Патенты с меткой «интерферометре»
Устройство для фиксации резонанса в ультразвуковом интерферометре
Номер патента: 408453
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Волейшис, Сукацкас, Яронис
МПК: G01N 29/12
Метки: интерферометре, резонанса, ультразвуковом, фиксации
...8, а также на схему сравнения 9.б Емкость конденсатора б в гг раз больше емкости конденсатора 2, резисторы 1 и 5, 3 и 7,усилители 4 и 8 идентичны. Выход 10 первогодифференциатора непосредственно, а выход 11второго дифференциатора - через масштаб 10 ный преобразователь 12 с коэффициентом преобразования 1/а - подключены к сумматору13. Выход сумматора 13 нагружен схемой сравнения 14. Выходы схем сравнения 9 и 14 подсоединены ко входам триггера 15, Выход устройЫ ства фиксации снят с соответствующего плечатриггера 15.Устройство работает следующим образом.На входы дифференциаторов и схемы сравнения подано продетектированное выходноеаО напряжение интерферометра (последовательность резонансных пиков). Дифференциаторывырабатывают напряжения,...
Кювета для оптических исследований в интерферометре
Номер патента: 792098
Опубликовано: 30.12.1980
Авторы: Заморянский, Козлов, Лопатин, Мусиенко
МПК: G01N 21/05
Метки: интерферометре, исследований, кювета, оптических
...окнам, в указанных пазах размещена плоскопараллельная металлическая пластина с герметичйо закрепленньви на ней металлический полуцилиндром, при этом длина пластины и полуцилиндра равна расстоянию между окнами.На фиг. 1 представлена схема устройства 1 на фиг. 2, 3 - сечения кюве" ты.В средней части металлического корпуса 1 размещен нагреватель 2. Холодильники 3 и 4 расположены на корпусе между нагревателеч и герметичными .окнами 5 и .6. На внутренней поверхности корпуса 1 выполнены продольные пазы 7 и 8, в которые помещена плоскопараллельная пластина 9, к которой герметично присоединен Металлический полу- цилиндр 10. К середине корпуса присоединен также патрубок 11.Устройство работает следующим образом. В ту половину корпуса 1,...
Устройство для управления движением оптической каретки в интерферометре
Номер патента: 934445
Опубликовано: 07.06.1982
Авторы: Гордеев, Дедловский, Пантелеев
МПК: G05B 13/00
Метки: движением, интерферометре, каретки, оптической
...25 в виде цилиндрических стержней, концы которых40 снабжены шарами 26, жестко закреплены во:фланце оси 22. Ось 22 установлена в подшипнике 27. На направляющей 1 расположены ограничители 9 движения, к которым прикреплены концевые выключатели 6. Ограничители 9 движения имеют 4 возможность скольжения по направляющей 1, при этом они снабжены стопорами. Ведомый ролик 2 и ведущий узел 11 закреплены на торцах направляющей 1.На направляющей 1 расположена карет о ка 7, к которой жестко прикреплены концы тросика 5, проходящего в пазах винтовой нарезки 17 со сферическим профилем и.ведомых роликов 2, Ось 22 вилки 21 сцепления через муфту 13 связа иа с валом двигателя 12. Один из ведомых роликов 2 выполнен с диаметром, равным толщине направляющей 1...
Способ контроля формы поверхности крупногабаритных оптических деталей на неравноплечем лазерном интерферометре
Номер патента: 935704
Опубликовано: 15.06.1982
Авторы: Горшков, Кряхтунов, Лозбенев, Пуряев, Фомин
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: интерферометре, крупногабаритных, лазерном, неравноплечем, оптических, поверхности, формы
...покрытие), нанесенной на одну из поверхностей линз корректора (вид А наФиг. 1); на фиг. 3 , 4, 5 - изменение величины локальной деформацииволнового фронта при прохождении имрабочей ветви установки, схема которой приведена на фиг. 1,Способ реализуется следующимобразом.Создают от лазерного источникасвета с помощью оптических элемен"тов 2 интерферометра опорный (нафиг, 1 не показан)и сферическийволновой фронт 3, Преобразуют последний с помощью корректора 4 волновогофронта в асферический волновой фронт 5,форма которого, совпадает с теоретической формой контролируемой поверхности 6. При прохождении волнового фронта через оптическую систему корректора 4 его локально деформируют с помощью оптической фазовой неоднородности 7,...
