G01B — Измерение длины, толщины или подобных линейных размеров; измерение углов; измерение площадей; измерение неровностей поверхностей или контуров

Страница 488

Способ измерения длины наматываемого в рулон материала

Загрузка...

Номер патента: 1397709

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Елисеев, Казначеев

МПК: G01B 7/04

Метки: длины, наматываемого, рулон

...импульсов.При обрыве материала датчик 5 через схемы 2 и 8 совпадения блокирует .поступление импульсов от датчиков1 и 7 и запускает микропроцессорныйблок 10, под управлением котороговыходная информация счетчика-регистра 9 и пересчетного блока 3 переписывается в память микропроцессорного блока 10,; счетчик-регистр 9 сбрасывается и в него записывается заданное значение числа оборотов рулоновв цикле измерения, поступающее отзадатчика 11.После завершения выдачи управляю Ощих сигналов микропроцессорный блок10 выполняет вычисления средней толщины материала в рулоне . и диаметра рулона в момент обрыва 0 по Формулам- - ф" ( 1 г) ф гп(2) П, д + (2, 1) После удаления части витков материала и ликвидации обрыва производится дальнейшая намотка...

Цифровое устройство автоматического измерения длины движущихся изделий

Загрузка...

Номер патента: 1397710

Опубликовано: 23.05.1988

Автор: Мезенцев

МПК: G01B 7/04

Метки: движущихся, длины, цифровое

...второго датчика 3 наличия изделия раньше, чем задний торец выходит из зоны действия первого датчика 1, Как только на выходе "торого датчика 3 сформируется сигнал наличия изделия, на выходе второго блока 5 формирования сигналов появляется сигнал "Логическая "1", и триггер 8 из нулевого состояния опрокидывается в единичное (на инверсном выходе формируется "0"), второй ключ 9 закрывается, суммирование импульсов вторым счетчиком 12 прекращается, однако на первый счетчик 10 импульсы продолжают поступать, С прямого выхода триггера 8 сигнал "Логическая "1" подается на второй вход блока 15 совпадения. В момент выхода заднего торца изделия 2 из зоны действия первогодатчика 1 на выходе первого блока 4формирования сигналов формируетсялогический...

Устройство для контроля размеров изделия на прокатном стане

Загрузка...

Номер патента: 1397711

Опубликовано: 23.05.1988

Автор: Замалин

МПК: G01B 7/04

Метки: изделия, прокатном, размеров, стане

...выходе схемы ИЛИ 8 появляется единичный уровень напряжения.При поступлении с фотоприемника 5 более двух импульсов во время одного цикла измерений триггеры 9-12 не изменяют своего состояния и на выходе схемы ИЛИ сохраняется единичный уровень напряжения, Импульс с выхода фотоприемника 6, который приходит после импульсов с фотоприемника 5 вновь сбрасывает триггеры 9 и -0 в нулевое состояние, и на выходе схемы ИЛИ появляется опять нулевой уровень напряжения, Следовательно, при наличии непрозрачных элементов на поверхности световода 3 на выходе схемы ИЛИ 8 появляется последовательность импульсов с низкой частотой следования, равной частоте сканирования. Эти импульсы направляют на дальнейшую обработку.При отсутствии на поверхности...

Способ измерения толщины

Загрузка...

Номер патента: 1397712

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Макаров, Яковлев

МПК: G01B 7/06

Метки: толщины

...электрод 5,предназначенный для последовательно 5 Эго размещения на контролируемыхучастках 6,1 или 8 объек:а 2, В про"цессе измерений на участки 6-8 объекта 2 наносят электропроводные покры .; тия. 9-11 из низкоомного материала,обладающего малым удельным электрическим сопротивлением и высокими адгезионными свойствами по отношению кматериалу объекта. Для ре.зинотехнических объектов в качестве покрытияможет быть использована техническаясажа. Покрытие может быть выполненотакже, например, путем осаждения наповерхность объекта пленки влаги.Способ измерения толщины осущест 5 Овляют следующим образом.Контролируемый объект 2 устанавливают на базовую поверхность 4. Научастке 6,7 или 8 поверхности объекта наносят покрытие 9,10 или 11...

Устройство для измерения диаметров крупногабаритных изделий

Загрузка...

