Бакеркин

Номер патента: 1760490

Опубликовано: 07.09.1992

Авторы: Бакеркин, Друщиц, Контиевский, Николаев

МПК: G02B 5/22

Метки: оптический, ослабитель

...ослабляемого излучение материала, а устройство отсчета углов поворота выполнено в виде линейной шкалы, жестко связанной с призмами, штрихи которой нанесены перпендикулярно главному сечению призм, и неподвижной марки. На фиг. 1 изображен ослабитель, видсверху; на фиг, 2 изображено сечение А-А 5 10 15 20 25 на фиг, 1, где 1 - плоскопараллельная пластина. 2 - призма из поглощающего материала, 3 - призма из непоглощающего материала, 4 - линейная шкала. 5 - устройство разворота пластины, 6 - марка, 7 - ось светового потока, 8 - ось вращения плоско- параллельной пластины, 9 - корпус ослабителя, 10 - отверстие в корпусе для входа и выхода светового потока.Плоскопараллельная пластина 1 (фиг. 1) выполнена в виде диска и состоит из двух призм 2 и...

Номер патента: 1755042

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Бакеркин, Контиевский

МПК: G01B 11/24

Метки: интерферометр, поверхности, формы

...мениски 9,10 и линзы 11, 12, Ха схемах показаны контролируемые оптические детали 13, 14 с параболическими поверхностямй 15, 16. И нтерферометр (фиг.1) содержит объектив 7 и последовательно установленные лазер 1 и светаделительный кубик 2, делящий излучение на два потока. В каждом из потоков установлены отражательные элементы,выполненные с плоскими отражающими поверхностями, ориентированными пад углом к направлению соответствующего потока.Один из потоков является рабочим. В этом потоке отражательным элементом служит зеркало 3. В другом потоке, который является опорным, установлены объектив 7 и отражательный элемент - призма 4. Интер ферометр снабжен апланатическим менискам 9, установленным в опорном потоке так, что одна из его...

Номер патента: 1755041

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Бакеркин, Контиевский

МПК: G01B 11/24

Метки: интерферометр, поверхности, формы

...Точки А 1 и Р 1 линзой 17 проектируются вских поверхностей; на фиг.2 - для 20 центрдиафрагмы 6,контроля вогнутых эллиптических поверх- Объектив 10 (фиг,4) в рабочем потокеностей; на фиг,З - для контроля выпуклых фокусирует излучение в фокус Р 2 вогнутойгиперболических поверхностей, на фиг.4 - гиперболической поверхности 26 оптицедля контроля вогнутых гиперболицеских по- ской детали 22. В ойорном потоке интерфеверхностей, .: , . 25 рометра установлен мениск 14, одна изСхемы интерферометра Включают апланатицеских "тоцек которого совмещенаследующие элементы; лазер 1, светоде-. с фокусом Р 1 поверхности 26; а другая аплалительный кубик 2, зеркало 3, призму 4, натическая точка, сопряженная кубиком 5 ссветоделительный кубик 5, диафрагму 6,...

Номер патента: 1747882

Опубликовано: 15.07.1992

Автор: Бакеркин

МПК: G01B 11/24

Метки: детали, кривизны, оптической, поверхности, радиуса, сферической

...кривизны Й оптической детали, а также ход лучей при фокусировке коллимированного излучения в вершину детали 1,На фиг, 2 показано положение детали 1. мениска 2 и объектива 3 и ход лучей при фокусировке излучения объективом 3 в вершину выпуклой поверхности мениска 2,На фиг, 2 показано положение детали 1 и объектива 3 и ход лучей при фокусировке излучения объективом 3 в вершину детали 1,Перед оптической деталью 1, радиус кривизны поверхности которой необходимо измерять, располагают телескопический мениск 2 (фиг. 1), Телескопический мениск 2 установлен с возможностью смещения вдоль оптической оси 001, Затем по оптической оси 001 направляют коллимированное излучение. Источником коллимированного излучения может быть автоколлиматор,...