Устройство для измерения амплитуды периодической разности хода лучей в интерферометре
Номер патента: 1254297
Опубликовано: 30.08.1986
Авторы: Кнорринг, Тихомиров, Шумилин
МПК: G01B 21/00
Метки: амплитуды, интерферометре, лучей, периодической, разности, хода
...а с их выхода - на двухполупериодные выпрямители 11, 12, Напряжение с выходов двухполупериод ных выпрямителей 11, 12 подается на инвертирующие входы компараторов 13, 14, на неинвертирующих входах компараторов 13, 14 присутствует некоторый уровень напряжения, который устанавливается при градуировке интерферометра 1. Таким образом, логические 11" на выходах компараторов 13, 14 появляются в те моменты, когда модули первых производных выходных 5 сигналов фотоприемников 7 и 8 меньше некоторой заданной величины. При соответствующем выборе опорного уровня напряжения такие условия могут создаться только в окрестностях 20 максимумов и минимумов измеряемого колебания. При наличии сигналов от триггера 23 Шмитта на пятом входе элемента И 20...
Устройство для многократных отражений в двухлучевом интерферометре
Номер патента: 1399644
Опубликовано: 30.05.1988
Авторы: Воробьев, Даубаев, Недбай, Суденков
МПК: G01B 9/02
Метки: двухлучевом, интерферометре, многократных, отражений
...излучения, например геий-неоновый лазер, светоделитель 2, устойство 3 многократных отражений, содер ащее линзу 4, два уголковых отража- .еля 5 и 6 и зеркало 7, связанное сонтролируемым объектом 8, уголковый отажатель 9, фотоприемник 10 и блок 11 реистрации его выходного сигнала.Излучение источника делится светоделиТелем на 2 пучка, один из которых падает на 25Иолковый отражатель 9, а другой - на линзу 4. 11 рошедший линзу луч отражается от зеркала 7 и после вторичного прохождения линзы 4 возвращается уголковымотражателем 5 на зеркало 7. Г 1 осле повторного отражения уголковым отражателем 6 ЗОПучок третий раз отражается от зеркала 7попадает на светоделитель 2, где совмещается с опорным сигналом и образует навходе фотоприемника 10...
Устройство для многократных отражений в двухлучевом интерферометре
Номер патента: 1490463
Опубликовано: 30.06.1989
Авторы: Воробьев, Даубаев, Недбай, Суденков
МПК: G01B 9/02
Метки: двухлучевом, интерферометре, многократных, отражений
...их по окружности аналогично расположению уголкового стражателя 5 так, чтобы они не перекрывали сходящиеся в. Фокусе лучи и обеспечивали последовательное прохождениеоптического луча (каждый раз посяеотражения от контролируемого объекта) дополнительно устанавливаемыхуголковых отражателей.Увеличение чувствительности возможно и заменой последнего по ходу луча уголкового отражателя плоским зеркалом, В этом случае луч проходит обратный путь и допопнительно испытывает такое же копичевтво отражений, как при первоначальном проходе. Ввод и вывод оптического луча иэ устройства может производиться двумя различными уголковыми отражателями. Вместо уголковых отражателей для нвода и вывода из устройства оптических лучей могут быть использованы и...
Устройство для многократных отражений в двухлучевом интерферометре
Номер патента: 1536193
Опубликовано: 15.01.1990
Автор: Недбай
МПК: G01B 9/02
Метки: двухлучевом, интерферометре, многократных, отражений
...блок в интерФерометре для динамических измерений состоит из высокочастотных Фотоприемника 14 и осциллограФа 15.ИнтерФерометр работает следующим образом..Пуч 1, из интерФерометрл с помощью плоских зеркал 9 и 10 подается в устройство для многократных отржеций, а именно нл линзу 4 плрлллель-,но ее оптической оси. Отклоненный линзойлуч попадает нл плоское зеркало 5, установленное с возможностью поворота в Фокусе линзы 4. Зеркало 5устанавливается под небольшим угломк Фокалььой плоскости линзы 4 так,чтобы отраженный от зеркала 5 лучвозвратился на линзу 4 несимметричнопадающему нл зеркало 5 лучу по отношению к оптической оси линзы 4. Тем самым луч многократно проходит путь от зеркллл 5 к подвижному зеркалу связанному с контролируемым объектом...
