G01B — Измерение длины, толщины или подобных линейных размеров; измерение углов; измерение площадей; измерение неровностей поверхностей или контуров
Датчик параметров вращения вала
Номер патента: 1415049
Опубликовано: 07.08.1988
Автор: Вохмянин
МПК: G01B 7/30, G01P 13/00
Метки: вала, вращения, датчик, параметров
...1 установлен магниточувствительный элемент,выполненный в виде катушки 5 индук"тивности. Эта катушка должна быть установлена вблизи оси вращения вала 2,что повьппает чувствительность датчика.Для определения также и направле Ония вращения вала 2 датчик может бытьснабжен второй радиально изогнутойферромагнитной пластиной 6 и второйкатушкойиндуктивности, идентичными первьп и расположенными взаимно45симметрично относительно вертикального положения втулки 1.Датчик параметров вращения валаработает следующим образом,При измерении количества оборотови скорости вращения низкоскоростного 50вала в датчике (фиг,2) при поворотевтулки 1, приводимой во вращениевместе с валомпостоянный магнит 3благодаря магнитному взаимодействию55с радиально изогнутой...
Индуктивный датчик положения
Номер патента: 1415050
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Куделя, Михайлов, Омельченко, Петров, Пожидаев, Путников, Тепляков, Уваров
МПК: G01B 7/30, H02K 29/12
Метки: датчик, индуктивный, положения
...и поочередно насыщаются, благодаря чему на обмотке 9 согласующего трансформатора 8 появляется высокочастотный сигнал Ц, модулированный по фазе и амплитуде (фиг.2). Частота огибающей модулированного сигнала равна частоте вращения ротора. При инвертировании фазы сигнала Б, которое происходит в момент времейи, когда один из магнитопроводов выходит из насыщения, а другой насьццает" ся под действием поля вращающегося постоянного магнита 1, фазочувствительный усилитель-демодулятор 11 обеспечивает изменение полярности напряжения на выходе Фильтра 16 и соответствующее ему изменение направле ния токов, протекающих пр входным цепям силовых транзисторов 19 и 20, Обмотка 10 положительной обратной связи способствует быстрому перемагничиванию...
Гониометр для измерения кристаллов
Номер патента: 1415051
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Горохова, Любалин, Третьяков
МПК: G01B 9/10
Метки: гониометр, кристаллов
...в кристаллодержателе 7 так, чтоодна иэ его осей параллельна оси вращения столика 2. Включают осветитель9 и задают им ось вращения столика 2.Перемещая каретку 6 по двум взаимноперпендикулярным направлениям, с помощью центрирующих салазок 4 центрируют измеряемую грань, приводя ее наось столика гониометра. После чеговключают второй осветитель 1 О и приводят его световой пучок на измеряемую грань кристалла 13 перемещая дуговой сектор 8.Перемещают измерительный узел(второй осветитель 10 и экран 11)вдоль дугового сектора 8 до.тех пор,пока центр световой картины, формируемой отраженным пучком осветителя5510 от контролируемой грани кристалла5, на экране 11 не совместится с егоцентром (центром отверстия, через которое работает осветитель),Ло...
Способ определения линейных перемещений объекта
Номер патента: 1415052
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Арефьев, Илюхин, Канашкин, Старостенко
МПК: G01B 11/00
Метки: линейных, объекта, перемещений
...Ь - величина линейного пе-,; 25 ремещения объекта в направлении от распространения пучка 1.Способ осуществляют следующим образом,Излучение лазера 1 направляют на два непрозрачных экрана.2 и 3, каждый шириной Ь (например, два микро- провода одинакового сечения), один из которых 2 закреплен на контролируемом объекте, а другой 3 - на неподвижной поверхности. При этом шири 35 на щели между экранами постоянна и составляет 1, а расстояние между экранами вдоль направления распространения света является искомым линейным размером Ь. Падающее излучение дифрагирует на экранах 2 и 3 с образованием интерференционно-дифракционной картины 5 в фокальной плоскости линзы 4.45 При отсутствии линейного смещения экрана 2 (Ь = О) интерференционно-ди"...
