G01B — Измерение длины, толщины или подобных линейных размеров; измерение углов; измерение площадей; измерение неровностей поверхностей или контуров

Номер патента: 1768960

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Прилепских, Ханов

МПК: G01B 11/02, G01B 9/02

Метки: объектов, перемещений, показателей, преломления, прозрачных, сред

...относительно другого, Синхронное перемещение отражателей измерительного плеча, перемещение отражателя опорного плеча или изменения показателя преломления воздуха в устройстве до отражателя измерительного плеча вызывают синхронное изменение интерференционных сигналов и не изменяют результата измерений. 1 ил. ломления прозрачных сред содержит лазер, расщепитель луча, светоделитель, два отражателя, образующие измерительное плечо, отражатель и модулятор, образующие опорное плечо, два фотоэлектрических преобразователя и соединенный с ними блок согласования,Однако в этом устройстве не удается выравнять интенсивности интерферирующих пучков в обоих измерительных каналах, а это приводит к низкому контрасту интер",В , , О НО 1 .":;С З,.О 1...

Номер патента: 1768961

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Васильев, Хопов

МПК: G01B 11/06, G01B 11/08

Метки: стеклянной, стенки, толщины, трубки

...8 посредством электромеханического привода 9расстояние между пучками А и Б, а такжеразность их оптического пути изменяются.При смещении пластинки 4 по направлениюк осветительной системе на величину Ьпрасстояние между пучками ЛЭ и разнос ихоптического пути Л изменяются следующим образом:Л Э=2 Л 1 ип И,Л =4 Лп соз 20, т.е.ЛО-д- = 9 О.Если принять во внимание соотношение между углами О и а, получимзп 2 а2 (п 2 - зп а)Таким образом, закон изменения ЛиЛО во времени, при котором лучи б и а(фиг.1) сливаются, в момент, когда разностьих оптического пути становится равной нулю, выполняется При этом блок 7 измеренияконтраста интерференционных полос зафиксирует максимальную величину и выдаст импульс в блок 13 измерениявременных интервалов. В блоке 7...

Номер патента: 1768962

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Ильин, Рубцов

МПК: G01B 11/10

Метки: волокон, диаметра, оптических, световодов

...картины ИК 2,Устройство работает следующим обраС псмсшью Осв 8 тительной системы, состоящей из лазера , светоделителя 2, второго зеркала 7 и двух фокусиру 1 ощих линз 3 и 8, обеспечивается освещение растра 4 на двух диаметрально прогивоположных участках сходящимися пучками. На растре 4 падающие пучки дифрагируют с образованием ряда порядков. На обоих участках рас 176896250 55 тра для образования интерференционных картин ИК 1, ИК 2 и ИКз используются 0-й и два первых порядка дифракции. Первый контрольный канал образуется парой пучков 0 -ого и +1 -ого порядков дифракции. +1 -й порядок корректируется по направлению первым оптическим клином 6 и под углом и сходится с 0 -ым порядком на контролируемом объекте ОС с образованием...

Номер патента: 1768963

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Кринчик, Новиков, Чепурова, Штайн

МПК: G01B 11/16

Метки: механических, напряжений

...падения света) полокении плоскости поляризации,Изменение интенсивности отраженного от испытываемого образца света регистрируется фотоприемником 6, в цепикоторого возникают два сигнала: постоянный - пропорциональный интенсивности света, отраженного от образца в отсутствие магнитного поля, и переменный - пропорциональный глубине модуляции света за счет магнитооптического эффекта, возникающей при перемагничивании образца, Первый сигнал измеряется микровольтметром постоянного тока 8, второй - селективнымусилителем 7 с синхронным детектором 9Отношение показаний синхоонно детектора 9 и микровольтметра 8 определяют величину магнитооптического эффекта д.Известно, что при постоянной напряженности магнитного поля и воздействии наобразец...

