G01B — Измерение длины, толщины или подобных линейных размеров; измерение углов; измерение площадей; измерение неровностей поверхностей или контуров

Номер патента: 1758422

Опубликовано: 30.08.1992

Автор: Власенко

МПК: G01B 11/24

Метки: второго, кривизны, оптических, поверхностей, порядка, радиуса

...сферической поверхности 2. Параллельный пучок света 1 направляют перпендикулярно к плоскости35 линзы 2 (на чертеже плоскость линзы необозначена), Расходящийся пучок света отфокусировки сферической поверхностью 2попадает на экран Зпосле чего измеряютугловую расходимость пучка света, которая40 является эталоном расходимости для радиуса кривизны, равного половине диаметраэтой линзы. Чтобы не измерять каждый разугловую расходимость пучка света при контроле и определять радиус кривизны не по45 расходимости света, а по изображению светового пятна на экране 3 и шкале 4, дляэтого изготовляют сферическую поверхность на торце сердцевины оптического световода и добиваются, чтобы угловая50 расходимость света выходящего из сферической...

Номер патента: 1758423

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Войтенко, Гиргель, Горелый, Казаков, Крылов

МПК: G01B 11/24

Метки: интерференционное, линз

...при оценке качества изготовления линзы.Цель изобретения - повышение точности, достоверности, информативности, .а также повышение производительности при контроле качества изготовления линз.Достижение цели обеспечивается тем, что интерференционное устройство для контроля линз, содержащее источник моно- хроматического света, светоделитель, делящий световой поток на рабочий и эталонный, последовательно установленные в рабочем потоке обьектив, держатель контролируемой линзы и зеркало, эталонный элемент, расположенный в эталонном потоке и систему регистрации интерференционной картины снабжено механизмом переремещения объектива рабочего потока в плоскости, перпендикулярной оптической оси, двухкоординатным механизмом с...

Номер патента: 1758424

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Костава, Отаришвили, Поцхишвили

МПК: G01B 11/26

Метки: плоских, углов, устройства, юстировки

...углов, основанном на регистрации изображений марки при отражении от зеркала и измерении угла между ними, с целью упрощения процесса юстировки на предметный столик устанавлива 1 от плоско- параллельный отражатель, приводят стол во вращение, производят регистрацию последовательности автоколлимационныхизображений марки, преобразуют их в электрические сигналы, снимают показания ав 5 токоллиматора для угла между 1 и 2 гранямиотражателя, затем между 2 и 1 гранями,производят их сравнение и по результатамсравнения регулируют выходную щель автоколлиматорадо получения равной нулю ука 10 эанной разности.На фиг, 1 изображена схема устройствас помощью которой осуществляетсл предлагаемый способ.Устройство содержит предметный стол15 1 с расположенным...

Номер патента: 1758425

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Костава, Отаришвили, Поцхишвили

МПК: G01B 11/26

Метки: плоских, углов, устройства, юстировки

...в этом решении в процессе юстировки производится измерение углов разворота стола между отражениями ат одной и той же плоскости, т.е. малых углов, что обуславливает повышение точности.На фиг. 1 приведено устройство, реализующее данный способ.Устройства содержит измерительный стол.1 с расположенным на нем шаблоном с зеркалами 2, 3. Выход автокаллиматара 4 связан со входом логического блока 5, выход которога соединен со входом вычислительного блока б.На фиг. 2 показаны угловые положения зеркала 2 на предметном столе 1; нэ фиг. 3 - проекции автаколлимэционнай марки 3 при многократном отражении в плоскости выходной щели 7 автоколлиматара 4.Устройство, реализующее предлагаемый способ, работает следующим образом,На предметном столе 1...