Номер патента: 1716318

Опубликовано: 28.02.1992

Авторы: Бакеркин, Друщиц, Контиевский

МПК: G01B 11/24

Метки: вогнутых, поверхностей, эллиптических

...2 фокусируют в геометрический фокус г 1, ближайший к контролируемой поверхности 11. Плоское зеркало, состоящее из подложки 3 и зеркального покрытия 4 с отверстием 5, устанавливают под углом Р к оптической оси поверхности 11, Полупрозрачное плоское зеркало, состоящее из подложки 6 и полупрозрачного покрытия 7, устанавливают между геометрическим фокусом Е 1 контролируемой поверхности 11 и изображением Е 2 фокуса Р 2 зеркалом 4. Поверхность полупрозрачного плоского зеркала 7 располагают к плоскому зеркалу 5 под углом а= 90 - Р. Регистрацию интерференционной картины осуществляют с помощью видикона 8 и телевизионной установки 9. Для регистрации интерференционной картины полупрозрачное зеркало из подложки 6 и покрытия 7 перемещают в...

Номер патента: 1672206

Опубликовано: 23.08.1991

Автор: Бакеркин

МПК: G01B 11/27

Метки: децентрировки, оптических

...о положении детали 8 и объектива 2, Затем выбирают необходимую величину смещения Я плоскости фокусировки относительно вершины поверхности детали, исходя из радиусов В 1, И поверхностей оптической детали и требуемой точности измерения величины децентрирования Ь, Смещение 5 плоскости фокусировки излучения производят смещением детали 8 и объектива 2 на 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 величины Д и П, Если измерение Лпроизводить в центрах кривизны детали, то В 1+ В В 1 - В22где Д - величина смещения детали; П - величина смещения объектива; Я 1, Вг - радиусы кривизны оптической детали.С помощью экранов 6 и 7 перекрывают излучение в одном из каналов и выводят из хода излучения экран 13. На экране 11 наблюдают интерференционную картину,...

Номер патента: 1672205

Опубликовано: 23.08.1991

Авторы: Бакеркин, Контиевский, Харьков

МПК: G01B 11/26

Метки: двугранных, нулевого, отсчета, погрешностей, прибор, приборе, прямых, углов, установки

...осветителя 1 или наблюдательной системы 5. Во втором положении перпендикулярно оптическим осям осветителя 1 и наблюдательной системы 5 устанавливают грань 3 призмы 1 и плоскость 5 пластины 4. В каждом из положений оптического блока измеряют один иэ двух его углов, в сумме составляющих 180 О,Измерения осуществляют путем совмещения всех изображений в поле зрения наблюдательной системы 5 и регистрации показателей отсчетного элемента (не показан). Среднее значение двух зарегистрированных показаний отсчетного элемента является нулевым отсчетом,Прибор для определения погрешностей изготовления прямых двугранных углов работает следующим образом.Параллельный пучок лучей от осветителя 1 проходит светоделитель 3, отражается от грани...

Номер патента: 1536195

Опубликовано: 15.01.1990

Авторы: Бакеркин, Коварский, Контиевский

МПК: G01B 9/02

Метки: бокового, интерферометр, сдвига

...светоделителъную боковую грань, а другая часть попадаетв призму 2, и после отражения от кры ши призмы 2 - на светоделительнуюгрань 1, В результате взаимодействияволновых Фронтов возникает интеферен.ционная картина.55Призма 2 установлена с возможностью смещений по трем направлениямдва из которых являются рабочими длясоздания необходимой величины сдвигаД волновых Фронтов, а одно - остировочным. Смещение призмы 2 возможно в плоскости главного сечения призмы, проходящей через ребро крыши, в направлении, перпендикулярном ребру крыши (рабочее), в направлении, параллельном ребру крьши(юстировочное) . а также в направлении, перпендикулярном плоскости главного сечения призмы (рабочее). Сдвиг 6 волновых фронтов получается в результате смещения...

