит его...

Устройство для контроля измерительной головки

Загрузка...

Номер патента: 1635003

Опубликовано: 15.03.1991

Авторы: Аугустайтис, Бансявичус, Гинетис

МПК: G01B 21/00

Метки: головки, измерительной

...фотодетектора 11 формируется интерференционная картина, интенсивность которой зависит от величины зазора между наконечником 5 и пластинкой 6. Пока наконечник 5 не касается упора 2, зазор между наконечником 5 и пластиной 6 остается постоянным, и интенсивность света, регистрируемая фотодетектором 11, тоже постоянна, следовательно, сигнал с выхода фотодетектора 11 постоянный, а на выходе компаратора 13 - постоянный уровень. Триггер 14, как и счетчик 16, находится в исходном состоянии, т.е, на их выходах нули. Нуль выхода триггера 14 поступает на вход конъюнктора 15 и на его выходе формирует постоянный нуль, независимо от сигналов, поступающих на второй вход конъюнкгора 15. Таким образом, сигналы с выхода канала 12 измерительной системы...

Термоэлектрический способ контроля толщин одинаковых покрытий на различных основах

Загрузка...

Номер патента: 1635004

Опубликовано: 15.03.1991

Авторы: Лухвич, Саванович

МПК: G01B 21/00

Метки: одинаковых, основах, покрытий, различных, термоэлектрический, толщин

...конуса, диаметрконтакта электрода с иэделием 2 мм. 10Результаты измерений приведены втабл, 1 и 2.Способ осуществляется следующим образом. 15Пусть один горячий электрод (элект 1) имеет радиус контактной площадки г 1другой (электрод 2) - Г 2. Так как в данномслучае электроды выполнены из материалапокрытия, то значения термоЭДС для пар с 20электродом 1 и с электродом 2 соответствуютЕ 1- апот(Г 1, д); (1)Е 2 = СЬо (Г 2, 0), (2)где апо - коэффициенттермоЭДСпарыматериал покрытия - материал основы; .1(г 1, и) - температура на стыке покрытие -основа под электродом 1;т(Г 2, а) - температура под злеОтношение этих ЭДС 30Е 2апой Г 2,ОЕ 1 апо 1 Г 1 ОТемпературу на стыке покрытие - основа можно представить в видет(Г 1, а) = то(Г 1)- Ьт(Г 1,...

Устройство для определения толщины магнитной ленты

Загрузка...

Номер патента: 1635005

Опубликовано: 15.03.1991

Автор: Калинин

МПК: G01B 21/06

Метки: ленты, магнитной, толщины

...к формированию на втором выходе блока В,управления импульса. который производит очистку (сброс в "0") реверсивных счетчиков 6-8(по входу й), причем на обоих входах схемы 5 10 15 20 25 30 35 ИЗ блока 5 (фиг,2) имеются разрешающие уровни.Второй пришедший по второму входу импульс переводит второй выход счетчика Сч 2 блока 5 в активное состояние. Это приводит к окончанию импульса сброса по второму выходу блока 5 управления и формированию управляющего сигнала по первому и третьему выходам блока 5 управления, Наличие этих сигналов на соответствующих входах реверсивного счетчика 6 разрешает запись в параллельном коде числа М, что подготавливает схему к работе по ээцанному алгоритму. На четвертом выходе блока 5 управления присутствует...

Способ регистрации двухэкспозиционной голографической интерферограммы

Загрузка...

Номер патента: 1636686

Опубликовано: 23.03.1991

Авторы: Нижник, Тюшкевич

МПК: G01B 9/025, G03H 1/18

Метки: голографической, двухэкспозиционной, интерферограммы, регистрации

...нагрева фототермопластического материала и окончательноготеплового проявления, блок управления временными характеристиками процесса записи и фотоприемное устройство, расположенное на пути распространения отклоненного фототермопластическим материалом излучения.В качестве источника когерентногоэлектромагнитного излучения используют аргоновый лазер ЛГН. Регистрация голографических интерферограммосуществляют на фототермопластическом материале ФТПН-Л. Зарядку фототермопластического материала при действии короны осуществляют с помощьюисточника высокого напряжения 3-12 кВ,которое подают на коронирующую нить,Блок нагрева фототермопластическогоматериала и окончательного тепловогопроявления представляет собой стабилизатор напряжения 30-100 В с...

Устройство для измерения угла поворота

Загрузка...