Номер патента: 1758426

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Киселев, Копейченко, Цветков, Цепелев

МПК: G01B 11/26

Метки: углов

...связи проекционной системы с контролируемым обьектом. Устройство снабжено окулярной насадкой, оптически связанной с отсчетной системой через контролируемый объект, а лимб и установочное приспособление закреплены неподвижно. роме того, устройство снабжено приводом для механизированной установки контролируемых углов,На чертеже изображено предлагаемое устройство, общий вид.Устройство для контроля углов содержит рабочую меру в виде стеклян ного лимба 1, неподвижно закрепленного и отцентрированного относительно оси вращения 2 проекционной системы 3 (фиг. 1). К нижней части оси 2 шарнирно прикреплены пружинные фиксаторы 4, которые слукат для соединения оси с вращающейся частью контролируемого изделия 5. К верхней части оси 2 прикреплен...

Номер патента: 1758427

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Калачиков, Меркулов, Эцин

МПК: G01B 11/30

Метки: отклонений, прямолинейности

...интегратор, вход которого подключен к выходу линии задержки, а выход подключен к управляющему входу дефлектора,На фиг. 1 показана Функциональная схема устройства дпя измерения отклонений от прямолинейности; на фиг. 2 - графики, представляющие собой временные зависимости величин напряжения управления, поступающего с выхода интегратора на вход электрически управляемого дефлектора лазерного пучка, выходных показаний датчика угловых смещений и датчика линейных смещений для случая измерений в одной точке трассы.(ак видно иэ фиг, 1, устройство для измерения отклонений от прямолинейности содержит основание 1, лазер 2 с телескопической системой 3, установленный на основании с воэможностью угловых и линейнь 1 х смещений относительно...

Номер патента: 1758428

Опубликовано: 30.08.1992

Автор: Демин

МПК: G01B 17/00

Метки: магнитострикционный, перемещений

...распределенный элемент 4 записи с подвижным магнитам 5 смещения, два сосредоточенных элемента 6, 7 считывания с магнитами 8 смещения. Магнитострикционный звукапровад 1 установлен в акустические демпферы 2, вблизи которых неподвижна закреплены на звука- проводе 1 первый и второй сосредоточенные элементы 6 и 7 считывания с магнитами 8 смещения, включенные между собой встречно-последовательна. Между сосредоточенными элементами 6, 7 считывания на звукопроводе 1 непадникно закреплен распределенный элемент 4 записи с подвижным магнитом 5 смещения, который кинематически подключен к абьекту и макет перемещаться между ограничителями 3 перемещений, установленные па краям распределенного элемента 4 записи.Магнитострикционный...

Номер патента: 1758429

Опубликовано: 30.08.1992

Автор: Демин

МПК: G01B 17/00

Метки: перемещений

...(1)где к - 0,8 - 0,9 - коэффициент пропорциональности;Оо - единичная амплитуда сигнала счир - коэффициент затухания УЗ волны всреде эвукопровода.. Поступая на входы формирователя 7 импульсов считывания, наведенные сигналы 25 (1) суммируются и формируют моноимпульсный сигнал считывания повышенной амплитудымОх=. 01,г; (2)который преобразуется в прямоугольный видеоимпульс считывания и переключает О- триггер 11 в исходное состояние. Работа измерительного генератора 12 завершается, а на и выходах счетчика 13 результата выстсаляется код искомого перемещенияЙх = Тх.о = 01 х; (3)поступающий на шины 17 результата, формируя сигнал "Код перемещения". По шине 16 запроса выставляется сигнал "Запрос" и устройство переводится в режим ожидания, Далее...

Номер патента: 1758430

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Егоров, Михайлов, Московский

МПК: G01B 21/00

Метки: перемещения, фотоэлектрический

...преобразователь перемещений, содержащий регулируемый потенциометр, два источника излучения, соединенные по балансной схеме через регулируемый потенциометр, последовательноустанонленные по ходу пучка излучения измерительный растр, выполненный в виде равномерно нанесенных штрихов, индикаторный растр, выполненный в ниде групп равномерно нанесенных штрихов, четыре фотоприемника и электронное устройство, снабжен вторым регулировочным потенциометром, двумя ограничивающими резисторами, второй парой источников излучения, соединенных по балансной схеме через соответствующий регулировочный потенциоглетр, каждая пара источников излучения соединена с шиной питания через соответствующий ограничивающий резистор, каждый излучатель...