Номер патента: 1509231

Опубликовано: 23.09.1989

Авторы: Бакеркин, Кондратов, Контиевский, Назмеев, Харьков, Хуснутдинов

МПК: B24B 13/00

Метки: параболических, поверхностей, станок

...13 и 14, а ткже в пазы 18 и 19 рамки 15. Валик 12 соединен с приводом 20, выполненным, например, в виде кривошипно-шатунного механизма,Валики 11 и 2 установлены так, что проекция 21 оси валиков 11 и 12 на плоскость перемычки 10 расположена посередине между проекциями параллельных сторон 8 и 9 параллелограмма, соединенных перемычкой 10. Станок раоотает следующим образом.Обрабатываемую деталь 1 устанавливают на шпинделе 3 с помощью планшайбы 2. .Ножевые инструменты 4 и 5 закрепляют на вертикальных сторонах 7 и 6 параллелограммного механизма и устанавливают на обрабатываемую поверхность детали 1. Благодаря возможности поворота параллелограммного механизма вокруг оси валиков 25 30 35 40 45 501 и 12 ножевые инструменты самоустанавливаются...

Номер патента: 1493904

Опубликовано: 15.07.1989

Авторы: Бакеркин, Контиевский

МПК: G01M 11/00

Метки: оптической, расстояния, системы, фокусного

...за оптической системой 2, при этом добиваются совмещения центра кривизны сферического зеркала 3 и плоскости проецирования оптической системы 2 излучения коллиматора, т.е. организуется автоколлимационный ход излучения, и фиксируют положение зеркала 3 и системы 2. Затем между объ-: ективом 1 коллиматора и оптической системой 2 соосно с ней устанавливают дополнительный объектив 4 (фиг. 2 и 5) и проецируют излучение коллиматора в новуи плоскость, с которой совмещают центр кривизны сферического зеркала 3 путем его смещения вдоль оптической оси системы 2, По автоколлимационному ходу излучения в полученной схеме регистрируется наличие совмещения центра кривизны сферического зеркала 3 с новой плоскостью проецирования. Измеряют расстояние а,...

Номер патента: 1460600

Опубликовано: 23.02.1989

Авторы: Бакеркин, Контиевский

МПК: G01B 11/255

Метки: кривизны, оптических, поверхностей, радиуса, сферических

...1 фокусируют на контролируемую поверхность 2 40 (положение автоколлимационного микроскопа показано пунктирными линиями) и измеряют расстояние между двумя положениями .автоколлимационного микроскопа 1. По измеренному 45 расстоянию между двумя положениями автоколлимационного микроскопа 1 оп-. ределяют радиус кривизны контролируемой поверхности 2. При фокусировке автоколлимационного микроскопа 1 на контролируемую поверхность 2 экран б убирают, а плоскопараллельную пластину 4 смещают по направлению к автоколлимационному микроскопу 1 или выводят иэ хода лучей. Если плос. копараллельная пластина 4 остается55 в ходе лучей, то радиус кривизны контролируемой поверхности 2 равен расстоянию между двумя положениями автоколлимационного микроскопа...

Номер патента: 1449842

Опубликовано: 07.01.1989

Автор: Бакеркин

МПК: G01B 11/27

Метки: детали, кривизны, оптической, поверхности, радиуса, сферической

...образом. 20По ходу излучения за объективом 1устанавливают измеряемую деталь 2так, что излучение, выходящее из объектива 1, фокусируется в вершину 0измеряемой детали 2. При этом опреде 25лявт положение А детали 2. Затем деталь 2 смещают вдоль оптической осиобъектива 1 до тех пор, пока излучение, выходящее из объектива 1, послеотражения от поверхности измеряемои30детали 2 не сфокусируется в центркривизны С поверхности объектива 1,обращенной к измеряемой детали 2, иопределяют положение А детали 2.Точность фокусировки в обоих случаяхопределяется по резкому изображениюсетки микроскопа или соответствующейкартине в интерферометре, выходнымоптическим элементом которых является объектив 1. Определив разность заФиксированных отсчетов в...