Номер патента: 1768964

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Кузьминский, Тихонов, Шмальгаузен

МПК: G01B 11/24

Метки: морской, параметров, поверхности

...изобретения является увеличение информативности путем расширения числа определяемых параметров (скорость перемещения зеркальной площадки),Это достигается тем, что морская поверхность зондируется узким, сканируемым по кругулучом, и размер области сканирования выбирается достаточно малым, чтобы в пределах ее могла присутствовать лишь одна зеркальная площадка, далее из всех наблюдаемых бликов выбираются лишь те ситуации, когда блик пересекал границы сканируемой области дважды и при этом энергетический центр светового рассеянного поля был совмещен с приемной апертурой, далее измеряют среднее число бликов и интенсивность рассеянного бликом светового поля на оси диаграммы направленности для каждого такого блика при сканировании угла...

Номер патента: 1768965

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Богитов, Кулакова

МПК: G01B 11/24

Метки: вогнутых, вращения, интерферометр, оптических, поверхностей, формы

...волновой фронт, Поэтому перед компенсатором стоит высококачественный объектив, формирующий сферический вол-д новой фронт, что накладывает дополнительные требования к точности изготовления объектива и юстировке рабочей ветви интерферометра,Целью изобретения является повышение точности контроля и упрощение конструкции.1768965 оставитель Н. Кулакова хред М.Моргентал Соколова Те Корректор П, Гереши едакт Заказ 3638 ТиражВНИИПИ Государственного комитета по113035, Москва, ЖПодписноебретениям и открытиям при ГКНТ СССаушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 10 Указанная цель достигается тем, что в рабочей ветви интерферометра установлен компенсатор, выполненный из афокального и положительного...

Номер патента: 1768966

Опубликовано: 15.10.1992

Автор: Васютин

МПК: G01B 11/26

Метки: бинокулярных, изображения, оптических, осей, параллельности, поворота, приборов

...сферического зеркала 10 или 11, располокеннье между Объективом 25 5 и плОским зеркалом О симмстрично Относительно оптической оси под углом к ней и ориентированные отражающими поверхностями друг к другу таким образом, что оптические оси сферических зеэкал 10 и 11 30 лежат в одной плоскости, перпендикулярной плоским зеркалам 8 и 9, и нормали к которым лежат В ОднОЙ плоскос 11 под угломоптической оси, какдля из сисгем из плоского зеркала 8 и сберическэго 11 и система 35 9-10 установлена с зозмокностью поворота вокруг оси, проходящей через узлоауО точку какдого из сферических зеркал, две прямоугольные призмы 12 и 13, призма 12 установлена между Обьективам 5 и плоски ;.чи зеркалами 8 и 9 со смещением Относительно оптической оси и...

Номер патента: 1768967

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Князев, Ложкин, Семченко

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...первого зеркала, а центры отверстий другого ряда - с оптической осью, являющейся зеркальным отражением оптической оси от второго и третьего зеркал. При этом отверстия одного ряда расположены по окружности диска так, что они не лежат на одном радиусе с отверстиями другого ряда, что обеспечивает поочередное прохождение пучков, объектив, расположен между диском и фотоприемником так, что фокус объектива совпадает с плоскостью фотоприемника, а его оптическая ось параллельна оптическим осям, проходящим через центры отверстий одного и другого рядов диска.На иг.1 представлена схема устройства; на фиг,2 - изобракение диска,Устройство содеркит источник излучения (лазер) 1, линзу 2, плоское зеркало с отверстием 3, плоские зеркала 4, 5,...

Номер патента: 1768968

Опубликовано: 15.10.1992

Автор: Бирюков

МПК: G01B 13/02

Метки: линейных, размеров

...15 электропневмопре-. образователя 8. Измеряемая деталь 16 явновится, вся энергия сжатого воздуха будет направлена на перемещение штока 2 вправо до упора 18. После подачи электроэнергии на клеммы 13 и 14 втулку 11 перемещают к детали 16,Затем, отключив давление питания Рпит от электропневмопреобразователя 8, осуществляют процесс измерения линейного размера (диаметра) детали 16.Процесс суммирования величин перемещения контактов 5 и 6 осуществляется следующим образом, При отключении давления питания Рпит канал 9 соединяется с атмосферой. Сжатый воздух с полости 10 и регистрирующего прибора 7 через канал 9 будет с заданной скоростью уходить в атмосферу. При уменьшении давления в полости 10 нарушается равновесное состояние и...