Номер патента: 1758431

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Ободан, Путилов, Скрипниченко, Тоцкий

МПК: G01B 21/00

Метки: линейного, объекта, размера

...управления многоэлементным линейным фотопреобразователем 4, частота опроса элементов которого составляет таким образом Г/И. Ступенчатый видеосигнал 04, несущий информацию об освещенности изображения контролируемого обьекта 13, формируемого оптической системой 5, поступает на блок 10 временной задержки, Время задержки равно периоду опроса элементов многоэлементного линейного фотопреобразователя К/1. Второйсчетчик 8 и ри поступлении на его установочный вход импульса 02 с делителя 2 частоты, например, в момент т 1 устанавливается в исходное положение, при этом сигналы 02 зв виде двоичного кода, поступающие на адресный вход многовходового аналогового коммутатора 12, устанавливают его также в исходное положение (фиг. 1, замкнут крайний...

Номер патента: 1758432

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Прилепин, Федосов

МПК: G01B 21/00

Метки: интерферометр, относительный

...через оптический затвор 8 на фотоприемник 11. Часть этого пучка, пройдя зеркало 5, поступает на измеритель контраста 16. Второй пучок, отразившись от зеркала 2 и пройдя калибро 5 10 15 вочную линию 3 через полупрозрачное зеркало 6 одной частью поступает на измеритель контраста 16, Другая часть этого пучка, отразившаяся от полупрозрачного зеркала 6 направляется через оптический затвор 9 на фотоприемник 12. Генератор 10 вырабатывает стробирующие импульсы, следующие с постоянным периодом Т, их длительность г может регулироваться и управляет ими оптическими затворами 8 и 9, пропуская на короткое время опорный и информационный пу кки на фотоприемники 11 и 12. Инерционность фотоприемников 11 и 12 и стоящих за ними усилителей 13 и 14...

Номер патента: 1758433

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Миронов, Привалов, Синица

МПК: G01B 21/00

Метки: перемещений

...рас щепление встречных волн, Оба пучка 23 и 24 с частотами 11 ипреобразуются коллиматором 4 в два параллельных широких пучка сплоскими волновыми фронтами и поступа.ют на светоделитель 5, где они разделяются. Часть излучения с частотой и 1 поступает на неподвижный отражатель 9, а часть - на подвижный отражатель 11. Часть излучения с частотой т поступает на неподвижный отражатель 10, а часть - на подвикный отражатель 11. Часть излучения с частотой) поступает на неподвижный отражатель 10, а часть - на подвижный отражатель,11. Отразившись от отражателей 9 - 11, пучки объединяются в светоделителе 8 и интерферируют, образуя два измерительных канала 25 и 26, При этом пучок с частотой (Р 1 й Ь Ю (Т, отраженный от подвижного отражателя...

Номер патента: 1758434

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Ициксон, Сендеров

МПК: B61G 7/00, G01B 21/16

Метки: автосцепок, исправности

...обеих автасцепок замок утоплен не будет(не выдается информация о неисправности), а износы указанных поверхностей могут привести к большому выходу лапы замкодержателя и соответственно опусканию противовеса, исключая предохранение от самарасцепа.Цель изобретения - повышение эффективности; Положительный эффект заключается в увеличении достоверности контроля за счет перехода от индикаторного устройства к измерительно-допусковому и за счет расширения диагнастирующих признаков.Поставленная цель достигается тем, что выполняется следующая последовательность операций: просвечивание контура зацепления автосцепки в вертикальной плоскости с помощью направленного светового потока; прием светового потока, промодулираванного рельефом автосцепки в...