Устройство для измерения параметров глубоких отверстий
Номер патента: 1415053
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Богатырев, Вяткин, Соколов, Спешков, Ширкунов
МПК: G01B 11/12
Метки: глубоких, отверстий, параметров
...в измеряемомотверстии с помощью роликов 18, Измерительные рамки 9 и 1 О подключены ксумматору 19 и дифференциальному усииндицируется на индикаторе 22, Разностный сигнал рамок пропорционален измеряемой непрямолинейности и индицируется иа индикаторе 23, 1 ил,лителю 20 отсчетного узла, а фотоэлектрический датчик 3 - к усилителю 21 рассогласования, к выходу которого подключен следящий электродвига" тель 6. К выходу сумматора 19 подсоединен индикатор 22 измеряемых диаметров, а к выходу дифференциального усилителя 20 - индикатор 23 измеряемой непрямолинейности.Устройство работает следующим образом. Источник 1 света материализует своии лучом прямую, относительно которой определяется непрямолинейность измеряемого отверстия. Корпус 2, опираясь...
Устройство для измерения деформаций материалов
Номер патента: 1415054
Опубликовано: 07.08.1988
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций
...ирасширение технологических возможностей путем измерения деформаций движуЩегося материала.На чертеже изображено устройстводля измерения деформаций материалов.Устройство содержит источник 1 све та, нерегулярный световод 2, первыйолоконный цилиндрический элемент 3,первый оптически прозрачный растр 4,первый регулярный световод 5, второйрегулярный световод 6, второй оптически прозрачный растр 7, второй волоконный цилиндрический элемент 8 иоторегистратор 9.1Устройство работает следующим обфазом,Пучок света (показан стрелками)фт источника 1 света проходит черезнерегулярный световод 2, первый волоконный цилиндрический элемент 3 и 30Ьсвещает первый оптически прозрачныйрастр 4. Далее изображение первогоЬптически прозрачного растра 4...
Оптически чувствительный анизотропный модельный материал
Номер патента: 1415055
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Платонов, Сапожников, Ульянов
МПК: G01B 11/16
Метки: анизотропный, материал, модельный, оптически, чувствительный
...в= 39 - = 1 Ч = 0 33,ф 45Материал изготавливается склейкойслоевшпона между собой, затем полученный аниэотропный пакет приклеивают к полимерной эпоксидной основе, представляющей собой пластинки. Меняя количество и ориентацию слоев,а также толщину пластинок .основы, получают модельный материал, которыйподобен по упругим характеристикам конструкционному углепластику с опре"55 деленной укладкой.Материал на основе древесного шпона обладает более широким диапазоном 2свойств; например, для моделированиястеклопластика на основе нити из волокна ВМ 1 можно использовать бук иликлен, Кроме того, предлагаемый материал по отношению к известному проявляет новое свойство, облегчающеемоделирование по подобно упругих характеристик. Это свойство...
Устройство для измерения углов призм
Номер патента: 1415056
Опубликовано: 07.08.1988
Автор: Дегтярев
МПК: G01B 11/26
...на фиг.2 - 7 схемы поясняющие процесс измерения предлагаемым устройством.Устройство содержит основание 1, автоколлиматор 2, устанонленный на 1 основании 1, столик 3, предназначен ный для установки на нем контролируемой призмы, вал 4 для размещения столика 3, платформу 5, соосно расположенную со столиком 3, и зеркало 6, установленное на платформе 5.У20 3 и платформу 5 на угол 180 -с 1, в том же направлении (фиг.4) . При этом общий угол поворота платформыо5 равен 2 (180 -К) . Устраняют Фиксирование между столиком 3 и платформой 5, вновь возвращают столик 3 в исходное положение поворотом на угол, равный (180 -Ы)по часовой стрелке (фиг.5) . Затем опять фиксируют платформу 5 и столик 3 между собой, В третий раз поворачивают их совместно...
Способ фотометрического контроля многослойных покрытий
Номер патента: 1415057
Опубликовано: 07.08.1988
МПК: G01B 11/26
Метки: многослойных, покрытий, фотометрического
...благодаря использованию для контроля излучения с длиной волны, большей, чем рабочая,и связанной с ней известной зависимостью, и прекращению напыления очередного слоя по достижении контрольным образцом определенного коэффициента пропускания.Контроль толщины пленок в процессе напыления многослойного покрытия, 20содержащего чередующиеся слои двухвеществ, имеющих показатели преломления и и и (и аи ), производится следующим образом.Используются два контрольных образца, на которые напыление веществ,составляющих покрытие, производитсяодновременно с напылением на рабочуюподложку. Накаждый контрольныйобразец напыляют все слои толькоодного из веществ, для чего контрольные образцы попеременно экранируют. В процессе напыления облучают...