Номер патента: 1397713

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Воробьев, Магдеев, Машкин

МПК: G01B 7/12

Метки: диаметров, крупногабаритных

...ролик 1 приводят в контакт с вращающейся деталью (не показана) и импульсы от преобразователя 2 угла поворота, генерирующего, например, один импульс за один оборот ролика 1, поступают на второй управляющий вход второго счетчика 6 и управляющий вход второго буферного регистра 8, переписывая при этом содержимое второго счетчика 6 во второи буферный регистр 8 и обнуляя второй счетчик 6, Таким образом, состояние М . второго буферного регистра 8 определяется временем полного обо" рота измерительного ролика 1, предшествующего текущему полному обороту ролика:7 ЙрИе з )Ч где .6 - диаметр ролика;11 = - - период сигнала генератора4 тактовых импульсов;У линейная скорость вращения измерительного ролика 1 в данный момент времени,По приходу...

Бесконтактный профилометр для контроля микрогеометрии коллекторов электрических машин

Загрузка...

Номер патента: 1397714

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Безбородов, Козлов, Харламов

МПК: G01B 7/12

Метки: бесконтактный, коллекторов, машин, микрогеометрии, профилометр, электрических

...к входам блока 14 определения модуля разности сигналов, выход которого соединен с входом пикового детектора 15. Выход детектора подключен к регистратору 16, а управляющие входы детектора 15 и элементов 12 и 13 памяти соединены с блоком 17 управления. Профилометр работает следующим образом.Выходной сигнал первичного преобразователя 1 перемещений, пропорциональный расстоянию между первичным преобразователем и контролируемой поверхностью вращающегося коллектора, выделяется измерительной схемой 2, усиливается ею и в виде последовательности импульсов от коллекторных пластин поступает на входы ключей 4 и 5 и на вход блока 3 управления ключами, который формирует из последовательности импульсов измерительного сигнала узкие импульсы и...

Датчик угла поворота вала

Загрузка...

Номер патента: 1397715

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Блинов, Братцев, Логинова, Рейзин

МПК: G01B 7/30

Метки: вала, датчик, поворота, угла

...деления, то участки с наименьшей длиной шага одной группы иагниторезисторов располагаются в промежут Период Т изменения суммарного сопротивления каждой группы магниторезис 360тора равен . Суммарное сопротивле-рние каждой группы магниторезисторов, изменяющееся при повороте вала, можно представить следующими выражениями К,( 1 К,(1 К,( 1 К(1+ 1 с эп рЫ); + 1 с соя рК);1 с в 1 п рм. );1 с соя рк); К, К К з К где К, - среднее значение сопротивления каждой группы в магнитном пале;коэффициент модуляции сопротивлений при изменении магнитного поля;р - число зубцов магнитопровода 2;о - угол поворота вала датчика.Для исключения постоянных составляющих в суммарных сопротивлениях групп магннторезисторов возможно использование мостовых схем измерения,...

Способ исследования распределения нормальных перемещений поверхности плоских объектов

Загрузка...

Номер патента: 1397716

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Бахтин, Костюченко

МПК: G01B 9/00

Метки: исследования, нормальных, объектов, перемещений, плоских, поверхности, распределения

...2 Ы.Гвен М,(х) =,где ьс - угол поворота; г - расстояние от оси поворота до 25исследуемого сечения; 9 - длина волны;х - текущая координата сечения. Привозниконовении нормальных перемещениййорядок интерференционных полос в сечении 302 Г Ч 2 с 1(х)(знак + означает, что нормальные пере,мещения Й (х) могут как совпадать си"фиктивными" перемещениями г, обус,ловленными изменением угла наклонаосвещающего пучка, так и быть проти воположными ему по направлению), Таким образом, разница порядков полосы,представляющая собой отклонение И,(х) 10полосы от прямолинейности, равна2 й(х)И (х) - М,=+т.е. искривление формы полосы с точностью до постоянного множителя 2 Исовпадает с эпюрой распределения нормалыщх перемещений д (х) вдоль исследуемого...