Номер патента: 1768969

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Аксенов, Балдов, Воробьев, Коротаев

МПК: G01B 13/08

Метки: вертикальных, закрытых, каналов, наклонных, состояния

...30 35 40 45 50 55 Предлагаемый способ может быть применен как для контроля отдельных каналов вне агрегата, так и в его составе, В последнем случае необходимо иметь возможность подключения к нему в нижней точке линии для заполнения водой через дозирующее устройство. Точками подключения могут быть дренажные и продувочные патрубки.На фиг.1 изображено устройство для реализации способа; на фиг.2 - схема реализации способа.Устройство для реализации способа содержит измерительную трубку 1 с воронкой 2, присоединенную к исследуемому каналу с помощью соединительной трубки 3, сливной вентиль 4 и сливную емкость 5.Контролируемый канал 6 с известными исходными размерами и измерительную трубку 1, оттарированную в единицах объема, соединяют по схеме...

Номер патента: 1768970

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Абелтинь, Граудин, Конончук, Муссонов

МПК: G01B 15/02

Метки: двухслойного, слоев, толщины

...- -211 ст 1 ах/цгс, чта может быть реализовано установкой непразра Наго па отношению к первичному лзлучению экрана между источникам и де 8 ктарам либО саатВ 8 тству" КЩГЧГЧ РаЗМЕЩЕ:- Ие г:;ОЛЛ.;Л.:ПОРОВ ДетеКтаРОВ ИЛИ ИСТОЧ;ИКОВ.Способ может бь ь реализсван различнымл устрас Вагли, схеь,ы нескаськ.1 х;чз них привед 8 ны на фиг.1,2 и 3,Устаайсгво, изабражегное на фиг,1. содержит источник ", и два дс 1 ектара 2 и 3, перед детектором 3 установлен экран 4, непрозрачный к первичноглу излучению, Еиоина с 4 экрана должна Оьть не менее чем 2 г 1 гпах/т 9 гс, чта легко рассчигывается изеаме грии.Ус. райства, иллюстрируемое фиг,2, содержиг два толщинамера, работающих на Обратна ат. экенном излучении. Содержит источник 1, в горой источник 2,...

Номер патента: 1768971

Опубликовано: 15.10.1992

Автор: Снитко

МПК: G01B 17/00

Метки: линейных, перемещений

...подвижной пластины относительно неподвижной, Сигналы излученной и принятой волн проходят в устройстве по электрической и оптической цепям соответственно, что обуславливает их развязку,Информация о фазе., проходящей под подвижной пластиной ПАВ, поступает на измеритель разности фаз следующим образом, Световой поток от источника когерентного излучения под углом, близким к 90,5 10 15 20 25 30 35 40 падает на подвижную пластину, причем при его входе в пластину фаза излучения в поперечном сечении постоянна. Поскольку подвижная пластина выполнена в виде оптической фазовой решетки с глубиной фазовой модуляции л/4 и периодом, равным длине ПАВ, после ее прохождения фаза светового потока оказывается промодулированной по атому закону....

Номер патента: 1768972

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Морозова, Солодов

МПК: G01B 21/00

Метки: геометрических, параметров, поверхностей

...входа которого соединен, соответственно, с выходами вычитающего и суммирующего элементов 14 и 15, а выход является выходом устройства,Устройство работает следующим образом.Генератор 2 прямоугольных импульсов напряжения и формирователь 3 импульсов тока осуществляют питание излучающего лазера 4, излучение которого коллимируется коллимирующей линзой 5 и фокусируется фокусирующей линзой 7 на исследуемой поверхности 17. Отраженное от исследуемой поверхности 17 излучение с помощью первого светоделителя 6 попадает в фотоприемный блок 8, при этом анализирующий объектив 9 фокусирует отраженное излучение в область зрачков анализаторов, функцию которых выполняют активные области лазеров-приемников 11 и 12, Второй свето- делитель 10 служит для...