Устройство для контроля отверстий в деталях
Номер патента: 1415058
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Ажичаков, Голянская, Пронкин
МПК: G01B 11/26
...7 переменной ширины с контактным наконечником 8, установленным в центрирующем узле 6 с воэможностью осевого перемещения и вра"щения, Фотоэлектрический преобразова тель 9 и отсчетно-регистрирующий25, образом.В первое контролируемое отверстиедетали 11 устанавливают центрирующий узел 6. При этом наконечник 8контактирует с проверяемой поверхностью детали 11.Устанавливают излучатель 1 так,чтобы его ось совпала с осью вала 3и центрирующего узла 6. При измерении вращают призму 4 с постояннойскоростью для сканирования луча поокружности и создают измерительнуюбазу в виде эталонной цилиндрическойповерхности. В процессе сканированиялуч.периодически прерывается реперным знаком 5 и маркой 7, что регистрируется отсчетно-регистрирующим блоком 1 О в...
Способ определения вместимости цилиндрических резервуаров
Номер патента: 1415059
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Каримов, Хусаинов, Ямилев
МПК: G01B 11/00
Метки: вместимости, резервуаров, цилиндрических
...с перекрытием сетки его зрительной трубы, при нулевом значении ее углового отклонения в вертикальной плоскости.Измеряют расстояние АО, высоту расположения точки А от днища и ба" зовое расстояние (С), спроектированное на днище резервуара, например, спомощью оптических центриров тео55 долитов.Для измерения действительных радиусов и высот вышерасположенных отФ носительно гочки А, поясов последова тельно для каждой измеряемой образующей восстанавливают вертикальные диаметральные плоскости, которым принадлежат точки размещения теодолитов 1 и 2, исходная точка и данная измеряемая образующая, Световую марку, образуемую проекцией светового луча лазера, направляют по вертикали от исходной точки А вверх (например, на шов между кольцевыми...
Способ измерения относительной дисперсии сечений капилляров
Номер патента: 1415060
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Арчаков, Ефименко, Малахов, Науменко, Попов, Романов, Солдатов, Чертилина
МПК: G01B 13/00
Метки: дисперсии, капилляров, относительной, сечений
...в капиллярах однозначно связан с разбросом площадей сечения капилляров. Это обс тоятельство позволяет из дисперсии времен прохождения каналов веществом меткой однозначно получить относитель. ную дисперсию площадей сечений каналов. 5Скорость движения вязкой среды в капилляре подчиняется закону Пуазейля: 1 1йз ю Ч АБ( щв) Ю (ее еввевв) ( ) б, 1, Б 2,35 е,. (4) относительную дисперсию проходных сечений капилляров в пучке. Здесь 5/.- Б - относительная дисперсия, 3,полуширина пика на полувысоте.П р и м е р. Для измерения используют хроматограф ЛХ 1-80, Вязкая сре да аргон, вещество-метка метан,детектор 5 пламенно-ионизационный.Пучок 4 из 200 капилляров внутренним диаметром100 мкм включают между устройством 2 ввода и детектором 5, создают...
Пневматический способ измерения среднего диаметра капиллярных трубок
Номер патента: 1415061
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Пистун, Стасюк, Теплюх
МПК: G01B 13/10
Метки: диаметра, капиллярных, пневматический, среднего, трубок
...З 5ходного давления поддерживают постоянное давление воздуха, которое повеличине меньше меньшего постоянноговходного давления. Давление на выходекапиллярной трубки 1 измеряют макометром 10. Перепады давлений на капиллярной трубке определяют в первомслучае как разность между показаниями манометров 5 и 10, а во второмманометров 7 и 10, После этого с 45помощью микрокалькулятора рассчитывают внутренний диаметр капиллярнойтрубки 1 по формуле128(Ц 10 1 01(01 О )0,25где Й - внутренний диаметркапиллярной трубки;1 - длина проходного канала капиллярной трубки55р - коэффициент динамической вязкости воздуха, протекающего через проходной каналкапиллярной трубки;ЬР 1 и 1 Р перепады давленийна капиллярной трубке соответственно припервом и втором...