Устройство для многократных отражений в двухлучевом интерферометре
Номер патента: 1538038
Опубликовано: 23.01.1990
Автор: Недбай
МПК: G01B 9/02
Метки: двухлучевом, интерферометре, многократных, отражений
...количества оптических элементов.На чертеже изображена принципиальная схема устройства для многократных отражений в двухлучевом интерферометре.Устройство содержит зеркало 1, связанное с контролируемым объектом 2 и установленное в фокальной плоскости положительной линзы 3, вогнутое зеркало 4, установленное в апертуре линзы 3 с возможностью смещения параллельно ее фокальной плоскости, отражатель в виде плоского зеркала установленного между вогнутым зерка-( лом 4 и линзой 3 в фокусе вогнутого зеркала 4 с возможностью поворотаДля ввода и вывода лучей из устройства многократных отражений используют плоские зеркала б и 7. В качестве зеркала 1, связанного с контролируемым объектом 2, при контроле быстропротека:ощих механических процессов...
Устройство для измерения сдвига ахроматической полосы в интерферометре
Номер патента: 1551984
Опубликовано: 23.03.1990
Авторы: Мищенко, Ринкевичюс
МПК: G01B 9/02
Метки: ахроматической, интерферометре, полосы, сдвига
...сигналом уровня Б срабатывает компаратор 11, сигнал с выхода которого подается на вход формирователя 12; формирующего импульс продолжительностью с = ЗТ где Т " период переменного Фотоэлектрического сигнала (фиг. 4), Сформированный импульс поступает на984 51551первый вход элемента И 13, на второйвход которого поступает последовательность тактирующих импульсов с генератора 17. При этом часть импульсов, отвечающих временному интервалус длительностью л 3 Т , проходятна выход элемента И 11 и далее натактирующий вход аналого-цифровогопреобразователя 10, При поступлениина тактирующий вход аналого-цифрового преобразователя 10 тактирующихимпульсов последний осуществляет рядизмерений значений переменного фотоэлектрического сигнала,...
Устройство для многократных отражений в двухлучевом интерферометре
Номер патента: 1578456
Опубликовано: 15.07.1990
Автор: Недбай
МПК: G01B 9/02
Метки: двухлучевом, интерферометре, многократных, отражений
...8, и образует интерФеренционную картину, которая регистрируется, блоком 9.Изобретение позволяет повысить виброустойчивость интерферометра за счет того, что лучи, отражаемые зеркалом 6, собираются оптическим элементом 4 на зеркале,.благодаря чему уменьшается вероятность ухода интерферируюцих лучей за пределы чувствительной плоцадки фотоприемника. Одновременно повышается пространственное разрешение устройства, поскольку отражение всех лучей происходит от небольшого участка поверхности зеркала б.Поворотом отражателя и его поворотом .совместно с собирающим элементом 4 относительно центров зеркал 5 и 6 появляется возможность изменять количество отражений от зеркала б,и, тем самым, изменять чувствительность интерферометра. Формула...
Устройство для многократных отражений в двухлучевом интерферометре
Номер патента: 1627827
Опубликовано: 15.02.1991
Автор: Недбай
МПК: G01B 9/02
Метки: двухлучевом, интерферометре, многократных, отражений
...для многократных отражений н двухлученом интерЛероетре.Устройства содержит плоское зеркало 1, устдцавлеццае цд контролируемом объекте 2, Локусируюи эземецт 3 в виде собирающей линзы, уголковьй отражатель 4 и плоское зеркало 5, устацовлециое ца пути лучей между линзой 3 и зеркалом 1 с нозмомиостью поворота и цдправляощее сходящиеся ца зеркале 1 лучи. л гц зд:дцо)пдельца ге ати -ного юцд зеркало 1, 1 (лу 1 ) ия ц.:пиау 3,ся уголкаш мт лцзу 3, отца от ггсцо д ат з р(лнч 1 ) а 2етр, в кот рсм мае угтрагва1627827 Составитель И.МининРедактор И.Середа Техред М.Дидык орректор М.Шаро раж 376 аказ 3 НИИПИ одписцо ткрытиям при ГКНТ ССС д, 4/5 етениямушская н гударствеццого комитета по изо 113035, Иогква, Ж, Р изводгтвгнно-издательг.кий комбинат...