Номер патента: 1638548

Опубликовано: 30.03.1991

Автор: Богомолов

МПК: G01B 11/26

Метки: поворота, угла

...функциональная схема устройства.Устройство содержит осветитель (на чертеже не показан), подви;хный растр 1, выполненный в виде щелевой диафрагмы 2 и установленный с возможностью поворота вокруг заданной оси, неподвижный растр, выполненный в виде и групп 3 фотоприемников 4, равномерно расположенных в пределах 360, и дешифратор 5. В каждой группе 3 фотоприемники 4 расположены вдоль линии, проходящей через ось поворота подвижного растра 1 и подключены к соответствующим входам дешифратора 5. Щелевая диафрагма 2 расположена на заданном расстоянии от оси поворота подвижного растра 1, которое равно расстоянию от ближайших к оси поворота подвижного растра 1 фотоприемников 4 каждой иэ и групп 3 до этой оси.Щелевая диафрагма 2 может быть...

Калибр-пробка, предельная для контроля внутренних шлицев эвольвентного профиля детали

Загрузка...

Номер патента: 1640517

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Калинина, Никанорова

МПК: G01B 3/46

Метки: внутренних, детали, калибр-пробка, предельная, профиля, шлицев, эвольвентного

...которое перпендикулярно лыскам 3 и в котором плотно установлен штифт 12, Концевые элементы 6 крепления выполнены в виде пластин с отверстием 13, расположенным на расстоянии, меньшем расстояния между лысками 3, т,е, на лысках 14, предусмотренных на хвостовике 2 и образующих направляющие поверхности для концевых элементов 6, При этом в отверстиях 13 последних расположены концы штифта 12, который вместе с охватывающим буртом 8 и Г-образными элементами 5 удерживает контактные ролики 4 на лысках 3, Наружный диаметр охватывающего бурта 8 выполнен меньшим расстояния между осями контактных роликов 4, а диаметр охватывающего бурта 8 должен быть меньшим внутреннего диаметра эвольвентных шлицев 15 детали 16 (фиг,8 и 9).Измерение...

Устройство для измерения линейных перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1640518

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Зубков, Павлов

МПК: G01B 5/00

Метки: линейных, перемещений

...17 и выступа 18, а при смыкании образуют между собой замковое соединение,Возможно также выполнение указанных кромок эластичных полос 7 и 8 одинаковыми, имеющими в поперечнОм сечении форму лепестков (фиг.4), при этом поверхность роликов 9, 10, 11 и 12 выполнена по профилю наружной поверхности этих кромок, а смыкание осуществлено по внутренним поверхностям кромок,Устройство работает следующим образом;Для измерения перемещения двух взаимоподвижных объектов корпус 1 крепят на одном иэ объектов, а стойку 4 за опорную плиту 6 - на другом, при этом продольный паз 2 на корпусе ориентируют в направлении перемещения, При перемещении одного из объектов относительно другого перемещается стойка 4, а вместе с ней головка 5, которая считывает по шкале...

Способ определения зазора в шаровой опоре скольжения

Загрузка...

Номер патента: 1640519

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Попова, Ускова, Федотова

МПК: G01B 5/14

Метки: зазора, опоре, скольжения, шаровой

...которого меньше диаметра бр рабочего шарика в опоре, размещают между двумя коническими подпятниками, которые затем закрепляют в обоймах, Затем в каждую обойму поочередно помещают два образцовых шарика с разными диаметрами г 11 и й, которые опираются на подпятники, и измеряют разности высот а 1 и а 2 выступания шариков над торцами обойм, а зазор в шаровой опоре вычисляют по формулеЛ= (э 1 1 ар)2 (б-бр)( 21)(д -й).2 ил. Вначале производят сборку (склеивание) подпятников 5 с обоймами 4 одновременно в двух обоймах, для чего подпятник покрывают слоем клея, помещают в обоймы, между двумя подпятниками размещают технологический шарик и поджимают обоймы торцами друг к другу (плоскость Н). После высыхания клея обоймы разъединяют, в конические...

Устройство для измерения межцентровых расстояний

Загрузка...