Устройство для измерения толщины
Номер патента: 1415062
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Коротин, Орлов, Усанов
МПК: G01B 15/02, G01N 27/26
Метки: толщины
...Относится к контроль - но-измерительной технике и может быть использовано для контроля толщины с помощью СВЧ-техники.5Цель изобретения - расширение диаОазона измерений,.На чертеже представлена конструкция устройства для измерения толщины и схема включения активного элемента. 10Устройство содержит отрезок полосковой линии 1, в центральной части которой размещен активный элемент 2, и своим основанием 3 соединенный с Вторым отрезком, выполненным в виде 15 коаксиальной линии 4, Полоска 5 по" лосковой линии 1 электрически соединена с центральным проводником 6 коаксиальной линии 4, длина которого больше длины внешнего проводника 7. 20 Коаксиальная линия 4 снабжена диэлектрической вставкой 8, размещенной между центральным 6 и внешним 7...
Волоконно-оптический преобразователь перемещений
Номер патента: 1415063
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Данилов, Макитрин, Мерзляков, Федоров
МПК: G01B 21/00
Метки: волоконно-оптический, перемещений
...светодиодов 4 и 8. Светодиоды 4 и 8 первой и второй группы 2 и 6 оптически сопряжены с световодами 5 и на выходе их формируется световой поток в виде импульсного сигнала, который, отразившись от поверхности объекта 14, попадает на фотодиод 10, который оптический сигнал преобразует в электрический и затем после усилителя 11 сигнал подается на каскад 12 с управляемой инверсией, с которого сигнал поступает на ФНЧ 13, Поскольку частота среза ФНЧ 13 значительно ниже частоты переключения мультивибратора 1, то функция преобразования определяется средним суммарным током всех светодиодов 4 и 8 (первой и второй группы 2 и 6 управляемых источников тока). Поэтому среднее значение напряженияна выходе ФНЧ 13 пропорционально линейной зависимости от...
Процессор неразрушающего контроля
Номер патента: 1415064
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Баграмов, Зарубин, Мельников, Щербак
МПК: G01B 21/00
Метки: неразрушающего, процессор
...на вход БВИ 8, где,преобразуясь в сигнал управления,1 еформирует управляемое зеркало 5.излучение когерентного источника 1формируется формирователем 2 в волйу с плоским фазовым фронтом, котоРая разделяется в оптическом блоке 3на волны опорную 25 и информативную26. Волна 25 приходит на голограмму6, сохраняя плоский фазовый фронт,а волна 26 модулируется по пространственной фазе управляемым зеркалом 5И также направляется на голограмму6. Волны 25 и 26 дифрагируют на гоЛограмме 6, образуя шесть порядков,дифракции из которых в оптическомпереходнике выделяют две пары волн2 и 28, которые направляются навход телевизионной камеры 10, гдеобразуют интерференционную картину.В свою очередь, волны 29 и 20 направляются на экран, где также...
Измеритель перемещений
Номер патента: 1415065
Опубликовано: 07.08.1988
МПК: G01B 21/00
Метки: измеритель, перемещений
...подсчитывают целое число интерференционных полос. После окончания перемещения вычислительный блок выполняет следующие действия:1. Опрашивает состояние счетчика 8 импульсов. Число, находящееся к этому моменту в счетчике импульсов (Б), есть целое число интерференционных полос, прошедших перед окном фо-., топриемника при перемещении измерительного отражателя 4 из точки А в точку В.2. Подсчитывает дробную чать ин терференционной полосы, Для этоговычислительный блок, непрерывно следя за значением счетчика 8 импульсов, подает с управляющего выхода электрический сигнал на пьеэокорректор 19, По этому сигналу пьеэокорректор увеличивает длину референтного плеча до момента изменения значения на счетчи ке 8 импульсов. В момент изменения...