Устройство для измерения перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1397717

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Акопян, Артемьев, Иванцов, Левин, Федоров

МПК: G01B 9/00

Метки: перемещений

...,где о - относительная деформациясветовода,ЬР - относительное изменение светового потока,а - постоянная, зависящая от35типа используемого свето-,вода,п - показатель степени, зависящий от типа используемого световода 5, описываю 40щий изменение световогопотока в зависимости от деФормации световода,Лепестки конуса вставлены в соответствующие пазы обжимного стакана 7 45свободно, но без люфта, перемещающегося в осевом направлении по цилиндрическим поверхностям упора 3 и корпуса 1. Осевое перемещение стакана 7ограничено упорами 2 и 3, а самовоэврат при прекращении внешнего воздействия обеспечивает упругий эле-:мент 8, опирающийся на шайбу 9. Вращение обжимного стакана относительнооси устройства предотвращает направляющая 10. Источник 11...

Интерферометр для измерения линейных величин и показателя преломления

Загрузка...

Номер патента: 1397718

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Бурец, Валова, Янов

МПК: G01B 11/02, G01B 9/02

Метки: величин, интерферометр, линейных, показателя, преломления

...которой требуется определить(фиг,1), либо на объекте 8, изменениедлины которого требуется определить(фиг,З), либо закреплено неподвижно45при измерении показателя преломленияпрозрачного тела 9 или измерения изменения показателя преломления прозрачного тела 9 (фиг.2) таким обра зом, что предметный луч после прохождения через светоделитель 4 попадаетна регистрирующий узел 6.Интерферометр работает следующимобразом.Луч света от источника 1 света сдлиной волны Ъ, и луч света от дополнительного источника 2 света сдлиной волны % падают на полупрозрачное зеркало 3, после которого их оптические оси оказываются совмещенными в пространстве, и дальше они распространяются в виде единого луча, содержащего оптическое излучение двух неравных между собой...

Интерферометрический способ измерения линейных перемещений объектов

Загрузка...

Номер патента: 1397719

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Ильин, Старков

МПК: G01B 11/00

Метки: интерферометрический, линейных, объектов, перемещений

...или , или 8, формирует опорный канал 9 интерферометра. Оба каНала проходят через плоскопараллельную пластину 10, предназначеннуюдля перемещения пучков параллельносамим себе, Пройдя каналы 5 и 9,1пучки интерферируют на светоделителе2, а интерференционная картина регистрируется двумя фотоприемниками11 и 12 с двумя щелевыми диафрагмами 13 и 14.С помощью диафрагм 13 и 14 выходные сигналы с фотоприемников 11 и12 сдвигаются по фазе друг относиотельно друга на 90 , что позволяет,вести реверсивный счет интерференциОННЫХ ПОЛОСеПри перемещении объекта регистрируют интерференционные полосы фото 40приемниками 11 и 12 м по количествуМ полос определяют величину перемещения объекта 1 = И - где Ъ2 длина волны света в воздухе.При больших перемещениях...

Фотоэлектрический преобразователь

Загрузка...

Номер патента: 1397720

Опубликовано: 23.05.1988

Автор: Цесюль

МПК: G01B 11/00

Метки: фотоэлектрический

...надва пучка лучей, плоскости поляризации которых взаимно перпендикулярны,Первый пучок лучей после поляризационного светоделителя 4 проходит черезпервый канал двухканального амплитудного модулятора 6, отражается отвторого плоского зеркала 7 и попадает во второй поляризационный свето- делитель. Второй пучок лучей после поляризационного светоделителя 4 отражается от первого плоского зеркала 5, проходит через второй канал двухканального амплитудного модулятора 6 и попадает на второй поляризационный светоделитель 8, Двухканальный амплитудный модулятор 6 поочередно прерывает пучки лучей, проходящие через два его канала, Таким образом, из второго поляризационного светоделителя 8 выходит один пучок лучей, состоящий из двух пучков лучей со...

Способ определения динамических деформаций цилиндрических оболочек

Загрузка...

Номер патента: 1397721

Опубликовано: 23.05.1988

Автор: Деревщиков

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, динамических, оболочек, цилиндрических

...объективом 14 пучок регистрируютфотоумножителем 15, а во втором с 2помощью осветительной системы 16 по"сылают на входную щель спектральногоФотохронограАа 17.Использование источника света сосплошным спектром позволяет разделить эААекты ослабления просвечивающего светового потока, обусловленныерадиальной деАормацией и рефракциейна оптических неоднородностях и резонансным поглощением, При этом регистрация прошедшего в первом каналеизлучения в режиме беэ ограничивающейдиаАрагмы дает инАормацию о радиаль 15 ной деАормации и оптическом поглощении, а регистрация во втором (спектральном) канале позволяет определитьраздельно как ослабление световогопотока за счет радиальной деформациии реАракции (по сплошному спектру),так и суммарное ослабление...