Номер патента: 1640520

Опубликовано: 07.04.1991

Автор: Проскуряков

МПК: G01B 5/14

Метки: межцентровых, расстояний

...относится к контрольноизмерительной технике.Целью изобретения является повышение точности измерения и производительности.На фиг,1 изображено устройство, общий вид; на фиг.2 - разрез А-А на фиг.1; на фиг.3 - вид Б на фиг.1,Устройство для измерения межцентровых расстояний состоит из корпуса 1, плавающей рамы 2, разрезной головки 3, закрепленной на корпусе 1, и разрезной головки 4, закрепленной на раме 2.Плавающая рэма 2, выполненная в виде прямоугольного треугольника, расположена в плоскости, перпендикулярной плоскости, проходящей через оси отверстий в проверяемой детали. Разрезная головка 4 с рамой 2 совершает движения по дуге вокруг оси 0-0, которая представляет собой под.шипник скольжения, состоящий из оси 5, закрепленной на...

Способ контроля глубины конического отверстия

Загрузка...

Номер патента: 1640521

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Боровиков, Гадунина

МПК: G01B 5/18

Метки: глубины, конического, отверстия

...отверстия, что обеспечивается возможностью четкого продольного базирования второго углового калибра от кромки отверстия меньшего диаметра. ине Н отверстия на "М" меньшеьной глубине Н уском, Шаблон им и меньшим , при введении выступа 5 долежду шаблоном отверстия, при зазора быть нешинах обоих выступов одинаковы и равныы у, который с углами а и р связан соотношением у-.Длина "Б" большегоа - Ввыступа равна номинальной глубине Н контролируемого отверстия, а длина "М" меньшего выступа равна номинальной глубине с минусовым допуском, На корпусе 1 устройства выполнен паз для введения шаблона 4.Предлагаемый способ заключается в следующем.На контролируемое отверстие устанавливают корпус 1 устройства и вводят в отверстие коническую...

Способ определения величины огранки цилиндрической детали

Загрузка...

Номер патента: 1640522

Опубликовано: 07.04.1991

Автор: Фрейдлин

МПК: G01B 5/20

Метки: величины, детали, огранки, цилиндрической

...огранки. Способ определения величины огранки цилиндрической детали заключается в том, что контролируемую деталь базируют по двум одинаковым призмам, которые располагают у концов детали, вращают ее в призмах и измерителями измеряют величины биения профиля детали в двух поперечных сечениях по концам детали и в среднем сечении, После этого, учитывая результаты измерения и коэффициент воспроизведения огранки, зависящий от углов призмы и числа граней детали, определяют величину огранки детали в этих сечениях. 1 ил. и Т 02 - величины огранки в сечр оженных по концам детали;Тоср - то же, в среднем сечении;дл 1 и дл 2 - величина биения прв поперечных сечениях по концам детДлср - то же, в среднем сечении;Ког - коэффициент воспроизведенранки,...

Устройство для контроля взаимного расположения поверхностей в отверстиях цилиндрических деталей

Загрузка...

Номер патента: 1640523

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Корчемкин, Немировский

МПК: G01B 5/24

Метки: взаимного, отверстиях, поверхностей, расположения, цилиндрических

...а направляющих втулок 7 установлен с возможностью радиальных перемещений под действием пружины 8 базовый упор 9 с наконечником 10, На упоре 9 жестко закреплен корпус измерителя 11, например индикатора, неподвижная гильза 12 которого с подвижным в ней наконечником 13 про 1640523ходит в отверстии 14 кронштейна 2, что удерживает от поворота вокруг своей оси упор 9. Оси упора 9 и гильзы 12 взаимно параллельны, расположены перпендикулярно к образующим отверстия и выточки и располагаются в.плоскости, проходящей через эту образующую и оси отверстия и выточки. В качестве измерителя могут быть использованы и другие известные средства,Контроль осуществляют следующим образом,Устройство обоймой 1 устанавливают на проверяемой детали 4 с базированием...

Прибор для контроля конусности дорожки качения колец подшипника

Загрузка...

Номер патента: 1640524

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Аничков, Родников, Фирсов, Шикарев

МПК: G01B 5/24

Метки: дорожки, качения, колец, конусности, подшипника, прибор

...направлении и на разной высоте. Измерители 31 и 32 определяют положение кронштейнов 12 и 16 относительно корпуса, 4 ил. высоте дорожки качения относительно щупов 24 и 26 держателей 20 и 22, Держатель 19 со,.динен с держателем 21 измерителем 29, а держатель 20 с держателем 22 - измерителем 30. На корпусе 1 смонтированы измерители 31 и 32 положения соответственно кронштейнов 12 и 16 относительно корпуса,Прибор работает следующим образом.Сначала производят настройку прибора. Для этого, раздвинув кулачком 8 путем поворота валика 9 каретки 4 и 5, устанавливают на базовую плоскость 2 образцовую меру (кольца 28), поджимая ее к базирующему упору 3, После этого поворачивают валик 9 с кулачком 8 на 90. При этом каретки 4 и 5 сближаются, а...