Номер патента: 1439516

Опубликовано: 23.11.1988

Авторы: Бакеркин, Контиевский, Харьков

МПК: G02B 5/122

Метки: отражатель, уголковый

...ЕЕСН, сторона котсрогоравна высоте ЭВ трапеции, лежащий восновании пирамиды 1, Боковые грани 40ЕЕР и ЕОР перпендикулярны основаниюЕВОН, а их общая сторона ЕР равнастороне квадрата ЕЕСН.В основании пирамиды 3 (фиг, 4)лежит пятиугольник 1 К 1 ЛИ, образованный равнобедренным прямоугольным тре.угольником К 1 Л, катеты К 1 и 1 Л которого равны стороне квадрата 1 РОН пирамиды 2, и квадратом 1 ИЯБ, сторонакоторого равна гипотенузе КМ прямо 50угольного треугольника К 1 Л. Три боковые грани ЦК 1, ЦМ 1 и 4111 пирамидыявляются равносторонними треугольниками.Пирамида 1 соединена боковой гранью АОВ с частью 1 М 11 основания пира 55миды 3, Пирамида 2 соединена боковойгранью ЕЕР с частью КБ 1 основания пирамиды 3 и боковой гранью ЕОР .с частью АВВ...

Номер патента: 1379615

Опубликовано: 07.03.1988

Автор: Бакеркин

МПК: G01B 11/255

Метки: детали, кривизны, оптической, поверхности, радиуса, сферической

...4 и 3,где а =А-А, - разность отсчетов в положениях зеркал3 ирасстояние междуотражающими поверхностями зеркал 3и 4;расстояние от точки Р до поверхности зеркала 2,При измерении радиуса кривизны поверхности детали приемлемая точность достигается при смещении зеркал 3 и 4 на величину а, не превышающую 300-400 мм, а диапазон измерений величин К большой. формула изобретения30 Устройство для измерения радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали, содержащее автоколлимационный микроскоп, механизм перемещения и отсчетную шкалу с индекопределяют по резкому автоколлимационному изображению сетки микроскопа 36 1. Затем устанавливают зеркала 3 и 4. Зеркала смещают по направлению к автоколлимациоцному микроскопу 1 до совпадения точки Р...

Номер патента: 1293484

Опубликовано: 28.02.1987

Автор: Бакеркин

МПК: G01B 11/255

Метки: детали, кривизны, оптической, поверхности, радиуса, сферической

...методом с использованиемплоского зеркала 2. Излучение с помощью измеряемого объектива 1 фокусируют на поверхность плоского зеркала 2, Фиксируют положение А плоского зеркала, смещают.его по направлению к измеряемому объекту до положения А 9 при котором происходит фокусировка излучения в вершину поверхности объектива 1, обращенной к плоскому зеркалу 2, Величину Б объектива 1 фопределяют как: Б:. 2 А - А",/,Затем плоское зеркало 2 заменяют на деталь 3, радиус кривизны выпуклой поверхности которой требуется измеРить. С помощью объектива 1 фокусируют излучение в вершину измеряемой поверхности детали, при этом фиксируют положение А детали. Затем смещают деталь 3 по направлению к объективу 1 до положения, при котором излучение...

Номер патента: 1278764

Опубликовано: 23.12.1986

Авторы: Бакеркин, Кореньков, Харьков

МПК: G02B 5/122

Метки: отражатель, уголковый

...АВ тра" 25пеции, образует с основанием АВСП пирамида прямои двугранный угол. Боковая грань БАВ представляет собой равнобедренный треугольник с высоток БН,равной высоте трапеции ПН:БН=ПН.Боковая грань БАВ и основание АВСПпирамиды условно разделены на рабочую(отражающую) и контактную области,Рабочие области ограничены квадратомВСПН и треугольником БНА а контактные - треугольниками АНП и БВН.Соединение отдельных элементовпроисходит по контактным областям. так, что плоскость БВН одного элемента соединяется с плоскостью А Г Псмежного с ним элемента, при этомстороны ВН и П Н, АП и ЯВ, БН иА Н треугольников попарно совмещаются (Фиг.4). При соединении треходинаковых элементов Формируется кон-,5струкция уголкового...

Номер патента: 1267192

Опубликовано: 30.10.1986

Автор: Бакеркин

МПК: G01M 11/00

Метки: оптических, отрезков, фокальных

...совмещение фокусов измерительного объектива 7 и автоколлимационного объектива 1 О (фиг,2), Приэтом часть пучка лучей рабочей ветви 1922интерферометра сначала фокусируется объективом 7, а затем поспе действия объектива 10 попадает обратно н интерферометр, а другая часть проходит обратный путь.Пучки лучей прямого и обратного хода формируют две интерференционные картины, регистрируемые на экране системы б. В случае совмещения фокусов объективов они представляют собой светлые или темные поля, или совокупность прямых интереренционных полос. Положение объектива 10 фиксируется, а по шкале 12 с нонцусом 13 снимается отсчет А, о положении измерительного объектива первая прра автоколлимаци онных схем.В рабочую ветвь устанавливается...