Устройство для измерения толщины и показателя преломления пленки

Загрузка...

Номер патента: 1397722

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Гвардионов, Трунов

МПК: G01B 11/16

Метки: пленки, показателя, преломления, толщины

...10 травления с регулируемымуровнем травителя, лазер 11, светоделитель 12, опорное зеркало 13 исистему 14 регистрации интерференционной картины. Элементы 11-14 раз" 25мещены по схеме интерферометра Майкельсона, в котором вместо зеркала,размещенного в измерительном плече,использован свободный край подложки2, которая консольно закреплена в камере 10 травления так, что лучи света, падающие на подложку под разнымиуглами, сходятся на ней вблизи точки закрепления,Устройство работает следующимобразом, ционной картины, где они интерферируют,При стравливании пленки с подложки 2 получают информацию о толщине,показателе преломления и распределе"нии напряжений по толщине пленки, Дляраспределения напряжений по толщинепленки справедлива...

Способ контроля кривизны асферической поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1397723

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Королев, Сенаторов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферической, кривизны, поверхности

...на фиг. 3 -наблюдаемая интерференционная картина.Схема контроля содержит высокоточное плоскопараллельное эталонноепробное стекло 1, проверяемую цилиндрическую деталь 2, оптически койтактирующую со стеклом 1 по линиям 3и 4 и так дальше в процессе обкатывания по стеклу 1, и регистрирующийпРибор 5,Способ осуществляют следующим образом,Приводят контролируемую деталь 2в оптический контакт с пробным стеклом 1 и наблюдают интерференционнуюкартину между ними, по которой судят 30о кривизне контролируемой поверхности.Затем обкатывают контролируемую цилиндрическую поверхность детали 2 попроЬному стеклу 1, сохраняя оптический контакт вдоль образующей цилинд 35рической поверхности, При оЬкатке науголлиния контакта перемещаетсяиз положения 3 в...

Компенсатор для контроля формы поверхности астрономических зеркал телескопов

Загрузка...

Номер патента: 1397724

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Горшков, Дроздов, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G02B 17/08 ...

Метки: астрономических, зеркал, компенсатор, поверхности, телескопов, формы

...1 и положительный 2мениск и двояковыпуклую линзу 3,На чертеже обозначены: С, -центркривизны при вершине контролируемойповерхности зеркала 4; Р, - заднийпараксиальный Аокус компенсатора,совмещенный с точкой С,; а и Ь - воздушные промежутки,ф разделяющие соответственно мениски 1,2 и мениск 2,линзу 3, Б - задний Аокальный отрезок компенсатора, г - вершинный радиус кривизны контролируемой поверхности зеркала 4.Компенсатор работает следующимобразом. 30Пучок параллельных лучей поступает на аАокальный мениск 1, после этого параксиальные лучи идут строгопараллельно оптической оси, а крайние образуют сходящийся пучок лучей.Положительный мениск 2 преобразуетпоступающий на него пучок лучей всходящийся. Двояковыпуклая линза 3преобразует падающий...

Устройство для контроля угла наклона объекта

Загрузка...

Номер патента: 1397725

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Дубиновский, Соколов, Сумцев, Тарасов, Тененбаум

МПК: G01B 11/26

Метки: наклона, объекта, угла

...его концом контактируют с разныхсторон измерительные наконечникиобоих отсчетньх узлов, а их упорныедиски при этом контактируют с одним45из ограничителей.Оси движения измерительных наконеч"ников отсчетных узлов направлены подуглом, равным 1/4 сь, к перпендикулярубиссектрисы диапазона угла отклонения рычага.Устройство работает следующим образом,Предварительно разворачивают рычагтак, что он занимает среднее положение, В этом попожении, когда рычагнаходится одновременно в механическомконтакте с обоими измерительными наконечниками узлов 5 и 6, на обоих. блоках 7 и 8 индикации выставляют ноль устройства, тем .самым показания электронных индикаторов приводят в соответствие с механическим нулем устройства.При разворотах платФормы 1 на...

Устройство для определения фактической площади контакта изделий

Загрузка...