Номер патента: 1758585

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Вахромеев, Канайкин, Снопков

МПК: G01B 7/32, G01R 27/02

Метки: неправильной, плоского, площади, среза, тел, формы

...из диэлектрического корпуса 4, проницаемой пористой керамики 10, обьема 11, заполненного раствором соли медного купороса, и медного электрода 12, находящегося в электрическом контакте с металлическим стержнем 8 за счет пружины 5. Торцы насадок расположены выше поверхности корпуса и образуют ячеисто-упорядоченную рабочую поверхность. Все электрические контакты 6 индивидуально подключены к сигнальным элементам 14, представленным светодиодами с рабочим напряжением 5 В (ж."Радио" М 11, 1981 г., Справочный листок "Светодиоды" ), входящие в блок световой индикации 15, которьй питается от источника постоянного тока 16 (УНИП"КВАНТ" - 303), включенного между общим контактом 7 и блоком индикации 15, Все насадки (кроме одной центральной),...

Номер патента: 1760310

Опубликовано: 07.09.1992

Авторы: Болдырев, Буняев, Десятник, Долгих, Малкин

МПК: G01B 7/02

Метки: бесконтактного, расстояний

...катушек индуктивности печатным способом и разнесение их на заданное расстояние также обеспечивает повышение стабильности устройства,Выполнение катушек индуктивности в виде двух секций, разнесенных в направлении, перпендикулярном измеряемому расстоянию, и соединенных последовательно, обеспечивает компенсацию ЭДС, наводимой магнитными пОлями, что приводит к ПО- вышению помехоустойчивости устройства,Разделительные цепи между катушками индуктивности и детекторами ослабляют сигнал помехи, так как ее спектр, как правило, не совпадает со спектром полезного сигнала и еще более увеличивает помехо- устойчивость.На чертеже приведена структурная схема предлагаемого устройства.Устройство содержит источник переменного напряжения...

Номер патента: 1760311

Опубликовано: 07.09.1992

Авторы: Александров, Беличенко, Елтышев, Железняков

МПК: G01B 7/04

Метки: длины, текстильных

...флажка, закрепленного на прижиме 15 материала, датчики положения 19 и 20, расположенные на эталонной длине друг от друга, датчик длины 28, состоящий из диска с прорезями 17, закрепленный на валу приводного барабана, и оптопары 18, блок управления 21, регистр динамической коррекции 22, регистр текущего значения длины 23, вычислительный блок, состоящий иэ субблоков 24, 25, регистратор 26. Следящая система управления петлей материала содержит фотодиоды 29,и, 30, осветитель 31, блок управления электромагнитной муфтой 32.Устройство работает следующим образом.При включении двигателя материал транспортируется подающим валом 13, Свободный конец материала подхватывается мерными лентами, зажимается прижимами и перемещается ленточным...

Номер патента: 1760312

Опубликовано: 07.09.1992

Авторы: Котляр, Сойфер, Храмов

МПК: G01B 11/24

Метки: интерферометр, отражающих, плоскостности, поверхностей

...двумя исследуемыми волновыми фронтами, смещенными и наклоненными по отношению друг к другу. Поэтому малые случайные смещения и наклоны любых оптических элементов схемы приводят только к малым смещениям интерферограммы и не искажают ее, а это в свою очередь означает повышение надежности и достоверности результатов измерения отклонения поверхности от плоскости, Во-вторых, вместо двух дифракционных решеток в прототипе в поперечносдвиговом интерферометре использована только одна решетка, которая помещена после второго объектива в сходящемся пучке в области фокуса, и поэтому имеет небольшие размеры, независящие от размеров контролируемой поверхности. В-третьих, предложенная оптическая схема с одним делительным элементом позволяет при...