Номер патента: 1172734

Опубликовано: 15.08.1985

Авторы: Бакеркин, Бардин, Кореньков, Рытиков, Семенов

МПК: B28D 1/14

Метки: глухих, материале, отверстий, силикатном, хрупком

...производительности. процесса.На фиг. 1 изображейа схема осуществленияпредлагаемого-спосчоба; на фиг. 2 удаление сколотого цилиндра из стакана.На высверленный в монолитном материале 1 цилиндр 2 плотно насаживают металлический стакан 3, длина которого 1 обеспечивает выполнение соотношения:1,5 д 4;1 + Ь( Зд.Гарантированный зазор обеспечивает отсутствие контакта торца стакана с основанием глухого отверстия, что является необходимым условием для образования нормального скола без появления трещин в монолите. 5После этого по боковой поверхности стакана, выступающей над поверхностью монолита, наносят резкий удар, в результате цилиндр 2 легко скалывается у самого основания. Стакан 3 вместе со сколотым ци линдром 2 вынимают из полученного...

Номер патента: 1161347

Опубликовано: 15.06.1985

Авторы: Бакеркин, Кореньков

МПК: B24B 13/00

Метки: оптических, поверхностей

...ось вращения ОгОг переместилась от начальной точки траектории до конечной точки. В противном случае за неполный проход будет обработана не вся поверхность заготовки вдоль выбранной траектории. Поэтому количество проходов вдоль данной траектории обязательно должно быть целым числом. Полное количество проходов за один цикл делится на две равные целые части 5 10 15 20 25 30 35 для того, чтобы неравномерность съема материала, возникшая за первую половину цикла обработки, была скомпенсирована неравномерным съемом материала, возникшим за вторую половину цикла обработки, при измененном направлении вращения инструмента вокруг осей ОгО и ОгОг, Так как количество проходов за первую половину цикла выбрано равным количеству проходов за вторую...

Номер патента: 1121128

Опубликовано: 30.10.1984

Авторы: Бакеркин, Кондратов, Кореньков, Цветков

МПК: B24B 13/00

Метки: оптических

...с приводом верхний шпиндель, расположенный с регулируемым эксцентриситетом относительно центральногошпинделя, установленного с возможностью ным в устройство зубчатым колесом, закрепленным на основной каретке.На чертеже изображена кинематическая схема устройства.На суппорте 1 устройства смонтирована в направляющих 2 основная каретка 3. На каретке 3 установлены верхний шпиндель 4, привод с редуктором 5 и неподвижное зубчатое колесо 6. На нижнем конце верхнего шпинделя 4 закреплен корпус 7 с размещенным в нем вертикальным валом 8, на верхнем конце которого укреплена зубчатая шестерня 9, входящая в зацепление с зубчатым колесом 6. В корпусе 7 установлены также горизонтальный вал 10, конические шестерни 11 или 12, дополнительная...

Номер патента: 977946

Опубликовано: 30.11.1982

Авторы: Бакеркин, Кондратов, Кореньков

МПК: G01B 11/24, G02B 27/54

Метки: автоколлимационное, оптических, поверхностей, теневое, формы

...одинаковые размеры и конфигурацию,рабочего сечения и представляют со бой, негативные отображения друг друга.Кроме того одна иэ диафрагм выполнена в виде непрозрачного шарика, а другая - в виде экрана с круглым отверстием, представляющим собой рабочее сече Онйе диаметр которого равен диаметру шарика.На фиг. 1 изображена принципиальнаясхема автоколлимационного теневого уст-,ройства для контроля формы поверхностейоптических деталей; на фиг. 2-5 - варианты выполнения диафрагм,Устройство содержит осветитель 1 ипоследовательно расположенную по ходуаветовых лучей задающую диафрагму 2, уополупрозрачную пластину 3, анализирующую диафрагму 4 и регистрирующий блок5, обрабатывающий теневую картину отповерхности. контролируемой...