Способ контроля профиля сечения и устройство для его осуществления
Номер патента: 1415066
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Горбачев, Кондратова, Самсонов, Семилетов
МПК: G01B 21/20
...источников 1 и2 излучения с плоскостью искривленияотверстия. ПЗС-линейка 3 осуществляет считывание оптических полей, отраженных от внутренней поверхностиотверстия, преобразует их в электрические сигналы, которые поступаютна вход блока 5 преобразования, навыходе которого формируются два значения сигналов, соответствующих двумоптическим полям,Разность этих двух значений вычисляется в сумматоре 6 и поступаетв блок 7 регистрации. Вращением платформы 8 с помощью привода 9 добиваются, чтобы значение ширины одного изоптических полей приняло значение максимума, Тогда по двум значениям ширины (по их разности) судят о кривизне оси отверстия.Способ осуществляют следующим образом,С помощью двух точечных источников1 и 2 излучения освещают...
Электромагнитный дефектоскоп
Номер патента: 965149
Опубликовано: 15.08.1988
Авторы: Володин, Голобородько, Костров, Ногин, Усанов
МПК: G01B 7/06, G01N 27/90
Метки: дефектоскоп, электромагнитный
...Устройство содержит накладной ин. дук тинный ре э о и ан сный в ихре то ковый преобразователь, выполненный в виде параллельного резонансного колебательного контура, состоящего из катушки 1 индуктивности (собственно сам накладной индуктивный вихретоковый преобразователь) и конденсатора 2, генераторную схему 3 отрицательного сопротивления, выполненную, например на операционном усилителе, схему 4 преобразования, выполненную в виде последовательно соединенных ограничителя 5, инвертора 6 и регулируемого резистивного делителя источник 8 опорного напряжения и выходной индикатор 9. Устройство может также содержать переключатель 10 для коммутации выходных цепей делителя 7 и источника 8.На чертеже приведено также изделие 11 с стержнем 12...
Измерительная головка
Номер патента: 1416854
Опубликовано: 15.08.1988
Автор: Кузяков
МПК: G01B 5/012
Метки: головка, измерительная
...1 установлены с возможностью поворота вокруг осей 10 неравноплечие контактные рычаги 11, контактирующие своими короткими плечами 12 с грибком 7 и несущими на концах длинных плеч электрические контакты 13, взаимодействующие с соЬтветствующими электрическими контактами 9, Пружина 14 с регулируемым усилием обеспечивает прижим грибка 7 к опорному фланцу 2 через шаровые опоры 15.Два контактных рычага 11 через клеммы Г и Д подключаются к логическому элементу обработки электрических сигналов, а остальные контактные рычаги соединяются между собой попарно гибкими проводниками 16. В грибке 7 и опорном фланце 2 по окружности просверлены отверстия диаметром, равным 2/3 диаметра шарика шаровых опор 15, закрепленных в опорном фланце 2 с помощью...
Кондуктор для выверки взаимного расположения узлов при монтаже
Номер патента: 1416855
Опубликовано: 15.08.1988
Авторы: Алексеенко, Генфан, Крылов
МПК: G01B 5/25
Метки: взаимного, выверки, кондуктор, монтаже, расположения, узлов
...плошадках.Цель изобретения - ускорение выверки узлов, не контактирующих друг с другом и свободно ориентированных в пространстве.На фиг. 1 показан кондуктор, общий вид; на фиг, 2 - вид А на фиг. 1; на фиг, 3 - разрез Б-Б на фиг. 1,Кондуктор для выверки взаимного расположения узлов оборудования при монтаже содержит раму 1, жестко закрепленные на ней под углом друг к другу консольные элементы 2 - 4, упоры 5, закрепленные на концах консольных элементов, и опорные элементы 6, один конец каждого из которых соединен шарнирно с упором 5 посредством винта 7 и гайки 8, а другой соединен жестко с соответствующим выверяемым узлом 9 или 1 О. Со стороны каждого узла 9 и 1 О имеедся по три опорных элемента 6,Выверка узлов с помощью кондуктора...