Номер патента: 1768973

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Глыва, Маркин, Морозов, Солодов

МПК: G01B 21/00

Метки: геометрических, параметров, поверхностей

...решетки 9 вводится в оптическое волокно 3. В силу дисперсии за микролинзой 4 формируются две перетяжки световых лучей на расстояниях Хо и Х 1 от микролинзы, для лучей с длинами волн А, и 10 11, соответственно, фиг.2. Исследуемая поверхность, расположенная за перетяжкой А 1, т.е, на расстоянии большем Х 1 от микро- линзы отражает излучение и оно частично возвращается в волокно. На входе волокна отраженное излучение разделяется по длинам волн и напоавляется на чувствительные площади селективных фотоприемников б и /. Сигналы с фотоприемников поступают на входы дифференцирующих усилителей- формирователей 10 и 11. Усилители преобразователи 10, 11 вырабатывают на своих выхода:; сигналы одинаковой постоянной амплитуды, причем их полярности...

Номер патента: 1768974

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Гудков, Зак, Зиновьев, Смирнов

МПК: G01B 21/00

Метки: волоконно-оптическое, меток, считывания

...первый фотоприемник 6, оптически связанный со световодом 3, первый делитель 7, первый компаратор 8, формирователь 9 логического уровня и регистратор 10, последовательно соединенные второй фотоприемник 11, второй компаратор 12, выход которого соединен со вторым входом формирователя 9 логического уровня последовательно соединенные источник 13 опорного напряжения, третий компаратор 14, блок 15 логики и регистратор 16 положения границы метки последовательно соединенные третий делитель 17, четвертый компаратор 18, выход которого соединен со вторым входом блока 15 логики, последовательно соединенные четвертый делитель 19 и пятый компаратор 20, выход которого соединен с третьим входом блока 15 логики, последовательно соединенные блок 21...

Номер патента: 1768975

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Кирик, Маланов, Мартьянов

МПК: G01B 21/06

Метки: движущегося, кромки, положения

...измерительная головка 4 с осветителем 5 и фотоприемником б, импульсного датчика перемещения измерительной головки 4, состоящего из диска 7 с прорезями, по одну сторону от которого устанавливают светодиод, а по другую - фотодиод, образующие оптронную пару 8. При этом фотодиод оптронной пары 8 электрически связан с осветителем 5 измерительной головки 4, а фотоприемник б измерительной головки 4 через селективный фильтр 9 со входом вычислительного блока 1 О, состоящего из двоичного счетчика 11, связанного с буферным регистром 12, который связан с дешифратОром 13, который подключен к блоку индикации 14, В конце хода ползуна 3 установлен датчик его крайнего положения 15, например, нажим- ного дествия, электрически связанный со входом...

Номер патента: 1768976

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Бердянский, Ободан, Сологуб

МПК: G01B 21/10

Метки: диаметра, круглых, среднего

...выход компаратора подключен кпереключающему входу узла усреднения,вход узла усреднения является входом вычислительного блока, второй выход узла усреднения - выходом вычислительногоблока,На фиг,1 показана блок-схема устройства для измерения среднего диаметра; нафиг.2 - диаграмма его работы.Устройство содержит измеритель 1 диаметра, роликовь.й механизм поворота 2,датчик 3 угла поворота, распределитель 4,блок 5 памяти, коммутатор 6, вычислительный блок 7, индикатор 8. В вычислительныйблок 7 входят узел 9 усреднения, компаратор 10, элемент 11 памяти, Труба 12 лежитна роликах механизма поворота 2.Выход измерителя 1 диаметра подключен к информационному входу распределителя 4, Выход датчика 3 угла поворотасоединен с установочным входом...