Номер патента: 1760425

Опубликовано: 07.09.1992

Автор: Гусев

МПК: G01B 9/02, G01M 11/00

Метки: интерференционного, качества, оптических, систем, телескопических

...от матового экрана 2 до главной плоскости 5 обьектива контролируемой оптической системы равно его фокусному расстоянию, На фотопластинке 5 с помощью опорной плоской волны, сформированной в блоке 4, проводится запись голограммы диффузно 10 .рассеянного света, прошедшего через контролируемую оптическую систему. Затем после указанной записи голограммы ее освещают исходными обьектной и опорной волнами и с помощью механизмов 6,7 пере мещения сдвигают перпендикулярно оптической оси в одном направлении матовый экран 2 и голограмму 5 на величины, связана 11ные соотношением - =Ь т 2 20 где а и Ь - величины смещений матового экрана 2 и голограммы 5 соответственно;11 и т 2 - соответственно фокусные расстояния объектива и окуляра...

Номер патента: 1762105

Опубликовано: 15.09.1992

Автор: Шевнин

МПК: G01B 5/00

Метки: защемления, керамической, механического, пластинки

...скошен под острым углом к его боковой поверхности,На фиг.1 изображено устройство, реализующее предлагаемый способ, исходное положение; на фиг.2 - то же, в положении защемления пластинки; на фиг.З приведен график зависимости количества испарившегося растворителя (Я из капли композиции холодного отверждения от времени.Устройство, реализующее предложенныйй способ, содержит основание 1 и устройство защемления, состоящее из опорного элемента 2 и подвижного элемента 3, который прижимает пластинку 4 путем поворота на упругом шарнире 5 под воздействием проходного винта 7,Способ реализуется следующим образом, На основание 1 устанавливается устройство защемления, На выступе основания помещается пластинка 4. Конструкция элементов 2, 3 и...

Номер патента: 1762106

Опубликовано: 15.09.1992

Автор: Коржавин

МПК: G01B 5/26

Метки: карте, планиметр, площадей, топографической

...28 узла коррекции разведены на расстояние Н, соответствующее расстоянию ГД между горизонталями по высоте (фиг.2), диск 39 со шпинделем 41 удерживается пружиной 40 в поднятом положении и не контактирует с приводным диском 38.При установке планиметра на карту и закреплении его положения с помощью цилиндра 2, оснащенного полюсной иглой, приводное колесо 11 счетного механизма, обводное колесо 5 свободного рычага и следящее колесо 42 узла преобразования вступают в контакт с измеряемым объектом.При измерении обводное колесо 5 располагают в начальной точке В контура 56 измеряемого участка Я, затем с помощью ручки 7 обводят контур с фиксацией всех точек пересечения горизонталей 58,При перемещении обводного колеса 5 приходят в движение...

Номер патента: 1762107

Опубликовано: 15.09.1992

Автор: Васильев

МПК: G01B 5/30

Метки: деформирования, обрабатываемого, оценки, резанием, степени

...с заторможенным слоем и соответствующего перераспределения токов в зоне контакта обрабатываемая деталь - режущий инструмент) ордината кривой О (Ч) зависит от В. Пунктиром показано, полученная экстраполяцией правой части кривой Е(Ч) (см, фиг,1), какой было бы квази ЭДС Е при этих скоростях резания, если бы не было наростообразования.На фиг.1 экспериментальные кривые соответствуют резанию стали 45-резцом, оснащенным твердым сплавом Т 15 К 6 (з = 0,05 мм/об; т =- 0,2 мм) без применения технологической среды. В зоне наростообразования ордината 01 и соответствующая кривая соответствует В = 100 Ом, а 02 - В = 5,6 килоом, Стрелками показано изменение амплитуды напряжения при соответствующем изменении В при резании. Таким образом, изменяя...