Номер патента: 1397726

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Гмыря, Захаров, Рогов, Рублев, Щипанов

МПК: G01B 11/28

Метки: контакта, площади, фактической

...деталей из различных малоабраэивных материалов, применяемых для изготовления полировально-доводочного инструмента, при их динамическом контактировании с другим телом.Цель изобретения - обеспечение возможности изучения контакта движущихся изделий.На чертеже изображена принципиальная схема устройства для определения фактической площади контакта изделий.Устройство содержит корпус 1, установленные в нем микроскоп 2 и полупрозрачный куб 3, осветитель, включающий лампу 4 и линзу 5, стакан 6, установленный так, что его ось параллельна оси микроскопа 2, с воэможностью вращения относительно своей оси, палец 7, установленный в стакане б вдоль его оси, и регистрирующий узел 8, на выступающем из стакана 6 конца пальца 7 выполнено сквозное...

Фотометрический способ определения высоты шероховатостей поверхности оптически прозрачных плоских деталей

Загрузка...

Номер патента: 1397727

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Афанасьева, Матшина, Мухамедов, Несмелов

МПК: G01B 11/30

Метки: высоты, оптически, плоских, поверхности, прозрачных, фотометрический, шероховатостей

...к поверхности 7 образца 8, 1установленного за отверстием 4 так, что диффузно отраженное от поверхности 7 излучение без потерь попадает в фотометрический шар 2, Зеркально отраженная часть потока через отверстие 3 отводится в пространство вне Фотометрического шара 2, Диффузно отраженное от поверхности 7 излучение попадает в фотометрический шар 2, где оно интегрируется и создает на приемной поверхности фотоприемника 6 через отверстие 5 освещенность, пропорциональную коэффициенту , диффузно отраженного от поверхности 7 излучения, Затем образец 8 переворачивают и аналогично определяют коэффициентдиффузно отраженного излучения от поверхности 9.Далее образец 8 помещают между источником 1 излучения и отверстием 3 параллельно...

Устройство для бесконтактного определения высоты шероховатости поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1397728

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Бабулевич, Кизеветтер, Малюгин

МПК: G01B 11/30

Метки: бесконтактного, высоты, поверхности, шероховатости

...работает следующим образом.Луч лазера, пройдя диафрагму 2,которая Формирует диаметр луча 0,5 -1 мм, попадает на исследуемый образец 3. Отраженное излучение регистрируется ПЗС-фотоприемником, видеосигнал, соответствующий индикатрисерассеяния, преобраэовывается в цифровой код и запоминается в запоминающем блоке 6. После окончания запоминания видеосигнала, последнийпереписывается в блок 7 усреднения,где происходит накопление и усреднение индикатрис рассеяния. По окончании перезаписи подается команда напередвижение образца. С помощью специальной подвижки перемещение производится так, что угол падения лазерного луча относительно нормали остается постоянным (обычно выбирают этотугол 8-15 ). При этом излучение лазера попадает на новый...

Устройство для измерения размеров деталей

Загрузка...

Номер патента: 1397729

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Бансявичюс, Буда, Винцявичюс, Микуцкис

МПК: G01B 17/02

Метки: размеров

...32,Контактно-чувствительная головка имеет концевик 33 для соединения в процессе контроля с координатно-измерительным станком (не показан),Устройство для измерения размеровдеталей работает следующим образом.Перед началом контроля воздействием через регулировочный винт 32 на пружину устанавливают требуемоеусилие прижатия шаровых опор 6 к приемным секторам 9 электрода, установленным между шаровыми опорами б ипьезоэлектрическим преобразователем7 через 120 один от другого, После этого контактно-чувствительная головка своим концевиком 33 крепится к устройству координатного перемещения по трем осям, например к координатно-измерительному станку (не показан),При взаимодействии наконечника 5 и измеряемой детали (не показана) в любом радиальном...

Ультразвуковой интерферометрический толщиномер

Загрузка...

Номер патента: 1397730

Опубликовано: 23.05.1988

Автор: Ришан

МПК: G01B 17/02

Метки: интерферометрический, толщиномер, ультразвуковой

...управляет вращением двигателя 18 в направлении перемещения акустической головки 1 в верхнее исходное ее положение до сра" батывания датчика 20. Последний через логический блок 15 (третий выход) производит запись числа предварительной установки задатчика 25 в реверсивный счетчик 26, производит запись числа задатчика 24 в синхронизатор 23, а через блок 15 (первый его выход) управляет запуском генератора 16 и направлением (второй выход блока 15) вращения шагового двигателя 30418 через блок 17 управления, при котором акустическая головка 1 опускается к поверхности контролируемой ленты 30. Одновременно импульсы из блока 17 управления, поступающие на шаговый двигатель 18, поступают с второго выхода блока 17 на вычитающий счетный выход...