Номер патента: 1768977

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Гришко, Дудник, Федоров, Хвалов

МПК: G01B 21/30

Метки: оптико-электронный, профилометр

...ности т,е, повысить точность, непосредственно и через блок дифференциПоставленная цель достигается тем, что рования 13 и через квадратор 14 с блоком в известном оптико-электронном профило умножения 15, подсоединенным к сумматометре, содержащем оптически связанные с ру 16.объектом контроля источник излучения, оп- Выход сумматора 16 подключен к притическую систему и первый фотоприемный воду схемы слежения 17 например, выполузел, а также последовательно включенный ненным в виде линейного вычислительный узел и регистрирующий 45 электродвигателя), подвижная часть которо- узел, подвижный первый фотоприемный го с размещенным на нем фотоприемником узел, а также узел слежения эа лучом, под перемещается на воздушной подушке.ключенныйк...

Номер патента: 1770724

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Гудошников, Жмурченко, Хайрутдинов

МПК: G01B 3/30

Метки: длины, эталон

...размеров детали иэ материала с ксэфициентом линейногс расширения большим, чем коэффициент линейнсгс расширепомощью направляющих 3 с возможностью продольного перемещения вдоль корпуса. На свободных концах компенсаторов 2 установленн ы измерительн ые наконечники 4. Причем измерительные наконечники 4 в эталоне длины для наружных размеров (фиг. 1) обращены внутрь, а в эталоне длины для внутренних размеров - наружу (фиг. 2).Зталон длины работает следующим образом.Контролируемый размер А, например, наружный или внутренний диаметр детали (на чертеже не показан), замеряется как и при работе с обычными эталонами длины путем сравнения фактического размера с помощью настроенной по нему индикаторной скобы с фактическим размером...

Номер патента: 1770725

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Берман, Елисеев

МПК: G01B 5/14

Метки: измерительный, координатный, прибор

...а считывающая головка установлена на первом полэуне таким образом, что ее оптическая ось, ось ролика и линия его контакта с линейкой расположены в одной плоскости.На фиг. 1 схематично изображен прибор, вид в плане; на фиг. 2 - вид А на фиг, 1; на фиг. 3 разрез Б - Б на фиг. 1.Прибор состоит из корпуса 1 на нем установлен поворотный стол 2 для деталей 43, каретки 4 с устройством 5, электронного блока 6 для обработки измерительной информации. В устройство 5 входит растровая линейка 7, неподвижно закрепленная на корпус 1 и считывающая головка 8, установленная на каретке 4. На каретке 4 также установлена аэростатическая направляющая 9 для перемещения ползунов 10. 11. Ползуны 10 и 11 оснащены измерительными головками 12 с щупами 13,...

Номер патента: 1770726

Опубликовано: 23.10.1992

Автор: Клиндух

МПК: G01B 5/14

Метки: зазоров, подшипнике

...зазоров невыявлено, Это позволяет сделать вывод о соответст 5 10 15 20 30 35 40 50 55 вии технического решения критерию "существенные отличия".На фиг, 1 изображена выпуклая линза для измерения радиальных зазоров; на фиг.2 - вид устройства сверху; на фиг. 3 - вогнутая линза для измерения осевых зазоров, вид по А - А; на фиг, 4 - вид устройства сверху; на фиг,5 - разрез по Б-Б.Устройство для измерения зазоров в подшипнике содержит диск 1, в котором выполнены сквозные осевые отверстия и который свободно установлен на оси 2, фиксатор 3 и подпружиненную по оси опору 4 со сферической поверхностью, предназначенной для размещения в отверстиях диска и взаимодействия с поверхностью подшипника закрепленный на корпусе 5 механизм 6,...