Трансформаторный преобразователь перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1640525

Опубликовано: 07.04.1991

Автор: Ивашин

МПК: G01B 7/00

Метки: перемещений, трансформаторный

...Л Ч, пропорциональное разности напряжений, снимаемых с измерительных обмоток 8 и 9 дополнительных катушек 2 и 3. Содержащиеся в блоке 17 три преобразователя 22 - 24 напряжения подключены к выводам 14 - 16 измерительных обмоток преобразователя. С помощью трех блоков 25 - 27 вычитания и двух усилителей 28 и 29 с регулируемым коэффициентом К усиления обеспечивается сравнение напряжений, измеренных на обмотках 7-9 преобразователя, с опорным напряжением источника 19 и одного с другим. В результате на зажиме 30 блока обработки формируется сигнал Ч(у), пропорциональный величине зазора между торцовой плоскостью катушек и поверхностью экрана 10, преобразователя, а на зажиме 31 - сигнал К Ч(х), пропорциональный величине перемещения экрана...

Способ фридмана измерения толщины стенок полых изделий из немагнитного материала

Загрузка...

Номер патента: 1640526

Опубликовано: 07.04.1991

Автор: Фридман

МПК: G01B 7/06

Метки: немагнитного, полых, стенок, толщины, фридмана

...фракций. С помощью управляющего постоянного магнитного поля внешнего источника МДС, например, постоянного магнита (не показан), устанавливаемого снаружи контролируемого изделия 1, оболочка 3 с суспензией 4 подводится к измеряемому участку 5 стенки изделия. С внешней стороны стенки иэделия на контролируемом участке помещают электромагнитный преобразователь 6, выполненный в виде П-образного магнитопровода 7 и катушки 8 индуктивности,После ориентирования оболочки 3 у внутрен" ей поверхности измеряемого уча1640526 Составитель И, КесоянТехред М,Моргентал Корректор И. Муска Редактор Л, Волкова Заказ 1261 Тираж 391 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж,.Раушская наб., 4/5...

Устройство для измерения гидродинамических параметров движущейся пленки жидкости

Загрузка...

Номер патента: 1640527

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Голияд, Курилова, Лихолат, Мужилко, Снеговской

МПК: G01B 7/06

Метки: гидродинамических, движущейся, жидкости, параметров, пленки

...теплоэнергетической, химической технологии, научных исследованиях.Целью изобретения является повышение информативности.На чертеже показана блок-схема описываемого устройства.Устройство для измерения гидродинамических параметров движущейся пленки жидкости содержит подложку 1 с электро- изолированными контактами 2, Контакты наклеиваются на подложку клеем-диэлектриком 3, По обе стороны подложки вблизи контактов 2 установлены полюса постоянного магнита 4, Электроизолированные контакты подключены к блоку 5 измерения средней скорости пленки. Выход блока 5 подключен к блоку 6 умножения, к которому ответ следующим обраказ 1262 Тираж 395 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СС 113035, Москва, Ж,...

Преобразователь угла наклона в напряжение

Загрузка...

Номер патента: 1640528

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Мартяшин, Чернецов

МПК: G01B 7/30

Метки: наклона, напряжение, угла

...за счет исключения гальванического контакта при считывании информации.На чертеже представлена блок-схема преобразователя..Преобразователь содержит корпус 1, укрепленные в нем неподвижно направляющие 2 и 3 из диэлектрика, размещенные на внутренней поверхности направляющих 2 и 3 резистивные элементы 4 и 5, опору б, на которой вращается равноплечий маятник 7 с изолированными от него электродами 8 и 9, источник 10 питания переменного напряжения и шину 11 нулевого потенциала, Выводы резистивных элементов 4 и 5 в одной вертикальной плоскости подключены к источнику 10, а их противоположные выводы подключены к шине 11 нулевого потенциала.Преобразователь работает следующим образом.При включении источника 10 питания его выходное напряжение 0...

Интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 1640529

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Дымшиц, Желтов, Калугин, Листратова, Прохоров, Фабро, Шехтман

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр

...порядка определяется выражением в 1 п а 2 = и л, /б, где б - шаг решетки, 1640529длина волны излучения. Излучение, отразившееся от решетки 3 в максимум того же и-го порядка, направлено под углом а 1, определяемым выражением зи а= (п- -2 Ь)/О, где Л- разность глубин друх соседних полостей. Видно, что аа р, Кроме того, из сопоставления выражений для гхоз и а 2 следует, что разность а 2 - адля различных дифракционных максимумов различна, Следовательно, различна и величина смещения волновых фронтов, отраженных от решеток 2 и 3. Таким образом, в максимумах разных порядков одновременно образуются интерференционные картины с различной величиной сдвига.Величина сдвига волновых фронтов в максимумах в интерферометре задается заранее самой...

Оптический интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 1640530

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Дымов, Тедеев

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, оптический

...7, которые скрещены друг с другом, причем ось одного из них параллельна плоскости отражения зеркал 3, 4 и превращается в линейно поляризованное излучение, т.е, плоскости поляризации пучков А и В перпендикулярны одна к другой. После того как эти пучки света по прохождении светоделителя 5 сложатся, пройдут через четвертьволновую пластинку 8, отразятся от зеркала 9, повторно пройдут через четверть- волновую пластинку 8, плоскость поляризации каждой из них повернется на 90. Оси Хд и Хв четвертьволновой пластинки 8 должны быть ориентированы под углом 45 к векторам напряженности электрического поля Ед и Ев падающих на нее пучков света А и В (фиг. 2). Таким образом, после повторного прохождения четвертьволновой пластинки 8 для луча А...

Устройство для получения изображения на фототермопластическом (фтп) носителе

Загрузка...

Номер патента: 1640531

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Бахтин, Бородин, Духопел, Иванович, Крюков

МПК: G01B 9/021

Метки: изображения, носителе, фототермопластическом, фтп

...заряд на поверхности ФТП-носителя 4 перераспределяется соответственно распределению интенсивности излучения в плоскости ФТП-носителя 4, которая может представлять собой интерференционную картину, образованную наложением опорной и объектной волн на поверхности ФТП-носителя 4, От источника 8 управляющего напряжения на нагревательный элемент 3 подается импульс тока, в результате чего объем воздуха около нагревательного элемента 3 нагревается и благодаря диффузионному переносу тепла нагревается ФТП-носитель 4, Затем происходит охлаждением ФТП-носителя 4 и фиксация голограммы, Благодаря креплению ФТП- носителя 4 в узле 5 натяжения не происходит его коробление и не появляются паразитные интерференционные полосы, снижащие...

Устройство для получения изображения на фототермопластическом (фтп) носителе

Загрузка...

Номер патента: 1640532

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Бахтин, Бородин, Духопел, Крюков

МПК: G01B 9/021

Метки: изображения, носителе, фототермопластическом, фтп

...напряжения и узла 8 создания воздушного потока.Устройство работает следующим образом,Нэ коронирующий электрод 2 от источника б подается высокое напряжение, что обеспечивает возникновение коронного разряда. В результате разряда нэ поверхности ФТП-носителя 4 образуется поверхностный электрический заряд, Затем осуществляется экспонирование ФТП-носителя 4, в результате чего из-за эффекта фотопроводимости распределение заряда нэ поверхности ФТП носителя 4 становится подобным распределению интенсивности пэдающего на ФТП-носитель 4 светового излучения. После этого от источника 5 управляющего напряжения на нэгревательный элемент 3 подается импульс токэ, что приводит к образованию объема нагретого воздуха около нэгревэтельного...

Способ бесконтактного определения размера детали

Загрузка...

Номер патента: 1640533

Опубликовано: 07.04.1991

Автор: Миронченко

МПК: G01B 11/02

Метки: бесконтактного, детали, размера

...жестко скреплены и являются оптической частью устройства,Способ осуществляется следующим образом,При настройке устройства на опорную поверхность 14 устанавливают образцовую деталь (не показана) с гладкой поверхностью, Пучок света осветителем 1 направляют на поверхность образцовой детали под углом а к ее поверхности, Измерение угла а.производят любым известным способом.Осветитель 1 вместе с обьективом 2, светоделителем 3 и фотоприемниками 4 и 5 перемещают в плоскости хода осевого луча падающего и зеркально отраженного пучков света до тех пор, пока центр отраженного пучка света не совпадет с центром светочувствительной зоны позиционно-чувствительного фотоприемника 4. При этом фотоприемник 5 располагают так, чтобы на него падала часть...