Номер патента: 1762108

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Белоусов, Зубков, Радомский, Семерков

МПК: G01B 7/00

Метки: перемещений, трансформаторный

...короткозамкнутым витком, а второй предназначен для связи с объектом измерения, Кроме того, опора выполнена с возможностью перемещения вдоль продольной оси рычага,На чертеже представлена функциональная схема трансформаторного преобразователя перемещений.Он состоит из магнитопровода 1, короткозамкнутого витка 2, первичной обмотки "А", подключенной к источнику переменного тока 3, вторичной обмотки, состоящей из основной "Б" и дополнительной секции "Б" первой части вторичной обмотки, а также основной "В" и дополнительной секции "В" второй части вторичной обмотки, узлов сравнения 4, 5, 7,множительного устройства б, устройства деления 8, регистратора перемещений 9, двуплечего рычага (передаточного звена) 10, объекта измерений перемещений 11,...

Номер патента: 1762109

Опубликовано: 15.09.1992

Автор: Фридман

МПК: G01B 7/06

Метки: листовых, немагнитных, толщины, электропроводящих

...выводами симметрирующего потенциометра 25, подвижный контакт которого связан с выходом генератора 26 переменного тока.Выход усилителя 22 переменного тока через амплитудный детектор 27 соединен с параллельно включенными входами стрелочного индикатора 28 (вольтметра) и самописца 29.При проведении измерений листовых и рулонных изделий, требующих повышенной степени дискретности и информативности профильного контроля на исследуемых участках площади изделия, излучатель переменного магнитного поля, составленный катушкой 7 индуктивности и элементами 5, 6 бронированного магнитопровода, может быть заменен узлом, выполненным в виде магнитной головки с П-образным или С-образным магнитным сердечником 30 и посаженной на него обмоткой 31 (фиг.2),...

Номер патента: 1762110

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Зуев, Иванов, Осипович, Полев

МПК: G01B 7/12, G01B 7/34

Метки: диаметра, емкостное, металлического, объекта, поверхности, шероховатости

...устройстве для измерения шероховатости поверхности и диаметра металлического объекта, содержащем корпус, размещенный в нем датчик шероховатости, который выполнен в виде закрепленного на упругом элементе металлического электрода с нанесенным на его рабочую поверхность слоем диэлектрика, измеритель диаметра, выполненный в виде закрепленных на корпусе электродов, на которые нанесен диэлектрический слой, и присоединенный к датчикам измерительный блок. Электроды датчика шероховатости и измерителя диаметров выполнены в виде призм с углом а, выбираемым в диапазоне от 20 до 175.На чертеже представлена принципиальная схема устройства,Измеритель диаметров содержит корпус 1, на торце которого жестко закреплен измеритель диаметров 2,...

Номер патента: 1762111

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Ананьев, Князев, Ординарцева, Путилов, Тихонов

МПК: G01B 7/14

Метки: биений, дисков, емкостный, измеритель, магнитных, основ

...соединен с вторым входом второго операционного усилителя ивходом блока выпрямления, первый входвторого операционного усилителя подключен к его выходу, который присоединен к 40экранирующему электроду датчика, а выходпервого операционного усилителя предназначен для подключения к контролируемомумагнитному диску или к его основе.На чертеже приведена структурная схема емкостного измерителя биений магнитных дисков и их основ.Измеритель содержит первый операционный усилитель 1, второй операционныйусилитель 2, измерительный электрод 3, экранирующий электрод 4, образцовый конденсатор 5, электроизоляционныйцилиндрический корпус б, емкостный датчик 7 зазора, питающий генератор 8 переменного тока, контролируемый магнитный 55диск или его основу 9,...

Номер патента: 1762112

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Потапов, Томаров

МПК: G01B 7/16

Метки: вращения, деформаций, тела

...на тело вращения.Поставленная цель достигается тем, что устройство для измерения деформаций тела1762112 Составитель В.Тамар Техред М.Моргентал орректор И.Шмакова актор Заказ 3250 ТиражПодписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СС 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 10 вращения, содержащее хомут, жестко закрепленную на хомуте измерительную стойку, механически связанный с измерительной стойкой датчик деформации, ось наибольшей чувствительности ко торого лежит в плоскости, параллельной плоскости хомута, снабжено упругим элементом, соединенным с хомутом и предназначенным для установки на теле вращения, ось наибольшей...