Номер патента: 1770727

Опубликовано: 23.10.1992

Автор: Федоренков

МПК: G01B 5/18

Метки: выступов, канавок, отверстиях, прибор, размеров

...на втулке и выполнен в виде подпрукиненного тангенциального клина, предназначенного для взаимодействия со штангой.Изобретение иллюстрируется чертежами, где на фиг. 1 представлена конструкция предлагаемого прибора, общий вид (измерительные губки 3, 13, нониус 10, винт 11, индикатор 23 условно приведены в одной плоскости); на фиг, 2 - сечение А - А на фиг, 1; на фиг. 3 - узел установки и регулировки индикатора и штока; на фиг. 4 - сменный шток; на фиг, 5 - фрагмент измерения ширины канавки и базорасстояния ее расположения; на фиг. б - фрагмент измерения ширины выступа и базорасстояния его расположения.Прибор для измерения ширины канавок и выступов состоит иэ трубчатой штанги 1, выполненной в виде цельного тонкого трубчатого...

Номер патента: 1770728

Опубликовано: 23.10.1992

Автор: Прилуцкий

МПК: G01B 5/22

Метки: шаров

...для контроля шаров (вертикальный разрез по двум опорам).Шар 1 с центром Ош установлен одновременно на двух внутренних поверхностях 2 и 3; соответственно, двух опор: усеченного конуса с вершиной 01, основанием АБ и усеченного конуса с вершиной 02 и основанием ВГ, Усеченный конус ОСЛАБ имеет ось 1 - 1 и диаметр Д 1, а усеченный конус 02 ВГ- ось П - П и диаметр Д 2, причем Д Д 2, Внутренние поверхности 2 и 3 принадлежат планшайбам 4 и 5, соответственно. План- шайба 4 установлена на шпинделе 6 в подшипниках 7 бабки 8, которая имеет возможность перемещаться по направляющим корпуса 9 в направлении 1-1, План- шайба 5 установлена на шпинделе 10 в подшипниках 11 бабки 12. Корпус 9 имеет базовую плоскость 13, на которой он покоится,...

Номер патента: 1770729

Опубликовано: 23.10.1992

Автор: Баранов

МПК: G01B 5/22

Метки: диаметров, поверхностей, сферических

...условие упрощает способ определения радиуса кривизны сферической поверхности Р, Вследствие того, что измерительный щуп выполнен в виде диска 4, имеется возможность измерять радиус кривизны сферических поверхностей и с центральным отверстием "в". Использование щупа в виде диска 4 исключает также погрешности взаимодействия щупа с местными изъянами поверхности,На корпусе 1 укреплена ручка 5. Перемещение стержня 3 в корпусе 1 фиксируется винтом 6. В ручке 5 размещен преобразователь 7 линейных перемещений (его неподвижная часть). Шток 3 подпружинен пружиной 8. Сигналы с преобразователя 7 поступают нз электронную систему 9, Устройство устанавливается на контролируемой детали 10.Процесс измерения состоит в следующем. 5 Радиус кривизны й...

Номер патента: 1770730

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Авгуцевич, Григулис, Порис

МПК: G01B 5/28

Метки: геометрических, параметров, пластин

...в области опорных точек и вне их для контролируемой пластины судят о ее неплоскостности.Известно устройство, содержащее базовую поверхность с набором выступающих опорных элементов для полупроводниковых пластин, которые при наличии отсчетного узла и блока индикации служит для контроля параметров /3/.Недостатком известного устройства является то, что в нем не достигается необходимая точность из-за неопределенности расположения пластины на множестве опорных шариков.Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому устройству, реализующему способ, является устройство для контроля геометрических параметров пластин прототип /4/), содержащее базовую поверхность с тремя выступающими опорными элементами и отсчетный узел, выполненный в...

Номер патента: 1770731

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Журавлев, Карасев, Турсунова

МПК: G01B 5/06, G01B 5/30

Метки: неровноты, нити

...так и вовоемя транспортировки. Эти отличия позволяют сделать вывод о соответствии заявляемого технического решения критерию "новизна".Стабилизация скорости транспортировки широко известна, но в нашем способе эта операция позволяет проявить новое свойство - стабилизацию растяжения нити, которое заключается в получении одинаковой величины удлинения нити при каждом ее периодическом растяжении.Другие признаки, отличающие заявляемое техническое решение от прототипа, не были выявлены при анализедругихтехнических решений в данной области техники по технической и патентной литературе. На основании этого можно сделать вывод, что все отличительные признаки обеспечивают заявляемому решению соответствие критерию "существенные...