Устройство для измерения перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1397731

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Гудзь, Кузнецов, Фурсов

МПК: G01B 21/00

Метки: перемещений

...коррелятора 5, блок9 видеоконтроля, первый и второй входы которого связаны с выходами первой3 и второй 4 телевизионных камер соответственно.Устройство для измерения перемещений работает следующим образом.Источник 1 оптического излучения подсвечивает вибрирующий объект 2, Оптические сигналы, промодулированные по интенсивности частотой и амплитудой вибрации, фиксируются двумя45 идентичными телевизионными камерами 3 и 4, установленными на расстояниях 1, и 1 от объекта 2 соответственно.Электрические сигналы с первой те 50 левизионной камеры 3 поступают на многоканальный коррелятор 5 беэ задержки, сигналы с второй телевизионной камеры 4 - на многоотводную линию 6 задержки, Определенные частоты55 вибраций объекта 2...

Устройство для измерения тонких стенок стеклянных труб

Загрузка...

Номер патента: 1397732

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Инфелицин, Меркишин, Плуталов

МПК: G01B 21/00

Метки: стеклянных, стенок, тонких, труб

...бпока 8 деления подается на стрелочный индикатор 9, проградуированный в значенияхд толщины трубы йЭй 2 У Формула изобретения Составитель Б.Чулков Редактор И.Горная Техред А.Кравчук Корректор М.ПожоЗаказ 2261/38 Тираж 680 Подписное ВКИИПИ Государственного комитета СССР по, делам изобретений и открытий 113035, Москва, ЖРаушская наб д, 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул, Проектная, 4 Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может бытьиспользовано для измерения толщиныоптически прозрачных материалов.Цель изобретения - повышение точности за счет ускорения погрешности,сяязанной с дифракцией световогопучка на оптических элементах устройства.Нг чертеже представлена блок-схема предлагаемого...

Устройство контроля трещин в материалах

Загрузка...

Номер патента: 1397733

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Курбатский, Невмержицкий, Федотов, Федотова

МПК: G01B 21/00

Метки: материалах, трещин

...на транзисторе).На фиг 2 показаны; а - кадровые синхроимпульсы, б - временные диаграммы состояний первого выхода первого триггера 13, в - временные диаграммы состояний второго выхода этого триггера, г и д - импульсы начала и конца кадра соответственно.Первый кадровый синхроимпульс устанавливает первый триггер 13 (со счетным входом) в единичное состояние и блокировка с первого элемента И 11 снимается.В результате этот первый кадровый синхроимпульс проходит через первый логический элемент И 11 и появляется на его выходе в качестве импульса начала кадра. Последний устанавливает второй триггер 16 (с раздельным входом) в единичное состояние. Это снимает блокировку с четвертого логического элемента И 15 и ви" деоимпульсы с выхода...

Устройство для измерения деформаций откосов

Загрузка...

Номер патента: 1399642

Опубликовано: 30.05.1988

Авторы: Костин, Кутепов, Кутепова, Стешова

МПК: G01B 5/00

Метки: деформаций, откосов

...углов й шкалы ца секторе 7, закрепленном на ц луцапфе 2, корпус 8, установленный на цилиндрическом шарнире 5 с возможностью п, ворота, установленный на нем барабан 9 с ручкой 10 для размещения на нем мерного элемента 11 с крюком 12 ца свободном конце, указатель 13 угломера, и механизм натяжения мерного элемента 11, выполненный в виде диска 14, закрепленного на барабане 9, подпружиненного к нему фрикционного диска 15 и эксцентрикового элемента 16 с ручкой 7 для осевого перемещения фрикционного диска 15.Устройство работает следующим образом.В исходном состоянии закладывают Маркшейдерские станции, состоягцие из одной или нескольких профильных линий, путем установки стоек 1 с крепежными механизмами, закрепленными так, цтобы цилиндрический...