Измеритель отклонений от прямолинейности
Номер патента: 1416856
Опубликовано: 15.08.1988
Авторы: Васин, Воробьев, Курмантаев
МПК: G01B 5/28
Метки: измеритель, отклонений, прямолинейности
...первая рамка 5, взаимодействующая сизмерительным стержнем 6 отсчетного узла 7.В корпусе 1 параллельно первой образцовойпластине 4 установлена имеющая возможность параллельного перемещения относительно нее вторая образцовая пластина 8 сустановленной на ней второй рамкой 9, накоторой закреплен отсчетный узел 7. Втораяобразцовая пластина 8 контактирует с вторыми выступами 3 измерительных наконечников 2, Первая рамка 5 и вторая рамка 9 связаны между собой гибкими связями 10, выполненными в виде упругихэлементов, которые симметрично расположены по обеим сторонам рамок 5 и 9 в плоскости, проходящей через оси измерительныхнаконечников 2 не менее, чем по дваэлемента на каждой стороне. Вторая рамка 9 связана с корпусом посредством...
Устройство для измерения деформации образца при нагружении
Номер патента: 1416857
Опубликовано: 15.08.1988
Авторы: Евстюхин, Князев, Писаренко, Тарасов, Фурсов
МПК: G01B 5/30
Метки: деформации, нагружении, образца
...может быть использовано при измерении деформации образцов при нагружен ии.Цель изобретения - повышение точности.На чертеже изображено устройство, разрез.Устройство содержит преобразователь 1 линейных перемещений, две параллельные тяги 2 и переходник 3. Одни концы тяг 2 и измерительный шток 4 преобразователя 1 линейных перемещений шарнирно соединены с переходником 3, а другие концы тяг 2 предназначены для связи с образцом 5, например, через самоустанавливающуюся опору 6. Обе тяги 2 установлены в одной плоскости с осью измерительного штока 4, а оси шарнирных соеди. нений 7 параллельны и лежат в плоскости, перпендикулярной плоскости размещения тяг 2. Устройство работает следующим образом.При приложении усилия к образцу 5 через...
Устройство для измерения размеров движущихся материалов
Номер патента: 1416858
Опубликовано: 15.08.1988
Автор: Онищук
МПК: G01B 7/04
Метки: движущихся, размеров
...1, выполненного в виде линейки светодиодов, к каждому светодиоду которого оптически подсоединены два входных конца световодов, а выходные концы этих световодов образуют светоизлуцающие линейки 2 и 3, устанавливаемые по краям измеряемого материала 4, световоды каждого светодиода имеют выходы в каждой из двух светоизлучающих линеек и выходы расположены симметрично относительно продольной оси устройства для каждого светодиода осветителя, распределителя 5 импульсов, генератора 6 импульсов, датчика 7 единиц длины измеряемого материала, фото. приемников 8 и 9, выходы которых соединены с входами элементов И 10, ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ 11, НЕ 12 и 13, выход 25 элемента И 10 соединен с входом формирователя 14 парных импульсов, один вход элемента ИЛИ...
Вихретоковый толщиномер диэлектрических покрытий
Номер патента: 1416859
Опубликовано: 15.08.1988
Авторы: Маренкова, Маруняк, Мякинькова, Потапов, Яценко
МПК: G01B 7/06
Метки: вихретоковый, диэлектрических, покрытий, толщиномер
...точности измерения путем измерения и преобразования периода колебаний разности частот измерительного и опорного генераторов.На чертеже представлена структурная 10 схема вихрегокового толщиномера диэлектрических покрытий.Вихретоковый толщиномер состоит из вих ретокового преобразователя 1, измерительного автогенератора 2, включенного в колебательный контур автогенератора 1, катушки 3 индуктивности, эквивалентной по своим электрическим параметрам вихретоковому преобразователю 1, опорного автогенератора , 4 с включенной в его колебательный контур катушкой 3 индуктивности, вычи тателя 5 частот, соединенного входами с выходами измерительного автогенератора 2 и опорного автогенератора 4, последовательно соединенных измерителя 6 периода...
Интерферометр для измерения перемещений объектов
Номер патента: 1416860
Опубликовано: 15.08.1988
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, объектов, перемещений
...диафрагмы 14 и 15 и детекторы 16 и 17.Интегратор работает следующим образом.Пучок излучения от лазера 1 расширяется телескопической системой 2 и попадает на светоделитель 3, где делится на измерительный и опорный. Измерительный пучок, отразившись от зеркала 4, падает на отражатель 6, отражается им обратно параллельно самому себе, проходит оборачивающую призму 13 и возвращается вновь на светоделитель 3.Опорный пучок проходит ромбическуюпризму 11, смещается ею перпендикулярно пучку на величину его диаметра аа и падает на первый неподвижный отражатель 8 и, отразившись от него, идет обратно параллельно самому себе через призму 13 на светоделитель 3.Оба пучка вторично делятся светоделителем 3, интерферируют и, создав две картины...