Номер патента: 1770732

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Комаров, Пономарев

МПК: G01B 7/00

Метки: код, перемещения

...последовательно соединенные управляемый ключ 8 и запоминающий элемент 9 с входом подстройки частоты измерительного автогенератора 4, выход преобразователя частоты 6 соединен со входом цифрового измерителя 10 отношения частот, к другому входу которого подсоединен выход перестраиваемого генератора 11, выход цифрового измерителя отношения частот 10 соединен со входом цифрового компаратора 12, другой вход которого соединен с опорным регистром 13, а выход цифрового компаратора 12 через последовательно соединенные второй ключ 14, регистр памяти 15 и цифроаналоговый преобразователь 16 соединен с входом подстройки частоты перестраиваемого генератора 11, выходы преобразователя частоты 6 и перестраиваемого генератора 11 соединены с...

Номер патента: 1770733

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Белоносов, Иванов, Стрижко, Шепелев

МПК: G01B 7/16

Метки: вращающихся, деформаций, объектов, тензометрическое

...два токосъемника 1 и 2 с подвижными токовыводами 3 и 4 и неподвижными токовыводами 5 и 6, рабочий и компенсационный тензорезисторы 7 и 8, каждый из которых одним из выводов соединен с подвижным токовыводом 3 первого токосъемника 1, два противоположно включенных диода 9 и 10, каждый из которых одним из выводов соединен с подвижным токовыводом 4 второго токосъемника 2. а другим - с соответствующим свободным выводом одного иэ тензорезисторов 7 или 8, генератор 1 синусоидального напряжения, одна из выходных шин которого соединена с неподвижным токовыводом 5 первого токосъемника 1, преобразователь 12 тока в напряжение, входные шины которого соединены соответственно с неподвижным токовыводом 6 второго токосъемника 2 и со второй выходной...

Номер патента: 1770734

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Зинченко, Криков, Лущин, Ривкин, Семенов

МПК: G01B 7/34

Метки: поверхности, шероховатости

...и образцом с обеих его стооон,Последовательность формирования этих электрических сигналов может быть произвольной,Физическая сущность предлагаемого способа заключается в следующем. При деформации пьезоэлектрического образца на его поверхностях возникает электрический заряд вследствие прямого пьезоэффекта, причем измеряемым является заряд, образующийся в приповерхностном слое. Условия его образования, как и условия его снятия для измерения, в этом случае находятся в сильной зависимости от профиля приповерхностного слоя, в частности от его шероховатости, неплоскостности и неплоскопараллельности. Так, например, при измерении пьезомодуля 033 статическим методом на безэлектродньх пьезокерамических заготовках, их подвергают механическому...

Номер патента: 1770735

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Ляликов, Эцина

МПК: G01B 9/021, G03H 1/04

Метки: времени, голографической, интерферометрии, масштабе, реальном

...а 1 + р 1 , (3) где р 1 - изменение фазы, вызванное аберрациями эталонного пучка.Однако из-за усадки эмульсии фотоматериала распределение фазы будет несколько отличным от распределения изменений фазы р эталонной волны, вызванных аберрациями, Освещают первую эталонную голограмму эталонным и опорным пучками с комплексными амплитудами Аэ, А 0, при этом изменяют угол между пучками 10, 11 на а 2 . Эталонным пучком 10 восстанавливают в первом порядке дифракци волну с комплексной амплитудойВэщехр х 3 и а 1+ ЛР 1), (4) где Ь р 1 = р 1 - р - остаточные аберрации,Причем величина остаточных аберраций не может быть одного порядка с величиной общих аберраций системы регистрации, В противном случае не имело бы смысла из-за усадки фотоэмульсии...