Способ определения фактической площади контакта поверхностей взаимодействующих тел

Загрузка...

Номер патента: 1399643

Опубликовано: 30.05.1988

Авторы: Липилин, Мелай, Овчинников

МПК: G01B 5/26

Метки: взаимодействующих, контакта, площади, поверхностей, тел, фактической

...4 И зобретение относится к испытательнойтехнике и может быть использовано для исследования контакта поверхностей взаимодействующих матрицы и пуансона, алмазного инструмента и детали, а также тел с эластичными поверхностями.Целью изобретения является повышение 14 нформативности путем измерения зазора И давления по плошади контакта.Способ осуществляют следующим обра 3 ом.Между контролируемыми поверхностями тел помещают находящиеся во взаимном контакте рельефографическую матрицу и термопластическую пленку таким образом, что 1 ельефографическая поверхность матрицы сонтактирует с пленкой, нагревают пленку о температуры, превышающей температуру е стеклования на 1 О - 15 С, прикладывают , авление к взаимодействующим телам и ох,11 аждают пленку...

Устройство для многократных отражений в двухлучевом интерферометре

Загрузка...

Номер патента: 1399644

Опубликовано: 30.05.1988

Авторы: Воробьев, Даубаев, Недбай, Суденков

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевом, интерферометре, многократных, отражений

...излучения, например геий-неоновый лазер, светоделитель 2, устойство 3 многократных отражений, содер ащее линзу 4, два уголковых отража- .еля 5 и 6 и зеркало 7, связанное сонтролируемым объектом 8, уголковый отажатель 9, фотоприемник 10 и блок 11 реистрации его выходного сигнала.Излучение источника делится светоделиТелем на 2 пучка, один из которых падает на 25Иолковый отражатель 9, а другой - на линзу 4. 11 рошедший линзу луч отражается от зеркала 7 и после вторичного прохождения линзы 4 возвращается уголковымотражателем 5 на зеркало 7. Г 1 осле повторного отражения уголковым отражателем 6 ЗОПучок третий раз отражается от зеркала 7попадает на светоделитель 2, где совмещается с опорным сигналом и образует навходе фотоприемника 10...

Фотоэлектрический преобразователь перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1399645

Опубликовано: 30.05.1988

Авторы: Гикалов, Мартынов, Трофимов

МПК: G01B 21/00

Метки: перемещений, фотоэлектрический

...измерения за счет смещения оптических осей светодиодов и фотодиодов и исключения измерения по перекрытию светового потока.На фиг. 1 схематически представлен ггредлагаемый преобразователь; на фиг. 2 - 1 годключение фотодиодов к усилителю.Фотоэлектрический преобразователь перемещений содержит подвижную плошадку 1, связываемую с объектом, с размешен 14 ыми на ней фотодиодами 2 (или светодиодами), неподвижную плошадку 3 со светоггиодами 4 (или фотодиодами), усилитель 5 тока фотодиодов, к которому фотодиоды подвключены встречно-параллельно. Оптические оси светодиодов 4 и фотодиодов 2 смещены в противоположные стороны на заданную величину ЛЛ.Преобразователь работает следующим ;образом.В среднем (начальном) положении на фотодиоды 2 падает...

Фотоэлектрический двухкоординатный автоколлиматор

Загрузка...

Номер патента: 1073572

Опубликовано: 30.05.1988

Авторы: Егорычев, Потапов, Привер

МПК: G01B 11/26

Метки: автоколлиматор, двухкоординатный, фотоэлектрический

...перпендикуляр 1 ных одна другой, точка пересечения которых совпадает с центром круговой диафрагмы.На фиг.1 представлена функциональ" ная схема устройства; на фиг.2 - сечение А-А на фиг.1; на фиг.3 - функциональная схема блока обработки сигналов; на фиг.4 - временная диаграмма сигналов, снимаемых с фотоприемников.Автоколлиматор состоит из источника 1 света, конденсатора 2, круговой диафрагмы 3, коллиматорного объектива 4, фотоприемников 5-8, расположенных крестообразно вокруг круговой диафрагмы 3 и соединенных с входами блока 9 обработки сигналов, оптического кли-. на 10, расположенного между круговой диафрагмой 3 и коллиматорным объективом 4, связанного с приводом 11, по.". лупрозрачной пластины 12, поворотного экрана 13, зеркала 14 и...