Интерферометр для измерения линейных перемещений объекта
Номер патента: 1416861
Опубликовано: 15.08.1988
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, линейных, объекта, перемещений
...Грани выполнен прозрачным длялуча света и имеет длину, равнуюребру, и ширину, определяемю поФормуле45= -Д(2-ьд)Для того,чтобы не внести искажений вход луча света в световозвращающей системе, ширина зеркал 22 (23)и 24 (25) не должна превышать четырех расстояний 3,Фотоэлектронный блок 14 фиг. 4)содержит фотоприемники 26 и 27, входы которых оптически связаны соответственно с поляроидами 10 и 11,а выходы электрически связаны с входом блока 28 определения направления перемещения, а выход фотоприемника 26 также связан с одним из вхоцов реверсивного счетчика 29, второйзвход которого связан с выходом блока 28. Выход реверсивного счетчика 29 является выходом интерферометра,Интерферометр работает следующим образом.Луч от источника, 1...
Оптический датчик для измерения линейных смещений объекта
Номер патента: 1416862
Опубликовано: 15.08.1988
Авторы: Аджалов, Дмитриев, Ламекин
МПК: G01B 11/02
Метки: датчик, линейных, объекта, оптический, смещений
...измерения линейных смещений, и может быть использовано как чувствительный элемент при измерении широкого класса физических величин, изменение которых во времени непосредственно или опосредованно вызывает соответствующие смещения физических тел или их поверхностей.Цель изобретения - упрощение конструкции и повышение чувствительности датчика за счет исключения необходимости использования второго волновода и увеличения зависимости интенсивности вводимого в волновод излучения от перемещения отражателя вследствие реализации взаимодействия сфокусированного сходящегося пучка света со структурой входного торца волновода,На чертеже изображена принципиальная схема оптического датчика для измерения линейных смещений объекта.Датчик содержит...
Устройство для контроля цилиндрических деталей
Номер патента: 1416863
Опубликовано: 15.08.1988
Авторы: Абрамов, Коротынский
МПК: G01B 11/24
Метки: цилиндрических
...на корпусе со стороны, противоположной штанге 2, пентапризму 7, расположенную на датчике 6 с возможностью ее съема, датчик 8 угла поворота, три распорные штанги (фиг. 2) 9, 10 и 11, установленные на корпусе 1 с возможностью взаимодействия с деталью 5 через подпружиненные наконечники 12, 13 и 14, три 20 преобразователя 15, 16 и 17, вход каждого из которых соединен соответственно с датчиками 6 и 8 и 3, микропроцессор 18, выходы преобразователей 15, 16 и 1 соединены с входом микропроцессора. Позициями 19 и 20 обозначены линейки.Устройство работает следующим образом.Корпус 1 устанавливают внутри детали 5 и выравнивают параллельно его торцовой кромке по линейкам 19 и 20, Луч лазера 4 направляют на пентапризму 7, вращая которую...
Устройство для измерения угловых перемещений объекта
Номер патента: 1416864
Опубликовано: 15.08.1988
Автор: Аноховский
МПК: G01B 11/26
Метки: объекта, перемещений, угловых
...приемного блока 6.При вращении кольцевого оптического блока 3, закрепленного на обьекте, ицтерф- ренционцая картина перемещается и сццты 5 1 О 15 20 25 30 35 40 45 50 :/5 цается апертурой фотоприемника канала. На фиг. 2 показано положение апертур фотоприемников, расположенных симметрично относительно осн светового пучка, где 111 часть пуцка, попадающая в апертуры фотоприемников 7 и 8, аи 11 - части пучка, цоцадакнцие в апертуры фотоприемника 9 и 10 приемного блока 6. Части луча 1 и 11 каналов могут находиться на разных поверхностях, а средняя часть луча 111 - на поверхности зеркальной фаски. Отраженная от фаски часть луча 111 попадает на фотоприемник 7, который переключает каналы в приемном блоке. Отключается второй 11 и включается...