Номер патента: 1762115

Опубликовано: 15.09.1992

Автор: Попов

МПК: G01B 9/02

Метки: измеритель, перемещений

...- расстояние между отражающими поверхностями в точке х по направлению 25 распространения светового пучка,Для интерферометра с плоскими отражателями и лицейной разверткой иэображения (например, с помощью линейного опто-электронного преобразователя) где а - угол между плоскостью основанияотражателя 1 и прямой, лежащей на пересе чении отражающей поверхности 2 и плоскости, содержащей прямую развертки иэображения и прямую, параллельную световым лучам,1 - расстояние между отражающими плоскостями в начале координат.Для интерферометра с плоскими отражателями (фиг.1 а) Л(х) = 10(1+с о з(4 л тд а х/Л +4 д 1 О/Л), (3) Если подвижный отражатель совершает плоско-параллельное движение, то угол а сохраняется постоянным и задача определения...

Номер патента: 1762116

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Ефимов, Образцов, Подоба

МПК: G01B 9/02

Метки: дифракционный, интерферометр

...обьектив, светоделитель, де, ржатель обьекта и фотоприемную систему, размещены за светоделителем первый объектив, плоскопараллельная пластина с отражателем, ориентированная перпендикулярно оптической оси и выполненная с выступом, на котором установлен отражатель, второй обьектив, причем светоделитель выполнен в виде рассеивающей пластины,Дополнительное повышение точности достигается ээ счет того, что интерферометр снабжен поляризатором, размещенным перед фотоприемной системой, источник излучения выполнен в виде источника плоскополяризованного излучения, а рассеивающая пластина выполнена из экс 5 10 15 20 25 30 35 40 45 понированного слоя фотоэмульсии, нанесенного на подложку в виде ахроматической четвертьволновой фазовой...

Номер патента: 1762117

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Леун, Телешевский

МПК: G01B 9/02

Метки: взаимодействия, объектом, оптического

...подстройки частоты (УФАПЧ). Выходной частотный сигнал этой схемы поступает на кварцевый излучатель акустооптического модулятора 3 и на опорный вход УФД 9.С помощью УУ 13 можно осуществлять перестройку УФД 9 путем введения дополнительного фазового рассогласования между измерительным и опорным частотными сигналами для введения необходимой коррекции при изменении условий окружающеи среды,Данная измерительная схема использует эффект частотного перескока и, при достижении фазового значения 2 дна выходе УФД 9 формируется перескок напряжения,который поступает на вход ИФ 12, Блок ИФ 12 генерирует импульс малой длительности, который поступает на УУ 13 и фактически является информационным сигналом, индицирующим образование "контакта" между...

Номер патента: 1762118

Опубликовано: 15.09.1992

Автор: Аноховский

МПК: G01B 9/02

Метки: детали, интерферометрический

...перпендикулярно оптической оси, что не накладываетжестких требований на условия позиционирования детали.Устройство может работать в условияхвибраций. Наличие в одном канале опорного. и измерительного пучков позволяет производить измерения при измененияхтемпературы и наличии воздушных потоков.Устройство(один иэ вариантов реализации способа) содержит источник излученияс коллиматором(не показан), светоделитель1 (фиг.1), зеркало 2, отражающее свет, отраженный от детали 3 и эталонной поверхности 4 (концевой меры), объектив 5, переднийфокус которого совпадает с анаберрационной точкой (линией) поверхностидетали 3 (фиг,2), зеркало б, призму Порровторого рода 7 (фиг,4), зеркало 8, второйобъектив 9, передний фокус которого совпадает с...